CN104750989A - 单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法及装置，通过大电流实验电路进行电缆测试，进而分析不同采样频率与各建模方式的绝缘层为不同层数时对导体温度计算误差的影响，然后根据其对导体温度计算误差的影响，找出精确计算电缆导体温度的方法。本发明能够降低电缆导体温度计算的误差，实现电力电缆是否达到载流量的准确判断，从而保证电缆的安全稳定运行。

Description

单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法及装置

技术领域

本发明涉及电力电缆技术领域，特别是涉及一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法、单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置。

背景技术

随着经济的发展，用电负荷逐年递增，电缆线路逐渐逼近了线路设计额定容量。如果要扩建线路，贯穿中心城区的线路则面临有涉及面广，影响中心城区发展等问题；大城市的地下空间资源越来越紧缺，牵涉众多公共事业部门；新建线路耗资巨大、施工艰难、建设周期长等。另外，电缆线路与热力管道交叉处容易发生热力管破裂，蒸汽扩散会导致电缆隧道温度达到50℃(度)，超过了IEC(International Electrotechnical Commission)标准对于环境温度的设定，影响电力线缆的安全运行。这些问题都涉及电缆线路的温度监测与载流量计算。

确定电缆线路载流量的计算较复杂，IEC标准从电缆线路设计角度出发，提供了用于计算稳态载流量的IEC60287标准和计算暂态载流量的IEC60853标准。这两份IEC标准一般假定电缆线路负荷达到满载，针对电缆本体热阻和敷设环境热阻进行计算，其中环境热阻参数的计算涉及到一定程度的简化。实际电缆线路周围的环境复杂多变，以直埋电缆为例，电缆周围的土壤可能由砂质土壤、回填土壤组成，土壤的构成不均匀，含水量也差异很大，而IEC标准为简化计算，通常假定电缆处于单一均匀的土壤中。对于回路很多的线路及周围环境存在多个发热源的情况，其计算过程将更复杂，而IEC标准不得不简化大量的条件。因此根据IEC标准计算出来的电缆导体温度误差较大，而导体温度是确定电力电缆是否达到载流量的依据，因此现有计算方案无法保证电缆的安全稳定运行。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法及装置，能够提高电缆导体温度的计算精度。

一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法，包括步骤：

将待测电缆接入大电流实验电路，测量在各加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度，其中所述大电流实验电路包括电压源、漏电开关、调压器、升流器，漏电开关与调压器输入端串联后连接于电压源两端，升流器一端与调压器输出端相连，另一端接待测电缆；

在各采样频率下采集测量的导体温度、外护套温度，得到各采样频率下的导体温度、外护套温度；

根据各采样频率下的外护套温度，以及绝缘层的层数，得到在各采样频率下、绝缘层为各层数时的各理论导体温度；

根据各所述理论导体温度以及各采样频率下的导体温度，得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差；

根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率；

根据确定的待采样的频率和/或绝缘层待划分的层数进行单芯电缆暂态热路模型导体温度的计算。

一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，包括：

数据测量模块，用于在待测电缆接入大电流实验电路时，测量在各加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度，其中所述大电流实验电路包括电压源、漏电开关、调压器、升流器，漏电开关与调压器输入端串联后连接于电压源两端，升流器一端与调压器输出端相连，另一端接待测电缆；

数据采集模块，用于在各采样频率下采集测量的导体温度、外护套温度，得到各采样频率下的导体温度、外护套温度；

理论导体温度确定模块，用于根据各采样频率下的外护套温度，以及绝缘层的层数，得到在各采样频率下、绝缘层为各层数时的各理论导体温度；

导体温度计算误差确定模块，用于根据各所述理论导体温度以及各采样频率下的导体温度，得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差；

采样频率和/或层数确定模块，用于根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率；

导体温度计算模块，用于根据确定的待采样的频率和/或绝缘层待划分的层数进行单芯电缆暂态热路模型导体温度的计算。

本发明单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法及装置，分析不同采样频率与绝缘层为不同层数时对导体温度计算误差的影响，然后根据其对导体温度计算误差的影响，找出精确计算电缆导体温度的方法。本发明能够降低电缆导体温度计算的误差，实现电力电缆是否达到载流量的准确判断，从而保证电缆的安全稳定运行。

附图说明

图1为本发明方法实施例的流程示意图；

图2为本发明大电流实验电路实施例的示意图；

图3为本发明采样频率10s下的导体温度、外护套温度及环境温度实测值曲线及加载电流曲线；

图4为本发明绝缘层按照等热容建模分5、10、20层时标准差随采样频率变化曲线；

图5为本发明绝缘层按照等厚度建模分5、10、20层时标准差随采样频率变化曲线；

图6为本发明装置实施例的结构示意图；

图7为本发明采样频率和/或层数确定模块实施例一的结构示意图；

图8为本发明采样频率和/或层数确定模块实施例二的结构示意图；

图9为本发明采样频率和/或层数确定模块实施例三的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明单芯电缆暂态热路模型导体温度计算误差评估方法的具体实施方式做详细描述。

如图1所示，一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法，包括步骤：

S110、将待测电缆接入大电流实验电路，测量在各加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度，其中所述大电流实验电路包括电压源、漏电开关、调压器、升流器，漏电开关与调压器输入端串联后连接于电压源两端，升流器一端与调压器输出端相连，另一端接待测电缆；

S120、在各采样频率下采集测量的导体温度、外护套温度，得到各采样频率下的导体温度、外护套温度；

S130、根据各采样频率下的外护套温度，以及绝缘层的层数，得到在各采样频率下、绝缘层为各层数时的各理论导体温度；

S140、根据各所述理论导体温度以及各采样频率下的导体温度，得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差；

S150、根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率；

S160、根据确定的待采样的频率和/或绝缘层待划分的层数进行单芯电缆暂态热路模型导体温度的计算。

如图2所示，为本发明大电流实验电路实施例的示意图。图2中所示的输入端、输出端为调压器的输入端、输出端，虚线部分表示的是升流器。将待测单芯电缆接入图2所示的大电流试验电路中，按照不同的加载电流对其进行大电流实验，测量在不同加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度，还可以一并测量环境温度等其它数据，并将测量的数据利用无纸记录仪等进行记录。

试验结束后，从无纸记录仪等中提取测量的单芯电缆在不同加载电流下的导体温度、外护套温度等。为了研究采样频率对导体温度计算误差的影响，设置不同的采样频率来提取数据，例如采样频率设置为10s(秒)至600s等8种采样频率。为了便于观察，提取的数据可以在同一坐标系中用各曲线表示。

绝缘层一般按照等厚度、等热容等方式建模。提取到各采样频率下的实验数据后，为了研究绝缘层不同建模方式下不同层数时对导体温度计算误差的影响，分别将各建模方式下的绝缘层划分为各个不同的层数，例如5层、10层、20层等，然后根据提取的外护套温度数据推算出不同采样频率下不同建模方式的绝缘层不同分层时的理论导体温度。由外护套温度推算导体温度的方法可以根据现有技术中已有方法实现。得到各理论导体温度后，即可以得到不同建模方式的绝缘层不同分层时、不同采样频率下的各理论导体温度与实际测量的导体温度的计算误差。得到各计算误差后，可以进一步求取各计算误差对应的标准差，则后续进行分析时按照标准差数据进行分析。若不求取各标准差，则后续直接按照导体温度计算误差进行分析。

为了便于分析绝缘层按照不同方式建模时，采样频率与绝缘层数对暂态热路模型导体温度计算误差的影响，在各建模方式下，分别给出绝缘层不同分层时导体温度计算误差或标准差随采样频率的变化曲线。从而根据各变化曲线分析出提高导体温度计算精确度的方法。需要说明的时，实际进行计算时当绝缘层的建模方式是确定的，根据绝缘层的建模方式选取相应的数据进行分析。例如当实际绝缘层按照等热容建模时，则分析的是前面根据等热容建模的绝缘层模型计算出来的误差数据，其它模型类似，后续不再赘述。

提高导体温度计算精确度的方法有多种，为了详细描述提高精确度的方法，下面分三种情形：

1、采样频率和绝缘层的层数均需要确定的情形：

在一个实施例中，根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数的步骤包括：

从各所述导体温度计算误差中选取最小导体温度计算误差；

根据所述最小导体温度计算误差确定对应的采样频率和绝缘层的层数；

将确定的所述采样频率作为待采样的频率，将确定的所述绝缘层的层数作为绝缘层待划分的层数。

2、实际采样频率一定，绝缘层的层数需要确定的情形：

在一个实施例中，根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数的步骤包括：

从各所述导体温度计算误差中选取采样频率和所述实际采样频率相差在预设范围内的绝缘层为各层时的导体温度计算误差；

确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

根据所述最小值对应的绝缘层的层数确定绝缘层待划分的层数。

3、绝缘层的层数一定，采样频率需要确定的情形：

根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率的步骤包括：

从各所述导体温度计算误差中选取绝缘层的层数与所述实际层数相差在预设范围内的各采样频率下的导体温度计算误差；

确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

根据所述最小值对应的采样频率确定待采样的频率。

需要说明的是，减小导体温度计算误差的方式并不限定于上述三种方式。例如，在实际采样频率确定时，根据相应建模方式的绝缘层各层时导体温度计算误差或标准差随采样频率变化曲线图，得到导体温度计算误差与采样频率、层数的规律，例如在采样频率小于一定频率时，绝缘层的层数越多，导体温度计算误差或标准差越小，大于所述频率时，绝缘层的层数越多，导体温度计算误差或标准差越大。然后根据实际采样频率与该频率的关系，确定绝缘层是采取较多分层结构还是较少分层结构。其他情形类似，在此不予一一赘述。

为了更好的理解本发明的实施方式，下面结合一个具体实施例详细说明。

S1、选取截面积为500mm²(平方毫米)的YJLW0364/110电缆，按照图2所示的电路图进行大电流实验，其中实验加载电流方式为400A-600A-800A-1000A-1200A-800A-0A，并利用无纸记录仪记录导体温度、外护套温度等数据；

S2、实验结束后，通过采集软件提取无纸记录仪中的导体温度、外护套温度等数据，其中采样频率设置为10s至600s等8种采样频率。采样频率10s下的导体温度、外护套温度及环境温度实测值曲线及加载电流如图3所示；

S3、结合绝缘层按照等厚度、等热容两种方法构建的模型，分别将两种模型的绝缘层分5层、10层、20层，通过采集的各采样频率下的外护套温度推算理论导体温度，然后求取不同分层下不同采样频率的导体温度计算误差，并分别求取各导体温度计算误差的标准差，衡量该分层模型下该采样频率的计算精度；

如图4所示，为绝缘层按照等热容建模分5、10、20层时标准差随采样频率变化曲线。从图4可以看出，5层模型中，导体温度计算误差的标准差在采样频率为0s至200s区间内单调递减，200s处的标准差为2.48；200s至500s区间内有点波动；采样频率超过500s以后，导体温度计算误差的标准差呈单调递增趋势。10层模型中，导体温度计算误差的标准差在采样频率为0s至200s区间内基本呈单调递减趋势，200s处的标准差为2.17；200s以后，导体温度计算误差的标准差基本呈递增趋势。20层模型中，导体温度计算误差的标准差在采样频率为0s至100s区间内单调递减，100s处出现该段曲线的最小值2.01；100s以后，导体温度计算误差的标准差曲线完全呈单调递增趋势。

如图5所示，为绝缘层按照等厚度建模分5、10、20层时标准差随采样频率变化曲线。从图5可以看出，5层模型中，导体温度计算误差的标准差在采样频率为0s至300s区间内单调递减，300s处的标准差为2.41；300s以后，导体温度计算误差的标准差呈单调递增趋势。10层模型中，导体温度计算误差的标准差在采样频率为0s至300s区间内基本呈单调递减趋势，300s处的标准差为2.15；300s以后，导体温度计算误差的标准差基本呈递增趋势。20层模型中，导体温度计算误差的标准差在采样频率为0s至200s区间内单调递减，200s处出现该段曲线的最小值1.99；200s以后，导体温度计算误差的标准差曲线完全呈单调递增趋势。

S4、根据采样频率与等厚度、等热容建模时绝缘层的层数对暂态热路模型计算误差的影响曲线，得出减小导体温度计算误差方法。

当绝缘层按照等热容建模，从图4可以看出，采样频率取值在350s以内时，绝缘层分层越多计算精度越高，当采样频率取值大于350s时，绝缘层的分层对计算精度的影响呈相反趋势，分层越多，计算误差越大，精度越低。故当实际采样频率在350s以内时，绝缘层宜采用多分层模型，例如20层，当实际采样频率大于350s时，绝缘层宜采用少分层模型，例如5层。

当绝缘层按照等厚度建模，从图5可以看出，采样频率取值大概在300s以内时，绝缘层分层越多计算精度越高，当采样频率取值大于300s时，绝缘层的分层对计算精度的影响呈相反趋势，分层越多，计算误差越大，精度越低。故实际采样频率在300s以内时，绝缘层宜采用多分层模型，实际采样频率大于300s时，绝缘层宜采用少分层模型。

需要说明的是，上述具体实施例给出了比较粗略的提高导体温度计算精度的方法，本领域技术人员也可以按照本发明提供的其它实施例给出的方法进行计算，从而得到更为精确的计算结果，从而保证电缆的安全稳定运行。

基于同一发明构思，本发明还提供一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，下面结合附图对本发明装置的具体实施方式详细描述。

如图6所示，一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，包括：

数据测量模块610，用于在待测电缆接入大电流实验电路时，测量在各加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度，其中所述大电流实验电路包括电压源、漏电开关、调压器、升流器，漏电开关与调压器输入端串联后连接于电压源两端，升流器一端与调压器输出端相连，另一端接待测电缆；

数据采集模块620，用于在各采样频率下采集测量的导体温度、外护套温度，得到各采样频率下的导体温度、外护套温度；

理论导体温度确定模块630，用于根据各采样频率下的外护套温度，以及绝缘层的层数，得到在各采样频率下、绝缘层为各层数时的各理论导体温度；

导体温度计算误差确定模块640，用于根据各所述理论导体温度以及各采样频率下的导体温度，得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差；

采样频率和/或层数确定模块650，用于根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率；

导体温度计算模块660，用于根据确定的待采样的频率和/或绝缘层待划分的层数进行单芯电缆暂态热路模型导体温度的计算。

数据测量模块610采用图2所示的电路图进行数据测量，得到在各不同加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度等数据。试验结束后，数据采集模块620采用不同的采集频率采集数据测量模块610测量的数据，得到各采样频率下的导体温度、外护套温度等数据。

数据采集模块620提取到各采样频率下的实验数据后，为了研究绝缘层不同建模方式下不同层数时对导体温度计算误差的影响，分别将各建模方式下的绝缘层划分为各个不同的层数，然后理论导体温度确定模块630根据提取的外护套温度数据推算出不同采样频率下不同建模方式的绝缘层不同分层时的理论导体温度，其中由外护套温度推算导体温度的方法可以根据现有技术中已有方法实现。

导体温度计算误差确定模块640根据理论导体温度确定模块630得到的各理论导体温度，即可以得到不同建模方式的绝缘层不同分层时、不同采样频率下的各理论导体温度与实际测量的导体温度的计算误差。导体温度计算误差确定模块640得到各计算误差后，可以进一步求取各计算误差对应的标准差，则后续进行分析时按照标准差数据进行分析。若不求取各标准差，则后续直接按照导体温度计算误差进行分析。

提高导体温度计算精确度的方式有多种，为了详细描述提高精确度的方式，下面分三种情形：

1、采样频率和绝缘层的层数均需要确定的情形：

如图7所示，所述采样频率和/或层数确定模块650可以包括：

第一选取单元6501，用于从各所述导体温度计算误差中选取最小导体温度计算误差；

采样频率和层数确定单元6502，用于根据所述最小导体温度计算误差确定对应的采样频率和绝缘层的层数，将确定的所述采样频率作为待采样的频率，将确定的所述绝缘层的层数作为绝缘层待划分的层数。

2、实际采样频率一定，绝缘层的层数需要确定的情形：

如图8所示，所述采样频率和/或层数确定模块650可以包括：

第二选取单元6503，用于从各所述导体温度计算误差中选取采样频率和所述实际采样频率相差在预设范围内的绝缘层为各层时的导体温度计算误差；

最小值确定单元6504，用于确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

层数确定单元6505，用于根据所述最小值对应的绝缘层的层数确定绝缘层待划分的层数。

3、绝缘层的层数一定，采样频率需要确定的情形：

如图9所示，所述采样频率和/或层数确定模块650可以包括：

第三选取单元6506，用于从各所述导体温度计算误差中选取绝缘层的层数与所述实际层数相差在预设范围内的各采样频率下的导体温度计算误差；

误差最小值确定单元6507，用于确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

频率确定单元6508，用于根据所述最小值对应的采样频率确定待采样的频率。

本发明装置的其它技术特征与本发明方法相同，在此不予赘述。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法，其特征在于，包括步骤：

将待测电缆接入大电流实验电路，测量在各加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度，其中所述大电流实验电路包括电压源、漏电开关、调压器、升流器，漏电开关与调压器输入端串联后连接于电压源两端，升流器一端与调压器输出端相连，另一端接待测电缆；

在各采样频率下采集测量的导体温度、外护套温度，得到各采样频率下的导体温度、外护套温度；

根据各采样频率下的外护套温度，以及绝缘层的层数，得到在各采样频率下、绝缘层为各层数时的各理论导体温度；

根据各所述理论导体温度以及各采样频率下的导体温度，得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差；

根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率；

根据确定的待采样的频率和/或绝缘层待划分的层数进行单芯电缆暂态热路模型导体温度的计算。

2.根据权利要求1所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法，其特征在于，根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数的步骤包括：

从各所述导体温度计算误差中选取最小导体温度计算误差；

根据所述最小导体温度计算误差确定对应的采样频率和绝缘层的层数；

将确定的所述采样频率作为待采样的频率，将确定的所述绝缘层的层数作为绝缘层待划分的层数。

3.根据权利要求1所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法，其特征在于，根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数的步骤包括：

从各所述导体温度计算误差中选取采样频率和所述实际采样频率相差在预设范围内的绝缘层为各层时的导体温度计算误差；

确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

根据所述最小值对应的绝缘层的层数确定绝缘层待划分的层数。

4.根据权利要求1所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法，其特征在于，根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率的步骤包括：

从各所述导体温度计算误差中选取绝缘层的层数与所述实际层数相差在预设范围内的各采样频率下的导体温度计算误差；

确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

根据所述最小值对应的采样频率确定待采样的频率。

5.根据权利要求1所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算方法，其特征在于，得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差的步骤之后，还包括步骤：

根据各所述导体温度计算误差得到各所述导体温度计算误差的标准差。

6.一种单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，其特征在于，包括：

数据测量模块，用于在待测电缆接入大电流实验电路时，测量在各加载电流下单芯电缆的导体温度、外护套温度，其中所述大电流实验电路包括电压源、漏电开关、调压器、升流器，漏电开关与调压器输入端串联后连接于电压源两端，升流器一端与调压器输出端相连，另一端接待测电缆；

数据采集模块，用于在各采样频率下采集测量的导体温度、外护套温度，得到各采样频率下的导体温度、外护套温度；

理论导体温度确定模块，用于根据各采样频率下的外护套温度，以及绝缘层的层数，得到在各采样频率下、绝缘层为各层数时的各理论导体温度；

导体温度计算误差确定模块，用于根据各所述理论导体温度以及各采样频率下的导体温度，得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差；

采样频率和/或层数确定模块，用于根据各所述导体温度计算误差确定待采样的频率和绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、实际采样频率确定绝缘层待划分的层数，或根据各所述导体温度计算误差、绝缘层的实际层数确定待采样的频率；

导体温度计算模块，用于根据确定的待采样的频率和/或绝缘层待划分的层数进行单芯电缆暂态热路模型导体温度的计算。

7.根据权利要求6所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，其特征在于，所述采样频率和/或层数确定模块包括：

第一选取单元，用于从各所述导体温度计算误差中选取最小导体温度计算误差；

采样频率和层数确定单元，用于根据所述最小导体温度计算误差确定对应的采样频率和绝缘层的层数，将确定的所述采样频率作为待采样的频率，将确定的所述绝缘层的层数作为绝缘层待划分的层数。

8.根据权利要求6所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，其特征在于，所述采样频率和/或层数确定模块包括：

第二选取单元，用于从各所述导体温度计算误差中选取采样频率和所述实际采样频率相差在预设范围内的绝缘层为各层时的导体温度计算误差；

最小值确定单元，用于确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

层数确定单元，用于根据所述最小值对应的绝缘层的层数确定绝缘层待划分的层数。

9.根据权利要求6所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，其特征在于，所述采样频率和/或层数确定模块包括：

第三选取单元，用于从各所述导体温度计算误差中选取绝缘层的层数与所述实际层数相差在预设范围内的各采样频率下的导体温度计算误差；

误差最小值确定单元，用于确定选取的导体温度计算误差中的最小值；

频率确定单元，用于根据所述最小值对应的采样频率确定待采样的频率。

10.根据权利要求6所述的单芯电缆暂态热路模型导体温度计算装置，其特征在于，所述导体温度计算误差确定模块得到各采样频率下、绝缘层为各层数时的各导体温度计算误差之后，还用于根据各所述导体温度计算误差得到各所述导体温度计算误差的标准差。