CN104765486B - 触摸检测装置和半导体装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及触摸检测装置和半导体装置。具有针对温度等环境变动而补正第一参数数据的第二参数数据，由此，能在中途不停止检测工作的情况下容易且高精度地进行校准电路的偏移调整。在触摸面板控制器，设置对与触摸面板的多个X电极对应的多个检测电路的输入信号实施偏移调整的校准电路，并且，设置除了规定校准电路的偏移调整工作的第一参数数据之外还存储用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据的存储装置。

Description

触摸检测装置和半导体装置

技术领域

本发明涉及触摸检测装置及应用于其的半导体装置，特别是涉及调整触摸面板的检测对象电容的偏移的技术，例如涉及应用于PDA（Personal Digital Asistant：个人数字助理）、平板PC（Personal Computer：个人计算机）的触摸感测输入系统等且有效的技术。

背景技术

利用互电容量方式的多点触摸所对应的触摸面板被配置为使得例如作为驱动电极的Y电极和作为检测电极的X电极使电介质介于之间而正交，作为每个交叉部分的交叉耦合电容的交叉电容构成交点电容。当在交点电容的附近存在由手指或手所造成的电容量时，该节点的互电容量减少由手指、手所造成的合成电容量的量。触摸面板控制器为了检测该互电容量的变化在哪个交点电容发生，而依次对驱动电极进行脉冲驱动并进行脉冲单位的充电工作，依次重复由每个检测电极检测充电电荷的变化的工作，在检测电路取得与呈矩阵配置的交点电容的互电容量的变换相应的信号。关于使用这样的互电容量方式来驱动触摸面板而检测信号的控制器，例如在专利文献1有记载。

在专利文献1中，着眼于在从交点电容到检测电路的路径存在寄生电容分量，其大小由于X电极的位置、布局而存在偏差。这样的偏差变为经由X电极输入到检测电路的电荷量的偏差而呈现，因此，作为用于补正由于这样的偏差所造成的影响的校准技术，提出了与每个交点电容对应地进行偏移的调整的技术。即，在触摸面板控制器设置了对与触摸面板的多个X电极对应的多个检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整的校准电路，并且设置了存储所述校准电路的调整参数的存储器。据此，能按触摸面板的每个交点电容高精度地调整非触摸的检测数据的偏差。因而，检测电路的检测电压收敛于A/D变换器的输入范围。

进而，在专利文献1中，关于由于环境（周围温度、湿度）变动而调整参数的最佳值发生变化的情况的应对有记载。即，为了对应于环境变动，使存储调整参数的RAM具有两面，一边利用存储在一个RAM中的调整参数，一边以对应于环境变动的调整参数来改写另一个RAM，在改写完成之后，切换所使用的RAM。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-234473号公报。

发明内容

发明要解决的课题

本发明人关于相应于环境变动的调整参数的更新进行讨论的结果，着眼于以下方面。第一，如专利文献1，在设置有存储各个调整参数的多个RAM并排他地使用的结构中，必须增大RAM的存储容量而牵涉到电路规模或者芯片面积的增大。第二，在到运算相应于环境变动的新的调整参数并写入到RAM结束为止之间，必须使用不是最佳的旧的调整参数来进行触摸检测，而存在发生触摸的误判定的担忧。为了消除这样的误判定的担忧，在改写期间中，必须休止触摸检测，触摸输入的操作性恶化而强加不便。在该情况下，也没有使RAM具有两面的意义。第三，由于改写调整参数其自身，所以各个调整参数具有与必要的调整精度相称的位数，因此，对于改写而言需要不少时间，上述触摸误判定的担忧也变高，此外，上述触摸检测的休止期间也变长。

本发明的目的在于提供一种触摸检测装置，其能根据环境变动来最佳化用于调整触摸面板的每个交点电容的非触摸的检测数据的偏差的调整参数，此时不需要触摸检测的休止，而且，能未然地防止触摸误判定的担忧。

进而，在于提供一种对那样的触摸检测装置是优选的半导体装置。

本发明的前述以及其他目的和新的特征根据本说明书的记述和附图而变得显而易见。

用于解决课题的方案

简单地说明本申请中所公开的实施方式之中代表性的实施方式的概要的话，如下所述。

即，在触摸面板控制器设置对触摸面板的多个X电极所对应的多个检测电路的输入信号实施偏移调整的校准电路，并且，设置存储除规定校准电路的偏移调整工作的第一参数数据之外还存储用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据的存储装置。

发明效果

简单地说明根据本申请中所公开的实施方式之中代表性的实施方式而得到的效果的话，如下所述。

即，能通过具有针对温度等环境变动而补正第一参数数据的第二参数数据，从而在中途不停止检测工作的情况下容易且高精度地进行校准电路的偏移调整。

附图说明

图1是作为应用了触摸面板的电子设备的一个例子而示出便携式信息终端的概略的框图。

图2是例示触摸面板的电极结构的说明图。

图3是例示作为触摸面板的等效电路和检测电路的一个例子的积分电路的电路图。

图4是例示供给到Y电极的驱动脉冲信号的信号波形的波形图。

图5是例示向Y电极的输入脉冲电压和积分电路的检测工作的定时的时间图。

图6是示出触摸面板的一个例子的平面图。

图7是例示积分电路的输出电压及对其的AD变换结果数据的目标值的波形图。

图8是例示第一实施方式中的触摸面板控制器的框图。

图9是控制寄存器值TPC_CALADJON的功能说明图。

图10是例示能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了其的触摸检测工作的流程图。

图11是示出存储在校准补正数据用的RAM中的校准补正数据CADJ_Data的真值的说明图。

图12是关于第一实施方式例示触摸面板的XY电极交点的排列与校准用的RAM的数据映射的对应的说明图。

图13是示出了着眼于触摸面板的驱动电极Y1～Y3进行检测工作的情况下的校准数据和检测数据的关系的工作时间图。

图14是例示根据校准数据而用电流源的电流量来调整来自触摸面板的检测电极Xn的输入信号的校准电路的说明图。

图15是例示根据校准数据而用电容电荷来调整来自触摸面板的检测电极Xn的输入信号的校准电路的说明图。

图16是例示对检测电路的输出进行偏移调整的校准电路的说明图。

图17是例示生成对应于环境变动的校准数据的第二实施方式的触摸面板控制器的框图。

图18是例示第二实施方式中的能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了其的触摸检测工作的流程图。

图19是例示第二实施方式中的触摸面板的XY电极交点的排列与校准用的RAM和寄存器的数据映射的对应的说明图。

图20是示出了着眼于触摸面板的驱动电极Y1～Y3进行检测工作的情况下的校准数据和检测数据的关系的工作时间图。

图21是例示生成对应于环境变动的校准数据的第三实施方式的触摸面板控制器的框图。

图22是例示第三实施方式中的能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了其的触摸检测工作的流程图。

图23是例示生成对应于环境变动的校准数据的第四实施方式的触摸面板控制器的框图。

图24是例示设置了温度传感器的情况下的补正处理流程的流程图。

图25是示出以多个范围设定了判定的基准温度的情况下的真值的一个例子的说明图。

具体实施方式

1. 实施方式的概要

首先，关于本申请中公开的实施方式，说明概要。关于实施方式的概要说明中标注括号来参照的附图中的附图标记只不过例示包括于标注了其的结构要素的概念的附图标记。

﹝1﹞<<偏移调整参数的补正数据>>

触摸检测装置（TML）具备：触摸面板（1），呈矩阵状地配置多个Y电极（Ym（Y1～YM））和X电极（Xn（X1～XN））；触摸面板控制器（3、3A、3C），基于相应于所述触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成相应于所述Y电极和所述X电极的每个交点的电容分布的检测数据；以及处理器（5），进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理。所述触摸面板控制器具备：多个检测电路，与所述多个X电极对应；校准电路（304），对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整；以及存储装置（307、308、322），存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据（C_Data）和用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据（CADJ_Data）。

据此，因为具有存储用于根据需要而补正用于按触摸面板的每个交点电容调整检测数据的偏差的第一参数数据的第二参数数据的存储装置，所以不需要针对环境的变动使触摸检测工作停止而改写第一参数数据的设定，此外，也不需要准备存储第一参数数据的设定的多个存储装置。进而，因为采用了用第二参数数据来补正偏移调整用的参数数据的结构，所以如果使该补正刻度变小，则还能容易地实现针对环境变动而动态地最佳化第二参数数据。

﹝2﹞<<Y电极和所述X电极的每个交点的补正数据>>

在项1中，所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]）。所述第二参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]）（参照图8）。

由此，能按所述Y电极和所述X电极的每个交点进行参数数据的补正，因此，能将补正的偏移调整精度保持得高。

﹝3﹞<<对Y电极和所述X电极的交点进行代表的补正数据>>

在项1中，所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]）。所述第二参数数据是对所述Y电极和所述X电极的交点以单个或多个数据进行代表的代表数据（CADJ_Data[7:0]）（参照图17、图23）。

据此，利用补正的偏移调整精度降低，但能抑制由于存储第二参数数据而造成的存储装置的电路规模的增大。

﹝4﹞<<个别地存储第一参数数据和第二参数数据的存储器>>

在项2中，所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器（307）和存储所述第二参数数据的第二存储器（308）构成。在所述第二存储器中存储从所述处理器提供的所述第二参数数据。

据此，能将与第一参数数据性质不同的第二参数数据与第一参数数据分离而用处理器容易地管理。

﹝5﹞<<将作为第二参数数据的代表数据存储在寄存器中>>

在项3中，所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器（307）和存储作为所述第二参数数据的所述代表数据的参数寄存器（322）构成。在所述参数寄存器中存储从所述处理器提供的所述代表数据。

据此，能将作为与第一参数数据性质不同的第二参数数据的代表数据与第一参数数据分离而用处理器容易地管理。

﹝6﹞<<在Y电极的每次切换时校准电路取得参数数据>>

在项1中，所述触摸面板控制器具有对所述多个Y电极按电极排列顺序供给脉冲信号而进行驱动的驱动电路（300）。所述检测电路以驱动的Y电极为单位检测该Y电极与交叉的所述X电极的交点电容的电容值。所述校准电路在所述脉冲信号被施加的所述Y电极的每次切换时，输入补正前或补正后的对应的所述第一参数数据。

由此，与Y电极的切换同步地进行第一参数数据和第二参数数据的读出和转送控制即可。

﹝7﹞<<利用加法或减法的补正>>

在项1中，所述第二参数数据是对所述第一参数数据相加或相减的数据，通过对所述第一参数数据加上或减去所述第二参数数据来进行必要的补正。

据此，能简单地进行利用第二参数数据的第一参数数据的补正，与第一参数数据相比，能容易地减少第二参数数据的位数。

﹝8﹞<<利用恒定电流源的电流量进行的校准>>

在项7中，所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整耦合于所述检测电路的输入的恒定电流源（340_n）的电流量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输入的来自恒定电流源的电流量控制而容易地调整偏移。

﹝9﹞<<利用电荷的移动量进行的校准>>

在项7中，所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输入的电容元件（341_n）而施加于该输入的电荷量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输入节点的电容耦合电压的控制来容易地调整偏移。

﹝10﹞<<利用相应于调整参数的电压的加减量进行的校准>>

在项7中，所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输出的加减法电路（350_n）而施加的电压的加减量的电路。

据此，能利用对所述检测电路的输出的电压的加减法控制来容易地调整偏移。

﹝11﹞<<模式寄存器>>

在项7中，所述触摸面板控制器具有模式寄存器（321），其以能切换基于补正前的所述第一参数数据使所述校准电路工作的第一模式和基于用所述第二参数数据补正所述第一参数数据而得到的第三参数数据使所述校准电路工作的第二模式的方式进行指定。所述处理器进行对所述模式寄存器的设定。

据此，能利用处理器来自由地控制针对环境变动的第一参数数据的补正的可否。

﹝12﹞<<基于检测数据来运算第二参数数据的值>>

在项1中，所述处理器进行基于从所述触摸面板控制器转送的所述X电极的每个交点的检测数据来运算在无触摸时的检测数据超过容许范围的情况下在取消该变动量的方向上对第一参数数据进行补正的值的第二参数数据、将所运算的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制（参照图10、图18）。

据此，能使用就环境变动而运算的第二参数数据。

﹝13﹞<<根据环境变动的检测结果来选择第二参数数据的值>>

在项1中，所述处理器进行基于对放置触摸检测装置的环境的变动的检测结果来选择用于第一参数数据的补正的第二参数数据的值、将所选择的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的存储装置的控制（参照图21）。

据此，由于只要基于环境变动的检测结果来选择与预先设想的环境变动对应的第二参数数据即可，所以能降低由处理器进行的第二参数数据的运算负荷。

﹝14﹞<<偏移调整参数的改写>>

另外的触摸检测装置（3B）具备：触摸面板（1），呈矩阵状地配置有多个Y电极和X电极；触摸面板控制器（3），基于相应于所述触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成所述Y电极和所述X电极的每个交点的检测数据；以及处理器（5），进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理。所述触摸面板控制器具备：多个检测电路（301），与所述多个X电极对应；校准电路（304），对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整；存储装置（307），使规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据（C_Data）对应于各个所述交点电容来进行存储；以及控制电路（330）。所述处理器进行基于从所述触摸面板控制器转送的所述X电极的每个交点的检测数据来运算在无触摸时的检测数据超过容许范围的情况下在取消该变动量的方向上补正对应的第一参数数据的补正值、将用所运算的补正值进行补正后的第一参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制。所述控制电路进行在与从所述存储装置读出第一参数数据的工作不重叠的定时将所述第一参数数据写入到所述存储装置的控制。

由此，由于能将到接下来使用被作为补正对象的第一参数数据为止的比较长的时间作为补正的处理时间，所以能具有时间上的富余地依次进行基于所检测的检测数据的第一参数数据的补正处理，而能使第一参数数据对环境变动动态地追随。进而，由于以使第一参数数据的读出与写入不重叠的方式来进行所述存储装置的访问控制，所以能未然地防止在补正后的第一参数数据的写入中从存储装置读出的不妥。

﹝15﹞<<在Y电极的每次切换时校准电路取得参数数据>>

在项14中，具有对所述多个Y电极按电极排列顺序供给脉冲信号来进行驱动的驱动电路。所述检测电路以驱动的Y电极为单位检测该Y电极与交叉的所述X电极的交点电容的电容值。所述校准电路在所述脉冲信号被施加的所述Y电极的每次切换时，输入补正前或补正后的对应的所述第一参数数据。

由此，与Y电极的切换同步地进行第一参数数据的读出和转送控制即可。

﹝16﹞<<偏移调整参数的改写周期>>

在项15中，触摸面板控制器按顺序地驱动多个Y电极并以Y电极的驱动为单位将所述检测数据提供到所述处理器。所述处理器进行在到接下来驱动用于得到该检测数据的Y电极的定时将基于所提供的检测数据而运算的对应的补正后的第一参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制（参照图21、图22）。

据此，能将Y电极的切换轮巡一次的时间作为与Y电极的驱动单位相应的对一组第一参数数据的补正和改写的处理时间。

﹝17﹞<<利用恒定电流源的电流量进行的校准>>

在项14中，所述校准电路是利用所述第一参数数据来调整耦合于所述检测电路的输入的恒定电流源（340_n）的电流量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输入的来自恒定电流源的电流量控制而容易地调整偏移。

﹝18﹞<<利用电荷的移动量进行的校准>>

在项14中，所述校准电路是利用所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输入的电容元件（341_n）而施加于该输入的电荷量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输入节点的电容耦合电压的控制来容易地调整偏移。

﹝19﹞<<利用相应于调整参数的电压的加减量进行的校准>>

在项14中，所述校准电路是利用所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输出的加减法电路（350_n）而施加的电压的加减量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输出的电压的加减法控制来容易地调整偏移。

﹝20﹞<<偏移调整参数的补正数据>>

半导体装置（10）基于相应于呈矩阵状地配置有多个Y电极和X电极的触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成相应于所述Y电极和所述X电极的每个交点的电容分布的检测数据。该半导体装置具备：多个检测电路（301），与所述多个X电极对应；校准电路（304），对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整；以及存储装置（307、308、322），存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据和用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据。

据此，因为具有存储用于根据需要而补正用于按触摸面板的每个交点电容调整检测数据的偏差的第一参数数据的第二参数数据的存储装置，所以不需要针对检测信号的信号生成环境的变动使触摸检测工作停止而改写第一参数数据的设定，此外，也不需要准备存储第一参数数据的设定的多个存储装置。进而，因为采用了用第二参数数据来补正偏移调整用的参数数据的结构，所以如果使该补正刻度变小，则还能容易地实现针对环境变动而动态地最佳化第二参数数据。该半导体装置对用于根据环境变动来最佳化用于调整触摸面板的每个交点电容的非触摸的检测数据的偏差的调整参数的触摸检测装置是优选的。

﹝21﹞<<Y电极和X电极的每个交点的补正数据>>

在项20中，所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]），所述第二参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]）（参照图8）。

由此，能按所述Y电极和所述X电极的每个交点进行参数数据的补正，因此，能使补正的偏移调整精度保持得高。

﹝22﹞<<对Y电极和所述X电极的交点进行代表的补正数据>>

在项20中，所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]），所述第二参数数据是对所述Y电极和所述X电极的交点以单个或多个数据进行代表的代表数据（CADJ_Data[7:0]）（参照图17、图23）。

据此，补正的偏移调整精度降低，但能抑制由于存储第二参数数据而造成的存储装置的电路规模的增大。

﹝23﹞<<在Y电极的每次切换时校准电路取得参数数据>>

在项20中，所述触摸面板控制器具有对所述多个Y电极按电极排列顺序供给脉冲信号来进行驱动的驱动电路（300）。所述检测电路以驱动的Y电极为单位检测该Y电极与交叉的所述X电极的交点电容的电容值。所述校准电路在所述脉冲信号被施加的所述Y电极的每次切换时，输入补正前或补正后的对应的所述第一参数数据。

由此，与Y电极的切换同步地进行第一参数数据和第二参数数据的读出和转送控制即可。

﹝24﹞<<利用加法或减法的补正>>

在项20中，所述第二参数数据是对所述第一参数数据相加或相减的数据，通过对所述第一参数数据加上或减去所述第二参数数据来进行必要的补正。

据此，能简单地进行利用第二参数数据的第一参数数据的补正，与第一参数数据相比，能容易地减少第二参数数据的位数。

﹝25﹞<<利用恒定电流源的电流量进行的校准>>

在项24中，所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整耦合于所述检测电路的输入的恒定电流源（340_n）的电流量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输入的来自恒定电流源的电流量控制而容易地调整偏移。

﹝26﹞<<利用电荷的移动量进行的校准>>

在项25中，所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输入的电容元件而施加于该输入的电荷量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输入节点的电容耦合电压的控制来容易地调整偏移。

﹝27﹞<<利用相应于调整参数的电压的加减量进行的校准>>

在项25中，所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输出的加减法电路（350_n）而施加的电压的加减量的电路。

据此，能通过对所述检测电路的输出的电压的加减法控制来容易地调整偏移。

﹝28﹞<<模式寄存器>>

在项24中，所述触摸面板控制器具有模式寄存器（321），其能以切换基于补正前的所述第一参数数据使所述校准电路工作的第一模式和基于用所述第二参数数据补正所述第一参数数据而得到的第三参数数据使所述校准电路工作的第二模式的方式进行指定。

据此，能自由地控制针对环境变动的第一参数数据的补正的可否。

﹝29﹞<<内置处理器>>

在项20中，还具有进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理的处理器。

据此，能有助于处理的高速化和触摸检测装置等应用系统的小型化。

﹝30﹞<<基于检测数据来运算第二参数数据的值>>

在项29中，所述处理器进行基于从所述触摸面板控制器转送的所述X电极的每个交点的检测数据来运算在无触摸时的检测数据超过容许范围的情况下在取消该变动量的方向上补正第一参数数据的值的第二参数数据、将所运算的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制（参照图10、图18）。

据此，能使用就环境变动而运算的第二参数数据。

﹝31﹞<<根据环境变动的检测结果来选择第二参数数据的值>>

在项29中，所述处理器进行基于对放置触摸检测装置的环境的变动的检测结果来选择用于第一参数数据的补正的第二参数数据的值、将所选择的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的存储装置的控制（参照图21）。

据此，由于只要基于环境变动的检测结果来选择与预先设想的环境变动对应的第二参数数据即可，所以能降低由处理器进行的第二参数数据的运算负荷。

2. 实施方式的细节

对实施方式进一步详述。

<<应用了触摸面板的电子设备>>

在图1中，作为应用了触摸面板的电子设备的一个例子而例示便携式信息终端的概略。

该图所示的便携式信息终端TML具有：触摸面板（TP）1、显示面板（DP）2、触摸面板控制器（TPC）3、显示控制器（DPC）4、辅处理器（SMPU）5、主处理器（HMPU）6、以及其他周围设备（PRPH）7。在此，做成例如通过CMOS集成电路制造技术在1个半导体芯片形成有触摸面板控制器3、显示控制器4、以及辅处理器5的单芯片的半导体装置10A。一个半导体装置的范围不限定于此，也能够做成在1个半导体芯片形成有触摸面板控制器3和辅处理器5的半导体装置并以另外的芯片构成显示控制器4。该结构具有以下优点：在显示控制器4的规格改变而触摸面板检测的做法不改变的情况下，通过更换显示控制器4的单芯片，从而能够容易地构成新规格的触摸面板系统。此时，半导体装置从显示控制器4接收如Hsync、Vsync那样的显示用的同步信号。或者，也能够做成在1个半导体芯片形成有触摸面板控制器3和显示控制器4的半导体装置并以另外的芯片构成辅处理器5。该结构适于挪用在辅处理器5上构建的软件来设计多代产品的情况。即，能够以能分工地开发液晶显示及触摸检测的硬件设计和使用了触摸检测结果的软件设计的方式来分离半导体装置的功能。虽然未特别图示，但是，也可以将触摸面板控制器3、显示控制器4、以及辅处理器5的每一个分别形成于个别的半导体芯片。

显示面板2是例如在玻璃基板上根据显示规模形成透明电极和液晶的像素而成的。关于触摸面板1，未被特别限制，但是，具有在显示面板的表面与其整体地形成的“in–cell”构造，经由电介质交叉配置有多个驱动电极（Y电极）和多个检测电极（X电极），构成为所谓互电容方式的触摸面板。

触摸面板控制器3对通过向驱动电极依次供给驱动脉冲而经由触摸面板1的驱动电极和检测电极之间的电容分量呈现于检测电极的信号周期性地进行积分来生成与上述电容分量相应的检测数据。检测数据是指相应于Y电极与X电极的每个交点的电容分布的数据。

作为子系统用的处理器的辅处理器5控制对触摸面板控制器3的初始设定、工作模式。此外，辅处理器5基于触摸面板控制器3所取得的检测数据来进行手指等接近的触摸位置的运算和外来噪声的评价等。辅处理器5是数据处理器的一个例子。辅处理器5、主处理器6为具备中央处理装置（CPU）及其周围电路的程序处理装置。

主处理器6负责便携式信息终端的整体的控制。例如，当主处理器6按照一贯的显示控制来生成显示数据时，显示控制器4接收该显示数据，一边与显示定时同步一边向显示面板2供给与显示数据相应的显示信号。此外，主处理器6接收辅处理器5所运算的位置坐标，根据此时的显示内容和位置坐标的关系来解析对触摸面板1的操作，进行响应于该输入的控制。

作为其他周围电路7，具有便携式信息终端所需要的通信控制单元、图像处理单元、声音处理单元、以及其他数据处理用的加速器等。

在图2中例示了触摸面板1的电极结构。在触摸面板1中，电绝缘地配置有在横向上形成的许多驱动电极（Y电极）Y1～YM和在纵向上形成的许多检测电极（X电极）X1～XN。虽然未特别限制，但是按照各电极的每一个在其延伸方向的中途形成有多个方形电极，在电绝缘的邻接的方形电极之间形成有交点电容。当与全局接地导通的手指等物体接近交点电容时，由此造成的寄生电容施加于上述交点电容，该电极间隙的电容分量（合成电容分量）比交点电容小。在触摸面板控制器3所生成的检测数据中呈现与该电容分量的差相应的信号差。

虽然未特别图示，但是在显示面板2中，配置有在横向上形成的作为扫描电极的多个栅极电极和在纵向上形成的作为信号电极的漏极电极，在其交点部分配置有选择端子与对应的扫描电极连接、输入端子与对应的信号电极连接的许多显示单元（亚像素）。显示控制器4例如在由垂直同步信号规定的1帧显示期间对栅极电极的依次驱动（显示行的扫描驱动）进行控制，按照各个栅极电极的每次驱动向漏极电极提供灰度信号（显示信号），由此，以显示行为单位控制亚像素的液晶元件的透射度。

在图3中示出触摸面板1的等效电路和检测电路的一个例子的积分电路301（301_1～301_N）的一个例子。在触摸面板1中呈矩阵状地配置有Y电极Y1～YM和X电极X1～XN电极，在其交叉部形成的交点电容被图示为Cxy。

积分电路301例如由以下部分构成：用于对X电极X1～XN进行充电的预先充电电压VHSP、向X电极X1～XN选择性地施加电压VHSP来作为预先充电电压的开关SW2、向非反相输入端子（+）施加电压VHSP作为基准电压且对应的X电极连接到反相输入端子（-）的运算放大器AMP、在运算放大器AMP的反相输入端子（–）和输出端子之间配置的积分电容器Cs、以及用于重置积分电容器Cs的开关SW1。再有，开关SW1对重叠于在检测中使用的电容器Cs的电荷进行重置。虽然未被特别限制，但是，使开关WS2在Y电极Y1～YM的脉冲驱动期间为关断状态。

在图4中示出向Y电极Y1～YM供给的驱动脉冲信号的信号波形的一个例子。例如，向Y电极Y1～YM按照电极的排列顺序供给多个驱动脉冲。例如，方便地示出了以规定的脉冲宽度和脉冲周期向每一个Y电极供给10个驱动脉冲的例子。对1个Y电极进行多次脉冲驱动的期间与依次扫描驱动显示面板的多个显示行的期间（多个显示扫描期间）对应。例如，在与显示面板的水平同步信号同步的1个显示扫描期间对触摸面板的Y电极进行2次脉冲驱动时，如果将1个Y电极的脉冲驱动次数设为10次，则在5个显示行的显示期间中对1个Y电极进行10次脉冲驱动来进行积分工作。能通过利用多次脉冲驱动的积分工作来提高检测灵敏度。Ttf为对触摸面板1的全部的1次触摸检测期间。

在图5中例示了向Y电极Y1～YM的输入脉冲电荷和由积分电路301进行的检测工作的定时。首先，使开关SW2为接通状态，使X电极Xn（n=1～N）跃迁到对电源VHSP充电的非检测状态a，使开关SW1为接通状态，重置电容器Cs。接下来，使开关SW1和开关SW2为关断状态，跃迁到检测等待状态b。在检测等待状态b下，X电极Xn为不连接到电源VHSP的状况，在作为假想接地的结构的积分电路中保持电压电平。然后，在跃迁到检测等待状态b之后，对Y电极Y1输入振幅Vy的上升脉冲（其他的Y电极Y2～YM固定于低电平）。其结果，电荷（=Vy×Cxy）经由Y电极Y1上的交点电容Cxy移动到X电极Xn而输入到检测电路301，运算放大器AMP的输出VOUTn发生变化。再有，通过用手指触摸，相应的交点电容Cxy减少电容值Cf的量，因此，例如，在设所触摸的X电极为X2的情况下，输入到X电极X2的运算放大器AMP的电荷成为Vy×（Cxy-Cf），运算放大器AMP的输出VOUT2成为高电位。用A/D变换器302将该VOUTn（n=1～N）变换为数字值的检测数据，以供坐标运算等。

在图6中示出了触摸面板1的一个例子。在触摸面板1和触摸面板控制器3之间，例如关于Y电极Y1～YM，到离触摸面板控制器3近侧的电极和远侧的电极的布线长度不同，或者相对于近侧由右手进行连接而远侧由左手进行连接。关于X电极X1～XN，相对于离触摸面板控制器3最近的触摸面板1的中央部，关于分为左右而布线的端部，其布线较长，或者受到Y电极Y1～YM之间的布线间的布线环境的影响。此外，在图的例子中，触摸面板控制器3被安装在FPC（Flexible printed circuits:柔性印刷电路）上，但是也可想到经由FPC安装在主基板上的情况。考虑以上的话，设想根据安装环境，从触摸面板1的一面的量得到的检测数据S_Data并不是在什么位置均相同而有偏差。

在图7中例示了积分电路301的输出电压VOUTn及对其的AD变换结果数据（检测数据）S_Data的目标值。作为对检测结果的理想的是，取消前述那样的由于安装环境所造成的模拟的检测数据S_Data的值VTG0的偏差，使不触摸时的触摸面板的一面的量的检测数据与规定的容许值一致（收敛于使值VTG0处于中心的范围±ε）。进而，也包括触摸时的检测数据，效率良好地收敛于设置在检测电路的后级的A/D变换器的输入范围，以此为理想。在此，例示使用了将变换输出设为10位精度并且将输入电压的全范围设为4V的A/D变换器的情况。

在此，在温度条件、湿度条件的周围环境发生变化（环境变动）的情况下，存在检测数据S_Data的值VTG0发生变动的例如非触摸的值VTG0上升或者下降的情况。在图7中，示出了非触摸的值VTG0上升到VTG0'的情况，在该条件下，当触摸面板1被触摸时，存在触摸的值也成为VTG1'而超出A/D变换器的输入范围0～4V的担忧。在以下，对用于调整为使得即使在环境变动发生的情况下检测结果也不超出A/D变换器的输入范围0～4V的结构进行详细说明。再有，环境变动时的值VTG0的变化方向根据检测方式、检测电路而不同。当将采用了在图2至图5中说明的检测方式和检测电路的结构的情况作为一个例子来说明时，周围温度上升，Ym、Xn的电阻值增大，信号的传播率降低，输出电压VOUTn的电压变化变小。其结果，值VTG0（=VOUTn）的电压电平上升。另一方面，当周围温度降低且Ym、Xn的电阻值减小时，信号的传播率提高，输出电压VOUTn的电压变化变大。其结果，值VTG0（=VOUTn）的电压电平下降。在此，列举触摸面板的电阻分量即Ym、Xn的电阻值为例来关于温度依赖性进行了说明，但是当然，值VTG的变化方向根据使用触摸面板1的触摸检测系统中的能成为变动主要原因的元件而发生变化。

<<生成对应于环境变动的校准数据的第一实施方式>>

考虑根据安装环境从触摸面板1的一面的量得到的检测数据S_Data因位置而有偏差这样的事情，为了实现对检测数据S_Data的上述那样的理想而对检测数据的偏差进行取消，关于用于上述取消的校准，在专利文献1中实现了。在以下，以此为前提，对采用了根据环境变动来调整校准用的数据的技术的第一实施方式进行说明。

在图8中示出了触摸面板控制器3的具体例。在该图中，触摸面板控制器3具备：代表性地示出的驱动电路300、检测电路301（301_1～301_N）、A/D变换器302（302_1～302N）、检测数据用的RAM303。为了触摸检测的校准，触摸面板控制器3还具备：校准电路304（304_1～304N）、D/A变换器305（305_1～305N）、行锁存器306、校准源数据用的RAM307、校准补正数据用的RAM308、以及加法器309。检测数据用的RAM303、校准源数据用的RAM307、校准补正数据用的RAM308经由总线接口311对接于由子系统用的微处理器构成的辅处理器5。

触摸面板控制器3的整体控制由寄存器部320和控制部330进行。寄存器部320具有命令寄存器和数据寄存器，经由总线接口311通过辅处理器5进行命令的写入和数据的读/写。写入到寄存器部320的命令和控制参数被供给到控制部330，控制部330依照命令使用控制参数等来整体地控制触摸面板控制器3的内部。作为整体的控制逻辑而在图中例示了驱动/检测控制电路331。关于在寄存器部320设定的初始设定数据等的一部分的控制数据，虽然未特别限制，但是其被直接内部转送到触摸面板控制器3的内部电路。

驱动电路300通过脉冲状的交流驱动电压按照电极的排列顺序驱动Y电极Y1～YM。总之，扫描驱动交点电容。检测电路301从经扫描驱动的作为交点电容Cxy的交点电容经由对应的X电极X1～XN输入检测信号，周期性地导入其信号电荷，例如前述那样进行周期性地积分。积分后的信号电荷通过对应的A/D变换器302变换为检测数据。虽然未特别限制，但是在此，在X电极X1～XN的每一个具有A/D变换器302（302_1～302_N），因此，在Y电极Y1～YM的电极单位的每次扫描驱动时，并列地生成与Y电极的个数相应的数量的变换数据。变换后的检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[yM,xN]累积于RAM303。当使A/D变换器的变换精度为10位时，触摸面板控制器3的一面的量的检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[yM,xN]在每个交点电容Cxy为10位的数据，其数据量全部为M×N×10位。累积于RAM303的检测数据经由总线接口电路311供给到辅处理器5，以供数字滤波运算和坐标运算。触摸坐标的运算结果被进行便携式信息终端的整体控制的主处理器（HMPU）6所利用。再有，在本说明书中，为了方便，驱动电极Y1～YM和检测电极X1～XN的交点位置如[y1,x1]～[yM,xN]那样表示。因而，在上述检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[yM,xN]等数据记载中，[ym,xn]即[y1,x1]～[yM,xN]要理解为意味着该数据对应的交点位置的下标。

校准电路304_1～304_N是对前述检测电路301_1～301_M的输入信号施加用于调整其偏移的信号的电路。校准电路304_1～304_N接受D/A变换器305_1～305_N的输出而工作，D/A变换器305_1～305_N对从行锁存器306供给的校准数据CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]进行D/A变换并输出到校准电路304_1～304_N。在供给到行锁存器306的校准数据CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]的生成中，使用了作为第一参数数据的校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]和作为用于对校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]进行必要的补正的第二参数数据的校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]。补正通过用加法器309对校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]加上校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]来进行。校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]经由总线接口311写入到RAM307，基于控制部330的控制从RAM307以检测行为单位读出。校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]经由总线接口311写入到RAM308，基于控制部330的控制从RAM308以检测行为单位读出。

校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]和校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]例如是每个交点电容Cxy的8位单位的数据。在不需要环境变动的补正的情况下，校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]以按电极顺序被扫描驱动的Y电极单位的交点电容相应的数据为单位（以校准行为单位）锁存在行锁存器306中，被做成作为第三参数数据的校准数据CAL_Data[ym,x1] ～CAL_Data[ym,xN]。在需要环境变动的补正的情况下，校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]和校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]以按电极顺序被扫描驱动的Y电极单位的交点电容相应的数据为单位（以校准行为单位）从RAM307和RAM308读出，在所读出的数据对应的数据同伴中通过加法器309进行相加而锁存在行锁存器306中，被做成作为第三参数数据的校准数据CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]。锁存在行锁存器306中的校准数据CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]由对应的D/A变换器305_1～305_N变换为模拟信号，提供到校准电路304_1～304_N。校准电路304_1～304_N以依照调整参数从对应的X电极X1～XN的信号电平取消不合期望的偏移量的方式进行工作。

偏移调整的有无通过配置于寄存器部320的作为模式寄存器的控制寄存器321的设定值TPC_CALADJON来决定，控制部330参照该设定值。

在图9中例示了控制寄存器值TPC_CALADJON的功能。在控制寄存器值TPC_CALADJON为1'b0时，使校准数据的调整功能为关（OFF），将校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]用作校准数据CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]。另一方面，在控制寄存器值TPC_CALADJON为1'b1时，使校准数据的调整功能为开（ON），将对校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]加上校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]而得到的数据作为校准数据CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]。

例如，设想将周围温度T成为50℃以上的情况下的调整值所对应的数字数据作为校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]而存储在RAM307中的情况。在该情况下，在温度传感器的输出temp成为T以上的情况下，辅处理器5通过检测其来设定控制寄存器值TPC_CALADJON=1。在温度传感器的输出temp不足T的情况下，辅处理器5设定控制寄存器值TPC_CALADJON=0。由此，能对校准电路304_1～304_N供给与周围温度相应的最佳值的校准数据CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]，使其结果收敛于A/D变换器302_1～302_N的输入范围。

关于上述控制寄存器值TPC_CALADJON的设定的变更定时或者由控制电路330进行的控制寄存器值TPC_CALADJON的参照定时，需要考虑以下内容。即，当在使驱动电极Y1～YM的驱动轮巡一次而进行触摸检测的1个检测帧期间的中途切换控制寄存器值TPC_CALADJON时，应用了补正后的校准数据的检测数据和应用了补正前的校准数据的检测数据混在一起，而对触摸的有无发生误检测。为了未然地防止这样的误检测的担忧，控制寄存器值TPC_CALADJON的变更定时或者由控制电路330进行的控制寄存器值TPC_CALADJON的参照定时必须做成触摸检测帧的分段。总之，在触摸检测帧的中途控制寄存器值TPC_CALADJON的变更不会被反映到触摸检测的控制。

再有，在上述说明中，将判定基准温度T作为一个种类来说明，但判定基准温度也可以是多个种类。此外，在该情况下，设定控制寄存器值TPC_CALADJON=0，改写存储在校准补正数据用的用RAM308中的校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]。在改写结束之后，设为控制寄存器值TPC_CALADJON=1。关于控制寄存器值TPC_CALADJON=1的设定变更被反映到控制，如上所述被做成触摸检测帧的分段，因此，在每个交点电容的校准数据中补正前和补正后的值不混在一起，而不发生触摸的误检测。

在图10中例示了能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了其的触摸检测工作的流程。如前所述，在第一实施方式中，对每个交点电容的校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]使用与其同样地每个交点电容的校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]。不补正的情况的校准数据为式1，补正的情况的校准数据为式2。

在将触摸面板1编入于显示面板2且将触摸面板控制器3安装于显示面板2的玻璃基板的状态下，决定校准源数据C_Data，其是用于根据安装环境即使在每个电极存在不同的布线电容负荷、或者不同的布线电阻负荷也均匀地调整非触摸时的检测值VTG0的矩阵数据。此外，校准补正数据CADJ_Data是用于根据温度、湿度等周围环境来均匀地调整非触摸时的检测值VTG0的矩阵数据。在设定控制寄存器值TPC_CALADJON=1的情况下，环境变动对应校准数据CAL_Data依照式2生成。在设定控制寄存器值TPC_CALADJON=0的情况下，环境变动对应校准数据CAL_Data依照式1生成。

首先，作为前提，至少在便携式信息终端的出货工序时，在RAM307中准备了能作成的非触摸时的检测数据S_Data对驱动电极Ym和检测电极Xn的每个交点（XY电极交点）成为均匀的校准源数据C_Data。关于在此的校准源数据C_Data，只要在触摸面板1被装配的显示模块的状态下实施检测工作，则能容易地作成。例如，在对依次变更了校准源数据C_Data的情况下的检测数据S_Data按每个交点进行监视例如以10位空间进行考虑的情况下，取得以十进制数标记例如成为S_Data=256（dec）的校准源数据C_Data即可。

当使工作电源接通时（S1），作为初始化工作的一环，校准用的数据取得被指示（S2），由此，辅处理器5向内置于触摸面板控制器3的RAM307从例如周围装置7内的存储装置转送前述的校准源数据C_Data（S4）。与此同时，将示出触摸检测行的计数器设定为m=1（S3）。此后，在控制寄存器值TPC_CALADJON=1的情况下，控制部330以计数器所示的触摸检测行为单位读出存储在RAM307中的校准源数据C_Data和存储在RAM308中的校准补正数据CADJ_Data，将前者加上后者（S14）而生成的校准数据CAL_Data转送到行锁存器306（S5）。在控制寄存器值TPC_CALADJON=0的情况下，控制部330以计数器所示的触摸检测行为单位读出存储在RAM307中的校准源数据C_Data，将其作为校准数据CAL_Data转送到行锁存器306（S5）。转送到行锁存器306的校准数据CAL_Data通过D/A变换器305_1～305_N进行D/A变换，对例如检测电路301_1～301_N的输入进行依照该D/A变换结果的偏移调整。由此，检测电路301_1～301_N对呈现于检测电极X1～XN的信号进行积分并实行检测工作，取得模拟的检测信号VTG（S6）。检测信号VTG通过AD变换器302_1～302_N变换为数字的检测数据S_Data，存储在RAM303中。在步骤S5～S7每次转一圈时，计数器值m增加（S9），重复步骤S5～S7、S9的处理直到变为m=M（S8）。

在步骤S8中，当判别m=M时，辅处理器5使用此时存储在RAM303中的触摸检测帧的一帧量的检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[yM,xN]来进行触摸有无的判别。即，参照每个XY电极交点的检测数据S_Data[ym,xn]来实施触摸有无的判定。触摸有无判定可想到各种判定方法，而列举一个例子的话，存在以S_Data的时间上变化量进行判定的方法，如果触摸帧单位的S_Data的变化值超过300（dec），则判定为触摸即可。

在有触摸的情况下，辅处理器5使用每个XY电极交点的检测数据S_Data[ym,xn]来进行触摸位置的坐标运算（S15）。在有触摸的情况下，与此同时，回到步骤S3，开始对接下来的触摸检测帧的处理。

另一方面，在步骤S10判定为无触摸的情况下，实施非触摸电平判定和校准补正数据的生成或更新（S11～S13）。

当将利用校准源数据C_Data进行的偏移调整的非触摸时的检测数据S_Data的目标设为S_Data=256（dec）时，理想地，继续为检测数据S_Data≈256。在此，在没有触摸时，检测数据S_Data中没有剧烈的变化，检测数据S_Data从256向变小或变大的方向变化，在此情况下，判断为由于周围环境的变化例如温度变化而非触摸电平发生了变化（S11）。作为判断基准而设定参数δ，在S_Data≤256±δ的情况下，判断为环境变动小，在不变更校准补正数据CADJ_Data的情况下从步骤S3再开始检测工作。在S_Data>256±δ的情况下，判断为环境变动大，计算对与该检测数据相应的校准源数据C_Data的值进行补正的校准补正数据CADJ_Data的补正值（S12），改写RAM308的对应地址的数据（S13）。参数δ根据检测电路301的特性或设定来决定。例如，校准数据CAL_Data变化了刻度1的情况下的检测数据S_Data的变化ΔS_Data能通过检测电路301的电路设定而预测，因此，例如设为δ=ΔS_Data即可。列举预测的一个例子的话，利用了校准数据CAL_Data变化了1的情况下的物理变化例如电流变化、电荷变化被变换为检测电路具有的增益加倍后的变化ΔS_Data。增益通过电路设定来决定，因此可说成能由此预测。

初始地存储在RAM308中的各交点位置的全部的校准补正数据CADJ_Data[ym,xn]的初始值例如设为零。在S_Data>256+δ成立的情况下，计算与该检测数据的XY电极交点位置相应的校准数据CAL_Data进行+1的校准补正数据CADJ_Data（S12），存储在校准补正数据用的RAM308的对应位置即可（S13）。在S_Data<256-δ成立的情况下，计算与该检测数据的XY电极交点位置相应的校准数据CAL_Data进行-1的校准补正数据CADJ_Data（S12），存储在校准补正数据用的RAM308的对应位置即可（S13）。对应位置意指与成为判别对象的检测数据S_Data相同的交点位置所对应的校准补正数据CADJ_Data的存储位置。

在校准补正数据的更新刻度大的情况下，如果未最佳化RAM308内的全部的校准补正数据，则成为触摸误判定的原因。因而，在那样的情况下，优选为，到取得全部的XY电极交点位置的校准补正数据并写入到RAM308为止，维持控制寄存器值TPC_CALADJON=0。另一方面，如上所述，在校准补正数据的更新刻度像±1那样小的情况下，可想到即使逐次更新RAM308内的校准补正数据，也没有触摸误判定的担忧。因而，在该情况下，在取得全部的XY电极交点位置的校准补正数据并暂且写入到RAM308之后，能维持控制寄存器值TPC_CALADJON=1的状态的原样来更新校准补正数据而对环境变动进行动态地对应。

虽然未特别限制，但在对环境变动进行动态地对应的情况下，用于取得校准补正数据CADJ_Data的步骤S12、S13的处理在到接下来的触摸检测帧的触摸检测开始为止的期间完成。换言之，在到接下来的触摸检测帧的触摸检测定时开始为止的期间在可能的范围中进行步骤S11～S13的处理。在对触摸检测帧整体的检测数据不能完成处理的情况下，中断处理即可。接着，对接下来的触摸检测帧的检测数据，从中断了前次处理的交点位置的检测数据起进行步骤S11的处理即可。

再有，存储在校准补正数据用的RAM308中的校准补正数据CADJ_Data的真值表例如在图11中例示。该例子将补正数据CADJ_Data的补正范围设为6位的±32（dec）阶段，而不特别限制。

根据以上，即使由于温度、湿度等环境变动而变为S_Data>256±δ，也能通过使用对应校准源数据C_Data的校准补正数据CADJ_Data来进行补正，从而与S_Data≈256一致。与依照环境变动来全部改写RAM307的数据的处理不同，能容易地实现响应于环境变动的校准数据的调整。

在图12中例示了在上述第一实施方式中触摸面板1的XY电极交点的排列与校准用的RAM307、308的数据映射的对应。例如，示出了将与触摸面板1的左上（y1,x1）对应的校准源数据C_Data、校准补正数据CADJ_Data存储于对应的RAM307、308的左上的地址的情况。在图12中，LCSm意指触摸面板1的检测行Ym所对应的一列量的校准源数据的列（校准源数据行）。在图12中，LCAm意指触摸面板1的检测行Ym所对应的一列量的校准补正数据的列（校准补正数据行）。

在图13中以着眼于触摸面板1的驱动电极Y1～Y3进行检测工作的情况为例而例示示出了校准数据和检测数据的关系的工作定时。首先，在向电极Y1输入脉冲的稍前，从RAM307读出对应的校准源数据行LCS1的数据C_Data[y1,x1]～C_Data[y1,xN]，并且从RAM308读出对应的校准补正数据行LCA1的数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[y1,xN]，用加法器309对前者（LCS1）加上后者（LCA1），将相加后的数据作为校准数据CAL_Data[y1,x1]～CAL_Data[y1,xN]锁存在行锁存器306中。

锁存在行锁存器306中的校准数据CAL_Data[y1,x1]～CAL_Data[y1,xN]通过D/A变换器305变换为模拟控制信号，供给到校准电路304。校准电路304进行基于该模拟控制信号来取消检测电极X1～XN的偏移的工作，得到检测电压VOUT1～VOUTN。检测电压VOUT1～VOUTN通过A/D变换器302变换为检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[y1,xN]，存储在RAM303中。在驱动电极Y1的脉冲驱动期间的接下来的驱动周期，驱动电极Y2被驱动，此时也在这稍前，从RAM307读出对应的校准源数据行LCS2的数据C_Data[y2,x1]～C_Data[y2,xN]，并且从RAM308读出对应的校准补正数据行LCA2的数据CADJ_Data[y2,x1]～CADJ_Data[y2,xN]，用加法器309对前者（LCS2）加上后者（LCA2），将相加后的数据作为校准数据CAL_Data[y2,x1]～CAL_Data[y2,xN]锁存在行锁存器306中。以下同样地，每当切换脉冲驱动的驱动电极Ym时，一边向行锁存器306转送将对应的校准源数据C_Data和校准补正数据CADJ_Data相加后的校准数据CAL_Data，一边实施检测工作。

在图14至图16中示出了校准电路的例子。

图14示出了根据校准数据通过电流源的电流量来调整来自触摸面板1的检测电极Xn的输入信号的情况。构成为通过D/A变换器305_n的输出电压来控制示意性地图示的恒定电流源340_n的电流量。

图15示出了根据校准数据通过电容电荷来调整来自触摸面板1的检测电极Xn的输入信号的情况。构成为通过缓冲放大器342_n驱动示意性地图示的电容元件341_n的一个电容电极，根据驱动量来控制对耦合于检测电极Xn的另一个电容电极施加的电容耦合电压。缓冲放大器342_n的输出电压由D/A变换器305_n的输出来控制。

在图16中示出了与上述不同地对检测电路的输出进行偏移调整且对其输出以电压进行调整的情况。在此，在检测电路301_n和A/D变换器302_n之间作为校准电路设置有加减法器350_n。加减法器350_n通过对检测电路3的输出电压VOUTn相加减被D/A变换器305_n变换后的电压来调整偏移。

根据以上说明的第一实施方式，校准源数据用的RAM307和校准补正数据用的RAM308内置于触摸面板控制器3，因此，在对驱动行每次切换时不需要外部的辅处理器5启动总线访问来转送对应的校准源数据和校准补正数据。控制部300在触摸面板控制器3的内部自律性地进行内部转送控制即可。与将校准源数据用的RAM307和校准补正数据用的RAM308设置于触摸面板控制器3的外部的情况相比，能抑制在该数据转送处理中总线接口被长时间占用的情况，此外还能有助于因数据转送而消耗的功率的降低。

此外，在电路工作的触摸检测期间中，每当切换驱动电极Ym电极时，必须进行从校准用RAM以高频度读出对应的行数据并依次转送到行锁存器的工作。在不使用校准补正数据的情况下，在例如周围温度发生变化、最佳校准值发生变化时，需要暂且停止检测工作，在直接改写RAM上的校准数据后，再开始检测工作。原因在于，当不停止而进行改写时，如果对检测信号的触摸的有无判别的基准变化较大，则不仅产生误检测的担忧，而且，如果使用改写中途的校准数据，则误检测多发，触摸检测的可靠性显著降低。在检测工作的停止期间中，必须设定不接待装载了触摸面板的终端的操作的时间，因此，操作性恶化而不是优选的。

如上述实施方式，针对温度等环境变动根据需要通过校准补正数据来补正校准源数据，进而，以小的刻度逐次更新校准补正数据，由此，即使不休止或停止检测工作，对检测信号的触摸有无的判别基准也不变，触摸检测的可靠性不下降，也不产生由于因触摸检测工作的休止或停止而一时性地不接待便携式信息终端TML的操作而造成的操作性的恶化。还能进行在不停止检测工作的情况下最佳化校准值的动态校准。

<<生成对应于环境变动的校准数据的第二实施方式>>

在图17中例示了生成对应于环境变动的校准数据的第二实施方式的触摸面板控制器3A。触摸面板控制器3A对于第一实施方式的触摸面板控制器3是可替代的。

与第一实施方式的不同之处是，代替校准补正数据用的RAM308而采用了存储例如8位的校准补正数据CADJ_Data[7:0]的寄存器（参数寄存器）322。在此使用的校准补正数据CADJ_Data[7:0]在如下方面也不同：不是驱动电极Ym和检测电极Xn的每个交点的而是触摸检测帧整体的代表值。在第一实施方式中，即使在周围环境的变化例如温度变化发生了的情况下，非触摸时的检测数据是使用驱动电极Ym和检测电极Xn的每个交点的校准补正数据CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]来补正校准数据C_Data以使得成为S_Data=256的数据。辅处理器5进行对寄存器322的校准补正数据CADJ_Data[7:0]的写入。控制部330对以触摸检测行为单位从RAM307读出的校准源数据C_Data每次通过加法器309加上从寄存器322输出的校准补正数据CADJ_Data[7:0]而进行控制。关于其他的结构，因为与图8相同，所以省略其详细说明。

在图18中例示了第二实施方式中的能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了其的触摸检测工作的流程。

如前所述，在第二实施方式中，使用了对于每个交点电容的校准源数据C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]作为代表值的校准补正数据CADJ_Data[7:0]。不补正的情况下的校准数据为式3，补正的情况下的校准数据为式4。

在将触摸面板1编入于显示面板2且将触摸面板控制器3安装于显示面板2的玻璃基板的状态下，决定校准源数据C_Data，其是用于根据安装环境即使在每个电极是不同的布线电容负荷或不同的布线电阻负荷也均匀地调整非触摸时的检测数据S_Data的矩阵数据。此外，校准补正数据CADJ_Data[7:0]是用于根据周围环境来调整非触摸时的检测数据S_Data的寄存器数据。在设定控制寄存器值TPC_CALADJON=1的情况下，环境变动对应的校准数据CAL_Data依照式4而生成。即，对驱动电极Ym和检测电极Xn的每个交点（也记为XY电极交点）的校准源数据C_Data相加减作为代表值的校准补正数据CADJ_Data[7:0]，生成校准数据CAL_Data。

首先，作为前提，至少在便携式信息终端的出货工序时，在RAM307中准备了能作成的非触摸时的检测数据S_Data对每个XY电极交点成为均匀的校准源数据C_Data。关于在此的校准源数据C_Data，只要在触摸面板1被装配的显示模块的状态下实施检测工作，则能容易地作成。例如，在对依次变更了校准源数据C_Data的情况下的检测数据S_Data按每个交点进行监视例如以10位空间进行考虑的情况下，取得以十进制数标记例如成为S_Data=256(dec)的校准源数据C_Data即可。

当使工作电源接通时（S1），作为初始化工作的一环，校准用的数据取得被指示（S2），由此，辅处理器5向内置于触摸面板控制器3的RAM307从例如周围装置7内的存储装置转送前述的校准源数据C_Data（S4）。与此同时，将示出触摸检测行的计数器设定为m=1（S3）。此后，在控制寄存器值TPC_CALADJON=1的情况下，控制部330以计数器所示的触摸检测行为单位读出存储在RAM307中的校准源数据C_Data和存储在寄存器322中的校准补正数据CADJ_Data[7:0]，将前者与后者相加（S14）而生成的校准数据CAL_Data转送到行锁存器306（S5）。在控制寄存器值TPC_CALADJON=0的情况下，控制部330以计数器所示的触摸检测行为单位读出存储在RAM307中的校准源数据C_Data，将其作为校准数据CAL_Data转送到行锁存器306（S5）。转送到行锁存器306的校准数据CAL_Data通过D/A变换器305_1～305_N进行D/A变换，对例如检测电路301_1～301_N的输入进行依照该D/A变换结果的偏移调整。由此，检测电路301_1～301_N对呈现于检测电极X1～XN的信号进行积分而实行检测工作，取得模拟的检测信号VTG（S6）。检测信号VTG通过AD变换器302_1～302_N变换为数字的检测数据S_Data，存储在RAM303中。步骤S5～S7每次转一圈时计数器值m增加（S9），重复步骤S5～S7、S9的处理直到变为m=M（S8）。

在步骤S8中，当判别m=M时，辅处理器5使用此时存储在RAM303中的触摸检测帧的一帧量的检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[yM,xN]来进行触摸有无的判别。即，参照每个XY电极交点的检测数据S_Data[ym,xn]来实施触摸有无的判定。触摸有无判定可想到各种判定方法，而列举一个例子的话，存在以S_Data的时间上变化量进行判定的方法，如果触摸帧单位的S_Data的变化值超过300（dec），则判定为有触摸即可。

在有触摸的情况下，辅处理器5使用每个XY电极交点的检测数据S_Data[ym,xn]来进行触摸位置的坐标运算（S15）。在有触摸的情况下，与此同时，回到步骤S3，开始对接下来的触摸检测帧的处理。

另一方面，在步骤S10判定为无触摸的情况下，实施非触摸电平判定和校准值补正（S21～S23）。

当将利用校准源数据C_Data进行的偏移调整的非触摸时的检测数据S_Data的目标作为S_Data=256（dec）时，理想地，继续为检测数据S_Data≈256。在此，在没有触摸时，特别指定位置的检测数据S_Data或检测帧内的检测数据S_Data的平均值中没有剧烈的变化，该检测数据从256向变小或变大的方向值发生变化，在此情况下，判断为由于周围环境的变化例如温度变化而非触摸电平发生了变化（S21）。作为判断基准而设定参数δ，在关于特别指定位置的检测数据S_Data或检测帧内的检测数据S_Data的平均值（以下也单称为判定值）S_Data≤256±δ的情况下，判断为环境变动小，在不变更校准补正数据CADJ_Data[7:0]的情况下从步骤S3再开始检测工作。在关于上述判定值S_Data>256±δ的情况下，判断为环境变动大，计算对校准源数据C_Data的值进行补正的校准补正数据CADJ_Data[7:0]的补正值（S22），改写寄存器322的数据（S23）。参数δ根据检测电路301的特性或设定来决定。校准数据CAL_Data变化了1的情况的检测数据CADJ_Data[7:0]的变化ΔS_Data能通过检测电路301的电路设定而预测，因此，例如设为δ=ΔS_Data即可。列举预测的一个例子的话，利用了校准数据CAL_Data变化了1的情况的物理变化例如电流变化、电荷变化被变换为检测电路具有的增益加倍后的变化ΔS_Data。增益由电路设定来决定，因此可说成能由此预测。

初始地存储在寄存器322中的校准补正数据CADJ_Data[7:0]的初始值例如为零。在关于前述判定值的S_Data>256+δ成立的情况下，计算与该判定值相应的校准数据CAL_Data进行+1的校准补正数据CADJ_Data[7:0]（S22），以所计算的数据盖写寄存器322（S23）。在关于前述判定值S_Data<256-δ成立的情况下，计算与该判定值相应的校准数据CAL_Data进行-1的校准补正数据CADJ_Data[7:0]（S22），以所计算的数据盖写寄存器322（S23）。

作为存储在寄存器322中的校准补正数据CADJ_Data[7:0]的值，能与实施方式1同样地采用图11所示的真值。与上述同样，校准补正数据的有效位数以及寄存器值和校准补正数据的值的关系也只不过是一个例子，而能进行适当变更。

在图19中例示了在上述第二实施方式中的触摸面板1的XY电极交点的排列与校准用的RAM307和寄存器322的数据映射的对应。例如，示出了将与触摸面板1的左上（y1,x1）对应的校准源数据C_Data存储在对应的RAM307的左上的地址的情况。在图19中，LCSm意指触摸面板1的检测行Ym所对应的一列量的校准源数据的列（校准源数据行）。寄存器322保持触摸面板1的各XY交点电极共同的校准补正数据CADJ_Data[7:0]。

在图20中以着眼于触摸面板1的驱动电极Y1～Y3进行检测工作的情况为例而例示示出了校准数据和检测数据的关系的工作定时。首先，在向电极Y1输入脉冲的稍前，从RAM307读出对应的校准源数据行LCS1的数据C_Data[y1,x1]～C_Data[y1,xN]，并且从寄存器322读出校准补正数据CADJ_Data[7:0]，用加法器309以数据C_Data[y1,x1]～C_Data[y1,xN]的8位数据为单位加上补正数据CADJ_Data[7:0]，将相加后的数据作为校准数据CAL_Data[y1,x1]～CAL_Data[y1,xN]锁存在行锁存器306中。

锁存在行锁存器306中的校准数据CAL_Data[y1,x1]～CAL_Data[y1,xN]通过D/A变换器305变换为模拟控制信号，供给到校准电路304。校准电路304进行基于该模拟控制信号来取消检测电极X1～XN的偏移的工作，得到检测电压VOUT1～VOUTN。检测电压VOUT1～VOUTN通过A/D变换器302变换为检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[y1,xN]，存储在RAM303中。在驱动电极Y1的脉冲驱动期间的接下来的驱动周期，驱动电极Y2被驱动，此时也在这稍前，从RAM307读出对应的校准源数据行LCS2的数据C_Data[y2,x1]～C_Data[y2,xN]，并且从寄存器322读出校准补正数据CADJ_Data[7:0]，与上述同样地以8位为单位相加，将相加后的数据作为校准数据CAL_Data[y2,x1]～CAL_Data[y2,xN]锁存在行锁存器306中。以下同样地，每当切换脉冲驱动的驱动电极Ym时，将对应的校准源数据C_Data和校准补正数据CADJ_Data[7:0]相加，实施检测工作。

根据实施方式2，能谋求与实施方式1相比用于取得校准补正数据的运算时间的缩短、校准补正数据的数据量减少。但是，因为校准补正数据是针对触摸检测帧的代表值，所以在触摸检测帧的部位之间的温度的影响中存在较大的差异的情况下，检测信号的偏移调整精度变低。其他作用效果与实施方式1相同。

<<生成对应于环境变动的校准数据的第三实施方式>>

在图21中例示了生成对应于环境变动的校准数据的第三实施方式的触摸面板控制器3B。第三实施方式的触摸面板控制器3B对于第一实施方式的触摸面板控制器3是可替代的。

触摸面板控制器3B与上述实施方式1、2的不同之处是，能不使用校准补正数据用的RAM308或寄存器322而通过用于实现动态校准的地址控制在RAM307上改写校准源数据C_Data。特别地，在图21中图示了对于RAM307的地址控制电路。在上述实施方式1、2中虽然省略了图示，但也具备对于RAM307的地址控制电路。特别地，在实施方式3中，保证了用于使驱动/检测控制电路331B的经由地址控制电路332的从RAM307的校准源数据的读出和响应于来自辅处理器5的写入命令的经由地址控制电路332的向RAM307的校准源数据C_Data的写入不竞争的控制。即，信号TENB是驱动/检测控制电路331对地址控制电路322指示从RAM307向行锁存器306的校准源数据C_Data的转送的信号。信号WEND是向驱动/检测电路通知对RAM307的校准源数据C_Data的写入完成状态的信号。驱动/检测电路331确认WEND被做成使能（写入完成状态）而使信号TENB使能（转送指示）。

叙述了在保证动态校准的方面需要上述定时控制的理由。校准电路304依照转送到行锁存器306的校准数据CAL_Data工作。行锁存器306的校准数据CAL_Data的值在每当切换检测的Y电极Ym时，从RAM307转送，但转送时间相对于检测时间充分小。从相反方面来说，从切换到接下来的Y电极Ym的定时到实行RAM307的读出工作为止的待机时间大。进而，在RAM307上相同的Y电极Ym用的校准源数据C_Data进行再读出是在触摸检测的一帧后。考虑以上的话，在周围环境发生变化、最佳校准值也发生变化的情况下，在到进行接下来的读出的待机时间，对完成了向行锁存器306的数据转送的地址实施RAM307上的改写工作即可。为了该控制，需要避免在校准源数据C_Data用的RAM307的改写工作中开始检测工作而并行地实施向行锁存器306的数据转送。为了实现此，驱动/检测控制电路将规定的从RAM307向行锁存器306的数据转送定时通过信号TENB对地址控制电路332进行指示，地址控制电路332将输出的RAM307的改写结束定时通过信号WEND对驱动/检测控制电路331进行指示。再有，在本实施方式中，不需要寄存器321。

在图22中例示了第三实施方式中的能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了其的触摸检测工作的流程。

校准源数据C_Data与上述实施方式1、2同样地生成，至少在便携式信息终端的出货工序时，在RAM307中准备了能作成的非触摸时的检测数据S_Data对每个XY电极交点成为均匀的校准源数据C_Data。

当使工作电源接通时（S1），作为初始化工作的一环，校准用的数据取得被指示（S2），由此，辅处理器5向内置于触摸面板控制器3的RAM307从例如周围装置7内的存储装置转送前述的校准源数据C_Data（S4）。与此同时，将示出触摸检测行的计数器设定为m=1（S3）。此后，以计数器所示的触摸检测行为单位读出存储在RAM307中的校准源数据C_Data，转送到行锁存器306（S5）。转送到行锁存器306的校准数据CAL_Data通过D/A变换器305_1～305_N进行D/A变换，对例如检测电路301_1～301_N的输入进行依照该D/A变换结果的偏移调整。由此，检测电路301_1～301_N对呈现于检测电极X1～XN的信号进行积分而实行检测工作，取得模拟的检测信号VTG（S6）。检测信号VTG通过AD变换器302_1～302_N变换为数字的检测数据S_Data，存储在RAM303中。辅处理器5使用此时存储在RAM303中的触摸检测行的检测数据S_Data[ym,xn]来进行触摸有无的判别（S30）。触摸有无的判定与上述实施方式1、2同样地进行即可。

在无触摸的情况下，行进到步骤S31的处理，在有触摸的情况下，对m=M进行判别（S8），计数器值m增加，重复步骤S5～S8、S30、S31的处理。当在步骤S8中判别m=M时，辅处理器5使用此时存储在RAM303中的触摸检测帧的1帧量的检测数据S_Data[y1,x1]～S_Data[yM,xN]来进行触摸有无的判别，此外，触摸面板控制器3B回到步骤S3重复上述处理。

在步骤S30中判别为无触摸时进行跃迁的步骤S31中，实施非触摸电平的判定。当将非触摸时的检测数据的目标（S_Data_target）作为S_Data=256（Dec）时，理想地，继续为检测数据S_Data≈256。在此，没有触摸，换言之在S_Data中没有剧烈的变化，S_Data从256向变小或变大的方向值发生变化，在此情况下，判断为由于周围环境的变化例如温度变化而非触摸电平发生了变化。作为判断基准而设定参数δ，在S_Data≤256±δ的情况下，判断为环境变动小，校准源数据C_Data不变更而继续，实施检测工作，在S_Data>256±δ的情况下，判断为环境变动大，实施校准源数据C_Data的改写。再有，参数δ根据检测电路301的特性或设定来决定。校准源数据C_Data变化了1的情况的检测数据S_Data的变化ΔS_Data能通过检测电路301的电路设定而预测，因此，例如δ=ΔS_Data即可。然后，在S_Data>256+δ成立的情况下，进行使校准源数据C_Data[ym-1,xn]进行+1的运算（S32），使用其运算结果来改写RAM307的对应地址（S33）。此外，在S_Data<256-δ成立的情况下，进行使校准源数据C_Data[ym-1,xn]进行-1的运算（S3），使用其运算结果来改写RAM307的对应地址（S33）。此时，改写对象的校准源数据C_Data[ym-1,xn]在改写中不被检测工作所使用，校准源数据C_Data[ym-1,xn]被使用是在接下来的一帧后的检测时。此外，在改写校准源数据C_Data[ym-1,xn]中，由并行地实施的检测工作所使用的校准源数据是C_Data[ym,xn]，校准源数据的读入和写入不冲突。即，在信号WEND被禁用的RAM307的写入工作中，抑制如下情况：信号TENB未被禁用而从RAM307读出校准源数据C_Data并转送到行锁存器306（INH）。

由此，能通过动态地改写校准源数据来对应于环境变动而进行触摸检测的偏移调整。不需要用于如其他实施方式那样存储校准补正数据的RAM308或寄存器322。进而，能通过控制部330的控制来容易地保证改写对象的校准源数据不被检测工作所使用。因而，能稳定地且一边抑制硬件的增大地实行对应于环境的校准。

<<生成对应于环境变动的校准数据的第四实施方式>>

在图23中例示了生成对应于环境变动的校准数据的第四实施方式的触摸面板控制器3C。第四实施方式的触摸面板控制器3C对于第一实施方式的触摸面板控制器3是可替代的，与第二实施方式相比，不同之处在于，构成为在便携式信息终端TML内配置有温度传感器11，辅处理器5基于由其进行的温度测定结果来设定校准补正数据CADJ_Data。即，不是基于检测数据S_Data来计算校准补正数据，而是能根据温度传感器11的输出参照数据表（ADJTBL）50等来决定校准补正数据的值。因而，变得不需要补正数据的计算，辅处理器5的分配给校准补正数据的数据处理能力变得能分配给坐标计算、数字滤波、以及其他数据处理，在辅处理器5的数据处理能力中产生富余。

在图24中例示设置了温度传感器的情况的补正处理流程。在第四实施方式中，对于温度的校准补正数据的值被预先决定。例如，其内容通过辅处理器5实行的软件或者辅处理器5参照的数据表等而预先定义。

在图24中，设判定补正可否的基准温度为T（S40）。在以基准温度T为界而测定温度低的情况下，判定为不需要校准源数据的补正，设定控制寄存器值TPC_CALADJON=0，使校准调整功能为关（S41）。对此，在以基准温度T为界而测定温度高的情况下，判定为需要校准值的补正，设定控制寄存器值TPC_CALADJON=1，使校准调整功能为开（S42）。补正量通过寄存器值TPC_CALADJON决定。在图24中，设为例如CADJ_Data[7:0]=8'h0A。当参照图11的真值时，补正量成为+10，该设定是一个例子，当然可以根据触摸面板1、触摸面板控制器3C的温度特性来调整。

在图25中示出了将判定的基准温度以如T1～T5那样在多个范围中设定的情况的真值。在温度传感器11的测定温度是室温25℃的情况下，为T3的范围，设定CADJ_Data[7:0]=8'h00，不实施校准源数据C_Data的补正。在图25的真值中，在测定温度比T3的温度范围低的情况下，校准补正数据CADJ_Data[7:0]的补正值设定为负值，在测定温度比T3的温度范围高的情况下，校准补正数据CADJ_Data[7:0]的补正量设定为正值。当然，在真值中的T1～T5的温度范围的设定不限于此，此外，对寄存器322的校准补正数据CADJ_Data[7:0]的最佳设定也是根据触摸面板1、触摸面板控制器3C的特性而变更的性质的设定，判定用的温度设定、补正量的符号也能根据触摸面板1的构造、检测方式而变更。

本发明不限定于上述实施方式，当然能在不偏离其主旨的范围中进行各种变更。

例如，第二实施方式中的补正数据CADJ_Data[7:0]不限于是对触摸检测帧全体的一个代表值。例如，可以做成分为触摸检测帧的中央部和周围部的每一个的多个代表值。

检测电路不限定于积分。也可以是进行对呈现于检测电极的信号依次平均的平均处理等来生成检测信号的电路等。总之，只要是进行积累地处理呈现于检测电极的信号的操作的电路即可。

此外，关于A/D变换器，可以依次选择检测电路的输出而进行A/D变换，由此，减少A/D变换器的数量或A/D变换通道的数量。

此外，取得校准补正数据的方法不限定于在实施方式1、2中说明的基于检测数据的误差的手法，也能应用如实施方式4那样基于温度、湿度的变换这样的环境变动的检测结果来选择对应的校准补正数据这样的手法。

此外，作为代表数据的校准补正数据CADJ_Data[7:0]对触摸检测帧全体不限定为一个数据，当然可以是如称为该帧的缘部和中央部那样按每个部位代表的多个代表数据。在该情况下，寄存器322只要是能存储多个代表数据的参数寄存器即可。

在使用RAM的情况下，也不限定为分别设置存储校准源数据的RAM307和存储校准补正数据的RAM308的结构，也可以在一个双端口RAM中存储这两个数据而并列访问这两个数据。

此外，对RAM308的校准补正数据的写入不限定为通过辅处理器5的命令控制来进行，也可以通过辅处理器5的直接访问来写入。在该情况下，必须将RAM308配置于辅处理器5的地址空间。关于向以参数寄存器322为代表的寄存器部320的命令和数据的写入控制也依照所要的寄存器写入协议进行即可。

此外，显示面板不限定于液晶面板，也可以是EL面板、等离子面板等具有另外的显示形式的面板。

半导体装置既可以是单芯片，也可以是经模块化的多芯片结构。

附图标记的说明

1：触摸面板（TP）；

2：显示面板（DP）；

3、3A、3B、3C：触摸面板控制器（TPC）；

4：显示控制器（DPC）；

5：辅处理器（SMPU）；

6：主处理器（HMPU）；

7：其他周围设备（PRPH）；

10A：半导体装置；

11：温度传感器；

50：数据表；

301（301_1～301_N）：积分电路；

Ym（Y1～YM）：Y电极；

Xn（X1～XN）：X电极；

Cxy：交点电容；

S_Data[y1,x1]～S_Data[yM,xN]：A/D变换结果数据（检测数据）；

300：驱动电路；

302（302_1～302N）：A/D变换器；

303：检测数据用的RAM；

304（304_1～304N）：校准电路；

305（305_1～305_N）：D/A变换器；

306：行锁存器；

307：校准源数据用的RAM；

308：校准补正数据用的RAM；

309：加法器；

311：总线接口；

320：寄存器部；

321：控制寄存器；

322：存储校准补正数据CADJ_Data[7:0]的寄存器（参数寄存器）；

332：地址控制电路；

TENB：校准源数据C_Data的转送指示信号；

WEND：校准源数据C_Data的写入完成状态的通知信号；

TPC_CALADJON：控制寄存器的设定值；

330：控制部；

331、331A：驱动/检测控制电路；

CAL_Data[ym,x1]～CAL_Data[ym,xN]：校准数据；

C_Data[y1,x1]～C_Data[yM,xN]：校准源数据；

CADJ_Data[y1,x1]～CADJ_Data[yM,xN]：校准补正数据；

340_n：恒定电流源；

305_n：D/A变换器；

341_n：电容元件；

342_n：缓冲放大器；

350_n：加减法器。

Claims (31)

1.一种触摸检测装置，具备：

触摸面板，呈矩阵状地配置多个Y电极和X电极；

触摸面板控制器，基于相应于所述触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成相应于所述Y电极和所述X电极的每个交点的电容分布的检测数据；以及

处理器，进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理，

其特征在于，所述触摸面板控制器，具备：

多个检测电路，与所述多个X电极对应；

校准电路，对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整；以及

存储装置，存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据和用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据，

所述触摸面板控制器具有模式寄存器，其以能切换基于补正前的所述第一参数数据使所述校准电路工作的第一模式和基于用所述第二参数数据补正所述第一参数数据而得到的第三参数数据使所述校准电路工作的第二模式的方式进行指定。

2.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据，

所述第二参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据。

3.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据，

所述第二参数数据是对所述Y电极和所述X电极的多个交点的补正进行代表而使用的代表数据。

4.根据权利要求2所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器和存储所述第二参数数据的第二存储器构成，

在所述第二存储器中存储从所述处理器提供的所述第二参数数据。

5.根据权利要求3所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器和存储作为所述第二参数数据的所述代表数据的参数寄存器构成，

在所述参数寄存器中存储从所述处理器提供的所述代表数据。

6.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述触摸面板控制器具有对所述多个Y电极按电极排列顺序供给脉冲信号而进行驱动的驱动电路，

所述检测电路以驱动的Y电极为单位检测该Y电极与交叉的所述X电极的交点电容的电容值，

所述校准电路在所述脉冲信号被施加的所述Y电极的每次切换时，输入补正前或补正后的对应的所述第一参数数据。

7.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述第二参数数据是对所述第一参数数据相加或相减的数据，通过对所述第一参数数据加上或减去所述第二参数数据来进行必要的补正。

8.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整耦合于所述检测电路的输入的恒定电流源的电流量的电路。

9.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输入的电容元件而施加于该输入的电荷量的电路。

10.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输出的加减法电路而施加的电压的加减量的电路。

11.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述处理器进行对所述模式寄存器的设定。

12.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述处理器进行基于从所述触摸面板控制器转送的所述X电极的每个交点的检测数据来运算在无触摸时的检测数据超过容许范围的情况下在取消变动量的方向上对第一参数数据进行补正的值的第二参数数据、将所运算的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制。

13.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述处理器进行基于对放置触摸检测装置的环境的变动的检测结果来选择用于第一参数数据的补正的第二参数数据的值、将所选择的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的存储装置的控制。

14.一种触摸检测装置，具备：

触摸面板，呈矩阵状地配置有多个Y电极和X电极；

触摸面板控制器，基于相应于所述触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成所述Y电极和所述X电极的每个交点的检测数据；以及

处理器，进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理，

其特征在于，所述触摸面板控制器，具备：

多个检测电路，与所述多个X电极对应；

校准电路，对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整；

存储装置，存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据；以及

控制电路，

所述处理器进行基于从所述触摸面板控制器转送的所述X电极的每个交点的检测数据来运算在无触摸时的检测数据超过容许范围的情况下在取消变动量的方向上补正对应的第一参数数据的补正值、将用所运算的补正值进行补正后的第一参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制，

所述控制电路进行在与从所述存储装置读出第一参数数据的工作不重叠的定时将所述第一参数数据写入到所述存储装置的控制，

模式寄存器，被配置为指定上述校准电路以第一模式或者是第二模式操作，所述第一模式基于补正前的所述第一参数数据，第二模式基于将用所运算的补正值进行补正后的第一参数数据。

15.根据权利要求14所述的触摸检测装置，其特征在于，

具有对所述多个Y电极按电极排列顺序供给脉冲信号来进行驱动的驱动电路，

所述检测电路以驱动的Y电极为单位检测该Y电极与交叉的所述X电极的交点电容的电容值，

所述校准电路在所述脉冲信号被施加的所述Y电极的每次切换时，输入补正前或补正后的对应的所述第一参数数据。

16.根据权利要求15所述的触摸检测装置，其特征在于，

触摸面板控制器按顺序地驱动多个Y电极并以Y电极的驱动为单位将所述检测数据提供到所述处理器，

所述处理器进行在到接下来驱动用于得到该检测数据的Y电极的定时将基于所提供的检测数据而运算的对应的补正后的第一参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制。

17.根据权利要求14所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用所述第一参数数据来调整耦合于所述检测电路的输入的恒定电流源的电流量的电路。

18.根据权利要求14所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输入的电容元件而施加于该输入的电荷量的电路。

19.根据权利要求14所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输出的加减法电路而施加的电压的加减量的电路。

20.一种半导体装置，基于相应于呈矩阵状地配置有多个Y电极和X电极的触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成相应于所述Y电极和所述X电极的每个交点的电容分布的检测数据，其特征在于，具备：

多个检测电路，与所述多个X电极对应；

校准电路，对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整；以及

存储装置，存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据和用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据，

所述触摸面板控制器具有模式寄存器，其能以切换基于补正前的所述第一参数数据使所述校准电路工作的第一模式和基于用所述第二参数数据补正所述第一参数数据而得到的第三参数数据使所述校准电路工作的第二模式的方式进行指定。

21.根据权利要求20所述的半导体装置，其特征在于，

所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据，

所述第二参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据。

22.根据权利要求20所述的半导体装置，其特征在于，

所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据，

所述第二参数数据是对所述Y电极和所述X电极的交点以单个或多个数据进行代表的代表数据。

23.根据权利要求20所述的半导体装置，其特征在于，

所述触摸面板控制器具有对所述多个Y电极按电极排列顺序供给脉冲信号来进行驱动的驱动电路，

所述检测电路以驱动的Y电极为单位检测该Y电极与交叉的所述X电极的交点电容的电容值，

所述校准电路在所述脉冲信号被施加的所述Y电极的每次切换时，输入补正前或补正后的对应的所述第一参数数据。

24.根据权利要求20所述的半导体装置，其特征在于，

所述第二参数数据是对所述第一参数数据相加或相减的数据，通过对所述第一参数数据加上或减去所述第二参数数据来进行必要的补正。

25.根据权利要求24所述的半导体装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整耦合于所述检测电路的输入的恒定电流源的电流量的电路。

26.根据权利要求25所述的半导体装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输入的电容元件而施加于该输入的电荷量的电路。

27.根据权利要求25所述的半导体装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输出的加减法电路而施加的电压的加减量的电路。

28.根据权利要求24所述的半导体装置，其特征在于，

还具有处理器，所述处理器进行对所述模式寄存器的设定。

29.根据权利要求20所述的半导体装置，其特征在于，

还具有进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理的处理器。

30.根据权利要求29所述的半导体装置，其特征在于，

所述处理器进行基于从所述触摸面板控制器转送的所述X电极的每个交点的检测数据来运算在无触摸时的检测数据超过容许范围的情况下在取消变动量的方向上补正第一参数数据的值的第二参数数据、将所运算的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的所述存储装置的控制。

31.根据权利要求29所述的半导体装置，其特征在于，

所述处理器进行基于对放置触摸检测装置的环境的变动的检测结果来选择用于第一参数数据的补正的第二参数数据的值、将所选择的第二参数数据提供到所述触摸面板控制器的存储装置的控制。

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