CN104833485A - 一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法，光源的光束被光电探测器接收，调节起偏器和检偏器的偏振方向相互平行，采集光电流值；将第一待测双折射器件放入第一转盘，转动第一转盘找到光电流最大位置并标记，采集光电流值，取下第一待测双折射器件；将第二待测双折射器件放入第二转盘，转动第二转盘找到光电流最大的位置并标记，采集光电流值；将第一待测双折射器件放入第一转盘；转动第一转盘，使第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的标记方向相互平行，采集光电流值；旋转第二转盘，将第二待测双折射器件转过π角度，采集光电流值；根据采集的光电流值，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向。

Description

一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法

技术领域

本发明属于偏振光学检测领域，特别是一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法。

背景技术

利用双折射材料制成的双折射器件，例如波片或相位延迟器(或相位补偿器)是光学实验和光学仪器中广泛使用的基础光学元件。从原理上说,任何具有双折射效应的材料都可以用来做成双折射器件，例如普遍采用的由石英、方解石、氟化镁或云母等双折射晶体制成的晶体相位延迟器、液晶相位延迟器，以及外磁场作用下的磁性液体、W片等等。

但不论使用何种材料，为了测量和使用的方便，双折射器件的光轴(或等效光轴)通常均平行于器件表面，入射光均垂直于双折射器件的光轴(或等效光轴)入射。而在制作和使用双折射器件的过程中，经常需要准确测量器件的光轴方向。

测量双折射器件光轴方向的方法有光外差法、标准片补偿法、椭偏法等，但上述方法的测量过程通常只能测量一个双折射器件的光轴方向，而且测量过程大多依赖于标准片的特性；价格高且操作较为复杂。

发明内容

本发明的目的就是为了解决上述问题，提供一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法，它属于非接触测量，使用方便高效，可用于实际生产及研究工作中进行未知双折射器件的光轴方向的直接定标，并且测量结果不受光源和探测器光谱特性的影响。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置，包括:

光源和计算机，所述光源发射的平行光依次穿过共传输轴放置的起偏器、第一待测双折射器件、第二待测双折射器件和检偏器后，被光电探测器接收；光电探测器将接收到的信号后，将信号传输给计算机，计算机对接收到的信号进行分析处理后，控制第一电机和第二电机的旋转状态，所述第一电机带动第一转盘转动，所述第二电机带动第二转盘转动，所述第一待测双折射器件安装在第一转盘上，所述第二待测双折射器件安装在第二转盘上。

所述光源为自然光光源。

所述第一待测双折射器件是指：由晶体材料、聚合物材料、液晶、外磁场作用下的磁性液体等制作的单个或复合的相位延迟器等一切具备相位延迟功能的光学器件，如波片、液晶相位延迟器等。

所述第一转盘的中间部分为第一中空结构，所述第一中空结构内设有固定第一待测双折射器件的定位装置，所述第一待测双折射器件通过定位装置安装在第一转盘的第一中空结构上。

所述第一中空结构的外围设有多个定位孔，所述第一待测双折射器件通过多个定位孔固定在第一转盘上。

所述第二转盘的中间部分为第二中空结构，所述第二中空结构内设有固定第二待测双折射器件的定位装置，所述第二待测双折射器件通过定位装置安装在第二转盘的第二中空结构上。

所述第二中空结构的外围设有多个定位孔，所述第二待测双折射器件通过多个定位孔固定在第二转盘上。

一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，包括如下步骤：

步骤(1)：开启光源，出射的准直光束依次通过共传输轴放置的起偏器和检偏器后，被光电探测器接收，调节起偏器和检偏器的偏振方向相互平行，计算机采集此时光电流值I₀；

步骤(2)：将第一待测双折射器件放入第一转盘，转动第一转盘找到光电流最大的位置并在第一待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，采集此时光电流值I₀₁，然后取下第一待测双折射器件；

步骤(3)：将第二待测双折射器件放入第二转盘，转动第二转盘找到光电流最大的位置并在第二待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，计算机采集此时光电流值I₀₂；

步骤(4)：重新将第一待测双折射器件放入第一转盘；转动第一转盘，使第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的标记方向相互平行，计算机采集此时光电流值I₁；

步骤(5)：旋转第二转盘，将第二待测双折射器件的标记方向转过π角度，计算机采集此时的光电流值I₂；

步骤(6)：根据上述步骤采集的光电流值I₀、I₀₁、I₀₂、I₁、I₂，分析比较后，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束。

所述步骤(2)中第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行或垂直，将第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行的情况记作情形a，第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互垂直的情况记作情形b。

所述步骤(3)中第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行或垂直，将第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行的情况记作情形c，第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互垂直的情况记作情形d。

所述步骤(6)的步骤如下：

将光电流值I₂与I₁对比，具体判断依据如下：

若I₁≠I₂，则情形b和d同时出现，即第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互垂直，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；

若I₁＝I₂，则转入以下判断操作：

若光电流I₁＝I₂＝I_s，则情形a和c同时出现，即第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互平行，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；

若光电流I₁＝I₂≠I_s，则有可能为：

情形a、d同时出现，或

情形b、c同时出现，

将第二待测双折射器件旋转π/2角度，并采集此时的光电流值I₃；

将第二待测双折射器件继续旋转π角度，采集此时的光电流值I₄，并将I₄与光电流值I₃对比。

将I₄与光电流值I₃对比的步骤如下：

若I₃＝I₄，则此时第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互平行，即从a、d同时出现的情形变化为a、c同时出现的情形，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束。

若I₃≠I₄，则此时第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互垂直，即从b、c同时出现的情形变化为b、d同时出现的情形，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束。

所述I_s为考虑第一待测双折射器件和第二待测双折射器件插入损耗后的标称光电流值，有：

I_s＝I₀－I_L3－I_L4；

其中，I_L3为第一待测双折射器件的插入损耗引起的光电流衰减量，有I_L3＝I₀－I₀₁；

I_L4为第二待测双折射器件的插入损耗引起的光电流衰减量，有I_L4＝I₀－I₀₂。

本发明的有益效果：

本发明的测量方法属于非接触测量，可同时精确查找两个未知双折射器件的光轴方向，使用方便高效，可用于实际生产及研究工作中进行两个未知双折射器件的光轴方向的直接定标，并且测量结果不受光源和探测器光谱特性的影响。

附图说明

图1为本发明的通用结构示意图；

图2为本发明的检测方法流程图；

其中，1、光源，2、起偏器，3、第一待测双折射器件，4、第二待测双折射器件，5、检偏器，6、光电探测器，7、计算机，8、第一电机，9、第二电机，10、第一转盘，11、第二转盘。

具体实施方式

下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。

本发明的创新点在于提供了能同时、快速检测两个双折射器件光轴方向的反馈检测方法及装置。

本发明的结构如图1所示：包括光源1和计算机7，光源1出射的平行自然光通过共传输轴放置的起偏器2、第一待测双折射器件3、第二待测双折射器件4、检偏器5后被光电探测器6接收，第一转盘10和第一电机8连接，第二转盘11和第二电机9连接；计算机7同光电探测器6相连，采集分析光电探测器6的光电流数据，并反馈控制第一电机8和第二电机9的旋转状态；所述第一转盘10和第二转盘11为中空结构，所述第一转盘10中空结构内设置有固定第一待测双折射器件3的定位装置，所述第二转盘11中空结构内设置有固定第二待测双折射器件4的定位装置。本实施例中采用中空结构的外围开有多个定位孔，通过此定位孔，将第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4分别固定在第一转盘10和第二转盘11的中空结构部分；并由第一电机8和第二电机9分别控制第一转盘10和第二转盘11的旋转状态。

所述光源1为输出特性稳定的自然光源，其输出波长可根据第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的待测波长范围具体选择，也可选择为波长可调型自然光源。具体应用中可根据该光源的光斑大小和光束质量添加必要的扩束-准直透镜组。

所述起偏器2和检偏器5可采用二向色性偏振器、双折射偏振器或光纤偏振片中的一种，其工作波长范围能够覆盖第二待测双折射器件4的工作波长范围。

所述第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4均为由晶体材料、聚合物材料、液晶、外磁场作用下的磁性液体等制作的单个或复合的相位延迟器等一切具备相位延迟功能的光学器件。

所述光电探测器6为光电二极管、光电倍增管或CCD(Charge-coupled Device)线阵或面阵传感器，用于将探测到的光电流信号经数据采集卡传至计算机7进行数据处理，其工作波长范围能够覆盖第二待测双折射器件4的工作波长范围。

所述计算机7采集分析光电探测器6探测到的光电流数据后，依据一定的反馈控制算法发出脉冲信号经电机驱动器调整电机的旋转状态。

所述第一电机8和第二电机9及其电机驱动器选用伺服电机、永磁式步进电机或反应式步进电机，以及与以上每种类型的电机相配套的电机驱动器。由于本发明中第一转盘10和第一电机8连接，第二转盘11和第二电机9连接，并由第一电机8和第二电机9分别控制第一转盘10和第二转盘11的旋转状态，实际应用中也可以选择已经将单个电机和单个转盘集成制作在一起的电动转盘商品来分别作为相连接的第一电机8和第一转盘10，以及相连接的第二电机9和第二转盘11。

所述第一转盘10和第二转盘11的应用要求是两个转盘的转动精度均应满足计算机7的控制要求，通常的商用产品均可满足该应用要求。

一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，如图2所示，其具体步骤如下：

步骤一：开启自然光光源1，出射的准直光束依次通过共传输轴放置的起偏器2和检偏器5后，经光电探测器6接收，调节起偏器2和检偏器5的偏振方向相互平行，采集此时光电流值I₀；

将第一待测双折射器件3放入第一转盘10，转动第一转盘10找到光电流最大的位置并在第一待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，此时第一待测双折射器件3的光轴与起偏器2偏振方向之间相互平行或垂直(将两者平行的情况记作情形a，垂直的情况记作情形b)，采集此时光电流值I₀₁，然后取下第一待测双折射器件3；

将第二待测双折射器件4放入第二转盘11，转动第二转盘11找到光电流最大的位置并在第二待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，此时第二待测双折射器件4的光轴与起偏器2偏振方向之间相互平行或垂直(将两者平行的情况记作情形c，垂直的情况记作情形d)，采集此时光电流值I₀₂；

步骤二：重新将第一待测双折射器件3放入第一转盘10；转动第一转盘10，使第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的标记方向相互平行，采集此时光电流值I₁；然后旋转第二转盘11将第二待测双折射器件4的标记方向转过π角度，计算机采集此时的光电流值I₂，并将光电流I₂与I₁对比，具体判断依据如下：

若I₁≠I₂，则情形b和d同时出现，即第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴均与起偏器2的偏振方向相互垂直，此时光电流值满足公式(3.d)或公式(3.e)，标记第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴方向，检测结束；否则，若光电流无变化，即I₁＝I₂，则转入以下判断操作：

若光电流I₁＝I₂＝I_s，则情形a和c同时出现，即第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴均与起偏器2的偏振方向相互平行，此时光电流值满足公式(3.a)，标记第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴方向，检测结束；

若光电流I₁＝I₂≠I_s，则有可能为情形a、d同时出现(光电流值满足公式(3.b))，或情形b、c同时出现(光电流值满足公式(3.c))。将第二待测双折射器件4旋转π/2角度，并采集此时的光电流值I₃；继续旋转π角度，采集此时的光电流值I₄，并与光电流值I₃对比：

若I₃＝I₄，则此时第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴均与起偏器2的偏振方向相互平行，即从a、d同时出现的情形变化为a、c同时出现的情形，标记第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴方向，检测结束。

若I₃≠I₄，则此时第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴均与起偏器2的偏振方向相互垂直，即从b、c同时出现的情形变化为b、d同时出现的情形，标记第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴方向，检测结束。

上述公式中用到的光电流值I_s为考虑第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4插入损耗后的标称光电流值，有Is＝I₀－I_L3－I_L4，其中I_L3为第一待测双折射器件3的插入损耗引起的光电流衰减量，有I_L3＝I₀－I_01；I_L4为第二待测双折射器件4的插入损耗引起的光电流衰减量，有I_L4＝I₀－I₀₂。

本发明所述的同时检测两个未知双折射器件光轴方向的反馈检测方法可根据偏振光学的相关理论推导得到。如图1所示，装置中的输入与输出光信号的Stokes表示，即S_in和S_out之间满足以下关系：

$\begin{array}{c}{S}_{\mathrm{out}}=M_{A}R(-C_2)M_{C2}\left({\mathrm{\δ}}_2\right)R\left(C_2\right)R(-C_1)M_{C1}\left({\mathrm{\δ}}_1\right)R\left(C_1\right)M_p{S}_{\mathrm{in}}\\ =\left(\begin{array}{cccc}1& 1& 0& 0\\ 1& 1& 0& 0\\ 0& 0& 0& 0\\ 0& 0& 0& 0\end{array}\right)\·\left(\begin{array}{cccc}1& 0& 0& 0\\ 0& \cos C_2& -\sin C_2& 0\\ 0& \sin C_2& \cos C_2& 0\\ 0& 0& 0& 1\end{array}\right)\·\left(\begin{array}{cccc}1& 0& 0& 0\\ 0& 1& 0& 0\\ 0& 0& \cos {\mathrm{\δ}}_2& \sin {\mathrm{\δ}}_2\\ 0& 0& -\sin {\mathrm{\δ}}_2& \cos {\mathrm{\δ}}_2\end{array}\right)\·\left(\begin{array}{cccc}1& 0& 0& 0\\ 0& \cos C_2& \sin C_2& 0\\ 0& -{\sin C}_2& \cos C_2& 0\\ 0& 0& 0& 1\end{array}\right)\·\\ \·\left(\begin{array}{cccc}1& 0& 0& 0\\ 0& \cos C_1& -\sin C_1& 0\\ 0& \sin C_1& \cos C_1& 0\\ 0& 0& 0& 1\end{array}\right)\·\left(\begin{array}{cccc}1& 0& 0& 0\\ 0& 1& 0& 0\\ 0& 0& \cos {\mathrm{\δ}}_1& \sin {\mathrm{\δ}}_1\\ 0& 0& -{\sin \mathrm{\δ}}_1& \cos {\mathrm{\δ}}_1\end{array}\right)\·\left(\begin{array}{cccc}1& 0& 0& 0\\ 0& \cos C_1& \sin C_1& 0\\ 0& -\sin C_1& \cos C_1& 0\\ 0& 0& 0& 1\end{array}\right)\·\left(\begin{array}{cccc}1& 1& 0& 0\\ 1& 1& 0& 0\\ 0& 0& 0& 0\\ 0& 0& 0& 0\end{array}\right)\·\left(\begin{array}{c}{S}_0\\ S_1\\ S_2\\ S_3\end{array}\right)\end{array}---\left(1\right)$

公式(1)中，M_P、M_A、M_C1、M_C2分别为起偏器2、检偏器5、第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的穆勒矩阵；R(C₁)、R(C₂)、R(-C₁)和R(-C₂)为第一待测双折射器件3、第二待测双折射器件4旋转时所对应的坐标变换矩阵，C₁和C₂分别是第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴相对于起偏器偏振方向的相对角度,δ₁和δ₂分别为第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的相位延迟量。由于在任意波长处，光电探测器6所对应探测单元的输出光电流正比于该波长处输出光信号S₀分量的光强，在系统性能稳定的情况下，本发明所述测量装置的接收端光电探测器单元的输出光电流I正比于该波长处输出光信号的Stokes表示法中S₀分量的光强，即

I(C₁,C₂,δ₁,δ₂)＝A×S_out(C₁,C₂,δ₁,δ₂)   (2)

其中A为比例系数,考虑到本专利中主要利用光电流随自变量C₁和C₂的变化规律，可以将光电流I(C₁,C₂,δ₁,δ₂)简写为I(C₁,C₂)。经过分析，我们发现在任意一个确定波长处，光电流I(C₁,C₂)关于自变量C₁和C₂均是周期为π的函数，而且在几个特殊角度有如下关系出现：

I(0,0)＝I(0,π)＝I(π,0)＝I(π,π)＝2   (3.a)

$I(0,\frac{\mathrm{\π}}{2})=I(0,\frac{3\mathrm{\π}}{2})=1+\cos {\mathrm{\δ}}_2---(3.b)$

$I(\frac{\mathrm{\π}}{2},0)=I(\frac{3\mathrm{\π}}{2},0)=1+\cos {\mathrm{\δ}}_1---(3.c)$

$I(\frac{\mathrm{\π}}{2},\frac{\mathrm{\π}}{2})=I(\frac{3\mathrm{\π}}{2},\frac{3\mathrm{\π}}{2})=1+\cos ({\mathrm{\δ}}_1+{\mathrm{\δ}}_2)--(3.d)$

$I(\frac{\mathrm{\π}}{2},\frac{3\mathrm{\π}}{2})=I(\frac{3\mathrm{\π}}{2},\frac{\mathrm{\π}}{2})=1+\cos ({\mathrm{\δ}}_1-{\mathrm{\δ}}_2)--(3.e)$

由公式(4.a～4.e)可知，在某一待测波长处，本发明所述装置对第一待测双折射器件3和第二待测双折射器件4的光轴快速检测方法如前所述。器件的光轴(或其等效光轴)与其快轴方向之间的关系为：对正晶体，快轴方向与光轴垂直；对负晶体，快轴方向与光轴平行。

上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

Claims (10)

1.一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，其特征是，包括如下步骤：

步骤(1)：开启光源，出射的准直光束依次通过共传输轴放置的起偏器和检偏器后，被光电探测器接收，调节起偏器和检偏器的偏振方向相互平行，计算机采集此时光电流值I₀；

步骤(2)：将第一待测双折射器件放入第一转盘，转动第一转盘找到光电流最大的位置并在第一待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，采集此时光电流值I₀₁，然后取下第一待测双折射器件；第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行或垂直，将第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行的情况记作情形a，第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互垂直的情况记作情形b；

步骤(3)：将第二待测双折射器件放入第二转盘，转动第二转盘找到光电流最大的位置并在第二待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，计算机采集此时光电流值I₀₂；第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行或垂直，将第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行的情况记作情形c，第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互垂直的情况记作情形d；

步骤(4)：重新将第一待测双折射器件放入第一转盘；转动第一转盘，使第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的标记方向相互平行，计算机采集此时光电流值I₁；

步骤(5)：旋转第二转盘，将第二待测双折射器件的标记方向转过π角度，计算机采集此时的光电流值I₂；

步骤(6)：根据上述步骤采集的光电流值I₀、I₀₁、I₀₂、I₁、I₂，分析比较后，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束。

2.如权利要求1所述的一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，其特征是，

所述步骤(6)的步骤如下：

将光电流值I₂与I₁对比，具体判断依据如下：

若I₁≠I₂，则情形b和d同时出现，即第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互垂直，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；

否则，若光电流无变化，即I₁＝I₂。

3.如权利要求2所述的一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，其特征是，

若I₁＝I₂，则转入以下判断操作：

若光电流I₁＝I₂＝I_s，则情形a和c同时出现，即第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互平行，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；

若光电流I₁＝I₂≠I_s，则有可能为：

情形_a、d同时出现，或

情形b、_c同时出现，

将第二待测双折射器件旋转π/2角度，并采集此时的光电流值I₃；

将第二待测双折射器件继续旋转π角度，采集此时的光电流值I₄，并将I₄与光电流值I₃对比。

4.如权利要求3所述的一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，其特征是，

将I₄与光电流值I₃对比的步骤如下：

若I₃＝I₄，则此时第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互平行，即从a、d同时出现的情形变化为a、c同时出现的情形，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；

若I₃≠I₄，则此时第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互垂直，即从b、c同时出现的情形变化为b、d同时出现的情形，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束。

5.如权利要求3所述的一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，其特征是，

所述I_s为考虑第一待测双折射器件和第二待测双折射器件插入损耗后的标称光电流值，有：

I_s＝I₀－I_L3－I_L4；

其中，I_L3为第一待测双折射器件的插入损耗引起的光电流衰减量，有I_L3＝I₀－I₀₁；

I_L4为第二待测双折射器件的插入损耗引起的光电流衰减量，有I_L4＝I₀－I₀₂。

6.如权利要求1所述的方法所使用的装置，其特征是，包括：

光源和计算机，所述光源发射的平行光依次穿过共传输轴放置的起偏器、第一待测双折射器件、第二待测双折射器件和检偏器后，被光电探测器接收；光电探测器将接收到的信号后，将信号传输给计算机，计算机对接收到的信号进行分析处理后，控制第一电机和第二电机的旋转状态，所述第一电机带动第一转盘转动，所述第二电机带动第二转盘转动，所述第一待测双折射器件安装在第一转盘上，所述第二待测双折射器件安装在第二转盘上。

7.如权利要求6所述的装置，其特征是，所述第一转盘的中间部分为第一中空结构，所述第一中空结构内设有固定第一待测双折射器件的定位装置，所述第一待测双折射器件通过定位装置安装在第一转盘的第一中空结构上。

8.如权利要求7所述的装置，其特征是，所述第一中空结构的外围设有多个定位孔，所述第一待测双折射器件通过多个定位孔固定在第一转盘上。

9.如权利要求6所述的装置，其特征是，所述第二转盘的中间部分为第二中空结构，所述第二中空结构内设有固定第二待测双折射器件的定位装置，所述第二待测双折射器件通过定位装置安装在第二转盘的第二中空结构上。

10.如权利要求9所述的装置，其特征是，所述第二中空结构的外围设有多个定位孔，所述第二待测双折射器件通过多个定位孔固定在第二转盘上。