CN104904315B - 检测运行调光器的存在的检测电路及方法、及相应的设备 - Google Patents

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Abstract

用于检测被布置为对灯(14)进行调光的运行调光器的存在的检测电路(1、2)包括用于测量被布置为传送用于灯(14)的可能经调光的馈送信号的耦合(12)处的阻抗的第一电路(1)。第一电路(1)提供限定所测量的阻抗的第一输出信号，所测量的阻抗包括在大于市电频率的频率下的阻抗。检测电路(1、2)进一步包括用于分析第一输出信号的第二电路(2)。第二电路(2)提供第二输出信号，该第二输出信号限定运行调光器是否存在。每个时间间隔可以测量阻抗若干次。在时间间隔内，所测量的阻抗的特定最小偏离或者更多的改变可以指示运行调光器的存在。第二电路(2)可以包括滤波器(21)、平均电路(22)、阈值电路(23)、比较器(24)以及控制器(25)。

Description

检测运行调光器的存在的检测电路及方法、及相应的设备
技术领域
本发明涉及用于检测被布置为对灯进行调光的运行调光器的存在的检测电路。本发明进一步涉及设备，并且涉及方法。
这种设备的示例为包括用于检测运行调光器的存在的检测电路或者包括用于接收来自检测电路的信息的输入的灯和滤波器以及电源转换器。
背景技术
用于检测被布置为对灯进行调光的运行调光器的存在的现有检测电路检测市电和灯之间的电压电平，并且使它们的决定基于检测到的电压电平。这些决定相对不可靠。
US20120217900A公开了一种LED驱动电路，并且它特别公开了在其阻抗检测电路72中，如果当电流由电流抽取电路71抽取时LED驱动电路4D的阻抗高，以及阻抗检测部分70D能够检测阻抗调整部分60D的阻抗值。
发明内容
本发明的目的是提供改进的检测电路。这种改进的检测电路做出相对可靠的决定。本发明的进一步的目的是提供改进的设备、改进的灯、改进的电源转换器以及改进的方法。
根据第一方面，提供用于检测被布置为对灯进行调光的运行调光器的存在的检测电路，该检测电路包括
-第一电路，用于测量被布置为传送用于灯的可能经调光的馈送信号的耦合处的阻抗，并且用于提供第一输出信号，该第一输出信号限定所测量的阻抗，该所测量的阻抗包括在大于市电频率的频率 下的阻抗，以及
-第二电路，用于分析第一输出信号并且用于提供第二输出信号，该第二输出信号限定运行调光器是否存在。
耦合的一侧例如可能经由调光器耦合到市电。耦合的另一侧可能经由电源转换器或者另一单元耦合到灯。当调光器存在并且在运行时，耦合将经调光的馈送信号传送到灯。当调光器存在而不调光时或者当调光器被桥接时或者当调光器不存在时，耦合将未调光的馈送信号传送到灯。第一电路确定耦合处的阻抗并且提供第一输出信号。阻抗例如在两导体耦合的导体之间或者在一导体耦合的一个导体和地之间或者在灯、电源转换器或者另一单元(当连接到耦合时)的端子之间等测量。所测量的阻抗为在大于市电频率的频率下的阻抗。第一输出信号以更精确的方式或者更不精确的方式并且以绝对方式或者相对方式等来限定该所测量的阻抗。第二电路分析第一输出信号并且提供第二输出信号。第二输出信号限定运行调光器是否存在。
因此，已经提供了改进的检测电路。这种改进的检测电路做出相对可靠的决定。这些决定相对可靠，原因在于所测量的阻抗已经显现为比独立于频率值检测的现有技术电压电平更可靠的值。
阻抗可以在一个固定频率下确定或者在一个可变频率下确定或者在多个频率下确定，例如在频带内，在基频和其谐频下等。
检测电路的实施例被限定为：第一电路被布置为每个时间间隔测量阻抗若干次，在时间间隔内，所测量的阻抗的特定最小偏离或者更多的至少一个改变指示运行调光器的存在。时间间隔为例如市电的半个周期(诸如在50Hz下为10毫秒或者在60Hz下为8.4毫秒)或者整个周期或者多个周期等。特定最小偏离是例如真实平均值的特定最小变化或者计算的平均值的特定最小变化或者另一值的特定最小变化等。优选地，至少两个改变可以指示运行调光器的存在：从第一阻抗值到第二阻抗值的第一改变，和从第二阻抗值到第一阻抗值的第二改变。在每个转变期间，可以出现不同于第一和第 二值的任何值，但是在转变结束时，将达到设置。
检测电路的实施例由第二电路限定，该第二电路包括
-滤波器，用于对第一输出信号进行滤波，
-平均电路，用于对经滤波的第一输出信号进行平均，
-阈值电路，用于响应于经平均且经滤波的第一输出信号而提供阈值，
-比较器，用于将经滤波的第一输出信号与阈值进行比较，以及
-控制器，用于响应于来自比较器的比较结果而产生第二输出信号。
滤波器对更高(得多)的频率和/或更低(得多)的频率进行滤波。平均电路确定任何种类的平均值。阈值电路提供阈值，分别诸如平均值减去最小变化或者诸如平均值加上最小变化。比较器将经滤波的第一输出信号与阈值进行比较，并且通知控制器经滤波的第一输出信号的值是否分别小于或者大于阈值。控制器处理该信息并且产生第二输出信号。
检测电路的实施例被限定为：阈值包括第一和第二阈值，比较器被布置为将经滤波的第一输出信号与第一和第二阈值进行比较，并且控制器被布置为响应于来自比较器的第一和第二比较结果而产生第二输出信号。阈值电路提供第一阈值，诸如平均值加上最小变化，并且提供第二阈值，诸如平均值减去最小变化。比较器将经滤波的第一输出信号与阈值进行比较，并且通知控制器经滤波的第一输出信号的值大于第一阈值或者小于第二阈值，或者在两者之间。控制器处理该信息并且产生第二输出信号。
限定了检测电路的实施例，其中控制器被布置为进一步响应于第一输出信号、经滤波的第一输出信号和/或经平均且经滤波的第一输出信号而产生第二输出信号，和/或其中假设存在运行调光器，第二输出信号进一步限定运行调光器的一个或者多个特性。这种特性可以是用于区分前沿调光器和后沿调光器的前沿和后沿，并且可以是用于标识调光器的标识等。这些特性可以从所测量的阻抗改变的 方式(线性、非线性、具有相对陡峭的坡度、具有相对不陡峭的坡度、具有增加的改变、具有减少的改变等)得出。
对于上述实施例，阻抗例如由包括阻抗测量单元的第一电路来测量。阻抗测量单元将生成所述频率下的电压信号，并且将其加到耦合，并且接着检测起因于电压信号的在所述频率下的电流信号，并且接着将检测结果转换为阻抗(例如通过将电压信号除以电流信号)。备选地，阻抗例如由包括滤波器和检测器的第一电路来测量，借此，滤波器对馈送(电压)信号的在所选择的范围之外的所有其它频率分量进行滤波，并且检测器在大于市电频率的所述频率下检测馈送(电压)信号的在所选择的范围内的频率分量。后一情形基于如下假设，即运行调光器通常改变馈送信号，使得很多不同频率下的阻抗被改变。专用频率或者频率范围用于确定，其它频率将被滤除。
这种阻抗测量单元可能相对复杂并且相对高成本，并且使用由未知的并且因此不可预测的调光器创建的很多不同频率分量之一有时可能不是理想的解决方案。以下实施例提供对其改进的解决方案。
检测电路的实施例由第一电路限定，该第一电路包括
-第一输入，连接到所述耦合，
-第二输入，连接到被布置为生成所述频率下的信号的生成器，以及
-输出，用于提供第一输出信号或者经滤波的第一输出信号。
根据这一实施例，所述频率下的信号被生成并且用于确定阻抗。在这种情形下，信号可以是电压信号，并且(经滤波的)第一输出信号可以是(经滤波的)第一输出电压信号。该(经滤波的)第一输出电压信号表示所测量的阻抗，而不应该与如根据现有技术检测的电压电平混淆。这些现有技术检测的电压电平与在大于市电频率的所述频率下测量的阻抗无关。
检测电路的实施例由第一电路限定，该第一电路进一步包括：变压器，第一绕组耦合到第一输入，第二绕组耦合到第二输入，第 二绕组进一步耦合到网络，该网络耦合到输出。
变压器提供电流隔离，并且将高频信号和耦合组合，使得高频阻抗可以经由网络(的一部分)确定。假设不需要电流隔离，则可以避开变压器。
优选地，检测电路可以进一步被限定为：第一绕组经由第一电容器耦合到第一输入的端子，第二绕组经由第一电阻器、第二电容器和缓冲器的第一串联连接耦合到第二输入的端子，以及网络包括第二电阻器和第三电容器的第二串联连接，第二串联连接并联耦合到第二绕组，并且输出的端子并联耦合到第三电容器。这是例如可以用于测试目的的低成本并且简单并且稳健的实施例。
检测电路的实施例被限定为：耦合被布置为经由电源转换器连接到灯。该实施例不需要附加的生成器，而是使用现有的电源转换器(还称为开关模式电源)。大于市电频率的频率可以例如被选择为等于电源转换器的开关频率。
检测电路的实施例被限定为：电源转换器的开关频率为用于改进第一输出信号和/或第二输出信号的质量的可适配(adaptable)开关频率。通过适配电源转换器的开关频率，减少了可能存在的电磁干扰滤波器的影响，原因在于电磁干扰滤波器通常被设计为抑制一个特定开关频率。每个时间间隔可以针对大于市电频率的同一频率或者针对每个都大于市电频率的不同频率来测量阻抗。
检测电路的实施例由电源转换器的滤波器限定，该滤波器为用于改进第一输出信号和/或第二输出信号的质量的可适配滤波器。以此方式，可以减少存在的滤波器的影响。滤波器可以位于电源转换器内部或者外部。
根据第二方面，提供设备，该设备包括如上面限定的检测电路，并且进一步包括滤波器、电源转换器和/或灯。
根据第三方面，提供设备，该设备包括如上面限定的检测电路，并且进一步包括灯，该灯包括至少一个发光二极管。
根据第四方面，提供设备，该设备包括用于接收来自如上面限 定的检测电路的第二输出信号的输入。经由第二输出信号，信息从检测电路被供应到该设备，以用于响应于该信息来调整该设备。
根据实施例，设备被限定为：进一步包括滤波器、电源转换器和/或灯。优选地，滤波器、电源转换器和/或灯可以响应于第二输出信号而被调整。
根据第五方面，提供用于检测被布置为对灯进行调光的运行调光器的存在的方法，该方法包括如下步骤
-测量被布置为传送用于灯的可能经调光的馈送信号的耦合处的阻抗并且提供测量结果，该测量结果限定所测量的阻抗，所测量的阻抗包括在大于市电频率的频率下的阻抗，以及
-分析第一结果并且提供分析结果，该分析结果限定运行调光器是否存在。
见解在于，调光器可以被视为电源部分和控制部分的平行布置。电源部分包括“断开”或者“闭合”的开关。一般，控制部分中的可能电流的幅度(例如1mA至100mA)大幅低于电源部分中的可能电流的幅度(例如大于1000mA)。此外，电源部分针对低压差(dropoutvoltage)而设计，以便最小化调光器中的损耗。相比之下，控制部分被设计为传送受限的电流，而跨调光器端子预设显著的电压降。换言之，电源部分的阻抗可以(很)低或者(很)高，而控制部分的阻抗可以在中等到(很)高之间的某处。并且使调光器的阻抗位于与市电的阻抗串联。
基本构思是，检测电路应该测量一方面的市电(和可能的调光器)和另一方面的灯之间的阻抗，并且应该分析测量结果以发现是否存在运行调光器。
已经解决了提供改进的检测电路的问题。另外的优势是，检测结果可以用于改进灯和/或电源转换器的操作。
本发明的这些和其它方面将通过参照下文描述的实施例而显而易见和阐明。
附图说明
在附图中：
图1示出了包括第一电路和第二电路的检测电路的实施例，
图2示出了第一电路的实施例，
图3示出了与电源转换器和滤波器组合的检测电路，
图4示出了滤波器相对频率的衰减，
图5示出了假设不存在调光器，在某个频率下的阻抗值，
图6示出了假设存在调光器但是调光器被关闭，在某个频率下的阻抗值，
图7示出了在某个频率下的阻抗值，阻抗的值由于第一调光器存在而改变，并且
图8示出了在某个频率下的阻抗值，阻抗的值由于第二调光器存在而改变。
具体实施方式
在图1中，示出了包括第一电路1和第二电路2的检测电路1、2的实施例。此处包括两个导体的耦合12连接到表示市电或者市电和调光器的组合的单元11，并且经由电源转换器13连接到灯14。备选地，耦合12可以包括一个导体，其中另一导体接地。备选地，电源转换器13可以省略。然而，假设灯14包括任何种类或者以任何组合的一个或者多个发光二极管，则将通常存在电源转换器13。
检测电路1、2包括连接到耦合的用于测量耦合12处的阻抗的第一电路1。耦合12被布置为传送用于灯14的可能经调光的馈送信号。第一电路1将第一输出信号提供到第二电路2。该第一输出信号限定所测量的阻抗。第二电路2分析第一输出信号并且提供第二输出信号。该第二输出信号限定运行调光器是否存在。
阻抗为在大于50Hz或者60Hz的市电频率的频率下的阻抗。这一测量的阻抗是单元11的阻抗和单元14或者13+14的阻抗的并联连接，同时排除了耦合12本身的阻抗。假设单元11包括运行调光 器，则单元11的阻抗将表现出可以经由第一电路1测量的相对大的改变。
第一电路1每个时间间隔测量阻抗若干次。在时间间隔内，高频阻抗的特定最小偏离或者更多的至少一个改变将指示运行调光器的存在。该时间间隔为例如市电的半个周期(诸如在50Hz下为10毫秒或者在60Hz下为8.4毫秒)或者整个周期或者多个周期等。特定最小偏离是例如真实平均值的特定最小偏离或者计算的平均值的特定最小偏离或者另一值的特定最小偏离等。
第二电路2包括用于对第一输出信号进行滤波的滤波器21、用于对经滤波的第一输出信号进行平均的平均电路22以及用于响应于经平均且经滤波的第一输出信号而提供阈值的阈值电路23。第二电路2进一步包括用于将经滤波的第一输出信号与阈值进行比较的比较器24，以及用于响应于来自比较器24的比较结果而产生第二输出信号的控制器25。滤波器21对更高(得多)的频率和更低(得多)的频率进行滤波。平均电路22确定任何种类的平均值。阈值电路23提供阈值，分别诸如平均值减去最小变化或者诸如平均值加上最小变化。比较器24将经滤波的第一输出信号与阈值进行比较，并且通知控制器25经滤波的第一输出信号的值是否分别小于或大于阈值。控制器25处理该信息并且产生第二输出信号。
优选地，阈值电路23提供第一阈值，诸如平均值加上最小变化，并且提供第二阈值，诸如平均值减去最小变化。比较器24将经滤波的第一输出信号与阈值进行比较，并且通知控制器25经滤波的第一输出信号的值大于第一阈值或者小于第二阈值值，或者在两者之间。控制器25处理该信息并且产生第二输出信号。
优选地，为了产生第二输出信号，控制器25可以使用第一输出信号和/或经滤波的第一输出信号和/或经平均且经滤波的第一输出信号。进一步地，控制器25可以控制第一电路1以用于适配测量、控制滤波器21以用于适配滤波、控制平均电路22以用于适配平均、控制阈值电路23以用于适配一个或多个阈值、控制电源转换器13 以用于适配电源转换器特征以及控制灯14以用于适配灯特征。又进一步地，第一电路1和电源转换器13可以交换用于适配其功能的信息。最终，假设存在运行调光器，则第二输出信号可以进一步限定该运行调光器的一个或者多个特性。该第二输出信号可以进一步被供应到电源转换器13以用于适配电源转换器特征或者另一特征，并且被供应到灯14以用于适配灯特征或者另一特征。
在图2中，示出了第一电路1的实施例。第一电路1包括：将被连接到所述耦合12的第一输入31、32；将被连接到被布置为生成在所述频率下的信号的生成器的第二输入41、42；以及用于提供第一输出信号或者经滤波的第一输出信号的输出43、42。第一电路1可以进一步包括变压器34。变压器34的第一绕组经由第一电容器33耦合到第一输入31、32。变压器34的第二绕组经由第一电阻器46、第二电容器45以及缓冲器44的第一串联连接耦合到第二输入41、42。第二绕组进一步耦合到包括第二电阻器47和第三电容器48的第二串联连接的网络47、48。第二串联连接并联耦合到第二绕组，并且输出43、42的端子并联耦合到第三电容器48。
假设存在电源转换器13，代替使用图2中所示的实施例，可以使用还称为开关模式电源的现有电源转换器13以用于提供在大于市电频率的频率下的信号。该频率可以例如选择为等于电源转换器13的开关频率。优选地，电源转换器13的开关频率可以为用于改进第一输出信号和/或第二输出信号的质量的可适配开关频率。通过适配电源转换器13的开关频率(例如经由来自控制器25的控制信号或者经由第一或者第二输出信号)，减少了可能存在的电磁干扰滤波器的影响，原因在于电磁干扰滤波器通常被设计为抑制一个特定开关频率。每个时间间隔可以针对大于市电频率的同一频率或者针对每个都大于市电频率的不同频率来测量阻抗。
在图3中，示出了与电源转换器13和滤波器15组合的检测电路1、2，并且在图4中，示出了滤波器15相对频率的衰减。检测电路1、2可以控制电源转换器13暂时地将开关频率fsw减少到将针对 其测量阻抗的频率fimp，以便减少滤波器15的影响，滤波器15在fimp下比在fsw下具有更小的衰减。检测电路1、2可以进一步控制滤波器15暂时地减少将针对其测量阻抗的频率fimp处的衰减，以便减少滤波器15的影响。以此方式，可以改进第一输出信号和/或第二输出信号的质量。
在图5中，以如经由如图2所示的第一电路1捕获的(高频)信号的信号幅度的形式(竖直轴：信号幅度，水平轴：时间，从左至右总持续时间为20毫秒)，示出了在某个频率下的阻抗值(假设不存在调光器)。(高频)信号的幅度是对阻抗的指示。基于针对第一电路1选择的部件值(诸如第一电阻器46的值)，信号幅度可以被转化为阻抗。该阻抗的值是稳定的，因为(高频)信号的幅度是稳定的(考虑到(高频)信号，图中的两个低频偏离将被忽略)。
在图6中，示出了在某个频率下的阻抗值，假设存在调光器但是调光器被关闭(竖直轴：信号幅度，水平轴：时间，从左至右总持续时间为20毫秒)。
在图7中，示出了在某个频率下的阻抗值，由于第一调光器的存在，阻抗的值改变(竖直轴：信号幅度，水平轴：时间，从左至右总持续时间为20毫秒)。
在图8中，示出了在某个频率下的阻抗值，由于第二调光器的存在，阻抗的值改变(竖直轴：信号幅度，水平轴：时间，从左至右总持续时间为20毫秒)。
很清楚，阻抗在市电周期期间改变，即在市电周期的每个半周期内有至少一个时间段，其中阻抗值低于平均值，并且有至少一个时间段，其中阻抗值高于平均值。这将由第二电路2分析。
检测电路1、2的部分(诸如第一电路1(的一部分)或者第二电路2(的一部分))可以通过硬件、软件或者以上两者的混合来实现。此外，电路1和2中的每一个电路可以至少部分地以模拟方式、以数字方式或者以上两者的混合方式来发挥功能。
综上，用于检测被布置为对灯14进行调光的运行调光器的存在 的检测电路1、2包括第一电路1，该第一电路用于测量耦合12处的阻抗，耦合12被布置为传送用于灯14的可能经调光的馈送信号。第一电路1提供限定所测量的阻抗的第一输出信号，所测量的阻抗包括在大于市电频率的频率下的阻抗。检测电路1、2进一步包括用于分析第一输出信号的第二电路2。第二电路2提供第二输出信号，该第二输出信号限定运行调光器是否存在。每个时间间隔可以测量阻抗若干次。在时间间隔内，所测量的阻抗的特定最小偏离或者更多的改变可以指示运行调光器的存在。第二电路2可以包括滤波器21、平均电路22、阈值电路23、比较器24以及控制器25。
虽然已经在附图和前述描述中详细地说明和描述了本发明，但是这种说明和描述将被认为是说明性的或者示例性的而非限制性的；本发明不限于所公开的实施例。所公开的实施例的其它变化可以由本领域技术人员在实践所要求保护的发明中从对附图、公开内容以及所附权利要求书的学习中来理解和实现。在权利要求书中，词语“包括”不排除其它元件或者步骤，并且不定冠词“一”或者“一个”不排除多个。仅凭在互相不同的从属权利要求中记载某些措施的事实，不指示这些措施的组合不能被使用以获利。权利要求中的任何附图标记不应该解释为对范围进行限制。

Claims (15)

1.一种用于检测运行调光器的存在的检测电路(1、2)，所述运行调光器被布置为对灯(14)进行调光，所述检测电路(1、2)包括：
-第一电路(1)，用于测量被布置为传送用于所述灯(14)的可能经调光的馈送信号的耦合(12)处的阻抗，并且用于提供第一输出信号，所述第一输出信号限定所测量的阻抗，所述耦合(12)被适配为连接到市电或者所述市电和所述运行调光器的组合，并且所述所测量的阻抗包括针对大于市电频率的频率测量的阻抗，以及
-第二电路(2)，用于分析所述第一输出信号并且用于提供第二输出信号，所述第二输出信号限定所述运行调光器是否存在，
其中当存在运行调光器时所述所测量的阻抗包括所述运行调光器的阻抗，并且所述第二电路(2)被适配用于在所述所测量的阻抗表现出改变的情况下提供限定所述运行调光器存在的所述第二输出信号。
2.如权利要求1所述的检测电路(1、2)，所述第一电路(1)被布置为每个时间间隔测量所述阻抗若干次，在所述时间间隔内，所述所测量的阻抗的特定最小偏离或者更多的至少一个改变指示所述运行调光器的存在，和/或
所述第一电路(1)用于测量一方面的所述市电和另一方面的所述灯之间串联的所述阻抗。
3.如权利要求1所述的检测电路(1、2)，所述第二电路(2)包括：
-滤波器(21)，用于对所述第一输出信号进行滤波，
-平均电路(22)，用于对经滤波的第一输出信号进行平均，
-阈值电路(23)，用于响应于经平均且经滤波的第一输出信号而提供阈值，
-比较器(24)，用于将所述经滤波的第一输出信号与所述阈值进行比较，以及
-控制器(25)，用于响应于来自所述比较器(24)的比较结果而产生所述第二输出信号。
4.如权利要求3所述的检测电路(1、2)，所述阈值包括第一阈值和第二阈值，所述比较器(24)被布置为将所述经滤波的第一输出信号与所述第一阈值和所述第二阈值进行比较，并且所述控制器(25)被布置为响应于来自所述比较器(24)的第一比较结果和第二比较结果而产生所述第二输出信号。
5.如权利要求3所述的检测电路(1、2)，其中所述控制器(25)被布置为进一步响应于所述第一输出信号、所述经滤波的第一输出信号和/或所述经平均且经滤波的第一输出信号而产生所述第二输出信号，和/或其中假设存在所述运行调光器，所述第二输出信号进一步限定所述运行调光器的一个或者多个特性。
6.如权利要求1所述的检测电路(1、2)，所述第一电路(1)包括：
-第一输入(31、32)，连接到所述耦合(12)，
-第二输入(41、42)，连接到被布置为生成所述频率下的信号的生成器，以及
-输出(43、42)，用于提供所述第一输出信号或者经滤波的第一输出信号。
7.如权利要求6所述的检测电路(1、2)，所述第一电路(1)进一步包括：
-变压器(34)，第一绕组耦合到所述第一输入(31、32)，第二绕组耦合到所述第二输入(41、42)，所述第二绕组进一步耦合到网络(47、48)，所述网络(47、48)耦合到所述输出(43、42)。
8.如权利要求1所述的检测电路(1、2)，所述耦合(12)被布置为经由电源转换器(13)连接到所述灯(14)。
9.如权利要求8所述的检测电路(1、2)，所述电源转换器(13)的开关频率为用于改进所述第一输出信号和/或所述第二输出信号的质量的可适配开关频率。
10.如权利要求8所述的检测电路(1、2)，所述电源转换器(13)的滤波器为用于改进所述第一输出信号和/或所述第二输出信号的质量的可适配滤波器。
11.一种包括如权利要求1所述的检测电路(1、2)的设备，并且进一步包括滤波器(15)、电源转换器(13)和/或所述灯(14)。
12.一种包括如权利要求1所述的检测电路(1、2)的设备，并且进一步包括所述灯(14)，所述灯包括至少一个发光二极管。
13.一种包括输入的设备，所述输入用于接收来自如权利要求1所述的检测电路(1、2)的所述第二输出信号。
14.如权利要求13所述的设备，进一步包括滤波器(15)、电源转换器(13)和/或所述灯(14)。
15.一种用于检测运行调光器的存在的方法，所述运行调光器被布置为对灯进行调光，所述方法包括如下步骤：
-测量被布置为传送用于所述灯的可能经调光的馈送信号的耦合(12)处的阻抗并且提供测量结果，所述耦合(12)被适配为连接到市电或者所述市电和所述运行调光器的组合，所述测量结果限定所测量的阻抗，所述所测量的阻抗包括针对大于市电频率的频率测量的阻抗，以及
-分析第一结果并且提供分析结果，所述分析结果限定所述运行调光器是否存在，其中在所述所测量的阻抗表现出改变的情况下，分析结果限定所述运行调光器存在。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1348675A (zh) * 1999-04-21 2002-05-08 电源电路创新公司 具有气隙分路松耦合变压器的频率受控镇流器及使用方法
CN101427611A (zh) * 2006-04-10 2009-05-06 路创电子公司 具有可变的驱动电路的负荷控制装置
WO2011140631A1 (en) * 2010-05-11 2011-11-17 Arkalumen Inc. Control apparatus and lighting apparatus incorporating control apparatus
CN102573214A (zh) * 2010-11-19 2012-07-11 夏普株式会社 Led驱动电路和led照明装置
CN102655702A (zh) * 2011-02-28 2012-09-05 夏普株式会社 Led驱动电路、led照明灯具、led发光器、以及led照明系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7969100B2 (en) * 2007-05-17 2011-06-28 Liberty Hardware Manufacturing Corp. Bulb type detector for dimmer circuit and inventive resistance and short circuit detection
CN101982022A (zh) 2008-03-31 2011-02-23 Nxp股份有限公司 波形检测和组合的分步和线性调光控制
JP4943402B2 (ja) * 2008-10-09 2012-05-30 シャープ株式会社 Ｌｅｄ駆動回路、ｌｅｄ照明灯具、ｌｅｄ照明機器、及びｌｅｄ照明システム
JP5311131B2 (ja) * 2009-07-01 2013-10-09 ミネベア株式会社 発光ダイオード照明装置
US8222832B2 (en) * 2009-07-14 2012-07-17 Iwatt Inc. Adaptive dimmer detection and control for LED lamp
US10015860B2 (en) * 2010-04-14 2018-07-03 Philips Lighting Holding B.V. Method and apparatus for detecting presence of dimmer and controlling power delivered to solid state lighting load
US8610365B2 (en) * 2010-11-04 2013-12-17 Cirrus Logic, Inc. Switching power converter input voltage approximate zero crossing determination
EP2456285B1 (en) * 2010-11-17 2016-10-19 Silergy Corp. A method of controlling an electronic ballast, an electronic ballast and a lighting controller
US8896288B2 (en) 2011-02-17 2014-11-25 Marvell World Trade Ltd. TRIAC dimmer detection

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1348675A (zh) * 1999-04-21 2002-05-08 电源电路创新公司 具有气隙分路松耦合变压器的频率受控镇流器及使用方法
CN101427611A (zh) * 2006-04-10 2009-05-06 路创电子公司 具有可变的驱动电路的负荷控制装置
WO2011140631A1 (en) * 2010-05-11 2011-11-17 Arkalumen Inc. Control apparatus and lighting apparatus incorporating control apparatus
CN102573214A (zh) * 2010-11-19 2012-07-11 夏普株式会社 Led驱动电路和led照明装置
CN102655702A (zh) * 2011-02-28 2012-09-05 夏普株式会社 Led驱动电路、led照明灯具、led发光器、以及led照明系统

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