CN104965792B - 智能设备的测试方法和装置 - Google Patents

Abstract

本公开提出一种智能设备的测试方法，所述方法包括：从指定存储器中读取累计工作时长；判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。本公开可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。

Description

智能设备的测试方法和装置

技术领域

本公开涉及通信领域，尤其涉及智能设备的测试方法和装置。

背景技术

智能设备在出厂前，为了保证设备的质量，通常需要进行一系列的测试。在测试模式下，智能设备执行的任务和正常工作模式不同，因此在针对智能设备进行测试时，需要智能设备配合进入测试模式。

发明内容

本公开提供一种智能设备的测试方法和装置。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种智能设备的测试方法，所述方法包括：

从指定存储器中读取累计工作时长；

判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

可选的，所述方法还包括：

当未读取到所述累计工作时长，或者读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，进入正常工作模式。

可选的，所述方法还包括：

上电后，基于预设的写入周期向所述指定存储器写入最新的累计工作时长，以对所述指定存储中记录的累计工作时长进行更新；并在读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，停止向所述指定存储器写入最新的累计工作时长；

其中，初始状态下所述指定存储器中记录的累计工作时长为0。

可选的，所述方法还包括：

当读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，将所述指定存储中已记录的累计工作时长清除。

可选的，所述进入测试模式包括：

运行所述智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使所述智能设备进入测试模式；

所述进入正常工作模式包括：

运行所述智能设备中预先加载到的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使所述智能设备进入正常工作模式。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种智能设备的测试装置，所述装置包括：

读取模块，用于从指定存储器中读取累计工作时长；

判断模块，用于判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

第一进入模块，用于在读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

可选的，所述装置还包括：

第二进入模块，用于在读取模块未读取到所述累计工作时长，或者读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，进入正常工作模式。

可选的，所述装置还包括：

写入模块，用于在上电后，基于预设的写入周期向所述指定存储器写入最新的累计工作时长，以对所述指定存储中记录的累计工作时长进行更新；并在读取模块读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，停止向所述指定存储器写入最新的累计工作时长；

其中，初始状态下所述指定存储器中记录的累计工作时长为0。

可选的，所述装置还包括：

清除模块，用于在读取模块读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，将所述指定存储中已记录的累计工作时长清除。

可选的，所述第一进入模块包括：

第一运行子模块，用于运行所述智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使所述智能设备进入测试模式；

所述第二进入子模块包括：

第二运行子模块，用于运行所述智能设备中预先加载的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使所述智能设备进入正常工作模式。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种智能设备的测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

从指定存储器中读取累计工作时长；

判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开的以上实施例中，通过从指定存储器中读取累计工作时长，并判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式，从而可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试方法的流程示意图；

图2是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试方法的流程示意图；

图3是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试装置的示意框图；

图4是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；

图5是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；

图6是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；

图7是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；

图8是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；

图9是根据一示例性实施例示出的一种用于所述智能设备的测试装置的一结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

在针对智能设备进行测试时，通常需要智能设备配合进入测试模式。例如，可以为智能设备设置用于触发智能设备进入测试模式的触发按钮，测试人员在针对该智能设备进行测试时，可以通过手动触发该触发按钮控制智能设备进入测试模式，当智能设备在后台检测到针对该触发按钮的触发事件时，则可以自动切换至测试模式，

然而，在上述方案中，对于一些不具备触发按钮的智能设备，例如，智能灯泡，将存在无法进入测试模式的问题。

有鉴于此，本公开提出一种智能设备的测试方法，通过从指定存储器中读取累计工作时长，并判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式，从而可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。

如图1所示，图1是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试方法，包括以下步骤：

在步骤101中，从指定存储器中读取累计工作时长；

在步骤102中，判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

在步骤103中，当读取到的累计工作时长小于或等于预设的测试时长时，进入测试模式。

其中，上述步骤101～103中的技术方案可以理解为加载在智能设备的MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)中的判断逻辑。

上述智能设备可以包括不具备触发按钮的智能设备，例如，该智能设备可以是智能电灯。指定存储器可以包括智能设备中指定的flash存储器，智能设备可以通过该flash存储器来存储智能设备当前的累计工作时长，而不会发生数据丢失。

在本实施例中，通过在智能设备的MCU中加载上述判断逻辑实现是否进入测试模式的判断，可以不再通过检测针对触发按钮的触发事件实现。

MCU在加载了上述判断逻辑后，可以从智能设备的指定存储器中读取已经存储的累计工作时长，然后判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长。当读取到的累计工作时长小于或者等于预设的测试时长时，此时可以认为智能设备尚未测试完成，可以触发智能设备进入测试模式。当未读取到累计工作时长，或者读取到的累计工作时长大于预设的测试时长，此时可以认为智能设备已经测试完成，可以触发智能设备进入正常工作模式。

其中，该预设的测试时长可以根据实际的需求进行设定，也可以采用工程经验值，在本公开中不进行特别限定。

以下对MCU通过预先加载的判断逻辑判断智能设备是否进入测试模式的详细流程进行描述。

在本实施例中，可以指定智能设备中的flash存储器来记录该智能设备的累计工作时长。

一方面，当测试人员为智能设备首次上电，对该智能设备进行测试时，MCU还可以基于预设的写入周期，向该指定的flash存储器写入最新的工作时长，来对该指定的flash存储器中记录的累计工作时长进行更新。其中，该写入周期可以根据该flash存储器可烧写次数和设备的设计工作寿命进行设置，在本公开中不进行特别限定；例如，假设该写入周期为20秒，MCU每隔20秒向该flash存储器写入一次最新的累计工作时长，对该flash存储器中记录的累计工作时长进行更新。通过这种方式，可以保证flash存储器中记录的为最新的累计工作时长。

另一方面，当测试人员为智能设备首次上电，对该智能设备进行测试时，MCU可以从该指定的flash存储器中读取该智能设备当前的累计工作时长，并判断该读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长。在初始状态下，由于该智能设备为首次上电，因此该flash存储器中记录的该智能设备的累计工作时长为0。在这种情况下，由于测试时长通常不会为0，因此MCU可以判断出智能设备当前的累计工作时长小于预设的测试时长，于是可以触发MCU运行内存中加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使智能设备进入测试模式。

其中，值得说明的是，MCU在从指定的flash存储器中读取该智能设备当前的累计工作时长时，可以存在不同的实现方式。

在一种实现方式中，MCU在从flash存储器中读取累计工作时长时，可以只在智能设备上电时读取一次。

当智能设备上电后，MCU可以立即从flash存储器中读取一次累计工作时长，然后运行上述判断逻辑，通过判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长，来确定智能设备的工作模式。假设智能设备为首次上电，那么当前读取到的累计工作时长为0，MCU可以判断出当前累计工作时长小于预设的测试时长，将智能设备切换为测试模式。当智能设备测试完成，重新上电后，MCU可以立即从flash存储器中再读取一次累计工作时长，如果此时MCU读取到的累计工作时长大于预设的测试时长时，可以触发MCU运行内存中加载的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式。

通过这种方式，可以降低flash存储器的读取次数，由于频繁的读写对flash存储器的寿命影响很大，因此可以降低对flash存储器寿命的影响。然而，由于MCU只在智能设备上电时从flash存储器读取一次累计工作时长，因此当智能设备在测试过程中，累计工作时长超过测试时长时，无法立即将智能设备立即切换到正常工作模式，需要在智能设备下次上电后，由MCU重新进行判断后才能将智能设备切换到正常工作模式。

在另一种实现方式中，当智能设备上电后，MCU还可以基于预设的读取周期(例如30秒)从flash存储器中周期性的读取累计工作时长。

当智能设备上电后，MCU可以启动计时器，按照设定的读取周期，从flash存储器中周期性的读取累计工作时长，然后通过运行上述判断逻辑，判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长，来确定智能设备的工作模式。

例如，假设该设定的读取周期是30秒，MCU在设备上电后可以立即从flash存储器中读取一次累计工作时长，然后启动计时器，每隔30秒读取一次。对于每一次读取到的累计工作时长，MCU都可以将通过运行上述判断逻辑，分别判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长，来确定智能设备的工作模式。

通过这种方式，虽然会增加flash存储器的读取次数，但由于MCU从flash存储器中周期性的读取累计工作时长，因此一旦智能设备在测试过程中的累计工作时长超过测试时长时，可以触发MCU立即运行内存中预先加载的用于在正常工作模式运行的通用代码，以使智能设备进行正常工作模式，而不需要在智能设备下次上电时重新进行判断。

在本实施例中，当MCU运行上述判断逻辑，判断出读取到的累计工作时长大于预设的测试时长时，此时MCU可以确认当前的智能设备已经测试完成，通过运行加载在内存中的上述用于在正常工作模式运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式。

另外，由于flash存储器通常都具有一个最大可烧写的次数，当flash存储器重复写入次数达到最大可烧写次数时，可能会造成flash存储器损坏。因此，为了尽可能的减少针对flash存储器的写入次数，当MCU判断出读取到的累计工作时长大于预设的测试时长时，MCU可以停止继续向flash存储器中继续写入最新的累计工作时长。同时，由于此时智能设备已经测试完成，MCU还可以将flash存储器中已经记录的累计工作时长清除。

当将flash存储器中已经记录的累计工作时长被清除后，智能设备重新上电时，MCU将无法读取到累计工作时长(与读取到的累计工作时长为0的情况不同)。对于这种情况，按照以上描述的判断逻辑，当MCU无法读取到累计工作时长时，将会触发MCU运行加载在内存中的上述用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式。

在以上实施例中，通过从指定存储器中读取累计工作时长，并判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式，从而可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。

如图2所示，图2是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试方法，包括以下步骤：

在步骤201中，从指定存储器中读取累计工作时长；其中，指定存储器中记录的累计工作时长，为上电后基于预设的写入周期写入的最新的累计工作时长；

在步骤202中，判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

在步骤203中，当读取到的累计工作时长小于或等于预设的测试时长时，运行智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使智能设备进入测试模式；

在步骤204中，当未读取到智能设备的累计工作时长，或者读取到的累计工作时长大于所述预设的测试时长时，运行智能设备中预先加载的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式。

其中，上述步骤201～204中的技术方案可以理解为加载在智能设备的MCU中的判断逻辑。

上述智能设备可以包括不具备触发按钮的智能设备，例如，该智能设备可以是智能电灯。指定存储器可以包括智能设备中指定的flash存储器，智能设备可以通过该flash存储器来存储智能设备当前的累计工作时长，而不会发生数据丢失。

在本实施例中，通过在智能设备的MCU中加载上述判断逻辑实现是否进入测试模式的判断，可以不再通过检测针对触发按钮的触发事件来实现，而是通过在智能设备的MCU中加载上述判断逻辑实现。

MCU在加载了上述判断逻辑后，可以从智能设备的指定存储器中读取已经存储的累计工作时长，然后判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长。当读取到的累计工作时长小于或者等于预设的测试时长时，此时可以认为智能设备尚未测试完成，可以触发智能设备进入测试模式。当未读取到累计工作时长，或者读取到的累计工作时长大于预设的测试时长，此时可以认为智能设备已经测试完成，可以触发智能设备进入正常工作模式。

其中，该预设的测试时长可以根据实际的需求进行设定，也可以采用工程经验值，在本公开中不进行特别限定。

以下对MCU通过预先加载的判断逻辑判断智能设备是否进入测试模式的详细流程进行描述。

在本实施例中，可以指定智能设备中的flash存储器来记录该智能设备的累计工作时长。

一方面，当测试人员为智能设备首次上电，对该智能设备进行测试时，MCU还可以基于预设的写入周期，向该指定的flash存储器写入最新的工作时长，来对该指定的flash存储器中记录的累计工作时长进行更新；其中，该写入周期可以根据该flash存储器可烧写次数和设备的设计工作寿命进行设置，在本公开中不进行特别限定；例如，假设该写入周期为20秒，MCU每隔20秒向该flash存储器写入一次最新的累计工作时长，对该flash存储器中记录的累计工作时长进行更新。通过这种方式，可以保证flash存储器中记录的为最新的累计工作时长。

另一方面，当测试人员为智能设备首次上电，对该智能设备进行测试时，MCU可以从该指定的flash存储器中读取该智能设备当前的累计工作时长，并判断该读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；在初始状态下，由于该智能设备为首次上电，因此该flash存储器中记录的该智能设备的累计工作时长为0。在这种情况下，由于测试时长通常不会为0，因此MCU可以判断出智能设备当前的累计工作时长小于预设的测试时长，于是可以触发MCU运行内存中加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使智能设备进入测试模式。

其中，值得说明的是，MCU在从指定的flash存储器中读取该智能设备当前的累计工作时长时，可以存在不同的实现方式。

在一种实现方式中，MCU在从flash存储器中读取累计工作时长时，可以只在智能设备上电时读取一次。

当智能设备上电后，MCU可以立即从flash存储器中读取一次累计工作时长，然后运行上述判断逻辑，通过判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长，来确定智能设备的工作模式。假设智能设备为首次上电，那么当前读取到的累计工作时长为0，MCU可以判断出当前累计工作时长小于预设的测试时长，将智能设备切换为测试模式。当智能设备测试完成，重新上电后，MCU可以立即从flash存储器中再读取一次累计工作时长，如果此时MCU读取到的累计工作时长大于预设的测试时长时，可以触发MCU运行内存中加载的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式。

通过这种方式，可以降低flash存储器的读取次数，由于频繁的读写对flash存储器的寿命影响很大，因此可以降低对flash存储器寿命的影响。然而，由于MCU只在智能设备上电时从flash存储器读取一次累计工作时长，因此当智能设备在测试过程中，累计工作时长超过测试时长时，无法立即将智能设备立即切换到正常工作模式，需要在智能设备下次上电后，由MCU重新进行判断后才能将智能设备切换到正常工作模式。

在另一种实现方式中，当智能设备上电后，MCU还可以基于预设的读取周期(例如30秒)从flash存储器中周期性的读取累计工作时长。

当智能设备上电后，MCU可以启动计时器，按照设定的读取周期，从flash存储器中周期性的读取累计工作时长，然后通过运行上述判断逻辑，判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长，来确定智能设备的工作模式。

例如，假设该设定的读取周期是30秒，MCU在设备上电后可以立即从flash存储器中读取一次累计工作时长，然后启动计时器，每隔30秒读取一次。对于每一次读取到的累计工作时长，MCU都可以将通过运行上述判断逻辑，分别判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长，来确定智能设备的工作模式。

通过这种方式，虽然会增加flash存储器的读取次数，但由于MCU从flash存储器中周期性的读取累计工作时长，因此一旦智能设备在测试过程中的累计工作时长超过测试时长时，可以触发MCU立即运行内存中预先加载的用于在正常工作模式运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式，而不需要在智能设备下次上电时重新进行判断。

在本实施例中，当MCU运行上述判断逻辑，判断出读取到的累计工作时长大于预设的测试时长时，此时MCU可以确认当前的智能设备已经测试完成，通过运行加载在内存中的上述用于在正常工作模式运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式。

另外，由于flash存储器通常都具有一个最大可烧写的次数，当flash存储器重复写入次数达到最大可烧写次数时，可能会造成flash存储器损坏。因此，为了尽可能的减少针对flash存储器的写入次数，当MCU判断出读取到的累计工作时长大于预设的测试时长时，MCU可以停止继续向flash存储器中继续写入最新的累计工作时长。同时，由于此时智能设备已经测试完成，MCU还可以将flash存储器中已经记录的累计工作时长清除。

当将flash存储器中已经记录的累计工作时长被清除后，智能设备重新上电时，MCU将无法读取到累计工作时长(与读取到的累计工作时长为0的情况不同)。对于这种情况，按照以上描述的判断逻辑，当MCU无法读取到累计工作时长，将会触发MCU运行加载在内存中的上述用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使智能设备进入正常工作模式。

以下通过一个应用实例对以上的技术方案进行详述。

假设上述智能设备为智能灯泡，预设的测试时长为8小时，预设的写入周期为20秒。

在该智能灯泡的硬件结构中可以包括MCU和flash存储器。该MCU中加载了以上实施例中示出的判断逻辑。该flash存储器可用于记录智能灯泡的累计工作时长。

当该智能灯泡生产完成后，测试人员可以对该智能灯泡进行上电进行测试。当该智能灯泡上电后，MCU运行加载的判断逻辑，每隔20秒将当前最新的累计工作时长写入flash存储器。

同时，当该智能灯泡上电后，MCU可以从flash存储器中读取累计工作时长。

其中，MCU在从flash存储器中读取累计工作时长时：

第一方面，可以在智能灯泡上电时读取一次；第二方面，可以在智能灯泡上电后周期性的进行读取。

对于第一方面，由于是首次上电，初始状态下flash存储器中记录的累计工作时长为0，智能灯泡上电后MCU读取到的累计工作时长为0，小于8小时，于是MCU通过运行内存中的上述用于在测试模式下运行的测试代码，以使智能灯泡进入测试模式完成测试。

当智能灯泡测试8小时后，当智能灯泡再次重新上电，MCU重新读取flash存储器中记录的累计工作时长，然后重复上述判断过程，由于当前读取到的累计工作时长大于8小时，于是MCU通过运行内存中的上述用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使智能灯泡进入正常工作模式。

对于第二方面，假设读取周期为30秒，由于是首次上电，初始状态下flash存储器中记录的累计工作时长为0，智能灯泡上电后MCU首次读取到的累计工作时长为0，小于8小时，于是MCU通过运行内存中的上述用于在测试模式下运行的测试代码，以使智能灯泡进入测试模式完成测试。

30秒后MCU再次读取到的累计时长为30秒，小于8小时，于是MCU继续运行内存中的上述测试代码将智能灯泡保持在测试模式。以此类推，当若干个读取周期后，MCU读取到的累计时长大于8小时后，MCU可以立即通过运行内存中的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使智能灯泡进入正常工作模式。

在以上实施例中，通过从指定存储器中读取累计工作时长，并判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式，从而可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。

与前述智能设备的测试方法实施例相对应，本公开还提供了一种装置的实施例。

图3是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试装置的示意框图。

如图3所示，根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试装置300，包括：读取模块301、判断模块302和第一进入模块303；其中：

所述读取模块301被配置为，从指定存储器中读取累计工作时长；

所述判断模块302被配置为，判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

所述第一进入模块303被配置为，在读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

在以上实施例中，通过从指定存储器中读取累计工作时长，并判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式，从而可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。

请参见图4，图4是本公开根据一示例性实施例示出的另一种装置的框图，该实施例在前述图3所示实施例的基础上，所述装置300还可以包括第二进入模块304；其中：

所述第二进入模块304被配置为，在读取模块未读取到所述智能设备的累计工作时长，或者读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，进入正常工作模式。

请参见图5，图5是本公开根据一示例性实施例示出的另一种装置的框图，该实施例在前述图4所示实施例的基础上，所述装置300还可以包括写入模块305；其中：

所述写入模块305被配置为，在上电后，基于预设的写入周期向所述指定存储器写入最新的累计工作时长，以对所述指定存储中记录的累计工作时长进行更新；并在读取模块301读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，停止向所述指定存储器写入最新的累计工作时长；

其中，初始状态下所述指定存储器中记录的累计工作时长为0。

需要说明的是，上述图5所示的装置实施例中示出的写入模块305的结构也可以包含在前述图3的装置实施例中，对此本公开不进行限制。

请参见图6，图6是本公开根据一示例性实施例示出的另一种装置的框图，该实施例在前述图3所示实施例的基础上，所述装置300还可以包括清除模块306；其中：

所述清除模块306被配置为，在读取模块301读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，将所述指定存储中已记录的累计工作时长清除。

需要说明的是，上述图6所示的装置实施例中示出的清除模块306的结构也可以包含在前述图4-5的装置实施例中，对此本公开不进行限制。

请参见图7，图7是本公开根据一示例性实施例示出的另一种装置的框图，该实施例在前述图3所示实施例的基础上，所述第一进入模块303可以包括第一运行子模块303A；其中：

所述第一运行子模块303A被配置为，运行所述智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使所述智能设备进入测试模式。

需要说明的是，上述图7所示的装置实施例中示出的第一运行子模块303A的结构也可以包含在前述图4-6的装置实施例中，对此本公开不进行限制。

请参见图8，图8是本公开根据一示例性实施例示出的另一种装置的框图，该实施例在前述图4所示实施例的基础上，所述第二进入模块304可以包括第二运行子模块304A；其中：

所述第二运行子模块304A被配置为，运行所述智能设备中预先加载到的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使所述智能设备进入正常工作模式。

需要说明的是，上述图8所示的装置实施例中示出的第二运行子模块304A的结构也可以包含在前述图3或5-6的装置实施例中，对此本公开不进行限制。

上述装置中各个模块的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程，在此不再赘述。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

相应的，本公开还提供一种智能设备的测试装置，所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

从指定存储器中读取累计工作时长；

判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

相应的，本公开还提供一种智能设备，所述智能设备包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于进行以下操作的指令：

从指定存储器中读取累计工作时长；

判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

图9是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试装置的结构示意图。

如图9所示，根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试装置900，该装置900可以是智能设备，移动电话、计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图9，装置900可以包括以下一个或多个组件：处理组件901，存储器902，电源组件903，多媒体组件904，音频组件905，输入/输出(I/O)的接口906，传感器组件907，以及通信组件908。

处理组件901通常控制装置900的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件901可以包括一个或多个处理器909来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件901可以包括一个或多个模块，便于处理组件901和其他组件之间的交互。例如，处理部件901可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件904和处理组件901之间的交互。

存储器902被配置为存储各种类型的数据以支持在装置900的操作。这些数据的示例包括用于在装置900上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，媒体文件，视频等。存储器902可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件903为装置900的各种组件提供电力。电源组件903可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置900生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件904包括在所述装置900和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件904包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置900处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件905被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件905包括一个麦克风(MIC)，当装置900处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器902或经由通信组件908发送。在一些实施例中，音频组件905还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口902为处理组件901和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件907包括一个或多个传感器，用于为装置900提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件907可以检测到装置900的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置900的显示器和小键盘，传感器组件907还可以检测装置900或装置900一个组件的位置改变，用户与装置900接触的存在或不存在，装置900方位或加速/减速和装置900的温度变化。传感器组件907可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件907还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件907还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件908被配置为便于装置900和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置900可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件908经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件908还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置900可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器902，上述指令可由装置900的处理器909执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

其中，当所述存储介质中的指令由移动终端的处理器执行时，使得移动终端能够执行一种智能设备的测试方法，包括：

从指定存储器中读取累计工作时长；

判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (11)

1.一种智能设备的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

从指定存储器中读取累计工作时长；

判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当未读取到所述累计工作时长，或者读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，进入正常工作模式。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

上电后，基于预设的写入周期向所述指定存储器写入最新的累计工作时长，以对所述指定存储器中记录的累计工作时长进行更新；并在读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，停止向所述指定存储器写入最新的累计工作时长；

其中，初始状态下所述指定存储器中记录的累计工作时长为0。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，将所述指定存储器中已记录的累计工作时长清除。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述进入测试模式包括：

运行所述智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使所述智能设备进入测试模式；

所述进入正常工作模式包括：

运行所述智能设备中预先加载到的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使所述智能设备进入正常工作模式。

6.一种智能设备的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

读取模块，用于从指定存储器中读取累计工作时长；

判断模块，用于判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

第一进入模块，用于在读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二进入模块，用于在读取模块未读取到所述累计工作时长，或者读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，进入正常工作模式。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

写入模块，用于在上电后，基于预设的写入周期向所述指定存储器写入最新的累计工作时长，以对所述指定存储器中记录的累计工作时长进行更新；并在读取模块读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，停止向所述指定存储器写入最新的累计工作时长；

其中，初始状态下所述指定存储器中记录的累计工作时长为0。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

清除模块，用于在读取模块读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，将所述指定存储器中已记录的累计工作时长清除。

10.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一进入模块包括：

第一运行子模块，用于运行所述智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使所述智能设备进入测试模式；

所述第二进入子模块包括：

第二运行子模块，用于运行所述智能设备中预先加载的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使所述智能设备进入正常工作模式。

11.一种智能设备的测试装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

从指定存储器中读取累计工作时长；

判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；

当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。