CN105091761B - 样本形态监测装置及方法 - Google Patents

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Abstract

一种样本形态监测装置,包括光电传感装置、夹紧装置、驱动装置和控制装置,光电传感装置的光发射器和光接收器相对设置于固定支架;驱动装置驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动;控制装置控制驱动装置驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动并在相对运动的过程中控制光发射器和光接收器进行线扫描,并根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。如此,通过采用光电传感装置对待检测样本涂片实现至少一个维度方向的线扫描,检测范围大,有利于更全面的监测样本形态,精确度高。还提供一种样本形态监测方法。

Description

样本形态监测装置及方法
技术领域
本发明涉及医疗设备领域,特别是涉及一种样本形态监测装置及方法。
背景技术
自动推片机制备样本涂片的流程包括滴血、推片、干燥、染色等环节,血样滴在载玻片上且被推成薄薄的血膜后,先进行热风烘干,再放入到染色盒中染色,最后晾干成片。其中,血膜形态的好坏受推片系统影响,当推片系统出现异常时如果不及时处理可能导致后续制作的样本涂片批次不良,因此需要有一个血膜形态监测装置,以及时发现血膜形态异常,便于用户能够及时处理。
传统的自动推片机采用的是三位定点检测法监测血膜形态,即通过光电检测技术,使用三对光电传感器检测被传送到监测装置下的样本涂片的三个固定位置点,再将这三个检测信号与一固定阈值进行比较,小于阈值则判断有血膜。当这三个位置点都检测到有血膜存在时,认为血膜形态达标。然而,这种监测方式只能检测三个固定位置点上的血膜等样本的有无,检测范围很小,导致精确度低。
发明内容
基于此,有必要针对检测范围很小,导致精确度低的问题,提供一种样本形态监测装置及方法。
一种样本形态监测方法,包括以下步骤:
驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动;
在所述相对运动的过程中控制所述光发射器和光接收器进行线扫描;
根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
在其中一个实施例中,所述根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标的步骤包括:
根据线扫描得到的信号计算光透过率;
比较所述光透过率与参考值,小于所述参考值的线扫描点判断为样本覆盖点;
根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
在其中一个实施例中,所述根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标的步骤,具体包括:
统计线扫描处的样本覆盖点总数,获取线扫描处的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度;
根据检测出的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度与预设的标准值进行比较,判断待检测样本涂片的样本长度和/或宽度是否达标,从而判断样本形态是否达标。
在其中一个实施例中,所述根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标的步骤,具体包括:
根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片线扫描处的样本是否存在断裂点;
将所述断裂点形成的断裂长度与预设的长度阈值进行比较,判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
在其中一个实施例中,还包括:
自动记录待检测样本涂片出现断裂点的位置;
判断前后待检测样本涂片的断裂点位置是否相同;
如果位置相同且出现次数和/或断裂长度满足预定要求则发出报警提示。
在其中一个实施例中,所述光透过率通过如下方式获得:
检测探测光在检测区域无任何遮挡物时的本底信号;
根据探测光在检测区域获取的检测信号与所述本底信号的比值得到待检测样本涂片线扫描处的光透过率。
在其中一个实施例中,所述参考值的获得具体包括:
获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区检测信号;
根据所述空白区检测信号得到待检测样本涂片空白区域的空白区光透过率,并根据所述空白区光透过率得到参考值。
在其中一个实施例中,所述空白区光透过率通过如下方式获得:
在待检测样本涂片未进行涂覆样本之前,采用与所述探测光波长、入射角相似的检测光检测所述待检测样本涂片空白区域对应的光透过率并加上预设的差异值作为所述空白区光透过率;或
获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区光透过率。
在其中一个实施例中,所述获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区光透过率的步骤,具体包括:
根据光透过率绘制光透过率-时间曲线;
根据光透过率-时间的曲线逆向查找光透过率值中最早增大为光透过率最大值对应的时间点;
将所述最早增大为光透过率最大值对应的时间点减去预设时间间隔得到空白采样时间;
将所述空白采样时间对应的光透过率确定为空白区光透过率。
在其中一个实施例中,所述参考值的获得具体包括:
根据所述空白区光透过率与预设的透过率容差值,计算得到参考值。
在其中一个实施例中,所述在所述相对运动的过程中控制所述光发射器和光接收器进行线扫描的步骤之前,还包括:干燥所述待检测样本涂片的样本。
在其中一个实施例中,所述驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动的步骤,具体包括:
驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器先后在待检测样本涂片宽度方向和长度方向相对运动。
在其中一个实施例中,所述驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动的步骤,具体包括:
驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器运动在待检测样本涂片满足样本最小长度的位置进行横向扫描。
一种样本形态监测装置,包括:
光电传感装置,包括光发射器、光接收器和固定支架,所述光发射器和所述光接收器相对设置于所述固定支架,所述光发射器与所述光接收器之间形成有检测区域;
夹紧装置,夹紧待检测样本涂片;
驱动装置,与所述光电传感装置和/或所述夹紧装置相连,驱动所述待检测样本涂片在所述检测区域相对所述光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动;
控制装置,分别与所述光发射器、光接收器和所述驱动装置连接,控制所述驱动装置驱动所述待检测样本涂片在所述检测区域相对所述光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动并在所述相对运动的过程中控制所述光发射器和光接收器进行线扫描,并根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
在其中一个实施例中,所述控制装置包括:
获取光透过率单元,与所述光接收器连接,根据线扫描得到的信号计算光透过率;
比较单元,与所述获取光透过率单元连接,比较所述获取光透过率单元获得的光透过率与参考值,小于所述参考值的线扫描处判断为样本覆盖点;及
判断单元,与所述比较单元连接,根据所述比较单元检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
在其中一个实施例中,所述控制装置还包括:
存储单元,自动记录待检测样本涂片出现断裂点的位置;
位置检测单元,判断前后待检测样本涂片的断裂点位置是否相同;及
报警单元,如果位置相同且出现次数和/或断裂长度满足预定要求则发出报警提示。
上述样本形态监测装置及方法,控制装置控制驱动装置驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动,并在相对运动过程中控制光发射器和光接收器进行线扫描,控制装置根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。如此,通过采用光电传感装置对待检测样本涂片实现至少一个维度方向的线扫描,检测范围大,有利于更全面的监测样本形态,精确度高。
附图说明
图1为一实施方式样本形态监测装置的结构示意图;
图2为一实施方式样本形态监测装置的电路示意图;
图3为一实施方式样本形态监测装置中横向和纵向扫描的示意图;
图4为一实施方式样本形态监测方法的流程示意图;
图5为一实施方式样本形态监测方法中根据检测结果判断样本形态是否达标的流程示意图;
图6为一实施方式样本形态监测方法中根据样本覆盖点判断样本形态是否达标的流程示意图;
图7为另一实施方式样本形态监测方法中根据样本覆盖点判断样本形态是否达标的流程示意图;
图8为一实施方式样本形态监测方法中获取光透过率的流程示意图;
图9为一实施方式样本形态监测方法中获取参考值的流程示意图;
图10为一实施方式样本形态监测方法中获取空白区光透过率的流程示意图;
图11为一实施方式待检测样本涂片扫描线各处的光透过率-时间的曲线示意图;
图12为另一实施方式待检测样本涂片扫描线各处的光透过率-时间的曲线示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
需要说明的是,当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1至图3所示,一种样本形态监测装置,包括光电传感装置110、夹紧装置120、驱动装置130和控制装置140。
光电传感装置110包括光发射器112、光接收器114和固定支架116。光发射器112与光接收器114相对设置于固定支架116,光发射器112与光接收器114之间形成有检测区域118。其中,固定支架116可以是一体式设计,也可以是分体式设计。
夹紧装置120夹紧待检测样本涂片210。驱动装置130与光电传感装置110和/或夹紧装置120相连,驱动待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114在至少一个维度方向相对运动。相对运动可以是直线运动,即在一个维度方向运动;也可以是先后在相互垂直或成其他角度的方向运动,即在两个或以上的维度方向运动。
图2所示的实施例中,驱动装置130可驱动待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114先后在待检测样本涂片210宽度方向和长度方向相对运动。
如图3所示,待检测样本涂片210宽度方向为横向,待检测样本涂片210长度方向为纵向。驱动装置130驱动待检测样本涂片210在检测区域118沿着水平线从右到左移动,再沿着竖直线从下往上移动。即相当于待检测样本涂片210静止,光发射器112和光接收器114在检测区域118沿着水平线从左到右,再沿着竖直线从上到下线相对待检测样本涂片210运动,以便得到能反映样本212长度和宽度覆盖情况的检测结果。
可以理解,在本实施例中,采用的是非完整的横向和纵向扫描。在其它实施例中,为进一步提高检测精准度,也可对待检测样本涂片210的扫描是完整的,即横向扫描是覆盖整个待检测样本涂片210的宽度,纵向扫描则是沿着待检测样本涂片210中间覆盖整个待检测样本涂片210长度。或者往返在横向或者纵向的多条平行轴线上进行扫描。
在其他实施例中,驱动装置130还可驱动待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114运动在待检测样本涂片210满足样本212最小长度的位置进行横向扫描。由于样本212头部的起点是预设的,在距离起点满足样本212最小长度的位置进行横向扫描,即可获知样本212最小长度方向的形态,进而判断样本212形态是否达标。如果在最小长度方向的形态,即最小长度方向能检测到样本212且样本212的宽度符合要求,说明样本212的长度和宽度都符合要求。通过只进行一次横向扫描,有利于节约检测时间。此外,扫描方向也不限于横向,还可以是斜向或者纵向。
控制装置140分别与光发射器112、光接收器114和驱动装置130连接。控制驱动装置130驱动待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114在至少一个维度方向相对运动并在相对运动的过程中控制光发射器112和光接收器114进行线扫描,并根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片210的样本212形态是否达标。
上述样本形态监测装置,控制装置140控制驱动装置130驱动待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114在至少一个维度方向相对运动,并在相对运动过程中控制光发射器112和光接收器114进行线扫描,控制装置140根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片210的样本212形态是否达标。如此,通过采用光电传感装置110对待检测样本涂片210实现至少一个维度方向的线扫描,检测范围大,有利于更全面的监测样本212形态,精确度高。
如图2所示的具体实施例中,驱动装置130与夹紧装置120相连,控制装置140的处理电路142控制驱动装置130驱动夹紧装置120带动待检测样本涂片210在检测区域118至少一个维度方向运动,光发射器112和光接收器114保持不动,从而待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114运动。当然,在其它实施例中,驱动装置130也可与光电传感装置110相连,控制装置140的处理电路142控制驱动装置130驱动光电传感装置110在检测区域118至少一个维度方向运动,待检测样本涂片210保持不动,从而待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114运动。
控制装置140的处理电路142通过控制传感器驱动电路148驱动光发射器112向检测区域118的待检测样本涂片210发出恒定探测光。探测光经过在检测区域118穿过待检测样本涂片210,由光接收器114收集传递至处理电路142进行分析处理。在待检测样本涂片210与光发射器112和光接收器114相对运动过程中完成线扫描。
控制装置140可设置有放大电路144和模/数转换电路146,光接收器114与放大电路144连接,放大电路144通过模/数转换电路146与处理电路142连接。光接收器114收集到的透射光信号经放大电路144放大后由模/数转换电路146转换为数字信号,以便处理电路142根据数字信号进行相关算法处理,分析判断样本212形态是否达标。放大电路144和模/数转换电路146属于信号转换设备技术领域的成熟技术,这里不再赘述其结构和工作原理。
请参阅图4,一种样本形态监测方法,包括以下步骤:
步骤S110,驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动。其中,可以是待检测样本涂片运动,光发射器和光接收器保持静止;或者待检测样本涂片静止,光发射器和光接收器运动。
如图1和图2所示,处理电路142控制驱动装置130驱动夹紧装置120带动待检测样本涂片210在检测区域118至少一个维度方向运动,光发射器112和光接收器114保持不动,从而待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114运动。当然,在其它实施例中,处理电路142也可控制驱动装置130驱动光电传感装置110在检测区域118至少一个维度方向运动,待检测样本涂片210保持不动,从而待检测样本涂片210在检测区域118相对光发射器112和光接收器114运动。
相对运动可以是直线运动,即在一个维度方向运动;也可以是先后在相互垂直或成其他角度的方向运动,即在两个或以上的维度方向运动。
在其中一个实施例中,步骤S110具体包括:驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器先后在待检测样本涂片宽度方向和长度方向相对运动。
如图3所示,待检测样本涂片210宽度方向为横向,待检测样本涂片210长度方向为纵向。待检测样本涂片210在检测区域118沿着水平线从右到左移动,再沿着竖直线从下往上移动。即相当于待检测样本涂片210静止,光发射器112和光接收器114在检测区域118沿着水平线从左到右,再沿着竖直线从上到下线相对待检测样本涂片210运动,以便得到能反映样本212长度和宽度覆盖情况的检测结果。
可以理解,在本实施例中,采用的是非完整的横向和纵向扫描。在其它实施例中,为进一步提高检测精准度,也可对待检测样本涂片210的扫描是完整的,即横向扫描是覆盖整个待检测样本涂片210的宽度,纵向扫描则是沿着待检测样本涂片210中间覆盖整个待检测样本涂片210长度。或者往返在横向或者纵向的多条平行轴线上进行扫描。
在另一个实施例中,步骤S110具体包括:驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器运动在待检测样本涂片满足样本最小长度的位置进行横向扫描。
由于样本头部的起点是预设的,在距离起点满足样本最小长度的位置进行横向扫描,即可获知样本最小长度方向的形态,进而判断样本形态是否达标。如果在最小长度方向的形态,即最小长度方向能检测到样本且样本的宽度符合要求,说明样本的长度和宽度都符合要求。通过只进行一次横向扫描,有利于节约检测时间。此外,扫描方向也不限于横向,还可以是斜向或者纵向。
步骤S120,在所述相对运动的过程中控制所述光发射器和光接收器进行线扫描。如图2所示,处理电路142控制传感器驱动电路148驱动光发射器112发出探测光,探测光经过在检测区域穿过待检测样本涂片210,由光接收器114收集传递至处理电路142进行分析处理。在待检测样本涂片210与光发射器112和光接收器114相对运动过程中完成线扫描。
步骤S130,根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
上述样本形态监测方法,驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动,并在相对运动过程中控制光发射器和光接收器进行线扫描,进而根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。如此,通过对待检测样本涂片实现至少一个维度方向的线扫描,检测范围大,有利于更全面的监测样本形态,精确度高。
请参阅图5,在其中一个实施例中,步骤130具体包括:
步骤S132,根据线扫描得到的信号计算光透过率。
步骤S134,比较所述光透过率与参考值,小于所述参考值的线扫描处判断为样本覆盖点。
如图11和图12所示,表示的是在t1至t3时刻横向扫描待检测样本涂片,在t2时刻之后转向纵向扫描。因此在t1至t3时间对应的检测点里查找光透过率小于参考值的采样点,即为待检测样本涂片宽度方向的样本覆盖点。同理,t3至t5时间对应的检测点里查找光透过率小于参考值的采样点,即为待检测样本涂片长度方向的样本覆盖点。
步骤S136,根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
如此,通过线扫描得到的信号计算光透过率,将光透过率与参考值进行对比,小于参考值的即为样本覆盖点,再根据所有检测为样本覆盖点判断样本形态是否达标。采用光透过率来表达检测结果,从而每个检测点都对应有具体的光透过率,也就是每个检测点是否为样本覆盖点都能得到明确结果,以便获取待检测样本涂片线扫描处的样本形态,判断结果明确,精准度高。
请参阅图8,在其中一个实施例中,上述光透过率可以通过如下方式获取:
步骤S410,检测探测光在检测区域无任何遮挡物时的本底信号。本底信号指的是光发射器发出的探测光在检测区域没有任何遮挡物时,光接收器收集到的信号。当样本形态监测环境稳定时,本底信号可以为设定值。当然,为了适应不同的监测环境,也可以在每次样本形态监测时都对本底信号进行检测。
步骤S420,根据探测光在检测区域获取的检测信号与所述本底信号的比值得到待检测样本涂片线扫描处的光透过率。
如图11和图12所示,在待检测样本涂片到达检测区域前也就是0时刻处,先测得本底信号,之后任何时刻对应的检测点的检测信号与本底信号的比值,就是该检测点的光透过率。其中,没有样本涂片遮挡时光透过率必然最大为1,待检测样本涂片无样本覆盖处也就是空白区域的光透过率次之,样本涂片有样本覆盖处的光透过率最小。
请参阅图9,在其中一个实施例中,上述参考值的获取具体可包括:
步骤S510,获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区检测信号。
步骤S520,根据所述空白区检测信号得到待检测样本涂片空白区域的空白区光透过率,并根据所述空白区光透过率得到参考值。
空白区光透过率指的是待检测样本涂片空白区域的检测信号相对本底信号的比值,空白区域即没有待检测样本涂片样本覆盖的区域。如图3所示,待检测样本涂片210覆盖有样本212,末端为无任何样本覆盖的空白区域214。类似地,待检测样本涂片210未覆盖有样本212的两侧横向边缘也可以作为空白区域。
如此,以待检测样本涂片自身作为参考,测取待检测样本涂片空白区域的空白区光透过率,根据空白区光透过率获取参考值。可适应由不同品种载玻片制备的待检测样本涂片,都能获取精准的空白区光透过率,保证参考值的精准度,有利于兼容任何光透过率的载玻片,适应性强。可以理解,当采用单一品种载玻片时,参考值也可以是固定的。
在其中一个实施例中,上述空白区光透过率可以通过如下方式获得:
在待检测样本涂片未进行涂覆样本之前,采用与所述探测光波长、入射角相似的检测光检测所述待检测样本涂片空白区域对应的光透过率并加上预设的差异值作为所述空白区光透过率。
在待检测样本涂片的载玻片上还没涂覆样本之前,检测光斑将完全位于载玻片空白区,因为整片载玻片都是空白区。而未涂覆样本之前的载玻片的检测是常规的检测步骤,利用该检测过程获得空白区透过率可以提高效率。由于检测光与扫描用的探测光不完全相同,存在一定差异,但检测光与探测光的波长、入射角均相似,因此采用检测光和探测光对同一载玻片测得的光透过率的差异是恒定的,设置该差异值为修订值。当采用检测光对待检测样本涂片的载玻片进行检测时,检测到的光透过率再加上修订值即为待检测样本涂片空白区域的空白区光透过率,这个空白区光透过率就是后续扫描用到的空白区光透过率。如此,在待检测样本涂片未进行推片之前检测获取该待检测样本涂片的空白区光透过率,以保证当对待检测样本涂片进行线扫描的扫描方向不经过待检测样本涂片空白区域时,依然可以获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区光透过率,可靠性高。
在另一个实施例中,上述空白区光透过率还可以通过如下方式获得:
获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区光透过率。
如此,样本涂片的载玻片推出样本后,依据常规的样本涂片制片要求,样本只占据载玻片头部大部分区域,而载玻片末端会有很大一部分区域是空白的。因此在沿待检测样本涂片长度方向即纵向扫描时,探测光必然会经过空白区域,也就是说纵向扫描经过了待检测样本涂片的空白区域,因此能在同一次扫描里就可以获取空白区光透过率,提高检测效率。
请参阅图10,在其中一个实施例中,步骤获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区光透过率具体包括:
步骤S610,根据光透过率绘制光透过率-时间曲线。
步骤S620,根据光透过率-时间的曲线逆向查找光透过率值中最早增大为光透过率最大值对应的时间点。
步骤S630,将所述最早增大为光透过率最大值对应的时间点减去预设时间间隔得到空白采样时间。
步骤S640,将所述空白采样时间对应的透过率确定为空白区光透过率。
因为线扫描经过待检测样本涂片棱边时产生的过渡信号不稳定,故减去线扫描经过待检测样本涂片棱边时的预设时间间隔,保证得到的空白采样时间对应的光透过率不受待检测样本涂片棱边影响,可靠性高。
如图11和图12所示的具体实施例中,在待检测样本涂片完成线扫描离开检测区域后,也就是t6时刻之后,检测点光透过率恢复为1。从光透过率-时间曲线中逆向寻找光透过率值最早增大为1的采样点,该采样点对应的时间点为t6,然后从t6继续逆向找到时间间隔Δt=t6-t5的采样点,t5为空白采样时间,t5对应的光透过率确定为待检测样本涂片空白区域的空白区光透过率。其中,Δt是一个预设的固定值,由扫描速度结合待检测样本涂片棱边决定。如横向扫描线可设置在距离样本头部起点5mm处,纵向扫描线设置在距离待检测样本涂片棱边8mm处。可以理解,空白采样时间既可以是时间点,如t5,也可以是时间段,如选取t5至t4之间一段光透过率平稳的时间,计算该段时间内光透过率的平均值作为空白区光透过率。
另外,如果待检测样本涂片210未覆盖有样本212的两侧横向边缘作为空白区域获得空白区光透过率,可以使用光透过率首次降低后变得平稳后的透过率,因为扫描经过待检测样本涂片棱边时产生的过渡信号不稳定,稳定后的即为未覆盖有样本212的空白区光透过率。
在其中一个实施例中,上述参考值的获得具体包括:
根据所述空白区光透过率与预设的透过率容差值,计算得到参考值。
因样本涂片的载玻片各处的光透过率是非理想均匀性的,待检测样本涂片空白区域的不同位置点的光透过率会有一定波动。因此在测得空白区光透过率之后,将空白区光透过率减去预设的透过率容差值,所得结果作为判别样本覆盖点的参考值,进一步提高精准度。如图11和图12所示,Kth表示的就是空白区光透过率减去透过率容差值后得到的参考值。透过率容差值可以设置在0.02-0.05。当然,也可为其它数值。需要指出的是,如载玻片质量很好,载玻片各处的光透过率相对均匀时,也可直接将空白区光透过率作为参考值。
请参阅图6,在其中一个实施例中,步骤S136具体包括:
步骤S232,统计线扫描处的样本覆盖点总数,获取线扫描处的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度。因线扫描速度是精确可控且预设的,对检测信号进行采样的采样速率也是预设的,因此根据样本长度/宽度=线扫描速度*样本覆盖点总数/采样速率,即可计算出样本的长度或者宽度。
步骤S234,根据检测出的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度与预设的标准值进行比较,判断待检测样本涂片的样本长度和/或宽度是否达标,从而判断样本形态是否达标。
将计算得出的样本长度或者宽度与预设的标准值进行比对,即可实现判别待检测样本涂片样本形态是否达标的目的。当样本长度或者宽度大于预设标准值时,说明满足最小长度或者宽度要求,样本形态达标。用线检测取代点检测,检测范围更广,精确度高。
请参阅图7,在其中一个实施例中,步骤S136具体还包括:
步骤S332,根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片线扫描处的样本是否存在断裂点。在线扫描过程中,将样本覆盖点的起点和终点之间的扫描点的光透过率大于参考值的检测点定义为断裂点。
步骤S334,将所述断裂点形成的断裂长度与预设的长度阈值进行比较,判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
当样本出现较大的横纹、竖纹或者空泡时,会导致检测到的样本覆盖点在扫描方向上出现断裂点。把这些断裂点形成的断裂长度与预设的长度阈值进行比较,从而可判别是否存在异常条纹或者空泡,以判断样本形态是否达标。当断裂点形成的断裂长度大于预设的长度阈值时,说明样本存在异常条纹或者空泡,即样本形态不达标。
可以理解,探测光相对待检测样本涂片的扫描移动速度为100mm/s,对检测信号进行采样的采样速率为1K采样点/秒,即相邻两个检测点之间间隔0.1mm。如果横向扫描线中间连续出现30个检测点为样本断裂点,相当于样本中间断裂了3mm,即可判定该样本存在异常条纹或者空泡,样本形态不达标。如图12所示,表示的是t2′到t2″时间段出现样本断裂带。
请参阅图7,在其中一个实施例中,样本形态监测方法还包括:
步骤S336,自动记录待检测样本涂片出现断裂点的位置。
步骤S338,判断前后待检测样本涂片的断裂点位置是否相同。
步骤S339,如果位置相同且出现次数和/或断裂长度满足预定要求则发出报警提示。
在制片过程中,当多个待检测样本涂片在同一位置出现断裂点的位置的次数和/或断裂长度达到预定要求时,即可判断推刀出现异常,此时发出报警提示,便于用于及时处理,可靠性高。该报警提示可通过声音或灯光等方式发出,便于用户在出现异常是可以快速直观得知。
在其中一个实施例中,步骤S120之前包括:干燥所述待检测样本涂片的样本。也就是在对待检测样本涂片进行线扫描前,待检测样本涂片的样本是完全干燥的。因为刚推开的样本存在大量水分子,如血膜,光入射面和出射面平整光滑,此时样本光透过率很高,与载玻片的光透过率接近,不利于区分样本和载玻片空白区域。而样本脱水干燥后,表面凹凸不平,光散射作用增强,故而此时的光透过率降低,与载玻片空白区域的空白区光透过率差异明显增强。故在进行检测之前干燥待检测样本涂片的样本,提高检测结果的可靠性。
将对待检测样本涂片进行线扫描发生在待检测样本涂片干燥环节完毕后移向染色环节的路途中,使对待检测样本涂片进行扫描的方向与整机流程动作方向保持一致,有利于节约检测时间,提高效率。当然,也可将对待检测样本涂片进行线扫描单独进行。
样本形态监测装置的控制装置140可以通过计算机程序控制样本形态监测装置的其他部件来执行上述方法。控制装置140可以包括获取光透过率单元、比较单元和判断单元。具体地,获取光透过率单元、比较单元和判断单元均设置于控制装置140的处理电路142中。
获取光透过率单元与光接收器114连接,根据线扫描得到的信号计算光透过率。
比较单元与获取光透过率单元连接,比较获取光透过率单元获得的光透过率与参考值,小于参考值的线扫描处判断为样本212覆盖点。
如图11和图12所示,表示的是在t1至t3时刻横向扫描待检测样本涂片210,在t3时刻之后转向纵向扫描。因此在t1至t3时间对应的检测点里查找光透过率小于参考值的采样点,即为待检测样本涂片210宽度方向的样本212覆盖点。同理,t3至t5时间对应的检测点里查找光透过率小于参考值的采样点,即为待检测样本涂片210长度方向的样本212覆盖点。
判断单元与比较单元连接,根据比较单元检测到的所有样本212覆盖点判断待检测样本涂片210的样本212形态是否达标。
如此,通过设置获取光透过率单元,采用光透过率来表达检测结果,从而每个检测点都对应有具体的光透过率,也就是每个检测点是否为样本212覆盖点都能通过比较单元得到明确结果,以便获取待检测样本涂片210线扫描处的样本212形态,判断单元判断结果明确,精准度高。
在其中一个实施例中,控制装置140还包括存储单元、位置检测单元和报警单元。存储单元自动记录待检测样本涂片出现断裂点的位置。位置检测单元判断前后待检测样本涂片的断裂点位置是否相同。如果位置相同且出现次数和/或断裂长度满足预定要求报警单元发出报警提示。具体地,存储单元、位置检测单元和报警单元均可设置于控制装置140的处理电路142中。
在制片过程中,当多个待检测样本涂片在同一位置出现断裂点的位置的次数和/或断裂长度达到预定要求时,即可判断推刀出现异常,此时发出报警提示,便于用于及时处理,可靠性高。该报警提示可通过声音或灯光等直观方式发出,便于用户在出现异常是可以快速得知。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (16)

1.一种样本形态监测方法,其特征在于,包括以下步骤:
驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动,所述待检测样本涂片为血膜样本涂片;
在所述相对运动的过程中控制所述光发射器和光接收器进行线扫描;
根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标,所述检测结果为所述待检测样本涂片的样本长度和宽度;
所述根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标,所述检测结果为所述待检测样本涂片的样本长度和宽度的步骤,包括:
根据检测出的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度与预设的标准值进行比较,判断待检测样本涂片的样本长度和/或宽度是否达标,从而判断样本形态是否达标。
2.根据权利要求1所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标的步骤包括:
根据线扫描得到的信号计算光透过率;
比较所述光透过率与参考值,小于所述参考值的线扫描点判断为样本覆盖点;
根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
3.根据权利要求2所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标的步骤,具体包括:
统计线扫描处的样本覆盖点总数,获取线扫描处的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度;
根据检测出的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度与预设的标准值进行比较,判断待检测样本涂片的样本长度和/或宽度是否达标,从而判断样本形态是否达标。
4.根据权利要求2或3所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标的步骤,具体包括:
根据检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片线扫描处的样本是否存在断裂点;
将所述断裂点形成的断裂长度与预设的长度阈值进行比较,判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
5.根据权利要求4所述的样本形态监测方法,其特征在于,还包括:
自动记录待检测样本涂片出现断裂点的位置;
判断前后待检测样本涂片的断裂点位置是否相同;
如果位置相同且出现次数和/或断裂长度满足预定要求则发出报警提示。
6.根据权利要求2所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述光透过率通过如下方式获得:
检测探测光在检测区域无任何遮挡物时的本底信号;
根据探测光在检测区域获取的检测信号与所述本底信号的比值得到待检测样本涂片线扫描处的光透过率。
7.根据权利要求2所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述参考值的获得具体包括:
获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区检测信号;
根据所述空白区检测信号得到待检测样本涂片空白区域的空白区光透过率,并根据所述空白区光透过率得到参考值。
8.根据权利要求7所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述空白区光透过率通过如下方式获得:
在待检测样本涂片未进行涂覆样本之前,采用与探测光波长、入射角相似的检测光检测所述待检测样本涂片空白区域对应的光透过率并加上预设的差异值作为所述空白区光透过率;或
获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区光透过率。
9.根据权利要求8所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述获取待检测样本涂片空白区域对应的空白区光透过率的步骤,具体包括:
根据光透过率绘制光透过率-时间曲线;
根据光透过率-时间的曲线逆向查找光透过率值中最早增大为光透过率最大值对应的时间点;
将所述最早增大为光透过率最大值对应的时间点减去预设时间间隔得到空白采样时间;
将所述空白采样时间对应的光透过率确定为空白区光透过率。
10.根据权利要求7至9任意一项所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述参考值的获得具体包括:
根据所述空白区光透过率与预设的透过率容差值,计算得到参考值。
11.根据权利要求1所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述在所述相对运动的过程中控制所述光发射器和光接收器进行线扫描的步骤之前,还包括:干燥所述待检测样本涂片的样本。
12.根据权利要求1所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动的步骤,具体包括:
驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器先后在待检测样本涂片宽度方向和长度方向相对运动。
13.根据权利要求1所述的样本形态监测方法,其特征在于,所述驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动的步骤,具体包括:
驱动待检测样本涂片在检测区域相对光发射器和光接收器运动在待检测样本涂片满足样本最小长度的位置进行横向扫描。
14.一种样本形态监测装置,其特征在于,包括:
光电传感装置,包括光发射器、光接收器和固定支架,所述光发射器和所述光接收器相对设置于所述固定支架,所述光发射器与所述光接收器之间形成有检测区域;
夹紧装置,夹紧待检测样本涂片,所述待检测样本涂片为血膜样本涂片;
驱动装置,与所述光电传感装置和/或所述夹紧装置相连,驱动所述待检测样本涂片在所述检测区域相对所述光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动;
控制装置,分别与所述光发射器、光接收器和所述驱动装置连接,控制所述驱动装置驱动所述待检测样本涂片在所述检测区域相对所述光发射器和光接收器在至少一个维度方向相对运动并在所述相对运动的过程中控制所述光发射器和光接收器进行线扫描,并根据线扫描得到的检测结果判断待检测样本涂片的样本形态是否达标,所述检测结果为所述待检测样本涂片的样本长度和宽度;
所述控制装置根据检测出的待检测样本涂片的样本长度和/或宽度与预设的标准值进行比较,判断待检测样本涂片的样本长度和/或宽度是否达标,从而判断样本形态是否达标。
15.根据权利要求14所述的样本形态监测装置,其特征在于,所述控制装置包括:
获取光透过率单元,与所述光接收器连接,根据线扫描得到的信号计算光透过率;
比较单元,与所述获取光透过率单元连接,比较所述获取光透过率单元获得的光透过率与参考值,小于所述参考值的线扫描处判断为样本覆盖点;及
判断单元,与所述比较单元连接,根据所述比较单元检测到的所有样本覆盖点判断待检测样本涂片的样本形态是否达标。
16.根据权利要求14所述的样本形态监测装置,其特征在于,所述控制装置还包括:
存储单元,自动记录待检测样本涂片出现断裂点的位置;
位置检测单元,判断前后待检测样本涂片的断裂点位置是否相同;及
报警单元,如果位置相同且出现次数和/或断裂长度满足预定要求则发出报警提示。
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Denomination of invention: Specimen shape monitoring device and method

Granted publication date: 20200207

License type: Common License

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