CN104848894A - 一种电路板品质分析仪 - Google Patents

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CN104848894A CN201510223335.4A CN201510223335A CN104848894A CN 104848894 A CN104848894 A CN 104848894A CN 201510223335 A CN201510223335 A CN 201510223335A CN 104848894 A CN104848894 A CN 104848894A
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谢娟
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Abstract

本发明公开了一种电路板品质分析仪,包含一底座,所述的底座上可活动地设有一分析台,所述的底座上还设有一X轴微调旋钮、一Y轴微调旋钮和一Z轴微调旋钮,所述的分析台上固定连接一支杆,所述的支杆上可活动地设有一连接头,所述的连接头上设有一调节旋钮,所述的调节旋钮上设有一仪器连接头,所述的分析台上相互垂直地设有两条定位凹槽,所述的分析台由轻质镁铝合金制成。由于本发明的电路板品质分析仪设置了一个可以自由调节位置的分析平台,同时在分析平台的上方设置了可以连接多种分析仪器的连接头,从而大大增强了该分析仪的综合应用功能,节省了空间和资金的投入。

Description

一种电路板品质分析仪
技术领域
本发明涉及一种分析仪,更确切地说,是一种电路板品质分析仪。
背景技术
电路板又有线路板、PCB板、铝基板、高频板等叫法。电路板使电路迷你化、直观化,对于固定电路的批量生产和优化电器布局起重要作用。
电路板的生产是高精细的工作,当电路板发生品质问题时,需要借助特殊的仪器对电路板进行分析,例如需要用显微镜来对电路板线路进行观察,需要用电表测试线路的通断。这些仪器往往都是独立一体的,各自有自己的分析平台,占据空间的同时也增加了资金的投入。
发明内容
本发明主要是解决现有技术所存在的技术问题,从而提供一种可以灵活连接多种分析仪器到一个分析台的电路板品质分析仪
本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:
一种电路板品质分析仪,包含一底座,所述的底座上可活动地设有一分析台,所述的底座上还设有一X轴微调旋钮、一Y轴微调旋钮和一Z轴微调旋钮,所述的分析台上固定连接一支杆,所述的支杆上可活动地设有一连接头,所述的连接头上设有一调节旋钮,所述的调节旋钮上设有一仪器连接头。
作为本发明较佳的实施例,所述的分析台上相互垂直地设有两条定位凹槽。
作为本发明较佳的实施例,所述的分析台由轻质镁铝合金制成。
由于本发明的电路板品质分析仪设置了一个可以自由调节位置的分析平台,同时在分析平台的上方设置了可以连接多种分析仪器的连接头,从而大大增强了该分析仪的综合应用功能,节省了空间和资金的投入。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的电路板品质分析仪的立体结构示意图;
图2为图1中的电路板品质分析仪的立体结构示意图,此时为另一视角。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
本发明提供了一种可以灵活连接多种分析仪器到一个分析台的电路板品质分析仪。
如图1、图2所示,一种电路板品质分析仪1,包含一底座21,所述的底座21上可活动地设有一分析台22,所述的底座21上还设有一X轴微调旋钮31、一Y轴微调旋钮32和一Z轴微调旋钮33,所述的分析台22上固定连接一支杆4,所述的支杆4上可活动地设有一连接头51,所述的连接头51上设有一调节旋钮52,所述的调节旋钮52上设有一仪器连接头53。
如图1、图2所示,所述的分析台22上相互垂直地设有两条定位凹槽。
该电路板品质分析仪,所述的分析台22由轻质镁铝合金制成。
该发明的电路板品质分析仪设置了一个可以自由调节位置的分析平台,同时在分析平台的上方设置了可以连接多种分析仪器的连接头,从而大大增强了该分析仪的综合应用功能,节省了空间和资金的投入。
以上仅仅以一个实施方式来说明本发明的设计思路,在系统允许的情况下,本发明可以扩展为同时外接更多的功能模块,从而最大限度扩展其功能。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何不经过创造性劳动想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

Claims (3)

1.一种电路板品质分析仪(1),包含一底座(21),所述的底座(21)上可活动地设有一分析台(22),其特征在于,所述的底座(21)上还设有一X轴微调旋钮(31)、一Y轴微调旋钮(32)和一Z轴微调旋钮(33),所述的分析台(22)上固定连接一支杆(4),所述的支杆(4)上可活动地设有一连接头(51),所述的连接头(51)上设有一调节旋钮(52),所述的调节旋钮(52)上设有一仪器连接头(53)。
2.根据权利要求1所述的电路板品质分析仪,其特征在于,所述的分析台(22)上相互垂直地设有两条定位凹槽。
3.根据权利要求2所述的电路板品质分析仪,其特征在于,所述的分析台(22)由轻质镁铝合金制成。
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