CN105203939A - 一种检测led灯具声称光通寿命符合性的方法 - Google Patents

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李为军
虞再道
施晓红
陈超中
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CHINA NATIONAL LUMINAIRES QUALITY SUPERVISION TESTING CENTRE
NATIONAL LIGHTING TEST CENTRE (SHANGHAI)
SHANGHAI ALPHA LIGHTING EQUIPMENT TESTING Ltd
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Abstract

本发明涉及一种检测LED灯具声称光通寿命符合性的方法,本发明是通过LED模块在指定温度和规定时间内的光通维持率L1和根据LED灯具使用的二次光学材料、声称寿命时灯具的光通维持率所得到的LED灯具内LED模块的光通维持率L1’的比较,进而实现了对LED灯具声称光通寿命符合性的检测。该方法可以为设计、生产长寿命、高性能LED灯具时提供参考。

Description

一种检测LED灯具声称光通寿命符合性的方法
技术领域
本发明涉及LED灯具声称光通寿命的检测技术,特别是指一种检测LED灯具声称光通寿命符合性的方法。
背景技术
LED是一种半导体发光器件,其发光基理是属于电致发光,理论寿命可达十几万小时。由于构成LED芯片各层材料的物理特性以及材料生长过程中层与层之间的晶格不匹配性等原因,导致内部缺陷的产生,这些缺陷会随着燃点时间和外部工作环境状况逐渐扩大,进而影响LED的光输出效果和光通寿命。
对于LED灯具而言,影响寿命的因素主要有三个:1)LED灯具使用的LED芯片、LED封装或LED模组的光衰;2)灯具散热设计;3)灯具使用的部件及其元器件的质量水平。例如,二次光学材料在指定时间上的光衰;4)灯具使用的外部环境状况。目前企业对产品的光通寿命声称一般是基于所用的LED芯片、LED封装或LED模组光通量随时间的衰减指数外延而得到,但LED芯片、LED封装或LED模组的光通寿命并不能真正代表使用这些LED产品的光通寿命,在大多数情况下,LED灯具的寿命比实际试验时间长得多,直接通过燃点LED灯具去验证制造商声称的寿命有点不现实。这也导致现阶段国内LED照明产品市场上,产品寿命声称随意夸大的现象。
要了解LED灯具声称光通寿命是否符合,必须有一个好的检测方法,因此,找到一种能够测量LED灯具声称光通寿命符合性的方法显得尤为重要。
发明内容
本发明的目的就是要提出一种检测LED灯具声称光通寿命符合性的方法。
为了实现上述目的,本发明的技术方案如下:一种检测LED灯具光通寿命符合性的方法,其特征在于,利用LED灯具电压与结温度的Vf-Tj关系曲线,获得LED灯具在声称条件下的输入电压值对应的灯具结温T1和流过LED灯具内LED模组的电流值I1,通过LED模块在指定温度T1和规定时间t内的光通维持率L1以及根据LED灯具使用的二次光学材料、声称寿命时灯具的光通维持率所得到的LED灯具内LED模块的光通维持率L1’,最后比较L1和L1’,进而实现了对LED灯具光通寿命符合性的检测。
该方法具体包括以下步骤:
A、利用电压法或光谱法,获得该灯具正向电压与灯具LED结温的Vf-Tj关系曲线;
B、将产品放置在设定的环境条件和工作条件下工作,直到LED灯具达到了稳定工作状态,记录稳定状态下的电压值,记为:V1;同时,测试并记录流过LED灯具内LED模组的电流值,记为:I1;
C、利用步骤A获得的Vf-Tj关系曲线,获得电压V1时的灯具结温,记为:T1;
D、在试验室条件下,测量在输入电流I1条件下LED模组光通量,记为:φ1;
E、将LED灯具所使用的LED模组放置在温度试验箱中,升高试验箱温度到T1,并在输入电流I1条件,持续燃点时间t;
F、待燃点时间达到后,自然冷却到室温,然后在与步骤D相同试验条件下,测量LED模组光通量,记为:φ2;
G、根据步骤D和步骤F,得到LED模组的光通维持率L1,记为:L1=φ2/φ1;
H、用以下公式计算与灯具声称寿命T有关的在燃点时间t时LED灯具内LED模组最低光通维持率L1’,
其中,ΔLo为LED灯具二次光学材料在声称寿命T内的光输出随时间衰退估计值,L2为灯具声称寿命T时所对应的光通维持率,t为试验燃点时间;
I、比较L1和L1’,如果L1≥L1’,所用LED灯具光通寿命符合声称要求,否则,不符合。
其中步骤E中,当产品声称寿命T≤35000小时,t≥6000小时;当产品声称寿命T≤50000小时,t≥9000小时。
本发明是通过LED模块在指定温度和规定时间内的光通维持率L1和根据LED灯具使用的二次光学材料、声称寿命时灯具的光通维持率所得到的LED灯具内LED模块的光通维持率L1’的比较,进而实现了对LED灯具声称光通寿命符合性的检测。该方法不仅适用于对产品检测,也适用于对新产品开发设计时光通寿命符合性进行检测,可以为设计、生产长寿命、高性能LED灯具时提供参考。
具体实施方式
以下通过实施例对本发明作进一步的详细说明。
本发明的目的就是通过LED模块在指定温度和规定时间内的光通维持率L1和根据LED灯具使用的二次光学材料、声称寿命时灯具的光通维持率所得到的LED灯具内LED模块的光通维持率L1’的比较,检测LED灯具声称光通寿命符合性的方法。以下是具体的实施案例,相关的实施方式可以在实施案例中得到理解:
实施案例:
LED路灯,功率90W;
-LED颗数:60;
-工作电压/频率:220V/60(Hz);
-工作电流:1A
-性能温度tq=40℃时,声称寿命L70=35000小时
具体实施步骤如下:
本发明的具体步骤如下:
1、利用电压法或光谱法,获得该灯具正向电压与灯具LED结温(Vf-Tj)关系曲线;例如,本实施方案是采用中国发明专利“一种灯具内LED正向电压与结温的关系曲线的测量方法”(专利号:ZL201010119389.3)中提出的方法,获得该灯具正向电压与灯具LED结温(Vf-Tj)关系曲线;
2、将产品放置在标注的tq=40℃条件工作,直到LED灯具达到了稳定工作状态,记录稳定状态下的电压值,记为:V1;同时,测试并记录流过LED灯具内LED模组的电流值,记为:I1,稳定条件判定是每隔15min测量一次光输出和电功率,当30min内光输出和电功率中的各3个读数值的差异(最大值减最小值)小于3个读数平均值的0.5%时认为达到稳定;
3、利用步骤1获得的Vf-Tj关系曲线,获得电压V1时的灯具结温,记为:T1;
4、在试验室条件下,测量在输入电流I1条件下LED模组光通量,记为:φ1,假设φ1=6300lm;
5、将LED灯具所使用的LED模组放置在温度试验箱中,升高试验箱温度到T1,并在输入电流I1条件,持续燃点时间t为6000小时;
6、待燃点时间达到后,自然冷却到室温,然后在与步骤4相同试验条件下,测量LED模组光通量,记为:φ2,假设φ2=5900lm。则燃点6000小时后LED模组的光通维持率记为:L1=φ2/φ1=93.65%;
7、假设灯具声称寿命T=35000小时时所对应的光通维持率L2=70%,所用二次光学材料的光输出随时间衰退估计值ΔLo=11%,则与灯具声称寿命有关的在燃点时间t=6000小时时LED灯具内LED模组最低光通维持率L1’为:
8、比较L1和L1’,由于L1<L1’,则LED灯具光通寿命不符合寿命声称要求。
以上所述的实施例仅为了说明本发明的技术思想及特点,其目的在于使本领域的普通技术人员能够了解本发明的内容并据以实施,本专利的范围并不仅局限于上述具体实施例,即凡依本发明所揭示的精神所作的同等变化或修饰,仍涵盖在本发明的保护范围。

Claims (3)

1.一种检测LED灯具光通寿命符合性的方法,其特征在于,利用LED灯具电压与结温度的Vf-Tj关系曲线,获得LED灯具在声称条件下的输入电压值对应的灯具结温T1和流过LED灯具内LED模组的电流值I1,通过LED模块在指定温度T1和规定时间t内的光通维持率L1以及根据LED灯具使用的二次光学材料、声称寿命时灯具的光通维持率所得到的LED灯具内LED模块的光通维持率L1’,最后比较L1和L1’,进而实现了对LED灯具光通寿命符合性的检测。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:
A、利用电压法或光谱法,获得该灯具正向电压与灯具LED结温的Vf-Tj关系曲线;
B、将产品放置在设定的环境条件和工作条件下工作,直到LED灯具达到了稳定工作状态,记录稳定状态下的电压值V1;同时,测试并记录流过LED灯具内LED模组的电流值I1;
C、利用步骤A获得的Vf-Tj关系曲线,获得电压V1时的灯具结温T1;
D、在试验室条件下,测量在输入电流I1条件下LED模组光通量φ1;
E、将LED灯具所使用的LED模组放置在温度试验箱中,升高试验箱温度到T1,并在输入电流I1条件,持续燃点时间t;
F、待燃点时间达到后,自然冷却到室温,然后在与步骤D相同试验条件下,测量LED模组光通量φ2;
G、根据步骤D和步骤F,得到LED模组的光通维持率L1,L1=φ2/φ1;
H、用以下公式计算与灯具声称寿命T有关的在燃点时间t时LED灯具内LED模组最低光通维持率L1’,
其中,ΔLo为LED灯具二次光学材料在声称寿命T内的光输出随时间衰退估计值,L2为灯具声称寿命T时所对应的光通维持率,t为试验燃点时间;
I、比较L1和L1’,如果L1≥L1’,所用LED灯具光通寿命符合声称要求,否则,不符合。
3.根据权利要求1的方法,其特征在于LED模组应在T1和I1下工作到规定时间t,当产品声称寿命T≤35000小时,t≥6000小时;当产品声称寿命T≤50000小时,t≥9000小时。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105699058A (zh) * 2016-03-21 2016-06-22 上海时代之光照明电器检测有限公司 一种led灯具系统可靠性的评价方法
CN105785282A (zh) * 2016-03-21 2016-07-20 上海时代之光照明电器检测有限公司 一种led灯具声称寿命的检测方法
CN105842634A (zh) * 2016-03-21 2016-08-10 上海时代之光照明电器检测有限公司 一种led灯具光衰的检测方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105699058A (zh) * 2016-03-21 2016-06-22 上海时代之光照明电器检测有限公司 一种led灯具系统可靠性的评价方法
CN105785282A (zh) * 2016-03-21 2016-07-20 上海时代之光照明电器检测有限公司 一种led灯具声称寿命的检测方法
CN105842634A (zh) * 2016-03-21 2016-08-10 上海时代之光照明电器检测有限公司 一种led灯具光衰的检测方法
CN105699058B (zh) * 2016-03-21 2021-05-28 上海时代之光照明电器检测有限公司 一种led灯具系统可靠性的评价方法

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