CN104501790B - 电子罗盘的校准方法和装置 - Google Patents

Abstract

本公开提出一种电子罗盘的校准方法，所述方法包括：统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；判断所述校准次数是否达到阈值；当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。本公开可以在电磁干扰较大的环境中，快速的完成针对电子罗盘的校准，缩短校准时长。

Description

电子罗盘的校准方法和装置

技术领域

本公开涉及终端技术领域，尤其涉及一种电子罗盘的校准方法和装置。

背景技术

随着智能手机的高速发展，电子罗盘功能已经成为智能手机标配的功能之一。当电子罗盘检测到磁通量发生变化时，会提醒用户校准。在对电子罗盘进行校准时，通常会设置一个校准阈值，在校准过程中如果计算出的校准值超过校准阈值，则校准成功。校准阈值设置的越高，校准成功后的电子罗盘的指示方向的精度也就越高。

在实际应用中，当磁通量变化很小的环境中，例如空旷的环境下，在对电子罗盘进行校准时，计算出的校准值很容易超过校准阈值，然而在电磁干扰较大的环境下，对电子罗盘进行校准时，往往需要校准很多次校准值才能超过校准阈值，因此校准的时间会很长，非常影响用户的使用体验。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种电子罗盘的校准方法和装置。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种电子罗盘的校准方法，所述方法包括：

统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断所述校准次数是否达到阈值；

当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

可选的，所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括：

统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数；

将所述转动次数设置为所述校准次数。

可选的，所述统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数包括：

根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测；

对检测出的转动次数进行统计。

可选的，所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括：

统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数；

将所述计算次数设置为所述校准次数。

可选的，当所述电子罗盘校准成功后，将所述校准阈值恢复为默认值。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种电子罗盘的校准装置，所述装置包括：

统计模块，用于统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断模块，用于判断所述校准次数是否达到阈值；

降低模块，用于在所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

可选的，所述统计模块包括：

第一统计子模块，用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数；

第一设置子模块，用于将所述转动次数设置为所述校准次数。

可选的，所述第一统计子模块包括：

转动检测子模块，用于根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测；

次数统计子模块，用于对检测出的转动次数进行统计。

可选的，所述统计模块包括：

第二统计子模块，用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数；

第二设置子模块，用于将所述计算次数设置为所述校准次数。

可选的，所述装置还包括：

恢复模块，用于在所述电子罗盘校准成功后，将所述校准阈值恢复为默认值。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种电子罗盘的校准装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断所述校准次数是否达到阈值；

当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开的以上实施例中，通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数，并判断所述校准次数是否达到阈值；当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则自动降低所述校准阈值，从而在电磁干扰较大的环境中，可以快速的完成针对电子罗盘的校准，缩短校准时长。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准方法的流程示意图；

图2是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准方法的流程示意图；

图3是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置的示意框图；

图4是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图；

图5是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图；

图6是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图；

图7是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图；

图8是根据一示例性实施例示出的一种用于电子罗盘的校准装置的一结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

在现有实现中，当环境中的磁通量发生变化，终端通常会提示用户转动终端对电子罗盘进行校准(例如8字形转动校准法)，系统在终端的转动过程中，感知磁通量的变化，通过选定若干磁通量发生变化的点，在选定的点上进行磁感强度计算；当计算完成后，由于磁感强度为矢量，因此可以对计算出的磁场强度再进行反向计算得出矢量方向，然后根据磁场强度的矢量方向还原出地球磁感线；最后，在校准阶段，所选定的磁通量发生变化的点中，出现在还原出的地球磁感线上的点越多，则表示还原出的地球磁感线越精确，因此通常会设置一个校准阈值，并判断选定的磁通量发生变化的点中，出现在还原出的地球磁感线上的点占所选定的点的总数的比例是否超过校准阈值，来判断是否校准成功；如果所述比例超过校准阈值，则表示校准成功；相反，终端会提示用户继续转动终端。因此校准阈值越高，校准成功后的电子罗盘的指示精度越高。

在本公开中，仍然可以采用以上方式对终端上安装的电子罗盘进行校准。

如图1所示，图1是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准方法，该方法用于终端中，所述方法包括以下步骤：

在步骤101中，统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

在本实施例中，所述校准次数可以是针对电子罗盘进行校准时的转动次数，也可以是系统在对电子罗盘进行校准时的计算次数。

其中，当将针对电子罗盘进行校准时的转动次数作为校准次数时，可以通过终端中预置的重力感应器来感知终端是否转动，并统计转动次数，然后将统计出的转动次数作为校准次数；当将对电子罗盘进行校准时的计算次数作为校准次数时，系统可以将针对选定的磁通量发生变化的点进行磁感强度计算时的计算次数，作为所述校准次数。

在步骤102中，判断所述校准次数是否达到阈值；

在步骤103中，当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

在本实施例中，统计出的校准次数可以直接反应出当前环境的电磁干扰的严重程度，因此在实现时可以通过为校准次数设置一个阈值，来衡量当前所处环境的电磁干扰是否严重。当校准次数超过阈值时，此时可能是由于外界环境中严重的电磁干扰，从而导致对电子罗盘经过很多次校准仍然校准不成功。

例如，当将所述转动次数作为校准次数时，可以将所述阈值设置为三次，当用户连续三次转动手机，电子罗盘仍然没有校准成功时，可以认为当前外界环境存在电磁干扰。又如，当将所述计算次数作为校准次数时，可以将所述计算次数设置为20次，当所述计算次数超过20次时，如果电子罗盘仍然没有校准成功时，可以认为当前外界环境存在电磁干扰。

其中，值得说明的是，将所述转动次数或所述计算次数作为所述校准次数时，所设置的阈值可以不同。例如，以8字形转动校准法为例，在对电子罗盘进行校准时，终端每绕8字转动一圈，系统后台可能会选择出很多个磁通量发生变化的点，因此在进行磁感强度计算时，终端每绕8字转动一圈，可能计算很多次，因此在设置阈值时，如果是将所述转动次数作为校准次数的话，可以设置一个较小的阈值；如果将所述计算次数作为校准次数的话，可以设置一个较大的阈值。当然，所述阈值的设置，在实现时可以根据实际应用进行设置，本公开不进行特别限定。

在本实施例中，当所述校准次数达到阈值时，如果电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，例如，在电子罗盘转动过程中所选定的磁通量发生变化的点中，出现在还原出的地球磁感线上的点占所选定的点的总数的比例仍然低于阈值时，此时外界环境有可能存在严重的电磁干扰，在存在严重电磁干扰的环境中，由于磁通量的剧烈变化，会导致即便设置一个较高的校准阈值后校准成功，最终的指示精度也不会有明显的提高。

因此，当所述校准次数达到阈值时，如果电子罗盘仍然没有校准成功，可以降低所述校准阈值，并继续针对电子罗盘进行校准，从而可以达到快速校准，缩短校准时间的目的。其中，值得说明的是，所述校准阈值的下调比例，在本公开不进行特别限定；例如，在实现时可以采用工程经验值。

通过以上实施例的描述可知，通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数，并判断所述校准次数是否达到阈值；当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则自动降低所述校准阈值，从而在电磁干扰较大的环境中，可以快速的完成针对电子罗盘的校准，从而缩短校准时长。

如图2所示，图2是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准方法，该方法用于终端中，所述终端可以是智能手机，所述方法包括以下步骤：

在步骤201中，统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数或计算次数，将所述转动次数或计算次数设置为校准次数；

在本实施例中，所述校准次数可以是针对电子罗盘进行校准时的转动次数，也可以是系统在对电子罗盘进行校准时的计算次数。

其中，当将针对电子罗盘进行校准时的转动次数作为校准次数时，可以通过终端中预置的重力感应器来感知终端是否转动，并统计转动次数，然后将统计出的转动次数作为校准次数；当将对电子罗盘进行校准时的计算次数作为校准次数时，系统可以将针对选定的磁通量发生变化的点进行磁感强度计算时的计算次数，作为所述校准次数。

在步骤202中，判断所述校准次数是否达到阈值；

在步骤203中，当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

在本实施例中，统计出的校准次数可以直接反应出当前环境的电磁干扰的严重程度，因此在实现时可以通过为校准次数设置一个阈值，来衡量当前所处环境的电磁干扰是否严重。当校准次数超过阈值时，此时可能是由于外界环境中严重的电磁干扰，从而导致对电子罗盘经过很多次校准仍然校准不成功。

例如，当将所述转动次数作为校准次数时，可以将所述阈值设置为三次，当用户连续三次转动手机，电子罗盘仍然没有校准成功时，可以认为当前外界环境存在电磁干扰。又如，当将所述计算次数作为校准次数时，可以将所述计算次数设置为20次，当所述计算次数超过20次时，如果电子罗盘仍然没有校准成功时，可以认为当前外界环境存在电磁干扰。

其中，值得说明的是，将所述转动次数或所述计算次数作为所述校准次数时，所设置的阈值可以不同。例如，以8字形转动校准法为例，在对电子罗盘进行校准时，终端每绕8字转动一圈，系统后台可能会选择出很多个磁通量发生变化的点，因此在进行磁感强度计算时，终端每绕8字转动一圈，可能计算很多次，因此在设置阈值时，如果是将所述转动次数作为校准次数的话，可以设置一个较小的阈值；如果将所述计算次数作为校准次数的话，可以设置一个较大的阈值。当然，所述阈值的设置，在实现时可以根据实际应用进行设置，本公开不进行特别限定。

在本实施例中，当所述校准次数达到阈值时，如果电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，例如，在电子罗盘转动过程中所选定的磁通量发生变化的点中，出现在还原出的地球磁感线上的点占所选定的点的总数的比例仍然低于阈值时，此时外界环境有可能存在严重的电磁干扰，在存在严重电磁干扰的环境中，由于磁通量的剧烈变化，会导致即便设置一个较高的校准阈值后校准成功，最终的指示精度也不会有明显的提高。

因此，当所述校准次数达到阈值时，如果电子罗盘仍然没有校准成功，可以降低所述校准阈值，并继续针对电子罗盘进行校准，从而可以达到快速校准，缩短校准时间的目的。

例如，假设默认校准阈值为90％，所述校准次数达到阈值时，系统在校准过程中一共选定了20个磁通量发生变化的点，进行了20次计算，最终一共有10个点出现在还原出的地球磁感线上，10个点出现了偏离，此时出现在磁感线上的点占所选定的点的总数仅为50％，低于校准阈值，因此未校准成功，系统会提示用户继续转动手机，由于外界环境电磁干扰比较大，最终计算出的所述比例可能一直低于所述校准阈值。因此，为了尽快完成校准，可以将所述校准阈值降低为50％，并继续进行校准，由于校准阈值被调低，即便当前环境存在电磁干扰，在校准过程中所述比例也可以很快会达到所述校准阈值，从而完成校准。

其中，值得说明的是，所述校准阈值的下调比例，在本公开不进行特别限定；例如，在实现时可以采用工程经验值。

通过以上实施例的描述可知，通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数，并判断所述校准次数是否达到阈值；当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则自动降低所述校准阈值，从而在电磁干扰较大的环境中，可以快速的完成针对电子罗盘的校准，从而缩短校准时长。

在另一个可选的实施例中，结合上述图1或图2示出的实施例，当通过降低校准阈值使得电子罗盘快速完成校准后，系统可以在后台将降低后的校准阈值恢复为默认值。例如，假设默认的校准阈值为90％，当校准次数达到阈值后，校准阈值被调低为50％并快速的完成了校准，此时可以将校准阈值从50％恢复为90％。

在本实施例中，当校准阈值被降低后，如果用户从一个电磁干扰较严重的环境回到一个电磁干扰小或相对空旷的环境时，由于磁通量的变化，系统可能会再次提示用户对电子罗盘进行校准，由于此时校准阈值被降低，因此校准后的电子罗盘指示精度会受影响。因此本实施例通过在降低校准阈值使得电子罗盘快速完成校准后，将降低后的校准阈值恢复为默认值，可以避免当用户从一个电磁干扰较严重的环境回到一个电磁干扰小或相对空旷的环境时，根据已降低的校准阈值对电子罗盘进行校准，而导致的丧失指示精度的问题。

与前述电子罗盘的校准方法实施例相对应，本公开还提供了电子罗盘的校准装置的实施例。

图3是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置的示意框图。

如图3所示，根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置300，包括：统计模块301、判断模块302和降低模块302；其中：

所述统计模块301被配置为，统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

所述判断模块302被配置为，判断所述校准次数是否达到阈值；

所述降低模块303被配置为，在所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

在本实施例中，通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数，并判断所述校准次数是否达到阈值；当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则自动降低所述校准阈值，从而在电磁干扰较大的环境中，可以快速的完成针对电子罗盘的校准，从而缩短校准时长。

请参见图4，图4是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置框图，该实施例在前述图3所示实施例的基础上，所述统计模块301可以包括第一统计子模块301A和第一设置模块301B；其中：

所述第一统计子模块301A被配置为，统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数；

所述第一设置子模块301B被配置为，将所述转动次数设置为所述校准次数。

请参见图5，图5是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置框图，该实施例在前述图4所示实施例的基础上，所述第一统计子模块301A可以包括转动检测子模块301A1和次数统计子模块301A2；其中：

所述转动检测子模块301A1被配置为，根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测；

所述次数统计子模块301A2被配置为，对检测出的转动次数进行统计。

需要说明的是，上述图5所示的装置实施例中示出的转动检测子模块301A1和次数统计子模块301A2的结构也可以包含在前述图3的装置实施例中，对此本公开不进行限制。

请参见图6，图6是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置框图，该实施例在前述图3所示实施例的基础上，所述统计模块301可以包括第二统计子模块301C和第二设置子模块301D；其中：

所述第二统计子模块301C被配置为，统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数；

所述第二设置子模块301D被配置为，将所述计算次数设置为所述校准次数。

需要说明的是，上述图6所示的装置实施例中示出的第二统计子模块301C和第二设置子模块301D的结构也可以包含在前述图4-5的装置实施例中，对此本公开不进行限制。

请参见图7，图7是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置框图，该实施例在前述图3所示实施例的基础上，所述装置30还可以包括恢复模块304；其中：

所述恢复模块304被配置为，在所述电子罗盘校准成功后，将所述校准阈值恢复为默认值。

需要说明的是，上述图7所示的装置实施例中示出的恢复模块304的结构也可以包含在前述图4-6的装置实施例中，对此本公开不进行限制。

上述装置中各个模块的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程，在此不再赘述。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

相应的，本公开还提供一种电子罗盘的校准装置，所述装置包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于进行以下操作的指令：

统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断所述校准次数是否达到阈值；

当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

图8是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置的结构示意图。

如图8所示，根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置80，该装置80可以是计算机，移动电话，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图8，装置80可以包括以下一个或多个组件：处理组件81，存储器82，电源组件83，多媒体组件84，音频组件85，输入/输出(I/O)的接口86，传感器组件87，以及通信组件88。

处理组件81通常控制装置80的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件81可以包括一个或多个处理器89来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件81可以包括一个或多个模块，便于处理组件81和其他组件之间的交互。例如，处理部件81可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件84和处理组件81之间的交互。

存储器82被配置为存储各种类型的数据以支持在装置80的操作。这些数据的示例包括用于在装置80上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器82可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件83为装置80的各种组件提供电力。电源组件83可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置80生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件84包括在所述装置80和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件84包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置80处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件85被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件85包括一个麦克风(MIC)，当装置80处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器82或经由通信组件88发送。在一些实施例中，音频组件85还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口82为处理组件81和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件87包括一个或多个传感器，用于为装置80提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件87可以检测到装置80的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置80的显示器和小键盘，传感器组件87还可以检测装置80或装置80一个组件的位置改变，用户与装置80接触的存在或不存在，装置80方位或加速/减速和装置80的温度变化。传感器组件87可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件87还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件87还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件88被配置为便于装置80和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置80可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件88经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件88还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置80可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器82，上述指令可由装置80的处理器89执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

其中，当所述存储介质中的指令由移动终端的处理器执行时，使得移动终端能够执行一种来电处理方法，包括：

统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断所述校准次数是否达到阈值；

当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (9)

1.一种电子罗盘的校准方法，其特征在于，所述方法包括：

统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断所述校准次数是否达到阈值；

当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功；

当所述电子罗盘校准成功后，将所述校准阈值恢复为默认值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括：

统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数；

将所述转动次数设置为所述校准次数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数包括：

根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测；

对检测出的转动次数进行统计。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括：

统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数；

将所述计算次数设置为所述校准次数。

5.一种电子罗盘的校准装置，其特征在于，所述装置包括：

统计模块，用于统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断模块，用于判断所述校准次数是否达到阈值；

降低模块，用于在所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功；

恢复模块，用于在所述电子罗盘校准成功后，将所述校准阈值恢复为默认值。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述统计模块包括：

第一统计子模块，用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数；

第一设置子模块，用于将所述转动次数设置为所述校准次数。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一统计子模块包括：

转动检测子模块，用于根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测；

次数统计子模块，用于对检测出的转动次数进行统计。

8.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述统计模块包括：

第二统计子模块，用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数；

第二设置子模块，用于将所述计算次数设置为所述校准次数。

9.一种电子罗盘的校准装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数；

判断所述校准次数是否达到阈值；

当所述校准次数达到阈值时，如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值，则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准，直到校准成功；

当所述电子罗盘校准成功后，将所述校准阈值恢复为默认值。