CN104932961A - 检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置 - Google Patents

检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104932961A
CN104932961A CN201510283495.8A CN201510283495A CN104932961A CN 104932961 A CN104932961 A CN 104932961A CN 201510283495 A CN201510283495 A CN 201510283495A CN 104932961 A CN104932961 A CN 104932961A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
line
tested line
tested
high level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510283495.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104932961B (zh
Inventor
李伟超
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangdong Genius Technology Co Ltd
Original Assignee
Guangdong Genius Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangdong Genius Technology Co Ltd filed Critical Guangdong Genius Technology Co Ltd
Priority to CN201510283495.8A priority Critical patent/CN104932961B/zh
Publication of CN104932961A publication Critical patent/CN104932961A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104932961B publication Critical patent/CN104932961B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供了一种检测终端设备中数据线邦定断路的方法,包括:配置待检测数据线,以输出高电平;延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线,以得到所述待检测数据线中的电平;判断所述电平是否与输出的高电平相匹配,若为是,则判定所述待检测数据线发生断路。此外,还提供了一种与该方法匹配的检测终端设备中数据线邦定断路的装置。上述检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置能准确判定邦定的数据线中发生的断路,并准确定位发生了断路的数据线。

Description

检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置
技术领域
本发明涉及终端设备生产技术领域,尤其涉及一种检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置。
背景技术
随着终端设备,例如点读机的应用越来越广泛,其生产效率的提高则变得至关重要。终端设备中,cpu一般使用邦定工艺的封装形式在电路板上植入,以节省成本。
然而,邦定封胶后,若发现其中的数据线出现断路则难以修复,因此,在邦定封胶之前,需要确认其中的数据线是否出现断路的情况,现有的做法一般是通过肉眼进行观察,但实际上并无法通过肉眼准确观察到异常,更无法定位哪一根数据线出现了断路。
发明内容
此外,有必要提供一种能准确判定邦定的数据线中发生的断路,并准确定位发生了断路的数据线的检测终端设备中数据线邦定断路的方法。
另外,还有必要提供一种能准确判定邦定的数据线中发生的断路,并准确定位发生了断路的数据线的检测终端设备中数据线邦定断路的装置。
一种检测终端设备中数据线邦定断路的方法,包括:
配置待检测数据线,以输出高电平;
延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线,以得到所述待检测数据线中的电平;
判断所述电平是否与输出的高电平相匹配,若为是,则
判定所述待检测数据线发生断路。
在其中一个实施例中,所述配置待检测数据线,以输出高电平的步骤包括:
配置所述待检测数据线为输出;
由所述配置为输出的待检测数据线输出高电平。
在其中一个实施例中,所述延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线,以得到所述待检测数据线中的电平的步骤包括:
延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线为输入;
读取所述配置为输入的待检测数据线中的电平。
在其中一个实施例中,所述待检测数据线为多根,逐根进行所述待检测数据线的配置和高电平的输出,以得到对每一根待检测数据线的判定。
在其中一个实施例中,所述方法还包括:
判断全部待检测数据线是否判定完成,若为是,则将未发生断路的全部待检测数据线配置为功能线,以还原所述全部待检测数据线的功能。
 一种检测终端设备中数据线邦定断路的装置,包括:
初始配置模块,用于配置待检测数据线,以输出高电平;
延迟处理模块,用于延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线,以得到所述待检测数据线中的电平;
判断模块,用于判断所述电平是否与输出的高电平相匹配,若为是,则判定所述待检测数据线发生断路。
在其中一个实施例中,所述初始配置模块包括:
输出配置单元,用于配置所述待检测数据线为输出;
电平输出单元,用于由所述配置为输出的待检测数据线输出高电平。
在其中一个实施例中,所述延迟处理模块包括:
输入配置单元,用于延迟预设时间后配置输出高电平的待检测数据线为输入;
读取单元,用于读取所述配置为输入的待检测数据线中的电平。
在其中一个实施例中,所述待检测数据线为多根,所述初始配置模块逐根进行所述待检测数据线的配置和高电平的输出,以得到对每一根待检测数据线的判定。
在其中一个实施例中,所述装置还包括:
完成判断模块,用于判断全部待检测数据线是否判定完成,若为是,则通知功能还原模块;
所述功能还原模块用于将未发生断路的全部待检测数据线配置为功能线,以还原所述全部待检测数据线的功能。
 与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:
终端设备的生产中,对数据线邦定封胶之前,将对该数据线进行检测,配置待检测数据线,以输出高电平,输出高电平的待检测数据线中,延迟预设时间后再次进行配置以得到其中的电平,若该电平与输出的高电平并不相匹配,则判定该待检测数据发生了断路,进而通过该过程准确发现邦定的数据线中发生的断路,并准确地定位了发生断路的数据线,准确率高,且判定速度快,有助于提高所在终端设备的生产效率。
附图说明
图1是为一个实施例中检测终端设备中数据线邦定断路的方法流程图;
图2为图1中配置待检测数据线,以输出高电平的方法流程图;
图3为图1中延迟预设时间后配置输出高电平的待检测数据线,以得到待检测数据线中的电平的方法流程图;
图4为另一个实施例中检测终端设备中数据线邦定断路的方法流程图;
图5为一个实施例检测终端设备中数据线邦定断路的装置的结构框图;
图6为图5中初始配置模块的结构框图;
图7为图5中延迟处理模块的结构框图;
图8是另一个实施例中检测终端设备中数据线邦定断路的装置的结构框图。
具体实施方式
体现本发明特征与优点的典型实施方式将在以下的说明中详细叙述。应理解的是本发明能够在不同的实施方式上具有各种的变化,其皆不脱离本发明的范围,且其中的说明及图示在本质上是当作说明之用,而非用以限制本发明。
如前所述,终端设备的生产中,需将cpu植入电路板板中,以完成cpu的封装,因此,将在cpu的邦定封胶之前确认cpu的数据线是否存在断路的情况,以避免邦定封胶之后数据线断开的情况发生。
例如,该数据线为lcd数据线,则将终端设备开机,并显示若干幅图片,技术人员通过肉眼观察lcd色彩是否有异常,该种方式的缺点在于:
(1)肉眼观察色彩效率低下;
(2)使用RGB模式的lcd数据线有16根,某一根lcd数据线断路时,往往色彩差异较小,难以通过肉眼观察出来,经常会出现漏网之鱼;
(3)即便观察发现色彩有异常,也很难定位是哪一根lcd数据线出现了断路。
因此,特提出一种检测终端设备中数据线邦定断路的方法。
在一个实施例中,具体的,该检测终端设备中数据线邦定断路的方法如图1所示,包括:
步骤110,配置待检测数据线,以输出高电平。
终端设备中,为减少干扰,数据线,如lcd数据线一般会在电路板上接入下拉电阻,其下拉电阻的电阻阻值可为10k。待检测数据线为该终端设备CPU中的lcd数据线。
具体的,如图2所示,该步骤110包括:
步骤111,配置待检测数据线为输出。
将待检测数据线配置成普通的输出,进而提供了输出口。
步骤113,由配置为输出的待检测数据线输出高电平。
通过配置为输出的待检测数据线中提供的输出口,输出高电平,此时,由于待检测数据线接入了下拉电阻,因此,在下拉电阻的作用下快速放电,很快地变成低电平,而在延迟了一定时间之后无法由输出口输出高电平。
步骤130,延迟预设时间后配置输出高电平的待检测数据线,以得到待检测数据线中的电平。
如上所述,将预先设置一定的时间,以在延迟该预设的时间之后,才进行待检测数据线中电平的检测。
具体的,在配置为输出的待检测数据线输出高电平之后,将进行计时,以待达到预设时间时触发进行该待检测数据线中电平的获取。
步骤150,判断该电平是否与输出的高电平相匹配,若为是,则进入步骤170,若为否,则进入步骤190。
延迟预设时间后将得到的电平与高电平进行大小匹配,若该电平的电阻阻值与高电平所对应的电阻阻值要适应,例如,该电平的电阻阻值与高电平所对应的电阻阻值相同或者相接近。
若延迟预设时间所得到的电平是与高电平不相匹配的,即该电平为低电平,则说明该待检测数据线接了下拉电阻而快速放电。
若延迟预设时间所得到的电平与高电平相匹配,则说明该待检测数据线断开,也就是说,该待检测数据线中的输出口悬空,其中的高电平将保持一定时间,因此,可判定得到这一待检测数据线并未发生断路,进而输出相应的判定结果。
步骤170,判定待检测数据线发生断路。
步骤190,判定待检测数据线未发生断路。
通过如上所述的过程,将实现了终端设备生产时数据线断路的快速判断,大大提高判断效率和准确率,并可快速定位是哪一根数据线出现断路。
进一步的,如图3所示,该步骤130包括:
步骤131,延迟预设时间后配置输出高电平的待检测数据线为输入。
等待预设时间之后,将当前配置为输出的待检测数据线配置为输入,以便于进行该待检测数据线中电平的读取。
步骤133,读取配置为输入的待检测数据线中的电平。
该读取得到的电平可能为高电平,也可能为低电平,其将由所在待检测数据线是否存在断路决定。
在一个实施例中,终端设备中待检测数据线为多根,与之相对应的,上述步骤110中,将逐根进行待检测数据线的配置和高电平的输出,以得到对每一根待检测数据线的判定。
也就是说,对于终端设备中的多根待检测数据线而言,将逐根进行是否断路的检测,以分别获知待检测数据线是否存在断路,进而方便定位断路的待检测数据线。
在一个实施例中,如图4所示,如上所述的方法还包括:
步骤410,判断全部待检测数据线是否判定完成,若为是,则进入步骤430,若为否,则返回步骤110。
终端设备中多根待检测数据线所进行的邦定断路检测中,若判断到全部待检测数据线已经全部判定完成,以获知全部待检测数据线均未发生断路之后,将进入步骤430还原待检测数据线的功能,例如,将当前具备输入输出功能的待检测数据线还原为lcd功能线。
若判断到全部待检测数据线尚未检测完成,则返回步骤110继续进行检测。
步骤430,将未发生断路的全部待检测数据线配置为功能线,以还原全部待检测数据线。
将所有待检测数据线配置为功能线,如lcd功能线,并初始从化lcd功能,以在屏幕中进行显示,从而结束整个检测过程,还原该数据线在终端设备中原本的功能。
 在一个实施例中,还相应地提供了一种检测终端设备中数据线邦定断路的装置,如图5所示,包括初始配置模块510、延迟处理模块530和判断模块550。
初始配置模块510,用于配置待检测数据线,以输出高电平。
终端设备中,为减少干扰,数据线,如lcd数据线一般会在电路板上接入下拉电阻,其下拉电阻的电阻阻值可为10k。待检测数据线为该终端设备CPU中的lcd数据线。
延迟处理模块530,用于延迟预设时间后配置输出高电平的待检测数据线,以得到待检测数据线中的电平。
如上所述,将预先设置一定的时间,以在延迟该预设的时间之后,延迟处理模块530才进行待检测数据线中电平的检测。
具体的,在配置为输出的待检测数据线输出高电平之后,延迟处理模块530将进行计时,以待达到预设时间时触发进行该待检测数据线中电平的获取。
判断模块550,用于判断电平是否与输出的高电平相匹配,若为是,则判定待检测数据线发生断路,若为否,则判定待检测数据线未发生断路。
延迟预设时间后判断模块550将得到的电平与高电平进行大小匹配,若该电平的电阻阻值与高电平所对应的电阻阻值要适应,例如,该电平的电阻阻值与高电平所对应的电阻阻值相同或者相接近。
若延迟预设时间所得到的电平是与高电平不相匹配的,即该电平为低电平,则说明该待检测数据线接了下拉电阻而快速放电。
若延迟预设时间所得到的电平与高电平相匹配,则说明该待检测数据线断开,也就是说,该待检测数据线中的输出口悬空,其中的高电平将保持一定时间,因此,可判定得到这一待检测数据线并未发生断路,进而输出相应的判定结果。
进一步的,在本实施例中,如图6所示,初始配置模块510包括输出配置单元511和电平输出单元513,其中:
输出配置单元511,用于配置待检测数据线为输出。
输出配置单元511将待检测数据线配置成普通的输出,进而提供了输出口。
电平输出单元513,用于由配置为输出的待检测数据线输出高电平。
电平输出单元513通过配置为输出的待检测数据线中提供的输出口,输出高电平,此时,由于待检测数据线接入了下拉电阻,因此,在下拉电阻的作用下快速放电,很快地变成低电平,而在延迟了一定时间之后无法由输出口输出高电平。
进一步的,在本实施例中,如图7所示,延迟处理模块530包括输入配置单元531和读取单元533,其中:
输入配置单元531,用于延迟预设时间后配置输出高电平的待检测数据线为输入。
等待预设时间之后,输入配置单元531将当前配置为输出的待检测数据线配置为输入,以便于进行该待检测数据线中电平的读取。
读取单元533,用于读取配置为输入的待检测数据线中的电平。
读取单元533读取得到的电平可能为高电平,也可能为低电平,其将由所在待检测数据线是否存在断路决定。
在一个实施例中,待检测数据线为多根,与之相对应的,初始配置模块510逐根进行待检测数据线的配置和高电平的输出,以得到对每一根待检测数据线的判定。
也就是说,对于终端设备中的多根待检测数据线而言,将逐根进行是否断路的检测,以分别获知待检测数据线是否存在断路,进而方便定位断路的待检测数据线。
在一个实施例中,如图8所示,如上所述的装置还包括完成判断模块810和功能还原模块830,其中:
完成判断模块810,用于判断全部待检测数据线是否判定完成,若为是,则通知功能还原模块830,若为否,则通知初始配置模块510。
终端设备中多根待检测数据线所进行的邦定断路检测中,若完成判断模块810判断到全部待检测数据线已经全部判定完成,以获知全部待检测数据线均未发生断路之后,将通知功能还原模块830还原待检测数据线的功能,例如,将当前具备输入输出功能的待检测数据线还原为lcd功能线。
若判断到全部待检测数据线尚未检测完成,则通知初始配置模块510继续进行检测。
功能还原模块830,用于将未发生断路的全部待检测数据线配置为功能线,以还原全部待检测数据线的功能。
功能还原模块830将所有待检测数据线配置为功能线,如lcd功能线,并初始从化lcd功能,以在屏幕中进行显示,从而结束整个检测过程,还原该数据线在终端设备中原本的功能。
 本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
 以上仅为本发明的较佳可行实施例,并非限制本发明的保护范围,凡运用本发明说明书及附图内容所做出的等效结构变化,均包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种检测终端设备中数据线邦定断路的方法,其特征在于,包括:
配置待检测数据线,以输出高电平;
延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线,以得到所述待检测数据线中的电平;
判断所述电平是否与输出的高电平相匹配,若为是,则
判定所述待检测数据线发生断路。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述配置待检测数据线,以输出高电平的步骤包括:
配置所述待检测数据线为输出;
由所述配置为输出的待检测数据线输出高电平。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线,以得到所述待检测数据线中的电平的步骤包括:
延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线为输入;
读取所述配置为输入的待检测数据线中的电平。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待检测数据线为多根,逐根进行所述待检测数据线的配置和高电平的输出,以得到对每一根待检测数据线的判定。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断全部待检测数据线是否判定完成,若为是,则将未发生断路的全部待检测数据线配置为功能线,以还原所述全部待检测数据线的功能。
6.一种检测终端设备中数据线邦定断路的装置,其特征在于,包括:
初始配置模块,用于配置待检测数据线,以输出高电平;
延迟处理模块,用于延迟预设时间后配置所述输出高电平的待检测数据线,以得到所述待检测数据线中的电平;
判断模块,用于判断所述电平是否与输出的高电平相匹配,若为是,则判定所述待检测数据线发生断路。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述初始配置模块包括:
输出配置单元,用于配置所述待检测数据线为输出;
电平输出单元,用于由所述配置为输出的待检测数据线输出高电平。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述延迟处理模块包括:
输入配置单元,用于延迟预设时间后配置输出高电平的待检测数据线为输入;
读取单元,用于读取所述配置为输入的待检测数据线中的电平。
9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述待检测数据线为多根,所述初始配置模块逐根进行所述待检测数据线的配置和高电平的输出,以得到对每一根待检测数据线的判定。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
完成判断模块,用于判断全部待检测数据线是否判定完成,若为是,则通知功能还原模块;
所述功能还原模块用于将未发生断路的全部待检测数据线配置为功能线,以还原所述全部待检测数据线的功能。
CN201510283495.8A 2015-05-28 2015-05-28 检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置 Expired - Fee Related CN104932961B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510283495.8A CN104932961B (zh) 2015-05-28 2015-05-28 检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510283495.8A CN104932961B (zh) 2015-05-28 2015-05-28 检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104932961A true CN104932961A (zh) 2015-09-23
CN104932961B CN104932961B (zh) 2019-01-11

Family

ID=54120133

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510283495.8A Expired - Fee Related CN104932961B (zh) 2015-05-28 2015-05-28 检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104932961B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111175636A (zh) * 2020-01-02 2020-05-19 广东科学技术职业学院 邦定检测电路及邦定检测装置

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3007475B2 (ja) * 1992-06-05 2000-02-07 三菱電機株式会社 メモリ装置
US6436583B1 (en) * 2000-08-04 2002-08-20 Moltech Corporation Storage life enhancement in lithium-sulfur batteries
CN1530662A (zh) * 2003-03-10 2004-09-22 盛群半导体股份有限公司 集成电路的检测方法
CN1595367A (zh) * 2004-07-06 2005-03-16 天津百维软件科技有限公司 一种检测PC Card接口数据线和地址线的方法
JP2006313419A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Seiko Epson Corp 検査システム、遅延回路、データ収集装置、データ遅延方法、データ遅延プログラム、記録媒体
CN101625651A (zh) * 2008-07-09 2010-01-13 中兴通讯股份有限公司 数据线检测方法/装置、地址线检测方法/装置
CN102164301A (zh) * 2010-12-28 2011-08-24 福州瑞芯微电子有限公司 一种lcd控制器与视频输入控制器的相互测试方法
CN102929755A (zh) * 2012-09-27 2013-02-13 许继集团有限公司 一种cpu模块地址和数据总线的故障检测方法
CN202815143U (zh) * 2012-10-08 2013-03-20 江西联创电子有限公司 柔性线路板触摸屏ic通道短/断路测试线路
CN103698654A (zh) * 2013-12-28 2014-04-02 珠海全志科技股份有限公司 芯片管脚的开路短路测试装置及测试方法
CN104459514A (zh) * 2014-11-04 2015-03-25 兵器工业卫生研究所 一种i/o端口逻辑检测方法及检测系统

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3007475B2 (ja) * 1992-06-05 2000-02-07 三菱電機株式会社 メモリ装置
US6436583B1 (en) * 2000-08-04 2002-08-20 Moltech Corporation Storage life enhancement in lithium-sulfur batteries
CN1530662A (zh) * 2003-03-10 2004-09-22 盛群半导体股份有限公司 集成电路的检测方法
CN1595367A (zh) * 2004-07-06 2005-03-16 天津百维软件科技有限公司 一种检测PC Card接口数据线和地址线的方法
JP2006313419A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Seiko Epson Corp 検査システム、遅延回路、データ収集装置、データ遅延方法、データ遅延プログラム、記録媒体
CN101625651A (zh) * 2008-07-09 2010-01-13 中兴通讯股份有限公司 数据线检测方法/装置、地址线检测方法/装置
CN102164301A (zh) * 2010-12-28 2011-08-24 福州瑞芯微电子有限公司 一种lcd控制器与视频输入控制器的相互测试方法
CN102929755A (zh) * 2012-09-27 2013-02-13 许继集团有限公司 一种cpu模块地址和数据总线的故障检测方法
CN202815143U (zh) * 2012-10-08 2013-03-20 江西联创电子有限公司 柔性线路板触摸屏ic通道短/断路测试线路
CN103698654A (zh) * 2013-12-28 2014-04-02 珠海全志科技股份有限公司 芯片管脚的开路短路测试装置及测试方法
CN104459514A (zh) * 2014-11-04 2015-03-25 兵器工业卫生研究所 一种i/o端口逻辑检测方法及检测系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王展: "元器件开短路测试应用", 《电子质量》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111175636A (zh) * 2020-01-02 2020-05-19 广东科学技术职业学院 邦定检测电路及邦定检测装置
CN111175636B (zh) * 2020-01-02 2022-09-13 广东科学技术职业学院 邦定检测电路及邦定检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN104932961B (zh) 2019-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103149526B (zh) Pcba板测试系统及方法
CN104317712A (zh) 一种基于linux的存储服务器疲劳测试方法
CN104466470A (zh) 防抖动sd卡座、终端及识别sd卡插拔状态的方法
CN107015891A (zh) 信息处理方法及测试芯片
CN103631246A (zh) 电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统
CN103941788A (zh) 芯片自适应电压调整器及方法
EP3715778A1 (en) Control method for smart power module, device, storage medium and processor
CN104635141B (zh) 一种集成电路检测方法、装置及系统
CN116580657A (zh) 故障检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN108802704A (zh) 一种基于cpld的雷达发射脉冲检测与保护系统及方法
CN205725685U (zh) 基于可编程逻辑芯片的周期脉冲信号自动检测保护模块
CN104932961A (zh) 检测终端设备中数据线邦定断路的方法和装置
CN104730504A (zh) 一种面向二次雷达询问系统的测试系统及其测试方法
CN104991846B (zh) 一种移动终端工作模式的切换系统和方法
CN104237671A (zh) 具有至少一个带有至少一个显示装置的现场设备的测量系统以及用于操作该系统的方法
CN108089110A (zh) 主板可靠性测试方法及系统
CN101719383B (zh) 闪存芯片的测试方法
CN104581808B (zh) 测试移动网络性能的方法、装置及移动终端
CN105223489A (zh) 一种互锁电路测试设备及测试方法
CN109900979A (zh) 电压抑制器测试电路和测试电压抑制器的方法
CN101661065A (zh) 电子产品自动化测试系统和方法
CN207515633U (zh) 一种可进行高精度总线通信延时控制的全电子引信测试仪
CN106371026A (zh) 一种标配电池识别方法及系统
CN111737072B (zh) 一种硬盘tx信号的眼图测试系统及方法
CN107764143A (zh) 一种可进行高精度总线通信延时控制的全电子引信测试仪及其测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20190111