CN104934315B - 一种晶体硅湿法氧化工艺 - Google Patents
一种晶体硅湿法氧化工艺 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104934315B CN104934315B CN201510364840.0A CN201510364840A CN104934315B CN 104934315 B CN104934315 B CN 104934315B CN 201510364840 A CN201510364840 A CN 201510364840A CN 104934315 B CN104934315 B CN 104934315B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- acid
- oxidation
- crystalline silicon
- wet
- spray rinsing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 title claims abstract description 50
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 19
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims abstract description 40
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 18
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 18
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000009279 wet oxidation reaction Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims abstract description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 31
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 26
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 12
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 9
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 9
- XTEGARKTQYYJKE-UHFFFAOYSA-N chloric acid Chemical compound OCl(=O)=O XTEGARKTQYYJKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229940005991 chloric acid Drugs 0.000 claims description 8
- QWPPOHNGKGFGJK-UHFFFAOYSA-N hypochlorous acid Chemical compound ClO QWPPOHNGKGFGJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- AFFLGGQVNFXPEV-UHFFFAOYSA-N n-decene Natural products CCCCCCCCC=C AFFLGGQVNFXPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims description 8
- VTJWAMHHYAHWRL-UHFFFAOYSA-N C1(=CC=CC=C1)S(=O)(=O)O.[O] Chemical compound C1(=CC=CC=C1)S(=O)(=O)O.[O] VTJWAMHHYAHWRL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 7
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 claims description 7
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 7
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 claims description 7
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 claims description 7
- 239000003945 anionic surfactant Substances 0.000 claims description 5
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- GVGUFUZHNYFZLC-UHFFFAOYSA-N dodecyl benzenesulfonate;sodium Chemical compound [Na].CCCCCCCCCCCCOS(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 GVGUFUZHNYFZLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229940080264 sodium dodecylbenzenesulfonate Drugs 0.000 claims description 4
- 238000007605 air drying Methods 0.000 claims description 3
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 10
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 abstract description 5
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 abstract description 3
- 238000009510 drug design Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 22
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 4
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N Dodecane Natural products CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HIVGXUNKSAJJDN-UHFFFAOYSA-N [Si].[P] Chemical compound [Si].[P] HIVGXUNKSAJJDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 oxygen benzene Sulfonic acid potassium salt Chemical compound 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- MZSDGDXXBZSFTG-UHFFFAOYSA-M sodium;benzenesulfonate Chemical compound [Na+].[O-]S(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 MZSDGDXXBZSFTG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Detergent Compositions (AREA)
Abstract
本发明公开了一种晶体硅湿法氧化工艺,提供一种新的氧化化学溶液组分,通过更改去磷硅片工艺步骤顺序(依次包括上料、去磷硅玻璃、喷淋漂洗、边缘刻蚀、喷淋漂洗、碱洗、喷淋漂洗、湿法氧化、喷淋漂洗、干燥、下料等步骤)。本发明提供氧化化学溶液配方,合理的设计工艺,减少残留的磷硅玻璃等对氧化化学药液的影响,确保氧化钝化效果。
Description
技术领域
本发明涉及一种晶体硅湿法氧化工艺。
背景技术
传统的晶体硅刻蚀及氧化工艺流程,包括以下几个步骤:上料 -湿法刻边 - 喷淋漂洗1 – 碱洗 – 喷淋漂洗2 – 去磷硅玻璃 – 喷淋漂洗3 –湿法氧化 –喷淋漂洗4 - 干燥– 下料。存在的问题是由于残留的磷硅玻璃等,污染氧化化学药液,导致钝化效果不好。
发明内容
本发明的目的在于提供一种新的氧化化学溶液配方,通过更改去磷硅片工艺步骤顺序,减少残留的磷硅玻璃等对氧化化学药液的影响确保氧化钝化效果。
本发明的技术解决方案是:
一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:依次包括以下步骤:
(1)上料 :将晶体硅片放入在线式湿化学设备轨道;
(2)去磷硅玻璃:在室温条件下,将晶体硅片浸泡于HF溶液,去除晶体硅两面及各边的磷硅玻璃;
(3)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(4)边缘刻蚀:用由HF酸、HNO3酸、H2SO4酸组成的刻蚀溶液进行边缘刻蚀;
(5)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(6)碱洗:去多孔硅,中和酸;
(7)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(8)湿法氧化:采用氧化化学溶液进行氧化处理;
(9)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(10)干燥:高温压缩空气干燥;
(11)下料,准备流入下道工序。
步骤(2)中,在室温条件下,将晶体硅片浸泡于浓度为1%~10%的HF溶液,去除晶体硅两面及各边的磷硅玻璃,表面为疏水状态。
步骤(3)中,在室温条件下,循环水由喷洒管注入,漂洗去除磷硅玻璃残留及HF酸。
步骤(5)中,在室温条件下,循环水由喷洒管注入,漂洗去除HF酸、HNO3酸、H2SO4酸残留。
步骤(6)中,在温度20℃~25℃的条件下,用0.1%~6%的KOH溶液,去多孔硅,中和前道的酸,处理时间为10秒~60秒。
步骤(8)中,氧化化学溶液由下列质量百分比的成分混合组成,氯气0~1%;次氯酸0~3%;氯酸0~1%;盐酸0~20%;双氧水0~3%;臭氧0~2%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0~0.5%;阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠0~0.5%;余量为水;氧化处理时,将上述氧化化学溶液与纯水按体积比1 : 1~20混合使用,氧化处理时间为5秒~90秒。
氧化化学溶液由下列质量百分比的成分混合组成,氯气0.1~1%;次氯酸0.1~3%;氯酸0.1~1%;盐酸0.1~20%;双氧水0.1~3%;臭氧0.1~2%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0.1~0.5%;阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠0.1~0.5%;余量为水。
步骤(10)中,通过30℃~80℃的压缩空气干燥硅片表面。
步骤(4)中,刻蚀溶液中HF的浓度为1%~10%,HNO3的浓度为10%~30%,H2SO4的浓度为10%~30%,余量为纯水,处理时间为60秒~130秒。
本发明晶体硅片通过湿法氧化工艺,完成氧化过程,制备出均匀的具有很好钝化效果的二氧化硅膜。
本发明确保湿法氧化其钝化效果,后期可进行热处理或者退火等工艺。
本发明提供一种新的氧化化学溶液配方,具有合理的设计工艺步骤,减少残留的磷硅玻璃等对氧化化学药液的影响,确保氧化钝化效果,工艺成本低,设备要求简单。
下面结合实施例对本发明作进一步说明。
具体实施方式
实施例1
一种晶体硅湿法氧化工艺,依次包括以下几个步骤:
(1)上料 :将晶体硅片放入在线式湿化学设备轨道;
(2)去磷硅玻璃:在室温条件下,将晶体硅片浸泡于浓度为1%~10%(例1%、5%、10%)的HF溶液,处理时间为20秒~90秒(例20秒、60秒、90秒),去除晶体硅两面及各边的磷硅玻璃,表面为疏水状态;
(3)喷淋漂洗1:纯水喷淋漂洗,在室温条件下,循环水由喷洒管(上方和下方独立)注入,漂洗去除磷硅玻璃残留及HF酸;
(4)边缘刻蚀:用HF酸,HNO3酸,H2SO4酸组成的刻蚀溶液,刻蚀溶液中HF的浓度为1%~10%(例1%、5%、10%),HNO3的浓度为10%~30%(例10%、20%、30%),H2SO4的浓度为10%~30%(例10%、20%、30%),余量为纯水,处理时间为60秒~130秒(例60秒、100秒、130秒);具有去掉硅片背面及周边p-n结的作用;
(5)喷淋漂洗2:纯水喷淋漂洗,在室温条件下,循环水由喷洒管(上方和下方独立)注入,漂洗去除HF酸,HNO3酸,H2SO4酸等残留;
(6)碱洗:在温度20℃~25℃(例20℃、22℃、25℃)的条件下,用0.1%~6%(例0.1%、3%、6%)的KOH溶液,去多孔硅,中和前道的酸,处理时间为10秒~60秒(例10秒、30秒、60秒);
(7)喷淋漂洗3:纯水喷淋漂洗,在室温条件下,循环水由喷洒管(上方和下方独立)注入,漂洗去除碱及金属离子;
(8)湿法氧化:采用氧化化学溶液进行氧化处理;氧化化学溶液有下列质量百分比的成分混合组成:氯气0.1%;次氯酸2%;氯酸1%;盐酸10%;双氧水0.1%;臭氧1%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0.1%;阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠0.3%;余量为水;氧化处理时,将上述氧化化学溶液与纯水按体积比1 : 1~20(例1:1、1:10、1:20)混合使用,氧化处理时间为5秒~90秒(例5秒、50秒、90秒),生长不同厚度的均匀的氧化层;
(9)喷淋漂洗4:纯水喷淋漂洗,在室温条件下,循环水由喷洒管(上方和下方独立)注入,漂洗去除氧化化学药液残留;
(10)干燥:通过30℃~80℃(例30℃、50℃、80℃)的压缩空气干燥硅片表面,不影响下道工序工艺效果;
(11)下料,晶体硅片通过湿法氧化工艺,完成氧化过程,制备出均匀的具有很好钝化效果的二氧化硅膜,准备流入下道工序;
为确保湿法氧化其钝化效果,后期还可进行热处理或者退火等工艺。
实施例2
氧化化学溶液有下列质量百分比的成分混合组成:氯气0.5%;次氯酸3%;氯酸0.1%;盐酸20%;双氧0.1%;臭氧1%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0.3%;阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠0.5%。其余同实施例1。
实施例3:
氧化化学溶液有下列质量百分比的成分混合组成:氯气1%;次氯酸0.1%;氯酸0.5%;盐酸1%;双氧水3%;臭氧2%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0.5%;阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠0.1%。其余同实施例1。
实施例4:
氧化化学溶液有下列质量百分比的成分混合组成:次氯酸1.5%;氯酸0~1%;盐酸13%;双氧水1%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0.5%。其余同实施例1。
Claims (9)
1.一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:依次包括以下步骤:
(1)上料:将晶体硅片放入在线式湿化学设备轨道;
(2)去磷硅玻璃:在室温条件下,将晶体硅片浸泡于HF溶液,去除晶体硅两面及各边的磷硅玻璃;
(3)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(4)边缘刻蚀:用由HF酸、HNO3酸、H2SO4酸组成的刻蚀溶液进行边缘刻蚀;
(5)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(6)碱洗:去多孔硅,中和酸;
(7)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(8)湿法氧化:采用氧化化学溶液进行氧化处理;
(9)喷淋漂洗:纯水喷淋漂洗;
(10)干燥:高温压缩空气干燥;
(11)下料,准备流入下道工序。
2.根据权利要求1所述的晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:步骤(2)中,在室温条件下,将晶体硅片浸泡于浓度为1%~10%的HF溶液,去除晶体硅两面及各边的磷硅玻璃,表面为疏水状态。
3.根据权利要求1所述的一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:步骤(3)中,在室温条件下,循环水由喷洒管注入,漂洗去除磷硅玻璃残留及HF酸。
4.根据权利要求1所述的一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:步骤(5)中,在室温条件下,循环水由喷洒管注入,漂洗去除HF酸、HNO3酸、H2SO4酸残留。
5.根据权利要求1所述的一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:步骤(6)中,在温度20℃~25℃的条件下,用0.1%~6%的KOH溶液,去多孔硅,中和前道的酸,处理时间为10秒~60秒。
6.根据权利要求1所述的一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:步骤(8)中,氧化化学溶液由下列质量百分比的成分混合组成,氯气0~1%;次氯酸0~3%;氯酸0~1%;盐酸0~20%;双氧水0~3%;臭氧0~2%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0~0.5%;阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠0~0.5%;余量为水;氧化处理时,将上述氧化化学溶液与纯水按体积比1:1~20混合使用,氧化处理时间为5秒~90秒。
7.根据权利要求6所述的一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:氧化化学溶液由下列质量百分比的成分混合组成,氯气0.1~1%;次氯酸0.1~3%;氯酸0.1~1%;盐酸0.1~20%;双氧水0.1~3%;臭氧0.1~2%;含氟表面活性剂全氟癸烯对氧苯磺酸钾盐0.1~0.5%;阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠0.1~0.5%;余量为水。
8.根据权利要求1所述的一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:步骤(10)中,通过30℃~80℃的压缩空气干燥硅片表面。
9.根据权利要求1所述的一种晶体硅湿法氧化工艺,其特征是:步骤(4)中,刻蚀溶液中HF的浓度为1%~10%,HNO3的浓度为10%~30%,H2SO4的浓度为10%~30%,余量为纯水,处理时间为60秒~130秒。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510364840.0A CN104934315B (zh) | 2015-06-29 | 2015-06-29 | 一种晶体硅湿法氧化工艺 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510364840.0A CN104934315B (zh) | 2015-06-29 | 2015-06-29 | 一种晶体硅湿法氧化工艺 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104934315A CN104934315A (zh) | 2015-09-23 |
CN104934315B true CN104934315B (zh) | 2017-08-22 |
Family
ID=54121425
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510364840.0A Active CN104934315B (zh) | 2015-06-29 | 2015-06-29 | 一种晶体硅湿法氧化工艺 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104934315B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108183149A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-19 | 安徽银欣新能源科技有限公司 | 一种太阳能电池片的生产方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN202308019U (zh) * | 2011-11-10 | 2012-07-04 | 常州华盛恒能光电有限公司 | 太阳能电池片去除磷硅玻璃装置 |
CN103855243A (zh) * | 2012-12-04 | 2014-06-11 | 东方日升新能源股份有限公司 | 太阳能电池片的制造工艺 |
CN104037257A (zh) * | 2013-03-08 | 2014-09-10 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 太阳能电池及其制造方法、单面抛光设备 |
CN104051564A (zh) * | 2013-03-14 | 2014-09-17 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 湿法刻蚀工艺、设备和太阳能电池及其制造方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6887776B2 (en) * | 2003-04-11 | 2005-05-03 | Applied Materials, Inc. | Methods to form metal lines using selective electrochemical deposition |
KR100964153B1 (ko) * | 2006-11-22 | 2010-06-17 | 엘지전자 주식회사 | 태양전지의 제조방법 및 그에 의해 제조되는 태양전지 |
-
2015
- 2015-06-29 CN CN201510364840.0A patent/CN104934315B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN202308019U (zh) * | 2011-11-10 | 2012-07-04 | 常州华盛恒能光电有限公司 | 太阳能电池片去除磷硅玻璃装置 |
CN103855243A (zh) * | 2012-12-04 | 2014-06-11 | 东方日升新能源股份有限公司 | 太阳能电池片的制造工艺 |
CN104037257A (zh) * | 2013-03-08 | 2014-09-10 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 太阳能电池及其制造方法、单面抛光设备 |
CN104051564A (zh) * | 2013-03-14 | 2014-09-17 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 湿法刻蚀工艺、设备和太阳能电池及其制造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104934315A (zh) | 2015-09-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104009122B (zh) | 一种丝网印刷返工硅片的处理方法 | |
CN103241958B (zh) | 一种液晶显示器玻璃基板的蚀刻方法 | |
CN102154711A (zh) | 一种单晶硅清洗液及预清洗工艺 | |
CN103151423A (zh) | 一种多晶硅片制绒清洗工艺方法 | |
US7531492B2 (en) | Composition for the removal of sidewall residues | |
CN105366961A (zh) | 防眩光玻璃的制造方法 | |
CN104377119A (zh) | 一种锗单晶抛光片的清洗方法 | |
CN105002564A (zh) | 一种环保型蓝宝石膜层退镀液及其使用方法 | |
CN106206280B (zh) | 一种硅晶片的单面去psg层及抛光的制备方法 | |
CN109537039A (zh) | 一种铝腐蚀箔前处理工艺 | |
CN104934315B (zh) | 一种晶体硅湿法氧化工艺 | |
CN102364697B (zh) | 一种去除rie制绒后晶体硅表面的微损伤层的方法 | |
CN105931947A (zh) | 一种硅片的清洗方法 | |
CN107090582A (zh) | 一种用于轴承零件表面磨削烧伤检测的酸洗腐蚀方法 | |
CN112871811A (zh) | 单片晶圆清洗系统及方法 | |
CN104576318A (zh) | 一种非晶硅表面氧化层形成方法 | |
CN103361734B (zh) | 一种提高多晶硅产出效率的方法 | |
CN103242985B (zh) | 一种有机发光微型显示器抗反射层清洗工艺 | |
CN103157620B (zh) | 一种硅晶片背面金属化前清洗的清洗液和清洗方法 | |
CN107814491A (zh) | 一种平板玻璃基板蚀刻液 | |
CN110610852A (zh) | 一种金属表面残胶的去除方法 | |
CN103013523B (zh) | 一种蚀刻剂及其制备和应用 | |
CN103646871A (zh) | 一种提高非晶硅表面氧化层均匀性的方法 | |
CN105366951A (zh) | 一种冰花蚀刻药水及其加工工艺 | |
CN103681241A (zh) | 可改善氧化层质量的清洗方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |