CN104734650A - 一种集成运算放大器的检测装置 - Google Patents

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Abstract

一种集成运算放大器的检测装置，包括检测用电路板，在所述检测用电路板上设有采用OSC为单运放组成的超低频振荡器，OSC超低频振荡器的输出端串联连接有电阻R4和电阻R5，在所述检测用电路板上设有用于检测单运放、双运放和四运放的插装座或接线点，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的反相输入端均与所述电阻R4和电阻R5的连接中点相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的同相输入端均与所述OSC超低频振荡器的另一个输出引脚相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的输出端通过串接在一起的电阻R6和发光二极管D1接地。本发明结构简单，可对单运放、双运放和四运放放大器进行即时检测。

Description

一种集成运算放大器的检测装置
技术领域
本发明涉及电子器件检测装置，具体涉及一种集成运算放大器检测装置。
背景技术
在维修仪器、仪表时；经常会碰到要判定运算放大器（运放IC）是否损坏的问题。由于没有专门检测运放IC的仪器，以往只能从同型号仪器电路板上拔下运放IC做替换实验，来确认其好坏，但是，此种方法如果在没有备用仪器的情况下，则无法进行判定。
发明内容
本发明的目的在于：针对现有技术的上述缺陷，提供一种集成运算放大器检测装置。采用这种装置可以迅速、准确地判定单运放、双运放和四运放的好坏。
为了达到上述目的，本发明采用如下技术方案：一种集成运算放大器检测装置，包括检测用电路板，在所述检测用电路板设有采用OSC为单运放组成的超低频振荡器，OSC超低频振荡器的输出端串联连接有电阻R4和电阻R5，在所述检测用电路板上设有用于检测单运放、双运放和四运放的插装座或接线点，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的反相输入端均与所述电阻R4和电阻R5的连接中点相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的同相输入端均与所述OSC超低频振荡器的另一个输出引脚相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的输出端通过串接在一起的电阻R6和发光二极管D1接地。
在上述集成运算放大器检测装置中，所述电阻R4和电阻R5的阻值相等。
在上述集成运算放大器检测装置中，所述电路板上还设有供电电源和测试开关。
本发明采用OSC为单运放组成的超低频（6Hz）振荡器，其输出的6 Hz振荡信号分别加到被测单运放、双运放和四运放的同相输入端。被测运放的反相输入端并联后接至电阻R4和R5的连接点（M）。R4和R5为分压电阻，其阻值相等，所以分压点M的电压为EC/2，此EC/2作为被测运放反相输入端的输入电压；而被测运放同相输入端的输入电压为OSC输出的6Hz振荡信号，该6Hz振荡信号经被测运放IC放大后输出的信号电压（电流）最终经电阻R6使发光二极管D1闪亮，由此表明被测运放IC性能良好；否则若D1不亮或常亮或不闪亮，则表明被测运放性能不良或损坏；本装置结构简单、实用。
附图说明
 图1是本发明结构电路原理图。
具体实施方式
参照图1所示：设计一种集成运算放大器的检测装置，包括检测用电路板，在所述检测用电路板设有采用OSC为单运放组成的超低频振荡器3，OSC超低频振荡器3的一个输出引脚串联连接有电阻R4和电阻R5，在所述检测用电路板上设有用于检测单运放A、双运放B和四运放C的插装座或接线点，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的反相输入端均与所述电阻R4和电阻R5的连接中点相连接，所述单运放A、双运放B和四运放C插装座或接线点的同相输入端均与所述OSC超低频振荡器3的另一个输出引脚相连接，所述单运放A、双运放B和四运放C插装座或接线点的输出端通过串接在一起的电阻R6和发光二极管D1接地。
在上述集成运算放大器检测装置中，所述电阻R4和电阻R5的阻值相等R4和R5为分压电阻，所以分压点M的电压为EC/2。
在上述集成运算放大器检测装置中，所述电路板上还设有供电电源2和测试开关1。
本集成运算放大器检测装置使用十分简单，只要将被测单运放、或双运放或四运放IC正确插入电路板上相应的IC座内（即IC和IC座的缺口要对齐，若IC没有缺口则将被测IC引脚与IC座正确“对号入座”）；将被测运放IC正确插入相应IC座后再按下电源开关K，于是OSC起振，此时若发光管D1闪亮不止，表明被测运放IC性能正常；若发光管D1不亮或常亮（不是闪亮）则表明被测运放损坏。需要指出的是，该集成运算放大器检测装置不可同时插入单运放、双运放、和四运放IC进行测试，否则就无法准确判定被测运放的好坏。
本发明采用OSC为单运放组成的超低频（6Hz）振荡器，其输出的6 Hz振荡信号分别加到被测单运放、双运放和四运放的同相输入端。图1中的A、B、C虚线框内分别为单运放、双运放、四运放IC座的接线图，从接线图可见，被测运放的反相输入端并联后接至电阻R4和R5的连接点。R4和R5为分压电阻，其阻值相等，所以分压点M的电压为EC/2，此EC/2作为被测运放反相输入端的输入电压；而被测运放同相输入端的输入电压为OSC输出的6Hz振荡信号，该6Hz振荡信号经被测运放IC放大后输出的信号电压（电流）最终经电阻R6使发光二极管D1闪亮，由此表明被测运放IC性能良好；否则若D1不亮或常亮（不闪亮）则表明被测运放性能不良或损坏。

Claims (3)

1.一种集成运算放大器检测装置，包括检测用电路板，其特征在于：在所述检测用电路板设有采用OSC为单运放组成的超低频振荡器，OSC超低频振荡器的输出端串联连接有电阻R4和电阻R5，在所述检测用电路板上设有用于检测单运放、双运放和四运放的插装座或接线点，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的反相输入端均与所述电阻R4和电阻R5的连接中点相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的同相输入端均与所述OSC超低频振荡器的另一个输出引脚相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的输出端通过串接在一起的电阻R6和发光二极管D1接地。
2.根据权利要求1所述的集成运算放大器检测装置，其特征在于：所述电阻R4和电阻R5的阻值相等。
3.根据权利要求1所述的集成运算放大器检测装置，其特征在于：所述电路板上还设有供电电源和测试开关。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1553204A (zh) * 2003-06-06 2004-12-08 台达电子工业股份有限公司 静电自动即时警告装置及其警告方法
JP2009008625A (ja) * 2007-06-29 2009-01-15 Nec Electronics Corp 半導体装置
CN201555931U (zh) * 2009-12-16 2010-08-18 西安明泰半导体测试有限公司 一种用于集成运放测试的装置
CN201757777U (zh) * 2010-06-25 2011-03-09 珠海和佳医疗设备股份有限公司 谐振功率放大电路的测试工装
CN203324439U (zh) * 2013-06-18 2013-12-04 滁州学院 集成运算放大器的测试仪

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1553204A (zh) * 2003-06-06 2004-12-08 台达电子工业股份有限公司 静电自动即时警告装置及其警告方法
JP2009008625A (ja) * 2007-06-29 2009-01-15 Nec Electronics Corp 半導体装置
CN201555931U (zh) * 2009-12-16 2010-08-18 西安明泰半导体测试有限公司 一种用于集成运放测试的装置
CN201757777U (zh) * 2010-06-25 2011-03-09 珠海和佳医疗设备股份有限公司 谐振功率放大电路的测试工装
CN203324439U (zh) * 2013-06-18 2013-12-04 滁州学院 集成运算放大器的测试仪

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