CN105190337A

CN105190337A - 自测试集成电路

Info

Publication number: CN105190337A
Application number: CN201480025281.4A
Authority: CN
Inventors: T·尼古因
Original assignee: Finisar Corp
Current assignee: Finisar Corp
Priority date: 2013-03-07
Filing date: 2014-03-07
Publication date: 2015-12-23
Anticipated expiration: 2034-03-07
Also published as: WO2014138681A8; WO2014138681A1; CN105190337B; US9178684B2; US20140254653A1; EP2965100B1; EP2965100A1

Abstract

在示例中，自测试集成电路(IC)包括N个通道i和控制器，其中i是从1到N的整数。每一个通道i可以包括时钟和数据恢复电路(CDR)，伪随机比特流(PRBS)生成器电路，以及PRBS检查器和目视质量监视(EQM)电路。该控制器可以被配置成在自测试期间在菊花链中有选择地耦合通道i。

Description

自测试集成电路

技术领域

这里论述的实施例总的来说涉及自测试集成电路。

背景技术

随着互联网业务量以及比如高性能计算、数据中心连接和视频内容分发这类高带宽应用需求的显著增长，集成电路(IC)中的总聚合比特率在线路速率和并行通道数量两个方面也在增长。这种情况推动了以最大工作速率来测试IC的需要，由此确保产品的高产率。当前的自动测试设备(ATE)在带宽和通道数量方面都无法执行这种类型的测试。如果在ATE级别不具有全速测试的能力，那么我们要么会在最终的装配过程中遭受产量损失，要么会将高速的附加元件附着于ATE或是在具有全速能力的测试平台上引入二次插装，前述的所有的解决方案都会提升使用该解决方案的IC和/或产品的成本。由此需要一种低成本的全速自测试处理。

这里请求保护的主题并不局限于解决任一缺陷或是只在如上所述的环境中工作的实施例。相反，本背景技术部分是为了例证可以实施这里描述的一些实施例的一个例示技术领域而被提供的。

发明内容

本发明内容部分是为了以简化形式引入以下在具体实施方式部分中进一步描述的精选概念而提供的。本发明内容部分既不用于识别请求保护的主题的关键特征或基本特性，也不意在用来帮助确定请求保护的主题范围。

这里描述的一些例示实施例总的来说涉及的是包含多个通道的自测试集成电路(IC)。

在例示实施例中，所描述的是一种集成电路(IC)的自测试方法，该集成电路包括N个通道i，其中i是从1到N的整数。该方法可以包括在菊花链中有选择地耦合通道i。该方法还可以包括在通道1包含的第一CDR接收参考时钟信号。该方法还可以包括：由第一CDR使用该参考时钟信号来验证第一CRD的CDR功能。该方法还可以包括由通道1中包含的第一伪随机比特流(PRBS)生成器电路使用由第一CDR恢复的恢复时钟信号来产生PRBS信号1。并且，该方法还可以包括由第一PRBS生成器电路将PRBS信号1输出到通道2的输入。该方法还可以包括：对于范围从2到N的i，由每一个通道i使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的至少一些功能以及验证前一个通道i-1的至少一些功能；由每一个通道i的PRBS生成器使用从PRBS信号i-1中恢复的时钟信号来产生PRBS信号i；以及由每一个通道i的PRBS生成器将PRBS信号i输出到菊花链中的下一个通道i+1。在另一个例示实施例中，自测试集成电路(IC)包括N个通道i和控制器，其中i是从1到N的整数。每一个通道i可以包括时钟和数据恢复电路(CDR)、伪随机比特流(PRBS)生成器电路以及PRBS检查器和目视质量监视(EQM)电路。该控制器可被配置成在自测试期间在菊花链中有选择地耦合通道i。

在后续描述中将会阐述本发明的附加特征和优点，这些特征和优点部分可以从说明书中清楚了解，或者也可以通过实践本发明来获悉。本发明的特征和优点可以借助附加权利要求中特别指出的工具和组合而被实现和获得。从后续的描述以及附加权利要求中可以更全面地清楚了解本发明的这些和其他特征，或者也可以通过实践下文中阐述的发明来了解这些特征和优点。

附图说明

为了进一步阐明本发明的上述和其他优点和特征，在这里将会参考在附图中公开的本发明的例示实施例来对本发明进行更详细的描述。应该了解的是，这些附图仅仅描述了本发明的例示实施例，由此不应被认为是对本发明的范围进行限制。本发明及其附加特征和细节是通过使用附图而被描述和说明的，其中：

图1是例示的自测试IC的框图；

图2是可以与图1的IC相对应的例示的自测试IC的框图；以及

图3是依照这里描述的至少一些实施例布置的IC的例示自测试方法的流程图。

具体实施方式

这里描述的一些实施例涉及的是包含多个通道的自测试IC。每一个通道可以包括时钟和数据恢复电路(CDR)。相应地，自测试IC的例示实施例是多通道CDR。为了与全速的自测试相适应，这里公开的实施例还可以包括在自测试中使用的附加电路。例如，为了测试锁定和无误差操作，每一个通道都可以包括伪随机比特流(PRBS)生成器和PRBS检查器。对于包含了处于正常运行状态的无参考(referenceless)CDR的应用来说，每一个CDR都可以具有测试模式，在该测试模式中，CDR能以较低的速度接受参考时钟，例如1/4、/1/8、1/16速度等等，并且可以全速产生并检查PRBS图案。为了测试输出波形整形特征和输入均衡，每一个CDR都可以包括目视质量监视能力。以下将会提供包含此种能力的IC的例示实施例及其操作方法的附加细节。

这里描述的多通道自测试IC的一些实施例可以在多种操作环境中实施。例如，这里描述的多通道自测试IC可以包含在多通道光电收发信机中和/或应答器模块和/或其他操作环境中。

现在将参考附图来描述本发明的例示实施例的不同方面。应该理解的是，这些附图是关于此类例示实施例的图解和示意性表示，其既不对本发明构成限制，也不必按比例绘制。

图1是根据这里描述的至少一些实施例布置的例示自测试IC100(以下将称为“IC100”)的框图。IC100包括控制器110和多个通道121-124。虽然在图1中示出了四个通道121-124，但是更为普遍的是，该IC100可以包含N个通道，其中N是大于1的整数。

每一个通道121-124都可以包括CDR。更进一步，每一个通道121-124都包括相应的数据输入引线131-134，以便接收数据信号，此外，每一个通道121-124还可以包括控制引线，该控制引线可通信地将每一个通道121-124经控制线路135耦合到控制器110。

通常，每一个通道121-124可被配置成在相应的输入引线131-134上接收数据信号，以及使用任何适当的CDR方法来从该数据信号中获取信号锁定和恢复数据。通道121-124可以在相应的输出引线141-144上输出所恢复的数据信号。作为替换或补充，通道121-124可以输出从引入的数据信号中获取的时钟信号。

每一个通道121-124的CDR都可以接收由控制器110在控制线路135上提供的参考时钟信号，以便执行其功能。作为替换或补充，每一个通道121-124的CDR都可以被配置成无参考CDR，其中所述CDR会从所接收的数据信号中获取时钟信号，而不是使用单独的参考时钟信号。

控制器110可被配置成对通道121-124的操作进行控制。例如，控制器110可以提供参考时钟信号，对设置进行调整，在正常操作与自测试之间进行切换等等，或者也可以执行这些处理的任何组合。作为示例，对于自测试来说，控制器110可被配置成在菊花链中有选择地耦合通道121-124，以使通道1的输出引线141可通信地耦合到通道2的输入引线132，通道2的输出引线142可通信地耦合到通道3的输入引线133，通道3的输出引线143可通信地耦合到通道4的输入引线134，和/或通道4的输出引线144可通信地耦合到通道1的输入引线131。如下文中更详细描述的那样，借助这种菊花链结构，每一个通道121-124都能验证其自身和/或菊花链中的前一个通道的功能。这里使用的验证通道或其他组件的功能可以包括：验证通道或其他组件的一些功能，但不一定会验证其所有的功能。在完成了自测试之后，通道121-124可被从菊花链去耦。

在这里描述的这个及其他实施例中，例如在图2的实施例中，可以保持整个菊花链，这意味着可以在执行整个时间的自测试期间都保持输出与输入之间所有的通信耦合。作为替换或补充，也可以在自测试期间根据需要而仅仅保持菊花链的一些部分，这意味着仅仅会在自测试的相对较小窗口中保持该菊花链的每个通信耦合，在该相对较小窗口中输出信号被从一个通道的输出传递到下一个通道的输入。作为替换或补充，可以在执行自测试的整个时间中保持该菊花链的一些部分，而根据需要保持所述菊花链的其他部分或者在比执行自测试的整个时间短的时间中保持所述菊花链的其他部分。

如图1所示，控制器110和通道121-124可以是在单个衬底190上形成的。在单个衬底190上形成控制器110和通道121-124的处理可以包括在单个衬底190上形成控制器110和通道121-124的物理晶体管级组件。在一些实施例中，每一个通道121-124都可以包括在单个衬底190上形成的多个模拟组件。每一个通道121-124中的一些模拟组件可以使用双极结晶体管(BJT)形成的。作为补充或替换，控制器110可以使用互补金属氧化物半导体(CMOS)晶体管形成的，所述晶体管被布置成产生某种形式的处理器，例如微处理器，其中该处理器基于存储在计算机可读介质上的固件、软件或其他某种类型的处理器指令来执行操作。

虽然图1示出的是在带有控制器110的衬底190上形成四个通道121-124，然而，在不脱离本公开的范围的情况下，在带有控制器110的衬底190上也可以形成更多或更少的通道。例如，在带有控制器110的衬底190上可以形成两个、三个、五个、六个、八个、十二个、十六个或其他某个数量的通道。

图2是根据这里描述的至少一些实施例布置且可以与图1的IC100对应的例示自测试IC200(以下将其称为“IC200”)的框图。IC200包括N个通道i，其中i是从1到N的整数。由此，如图2所示，IC200包括通道1、通道2、通道3、……、通道N-1以及通道N。图2还示出每一个通道i包括CDR，PRBS生成器电路(以下将其称为“PRBS生成器”)，以及PRBS检查器和目视质量监视(EQM)电路(以下将其称为“PRBS检查器和EQM”)。所述CDR包括分别与通道1到N相对应的CDR1到N。同样，所述PRBS生成器包括分别与通道1到N相对应的PRBS生成器1到N。类似地，PRBS检查器和EQM包括PRBS检查器和EQM1到N。

每一个CDR都包括与图1的数据输入引线131、132、133、134相对应的数据端口，以及与对照图1描述的控制引线相对应的时钟端口。在图2的实施例中，每一个CDR都会在相应的时钟端口上接收参考时钟信号。

作为替换或补充，在这里描述的自测试期间，每一个通道的PRBS检查器和EQM可以执行PRBS检查功能、EQM功能或是所有这两种功能。在执行PRBS检查功能的时候，PRBS检查器和EQM在这里可被简称为PRBS检查器。另一方面，在执行EQM功能的时候，PRBS检查器和EQM在这里可被简称为EQM。作为替换或补充，在执行任一功能或是所有这两种功能的时候可以使用全称，即PRBS检查器和EQM。

虽然在图2中没有显示，但是IC200还可以包括控制器。与上文中对照图1描述的控制器110相似，IC200的控制器可被配置成在自测试期间在菊花链中有选择地耦合IC200的通道i，并且每一个PRBS生成器可被配置成输出PRBS信号i，其中该信号分别被称为PRBS信号1到PRBS信号N。在这些以及其他实施例中，对于从1到N-1的所有i，每一个通道i的输出可通信地耦合到菊花链中的下一个通道i+1的输入。作为替换或补充，通道N的输出可通信地耦合到通道1的输入。相应地，如图2所示，对于从1到N的所有i，在通道i的输出提供的每一个PRBS信号i都会在通道i+1的输入被接收。特别地，通道1输出的PRBS信号1会作为输入而被通道2接收，通道2输出的PRBS信号2会作为输入而被通道3接收，以此类推。此外，通道N输出的PRBS信号N会作为输入而被通道1接收。在完成了自测试之后，IC200的通道i可被从菊花链上去耦。如此一来，在完成了自测试之后，每一个通道i都可以在数据端口上处理引入进入的数据，并且可以在正常操作中输出经过处理的数据。

通常，在自测试期间，IC200的每一个通道i都可以被配置成使用参考时钟信号以及从菊花链的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1中的一个信号或是所有这两个信号来验证通道i的功能。作为替换或补充，对于范围从2到N的i来说，每一个通道i可被配置成使用参考时钟信号和PRBS信号i-1中的一个信号或是所有这两个信号来验证前一个通道i-1的功能。

举例来说，在例示实施例中，通道1的CDR1接收参考时钟信号。该通道1的CDR1的锁定指示器会验证通道1的CDR1的功能，并且会在该处理期间产生被恢复的时钟。作为示例，验证通道1的CDR1的功能可以包括获取关于参考时钟信号的锁定和/或产生被恢复的时钟。该通道1的PRBS生成器1会使用来自通道1的CDR1的被恢复时钟来以全速率的方式产生PRBS图案，并且所述PRBS图案会作为PRBS信号1而被从通道1输出。由于通道1的输出在自测试期间可通信地耦合至通道2的输入，因此，在通道2的输入接收到PRBS信号1。

通道2的CDR2的锁定指示器和通道2的PRBS检查器2(例如PRBS检查器和EQM2中提供PRBS检查器功能的部分)验证通道2的CDR功能。举例来说，在这里可以验证通道2的CDR2能从PRBS信号1中恢复时钟和数据。通道2还会验证通道1的PRBS图案已被正确产生。通道2的EQM2(例如PRB检查器和EQM2中提供RQM功能的部分)验证通道2的均衡器功能以及通道1的输出波形整形功能。然后，通道2的PRBS生成器2以全速率来产生PRBS图案，并且将其作为PRBS信号2输出到通道3的输入。由于所述菊花链，因此，通道2执行的过程会相继地在通道3到N中的每个通道中重复进行，由此允许每一个通道2到N验证其CDR功能和均衡器功能，以及菊花链中的前一个通道的输出波形整形功能。

正如已述及的那样，通道N的输出可通信地耦合到通道1的输入。此时，除了通道2-N的参考时钟模式、通道1的EQM1(例如PRBS检查器和EQM1中提供EQM功能的部分)、通道1的PRBS检查器1(例如PRBS检查器和EQM1中提供PRBS检查器功能的部分)、通道N的PRBS生成器N以及通道N的波形整形功能之外，所有的功能和参数性能都已得到验证。相应地，通道2到N可被编程成接受参考时钟信号，由此，通道1现在被编程成接受数据而不是参考时钟信号。通道1的PRBS检查器和EQM1可用于验证通道1的均衡器功能、通道N的PRBS生成器N、以及通道N的波形整形功能。

本领域技术人员将会认识到，对于这里公开的这个及其他处理和方法来说，在这些处理和方法中执行的功能可以按照不同的顺序实施。此外，所概述的步骤和操作仅仅是作为示例提供的，在不脱离所公开的实施例的实质的情况下，一些步骤和操作可以是可选的，其可以合并成更少的步骤和操作，或者可以扩展成附加的步骤和操作。

图3是根据这里描述的至少一些实施例布置的例示的IC自测试方法300的流程图。该方法300总的来说对应于以上在图2的上下文中描述的方法。在一些实施例中，方法300是由IC执行的，例如IC100或IC200。通过为具有如这里所述的适当组件的IC提供适当的硬件、软件和/或固件，可以将所述IC配置成执行方法300。为了简化后续论述，所述方法300被描述成是由IC200执行的。虽然被图示成了分立的方框，但是依照所预期的实施方式，不同的方框既可以被分成附加的方框，也可以合并成较少的方框，还可以被消除。

方法300可以始于方框301，其中在通道1中的CDR1(以下将其称为“第一CDR”)接收参考时钟信号。

在方框302，第一CDR使用该参考时钟信号来验证所述第一CDR的功能。第一CDR使用参考时钟信号来验证所述第一CDR的功能可以包括：获取关于参考时钟信号的锁定和/或生成被恢复的时钟信号。

在方框303，通道1的PRBS生成器1(以下将其称为“第一PRBS生成器”)产生PRBS信号1。所述PRBS信号1可以使用被恢复的时钟信号产生。

在方框304，通道1将PRBS1信号1输出到通道2的输入。从方框305到310，对于范围是从2到N的i来说，每一个通道i都被配置成：在方框306，使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的功能以及前一个通道i-1的功能，并且被配置成使用从PRBS信号i-1中恢复的被恢复时钟信号来产生PRBS信号i，以及被配置成将PRBS信号i输出至菊花链中的下一个通道i+1。

特别地，在方框305，所述i被初始化在i＝2。

在方框306，通道2使用从通道1接收的PRBS信号1来验证通道2的功能以及通道1的功能。使用PRBS信号1来验证通道2的功能和通道1的功能可以包括以下的至少一项：通过在无参考时钟模式中操作通道2的CDR来从PRBS信号1中获取时钟，以便验证通道2的包括无参考时钟获取在内的CDR功能；通道2的CDR2从PRBS信号1中恢复数据，并且通道2的PRBS检查器2对照被恢复的数据来比较PRBS信号2，以便验证包括通道2的数据恢复在内的CDR功能；通道2的EQM2验证通道2的均衡器功能；以及通道2的EQM2验证通道1的波形整形功能。

更为普遍的是，在方框306，通道i使用从菊花链中的前一个通道接收的PRBS信号i-1来验证通道i的功能和前一个通道i-1的功能。例如，使用从菊花链中的前一个通道接收的PRBS信号i-1来验证通道i的功能和前一个通道i-1的功能可以包括以下的至少一项：通道i的CDRi通过在无参考时钟模式中工作来从PRBS信号i-1中获取时钟，以便验证通道i的包括无参考时钟获取在内的CDR功能；通道i的PRBS检查器i从PRBS信号i-1中恢复数据，并且通道i的PRBS检查器i(例如PRBS检查器和EQMi中提供PRBS检查器功能的部分)对照被恢复的数据来比较PRBS信号i，以便验证通道i的包括数据恢复在内的CDR功能；通道i的EQMi(例如PRBS检查器和EQMi中提供EQM功能的部分)验证通道i的均衡器功能；以及通道i的EQMi验证通道i-1的波形整形功能。

正如已提到的那样，在一些示例中，通道i的CDRi可以在无参考时钟模式中工作，以便从PRBS信号i-1中获取时钟，由此对通道i的包括无参考时钟获取在内的CDR功能进行验证。如果CDRi未能从PRBS信号i-1中获得时钟，CDRi可以确定包括无参考时钟获取在内的CDR功能运行不正常。作为替换或补充，如果CDRi成功地从PRBS信号i-1中获得了时钟，那么CDRi可以确定包括无参考时钟获取在内的CDR功能运行正常。

正如已提到的那样，在一些示例中，通道i的PRBS检查器i可以对照被恢复的数据来比较PRBS信号i，以便验证通道i的包括数据恢复在内的CDR功能。如果PRBS信号i不与被恢复的数据相匹配，通道i的PRBS检查器i可以确定通道i的包括数据恢复在内的CDR功能运行不正常。作为替换或补充，如果PRBS信号i与被恢复的数据相匹配，那么通道i的PRBS检查器i可以确定通道i的包括数据恢复在内的CDR功能正常工作。

回到图3，在方框307，通道2的PRBS生成器2使用从PRBS信号1中恢复的被恢复时钟来产生PRBS信号2。更为普遍的是，在方框307，通道i的PRBS生成器i会使用从PRBS信号i-1中恢复的被恢复时钟来产生PRBS信号i。

在方框308，通道2的PRBS生成器2会将PRBS信号2输出到菊花链中的下一个通道。更为普遍的是，在方框308，通道i的PRB生成器i会将PRBS信号i输出到菊花链中的下一个通道i+1。

在方框309，确定i当前是否小于N，如果i不小于N(方框309处为“否”)，例如i已经等于N，那么方法300会前进至方框311。如果i小于N(方框309处为“是”)，那么该方法前进至方框310。

在方框310，所述i递增1。例如，i可被从2递增到3，所述方法从方框310回到方框306并反复执行，直至i不再小于N。

在方框311，通道2-N被设置成接受参考时钟信号，以便验证通道N的PRBS生成器N以及波形整形，以及验证通道1的PRBS检查器1、均衡器以及EQM1。

可选地，方法300还可以包括：对于范围从2到N的i，在通道i的CDRi接收参考时钟信号。然后，通道i的CDR可以使用该参考时钟信号来验证通道i的CDRi的CDR功能，这其中包括通道i的CDRi获取关于参考时钟信号的锁定。

作为替换或补充，方法300还可以包括通道1使用从通道N接收的PRBS信号N来验证通道1的功能和通道N的功能。以上处理可以包括以下的至少一项：第一CDR在参考时钟模式中工作，以便从PRBS信号N中获取时钟来验证通道1的包括参考时钟获取在内的CDR功能；第一CDR从PRBS信号N中恢复数据，并且通道1的PRBS检查器1对照所恢复的数据来比较PRBS信号1，以便验证通道1的包括数据恢复在内的CDR功能；通道1的EQM1验证通道1的均衡器功能；以及通道1的EQM1验证通道N的波形整形功能。

在不脱离其精神和实质特性的情况下，本发明也可以采用其他特定的形式来实现。所描述的实施例的所有方面都是说明性而不是限制性的。因此，本发明的范围是由附加权利要求而不是由前面的描述限定的。落入权利要求的等价含义和范围以内的所有变化都包含在其范围以内。

Claims

1.一种自测试集成电路(IC)的方法，所述集成电路包括N个通道i，其中i是从1到N的整数，该方法包括：

在菊花链中有选择地耦合通道i；

在通道1包含的第一CDR接收参考时钟信号；

由第一CDR使用参考时钟信号来验证第一CDR的CDR功能；

由通道1中包含的第一伪随机比特流(PRBS)生成器电路使用由第一CDR恢复的恢复时钟信号来产生PRBS信号1；

由第一PRBS生成器电路将PRBS信号1输出到通道2的输入；以及

对于范围从2到N的i：

由每一个通道i使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的至少一些功能以及前一个通道i-1的至少一些功能；

由每一个通道i的PRBS生成器使用从PRBS信号i-1中恢复的恢复时钟来产生PRBS信号i；以及

由每一个通道i的PRBS生成器将PRBS信号i输出到菊花链中的下一个通道i+1。

2.根据权利要求1所述的方法，其中在菊花链中有选择地耦合通道i包括：有选择地耦合通道i，以使对于从1到N-1的所有的i来说，每一个通道i的输出都可通信地耦合到下一个通道i+1的输入。

3.根据权利要求2所述的方法，其中在菊花链中有选择地耦合通道i还包括：有选择地耦合通道i，以使通道N的输出与通道1的输入相耦合。

4.根据权利要求1所述的方法，其中由第一CDR使用参考时钟信号来验证第一CDR的CDR功能包括：第一CDR获取关于参考时钟信号的锁定。

5.根据权利要求1所述的方法，其中由每一个通道i使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的至少一些功能以及前一个通道i-1的至少一些功能包括：通道i的CDR在无参考时钟模式中工作，以便从PRBS信号i-1中获取时钟，由此验证通道i的包括无时钟获取处理在内的CDR功能。

6.根据权利要求1所述的方法，其中由每一个通道i使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的至少一些功能以及前一个通道i-1的至少一些功能包括：通道i的CDR从PRBS信号i-1中恢复数据，并且通道i的PRBS检查器和EQM电路对照被恢复的数据来比较PRBS信号i，以便验证通道i的包括数据恢复在内的CDR功能。

7.根据权利要求1所述的方法，其中由每一个通道i使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的至少一些功能以及前一个通道i-1的至少一些功能包括：通道i的PRBS检查器和EQM电路验证通道i-1的均衡器功能。

8.根据权利要求1所述的方法，其中由每一个通道i使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的至少一些功能以及前一个通道i-1的至少一些功能包括：通道i的PRBS检查器和EQM电路验证通道i-1的波形整形功能。

9.根据权利要求1所述的方法，还包括：对于范围从2到N的i：

在通道i的CDR接收参考时钟信号；以及

通道i的CDR使用该参考时钟信号来验证通道i的CDR的CDR功能，包括通道i的CDR获取关于参考时钟信号的锁定。

10.根据权利要求8所述的方法，其中通道i在自测试期间在菊花链中被有选择地耦合，以使通道N的输出可通信地耦合到通道1的输入，该方法还包括：通道1使用从通道N接收的PRBS信号N来验证通道1的功能以及通道N的功能，其中包括以下的至少一项：

第一CDR在无参考时钟模式中工作，以便从PRBS信号N中获取时钟，由此验证通道1的包括无参考时钟获取在内的CDR功能；

第一CDR从PRBS信号N中恢复数据，并且通道1的PRBS检查器和EQM电路对照被恢复的数据来比较PRBS信号1，以便验证通道1的包括数据恢复在内的CDR功能；

通道1的PRBS检查器和EQM电路验证通道1的均衡器功能；以及

通道1的PRBS检查器和EQM电路验证通道N的波形整形功能。

11.一种自测试集成电路(IC)，包括：

N个通道i，其中i是从1到N的整数，其中每一个通道i包括：

时钟和数据恢复电路(CDR)；

伪随机比特流(PRBS)生成器电路；以及

PRBS检查器和目视质量监视(EQM)电路；以及

控制器，其被配置成在自测试期间在菊花链中有选择地耦合通道i。

12.根据权利要求11所述的自测试IC，其中通道i在自测试期间在菊花链中被有选择地，以使对于从1到N-1的所有i，每一个通道i的输出可通信地耦合到菊花链中的下一个通道i+1的输入。

13.根据权利要求12所述的自测试IC，其中通道i在自测试期间还被有选择地耦合，以使通道N的输出可通信地耦合到通道1的输入。

14.根据权利要求11所述的自测试IC，其中在自测试期间，对于范围从2到N的i来说：

每一个通道i被配置成使用从菊花链中的前一个通道i-1接收的PRBS信号i-1来验证通道i的至少一些功能；以及

每一个通道i被配置成使用PRBS信号i-1来验证前一个通道i-1的至少一些功能。

15.根据权利要求11所述的自测试IC，其中对于每一个通道i，CDR包括数据端口和时钟端口。

16.根据权利要求11所述的自测试IC，其中对于每一个通道i，PRBS生成器电路的输入与CDR的输出相耦合。

17.根据权利要求11所述的自测试IC，其中对于每一个通道i，PRBS检查器和EQM电路的输入与CDR的输出相耦合。