CN104765677A - 智能卡测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种智能卡测试装置,包括:一台PC(个人电脑)机,一片C8051芯片,一片FPGA(Field Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列);所述PC机,采用图形化界面方式运行上位机软件;所述C8051芯片,接受所述上位机软件的指令并与FPGA通信;所述FPGA,直接受C8051芯片控制,用于调节7816接口的时钟频率和占空比,通过7816接口对智能卡进行测试。本发明能够调节7816接口的时钟频率。
Description
技术领域
本发明涉及智能卡领域,特别是涉及一种基于FPGA的智能卡测试装置。
背景技术
常用的智能卡测试设备有两种,一种是读卡器,价格低廉但是功能有限,无法调节7816接口时钟的频率,也无法查看7816接口波形;另一种是专业的测试设备,例如Micropross公司生产的MP300系列测试设备,具有上述功能但是价格昂贵。目前在智能卡测试领域存在以下的问题:
智能卡专业测试设备数量有限,在项目资源紧张时无法完全满足测试人员的需求。
普通的读卡器无法调节7816接口时钟频率,无法测试智能卡在不同时钟频率下的工作情况。
如果智能卡的行为不满足7816协议,读卡器只报错但是无法查看时序波形。例如7816协议要求智能卡返回复位应答(Answer To Reset,ATR)的时间不超过40000个7816时钟,如果智能卡返回ATR超时,读卡器会报错;但是无法判断出是没有返回ATR、还是返回ATR超时,需要另外借助示波器判断,非常不方便。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种智能卡测试装置,能够调节7816接口的时钟频率。
为解决上述技术问题,本发明的智能卡测试装置,包括:一台PC(个人电脑)机,一片C8051芯片,一片FPGA(Field Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列);
所述PC机,采用图形化界面方式运行上位机软件;
所述C8051芯片,接受所述上位机软件的指令并与FPGA通信;
所述FPGA,直接受C8051芯片控制,用于调节7816接口的时钟频率和占空比,通过7816接口对智能卡进行测试。
本发明有效解决了现有读卡器无法调节7816时钟频率、无法记录7816接口波形的问题,并且硬件实现方式简单,成本低廉。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
图1是FPGA生成的3.57MHz,占空比30%时钟波形图;
图2是所述智能卡测试装置一实施例原理框图。
具体实施方式
图1所示的是FPGA生成7816接口时钟频率3.57MHz,占空比30%的时序。上位机软件指定7816接口时钟频率是系统时钟周期5ns的个数N、以及高电平持续时间的个数M。此时N=56,M=17。图1中Sys_clk为系统时钟,7816_clk为7816接口时钟。
结合图2所示,所述智能卡测试装置在该图所示的实施例中,包括:一台PC机,其采用图形化界面方式运行上位机软件;还包括一片C8051芯片,一片FPGA。被测试的智能卡与所述FPGA相连接,电源芯片为被测试的智能卡提供电源电压VCC。
所述C8051芯片,接受所述上位机软件的指令并与FPGA通信。
所述FPGA,直接受C8051芯片控制,用于调节7816接口的时钟频率和占空比,通过7816接口对智能卡进行测试。所述时钟频率由时钟周期指定,最小调节精度是5ns;时钟占空比由高电平所持续的时间决定,最小调节精度是5ns。
所述FPGA具有记录7816接口波形的功能,并上传给所述上位机软件供使用者查看。
所述智能卡测试装置改变7816接口时钟的方式。FPGA的输入时钟频率是40MHz,FPGA倍频到200MHz,周期5ns。上位机软件指定7816接口时钟频率是5ns的个数N、以及高电平持续时间的个数M,改变7816时钟的频率和占空比。
所述智能卡测试装置采用FPGA内部BlockRam(块RAM)存储7816接口的波形。当上位机软件下达开始存储波形指令后,FPGA启动计时器,并开始监测7816接口信号的状态。7816接口每发送或接收一个字节后,FPGA记录下此字节的发生时刻、状态(发送还是接收,奇偶检验正确还是失败)、数据内容。上位机软件下达停止存储波形指令后,FPGA将存储的波形信息从BlockRam中读出,上传给上位机软件显示。
图2中,CLK为时钟,RST为复位信号,I/O为输入/输出接口。TXD为发送数据,RXD为接受数据。
普通的接触式读卡器无法改变7816接口时钟速率,并且无法记录7816通信波形;而具有上述功能的专业的智能卡测试设备价格非常昂贵。本发明的测试装置结构简单、成本低,并具有如下功能:
1,灵活配置7816接口的时钟周期及占空比。
2,记录7816接口的时序波形,并在上位机软件中以图形化方式显示。
3,上位机软件自动执行测试脚本。
以上通过具体实施方式对本发明进行了详细的说明,但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下,本领域的技术人员还可做出许多变形和改进,这些也应视为本发明的保护范围。
Claims (4)
1.一种智能卡测试装置,其特征在于,包括:一台PC机,一片C8051芯片,一片FPGA;
所述PC机,采用图形化界面方式运行上位机软件;
所述C8051芯片,接受所述上位机软件的指令并与FPGA通信;
所述FPGA,直接受C8051芯片控制,用于调节7816接口的时钟频率和占空比,通过7816接口对智能卡进行测试。
2.如权利要求1所述的装置,其特征还在于:所述时钟频率由时钟周期指定,最小调节精度是5ns;时钟占空比由高电平所持续的时间决定,最小调节精度是5ns。
3.如权利要求1所述的装置,其特征还在于:所述FPGA具有记录7816接口波形的功能,并上传给所述上位机软件供使用者查看。
4.如权利要求1至3任一所述的装置,其特征还在于:所述FPGA采用其内部块RAM存储7816接口的波形;当所述上位机软件下达开始存储波形指令后,所述FPGA启动计时器,并开始监测7816接口信号的状态;7816接口每发送或接收一个字节后,所述FPGA记录下该字节的发生时刻、状态和数据内容;所述上位机软件下达停止存储波形指令后,所述FPGA将存储的波形信息从所述块RAM中读出,上传给上位机软件显示。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106771738A (zh) * | 2016-12-14 | 2017-05-31 | 新智数字科技有限公司 | 一种测试电子卡性能的设备 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101178683A (zh) * | 2006-11-08 | 2008-05-14 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 智能卡仿真器 |
CN101976370A (zh) * | 2010-09-26 | 2011-02-16 | 北京握奇数据系统有限公司 | 一种智能芯片,以及智能芯片数据通信的方法 |
CN101996262A (zh) * | 2009-08-12 | 2011-03-30 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 非接触式智能卡通用数字验证平台 |
EP2407915A1 (en) * | 2010-07-16 | 2012-01-18 | Nagravision S.A. | Multiple-speed interface |
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2014
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101178683A (zh) * | 2006-11-08 | 2008-05-14 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 智能卡仿真器 |
CN101996262A (zh) * | 2009-08-12 | 2011-03-30 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 非接触式智能卡通用数字验证平台 |
EP2407915A1 (en) * | 2010-07-16 | 2012-01-18 | Nagravision S.A. | Multiple-speed interface |
CN101976370A (zh) * | 2010-09-26 | 2011-02-16 | 北京握奇数据系统有限公司 | 一种智能芯片,以及智能芯片数据通信的方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106771738A (zh) * | 2016-12-14 | 2017-05-31 | 新智数字科技有限公司 | 一种测试电子卡性能的设备 |
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