CN104641327B - 按压量检测传感器、触摸式输入装置 - Google Patents
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Abstract
触摸式输入装置(1)具备触摸面板(10)、按压量计算部(200)、接触检测信号生成部(300)。触摸面板(10)具备压电传感器(10P)和静电传感器(10D)。压电传感器(10P)将与因按压操作面引起的位移量对应的按压信号向按压量计算部(200)输出。静电传感器(10D)将与接触、非接触对应的接触信号向接触检测信号生成部(300)输出。接触检测信号生成部(300)将根据接触状态和非接触状态而被二值化的接触检测信号向按压量计算部(200)输出。按压量计算部(200)在被输入表示接触状态的接触检测信号的期间,对按压信号与基准电位的差量进行积分,生成按压量检测信号而输出。按压量计算部(200)在被输入表示非接触状态的接触检测信号的期间,将基准电位复位。
Description
技术领域
本发明涉及对通过手指等进行操作时的按压量进行检测的触摸式输入装置。
背景技术
以往,作为在能够检测按压量的触摸式输入装置中利用的技术,提出了各种检测按压量的传感器。例如,在专利文献1中,公开了一种具备压力检出部以及检出结果转换部的传感器。
压力检出部由平板状的压电体构成,输出与压电体的位移量对应的振幅电平的信号。检出结果转换部对将压力检出部的输出信号进行积分。该积分运算值相当于按压量。因此,专利文献1的传感器检测出按压量。
专利文献1:日本特开2000-283869号公报
然而,对压电体而言,针对施加按压力时的位移量的信号电平与针对释放按压力时的位移量的信号电平不同。因此,在如专利文献1的传感器那样对信号电平进行积分的情况下,导致基准电位在一次的按压操作的前后不同。因此,在专利文献1的传感器的结构中,基准电位按每一次按压操作而不同。
这里,由于根据与位移量对应的信号电平和基准电位之差的积分值来计算按压量,所以若基准电位变化,则导致信号电平与按压量之间的关系发生变化。即,即使按压量每次相同,信号电平与基准电位之差也各自不同。因此,在专利文献1的传感器的结构中,按压量的测定精度降低。
特别是若反复进行按压操作,则基准电位与按压力(按压量)之间的关系发生背离,导致测定精度进一步降低。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种能够高精度地维持按压量的测定精度的按压量检测传感器以及使用了该按压量检测传感器的触摸式输入装置。
本发明的按压量检测传感器具备:输出与按压操作面时的位移量对应的按压信号的压电传感器;检测压电传感器向上述操作面的接触并输出接触检测信号的接触检测传感器;以及对按压信号与基准电位之差进行积分,根据积分结果输出按压量检测信号的按压量计算部。按压量检测传感器的按压量计算部根据接触检测信号的状态变化,来切换积分处理和基准电位的复位处理。
在该结构中,根据接触状态即操作状态,来切换按压信号的积分处理和基准电位的复位处理。具体而言,在检测到接触时执行积分处理,在未检测到接触时执行基准电位的复位处理。由此,基准电位能够不取决于操作次数而被维持为恒定值。
另外,优选本发明的按压量检测传感器为以下的结构。接触检测传感器输出以与操作面接触和不接触的两个状态划分的二值的接触检测信号。按压量计算部以二值中的一个进行积分处理,以二值中的另一个进行复位处理。
在该结构中,表示了用于切换积分处理和复位处理的具体的接触检测信号的形态。这样,通过将接触检测信号二值化并赋予给按压量计算部,按压量计算部能够容易地切换积分处理和复位处理。
另外,本发明的按压量检测传感器也可以是以下的结构。按压量计算部是带旁通电路的积分电路,按压量计算部由在为二值中的一个时使旁通电路有效,在为二值中的另一个时使旁通电路无效的电路结构构成。
在该结构中,示出了由模拟电子电路实现按压量计算部的情况的具体电路结构。
另外,本发明的按压量检测传感器也可以为以下的结构。按压量计算部具备:反转输入端子经由电阻器被输入按压信号,非反转输入端子被赋予基准电位的运算放大器;并联连接在运算放大器的输出端子和反转输入端子之间的电容器;以及与电容器并联连接且根据接触检测信号被导通截止控制的开关元件与放电用电阻器的串联电路。
在该结构中,示出了由模拟电子电路实现按压量计算部的情况的更具体的电路结构。
另外,本发明的按压量检测传感器也可以为以下的结构。接触检测传感器具备:输出与静电电容因向操作面的接触而发生变化的位置对应的上述接触信号的静电传感器;和根据接触信号,生成由于接触状态而发生状态变化的接触检测信号的接触检测信号生成部。按压量计算部和接触检测信号生成部通过被单片化后的数字IC实现。
在该结构中,示出了对按压量检测传感器的一部分进行数字IC化的情况的具体形态。这样,通过进行数字IC化,能够使按压量检测传感器小型化。
另外,本发明涉及触摸式输入装置,其特征在于,具备由上述任一个结构构成的按压量检测传感器,与按压量检测信号一同输出接触检测信号。
在该结构中,能够实现高精度地维持按压量的检测精度、且能够检测接触位置的触摸式输入装置。
另外,本发明的触摸式输入装置优选为以下的结构。按压量计算部具备信号输出选择部,该信号输出选择部在按压量检测信号小于阈值时停止接触检测信号的输出,若按压量检测信号为阈值以上则能够输出接触检测信号。
在该结构中,直到按压量检测信号成为规定电平以上为止,不输出接触检测信号。因此,在没有操作的状态,例如在手指只是接近操作面的状态、只是轻轻地接触操作面的状态下,不输出接触检测信号。由此,能够抑制不是有意进行操作的状态时的接触的检测(误检测)。
另外,在本发明的触摸式输入装置中,优选为以下的结构。接触检测传感器具备:输出与静电电容因向操作面的接触而变化的位置对应的接触信号的静电传感器;和根据接触信号,生成因接触状态而发生状态变化的接触检测信号,并向按压量计算部输出的接触检测信号生成部。按压量计算部和接触检测信号生成部通过单片化后的数字IC实现。
在该结构中,示出了对触摸式输入装置的一部分进行数字IC化的情况的具体形态。这样,通过进行数字IC化,能够使触摸式输入装置小型化。
根据本发明,能够高精度地维持按压量的检测精度。
附图说明
图1是本发明的第一实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
图2是本发明的第一实施方式涉及的触摸式输入装置和以往的触摸式输入装置中的按压量检测信号的波形概念图。
图3是本发明的第二实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
图4是本发明的第三实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
图5是本发明的第四实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
具体实施方式
参照附图,对本发明的第一实施方式涉及的触摸式输入装置进行说明。图1是本发明的第一实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
触摸式输入装置1具备触摸面板10、按压量计算部200、接触检测信号生成部300。触摸面板10具备压电传感器10P和静电传感器10D。由静电传感器10D和接触检测信号生成部300构成的模块相当于本发明的接触检测传感器。
触摸面板10的具体构造例将在后面叙述,触摸面板10为平板状,以平板面的至少一个主面(平板面)作为操作面,受理操作者的操作。
触摸面板10的压电传感器10P与按压量计算部200连接。压电传感器10P向按压量计算部200输出与操作面被按压而弯曲的位移量对应的信号电平的按压信号。
触摸面板10的静电传感器10D与接触检测信号生成部300连接。静电传感器10D输出与在操作者的手指等接触了操作面的情况下产生的静电电容的变化对应的接触信号。
接触检测信号生成部300根据接触信号生成接触检测信号。接触检测信号是Hi、Low的被二值化的信号。具体而言,接触检测信号生成部300针对接触信号的信号电平设定接触检测用阈值,在检测到该接触检测用阈值以上的信号电平的期间,输出Hi状态的接触检测信号。接触检测信号生成部300在没有检测到该接触检测用阈值以上的信号电平的期间输出Low状态的接触检测信号。
接触检测信号生成部300向按压量计算部200以及第一输出端子Pout1接触检测信号输出。此时,接触检测信号生成部300只要针对按压量计算部200仅输出接触检测信号即可,针对第一输出端子Pout1,将与接触位置相关的信息和接触检测信号一同输出。
按压量计算部200具备运算放大器U1、电阻器R1、电容器C1、放电用电阻器R0、开关元件S0。运算放大器U1的反转输入端子经由电阻器R1与压电传感器10P。因此,按压信号经由电阻器R1向运算放大器U1的反转输入端子输入。运算放大器U1的非反转输入端子被施加基准电位V1。
运算放大器U1的输出端子与触摸式输入装置1的第二输出端子Pout2连接。电容器C1连接在运算放大器U1的反转输入端子与输出端子之间。放电用电阻器R0和开关元件S0串联连接,该串联电路与电容器C1并联连接。
开关元件S0根据接触检测信号的Hi、Low被进行导通截止控制。例如,开关元件S0在接触检测信号为Low状态时成为导通状态,在接触检测信号为Hi状态时成为截止状态。具体而言,开关元件S0例如由常开的FET等实现。
由此,开关元件S0在被输入Low状态的接触检测信号的期间被导通控制,在被输入Hi状态的接触检测信号的期间被截止控制。即,开关元件S0在没有进行检测接触的期间被导通控制,在正进行接触检测的期间被截止控制。
此外,在使用常开的元件作为开关元件S0的情况下,只要使用上述的由二值构成的接触检测信号即可,但在使用常闭的元件作为开关元件S0的情况下,只要使接触检测信号的二值状态反转即可。即,只要使用在正进行接触检测的期间成为Low状态,在没有进行接触检测的期间成为Hi状态的接触检测信号即可。
通过成为这样的电路结构,在开关元件S0为截止状态的期间,按压量计算部200形成基于运算放大器U1、电阻器R1、电容器C1的积分电路。因此,按压量计算部200对按压信号与基准电位之差进行积分,将作为该积分结果的按压量检测信号向第二输出端子Pout2输出。
即,在正进行接触检测的期间,按压量计算部200对按压信号与基准电位之差进行积分。然后,按压量计算部200将作为该积分结果的按压量检测信号向第二输出端子Pout2输出。
另一方面,在开关元件S0为导通状态时,成为电容器C1和放电用电阻器R0并联连接的电路结构。由此,按压量计算部200不作为积分电路发挥功能。因此,按压量计算部200将按压信号原样向第二输出端子Pout2输出。另外,由于构成电容器C1和放电用电阻器R0的闭环电路,所以电容器C1中蓄积的电荷被放电用电阻器R0放电而消耗。因此,输出端子Pout2的电位被复位为基准电位。
即,在正进行接触检测的期间,按压量计算部200将第二输出端子Pout2的电位复位为基准电位。
图2是本发明的第一实施方式涉及的触摸式输入装置和以往的触摸式输入装置中的按压量检测信号的波形概念图。在图2中,实线表示使用了本发明的实施方式的结构时的按压量检测信号的波形,波浪线表示使用了以往的结构时的按压量检测信号的波形。
如图2所示,通过使用本实施方式的结构,出现与按压量对应的积分波形,并且按压操作的前后的基准电位相同。另一方面,在以往的结构中,基准电位在按压操作的前后发生变化。这里,按压量由按压量检测信号的信号电平决定,按压量检测信号的信号电平由按压信号与基准电位之差决定。因此,如果能够如本实施方式那样使基准电位稳定,则能够高精度地检测按压量。
如上所述,如果使用本实施方式的结构,则能够输出与按压量对应的信号电平的按压量检测信号,并且即使反复进行操作(按压操作),也能够较高地维持按压量的检测精度。
然而,在上述的说明中,没有表示触摸面板10的具体结构,例如,优选使用下面所示那样的结构的触摸面板10。
通过使用一张压电膜一体形成压电传感器10P和静电传感器10D来构成触摸面板10。具体而言,在一张压电膜的相互对置的两个主面具备按压量检测用电极以及静电电容检测用电极。
压电膜由具备相互对置的第一主面和第二主面的矩形状的平膜构成。压电膜由单轴拉伸后的L型聚乳酸(PLLA)形成。
PLLA是手性高分子,主链具有螺旋构造。PLLA若被单轴拉伸而分子进行取向,则具有压电性。被单轴拉伸后的PLLA的压电常数在高分子中属于非常高的种类。
其中,拉伸倍率优选为3~8倍左右。通过在拉伸后实施热处理,聚乳酸的伸直链晶体(extended-chain crystal)的结晶化被促进而压电常数提高。此外,在双轴拉伸的情况下,通过使各轴的拉伸倍率不同,能够得到与单轴拉伸同样的效果。例如将某个方向设为X轴并在该方向实施8倍的拉伸,在与该轴正交的Y轴方向实施2倍的拉伸的情况下,关于压电常数,能够得到与大致在X轴方向实施4倍的单轴拉伸的情况几乎同等的效果。由于单纯地单轴拉伸的膜容易沿拉伸轴方向裂开,所以通过进行上述那样的双轴拉伸能够增加几分强度。
另外,PLLA通过基于拉伸等的分子的取向处理而产生压电性,不需要如PVDF等其他聚合物、压电陶瓷那样进行轮询(Polling)处理。即,不属于铁电的PLLA的压电性不是如PVDF、PZT等铁电那样通过离子的极化而被发现,而由来于作为分子的特征构造的螺旋构造。因此,PLLA不产生在其他的铁电性的压电体中产生的焦电性。并且,随着时间的推移,PVDF等出现压电常数的变动,根据情况,压电常数有时显著降低,但PLLA的压电常数随着时间的推移极为稳定。
另外,由于PLLA的相对介电常数约为2.5而非常低,所以若将d设为压电常数,将εT设为介电常数,则压电输出常数(=压电g常数,g=d/εT)成为较大的值。
这里,介电常数ε33 T=13×ε0、压电常数d31=25pC/N的PVDF的压电g常数根据上述的式成为g31=0.2172Vm/N。另一方面,由于若将压电常数d14=10pC/N的PLLA的压电g常数换算为g31来进行求取,则为d14=2×d31,所以成为d31=5pC/N,压电g常数成为g31=0.2258Vm/N。因此,通过压电常数d14=10pC/N的PLLA能够充分地得到与PVDF同样的按压量的检测灵敏度。而且,本申请发明的发明人通过实验得到d14=15~20pC/N的PLLA,通过使用该PLLA,能够进一步非常高灵敏度地检测按压量。
在由具有这样的特性的PLLA构成的压电膜的第一主面,以规定的图案形成有多个第一静电电容检测用电极以及第一按压量检测用电极。这些多个第一静电电容检测用电极和第一按压量检测用电极优选使用以ITO、ZnO、银纳米线、聚噻吩为主成分的有机电极、以聚苯胺为主成分的有机电极中的任一个。通过使用这些材料,能够形成透光性较高的电极图案。此外,在不需要透明性的情况下,也能够使用由银膏形成的电极、通过蒸镀、溅射或者镀敷等形成的金属系的电极。
另外,在压电膜的第二主面,以规定的图案形成有多个第二静电电容检测用电极、和第二按压量检测用电极。这些多个第二静电电容检测用电极和第二按压量检测用电极也优选使用以ITO、ZnO、银纳米线、聚噻吩为主成分的有机电极、以聚苯胺为主成分的有机电极中的任一个。通过使用这些材料,能够形成透光性较高的电极图案。此外,在不需要透明性的情况下,能够使用由银膏形成的电极、通过蒸镀、溅射或者镀敷等形成的金属系的电极。
第一静电电容检测用电极和第二静电电容检测用电极以夹着压电膜局部对置的方式形成图案。第一按压量检测用电极和第二静电电容检测用电极也以夹着压电膜局部对置的方式形成图案。
由上述这样的结构构成的触摸面板10如下所述那样输出接触信号以及按压信号。
若操作者的手指等接触操作面,则根据接触的位置,在第一静电电容检测用电极和第二静电电容检测用电极之间静电电容发生变化,输出与该静电电容对应的接触信号。如此,在上述的结构中,由压电膜和夹着该压电膜而配置的第一、第二静电电容检测用电极构成静电传感器10D。
若操作者用手指等按压操作面,则压电膜根据按压量(按压力)而弯曲、位移。压电膜根据该位移量来产生电荷。由此,在第一按压量检测用电极和第二静电电容检测用电极之间产生电位差,通过该电位差生成并输出按压信号。这样,在上述的结构中,由压电膜、和夹着该压电膜而配置的第一、第二按压量检测用电极构成压电传感器10P。
这样,如果使用本实施方式的结构,则能够以单一压电膜为基底来构成压电传感器10P和静电传感器10D,能够使触摸面板10薄型化。由此,能够实现整体小型、薄型的触摸式输入装置。
接下来,参照附图对第二实施方式涉及的触摸式输入装置进行说明。图3是本发明的第二实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
本实施方式的触摸式输入装置1A是相对于第一实施方式所示的触摸式输入装置1将按压量计算部和接触检测信号生成部进行了数字IC化后的装置,触摸面板10的结构相同。因此,仅针对与第一实施方式涉及的触摸式输入装置1不同的地方具体说明。
触摸式输入装置1A具备触摸面板10、数字IC234A。数字IC234A具备ADC400、积分运算部210A、以及接触检测信号生成部300A。
ADC400对来自压电传感器10P的按压信号进行模拟数字转换,然后向积分运算部210A输出。
接触检测信号生成部300A与第一实施方式的接触检测信号生成部300同样,根据来自静电传感器10D的接触信号,生成二值化后的接触检测信号,向第一输出端子Pout1以及积分运算部210A输出。
积分运算部210A在被输入对检测到接触的状态进行表示的接触检测信号的期间,对数字化后的按压信号进行积分运算,生成按压量检测信号。积分运算部210A将该按压量检测信号向第二输出端子Pout2输出。
积分运算部210A在被输入对没有检测到接触的状态进行表示的接触检测信号的期间,将第二输出端子Pout2复位为基准电位。
根据这样的结构,也能够与上述第一实施方式同样高精度地维持按压量的检测精度。并且,通过进行数字IC化,能够使接触检测信号生成部和按压量计算部小型化,可使触摸式输入装置小型化。
接下来,参照附图对第三实施方式涉及的触摸式输入装置进行说明。图4是本发明的第三实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
本实施方式的触摸式输入装置1B是相对于第一实施方式所示的触摸式输入装置1使按压量计算部200B的结构不同的装置。因此,仅针对与第一实施方式所示的触摸式输入装置1不同的地方进行说明。
接触检测信号生成部300将接触检测信号仅向开关元件S0输出。
运算放大器U1的输出端子与比较器U2的反转输入端子连接。比较器U2的非反转输入端子被施加选择基准电位V2。比较器U2的输出端子与第一输出端子Pout1连接。
如果按压量检测信号的信号电平为选择基准电位V2以上,则比较器U2将由规定的第一信号电平(例如Hi电平)构成的确定接触检测信号向第一输出端子Pout1输出。如果按压量检测信号的信号电平小于选择基准电位V2,则比较器U2将由规定的第二信号电平(例如Low电平)构成的确定接触检测信号向第一输出端子Pout1。该比较器U2相当于本发明的“信号输出选择部”。
通过这样的结构,直到按压量检测信号成为规定信号电平以上为止,不输出表示接触状态的确定接触检测信号。由此,例如能够防止在操作者只是不必要地将手指等接近操作面的状态、手指等轻轻地接触操作面而未进行按压那样的状态下误检测为进行了操作输入。由此,能够更可靠地进行接触检测。
接下来,参照附图对第四实施方式涉及的触摸式输入装置进行说明。图5是本发明的第四实施方式涉及的触摸式输入装置的框图。
本实施方式的触摸式输入装置1C是相对于第三实施方式所示的触摸式输入装置1B将按压量计算部、接触检测信号生成部以及比较器进行了数字IC化后的装置,触摸面板10的结构相同。因此,仅针对与第三实施方式涉及的触摸式输入装置1B不同的地方具体说明。
触摸式输入装置1C具备触摸面板10、和数字IC234C。数字IC234A具备ADC400、积分运算部210A、以及接触检测信号生成部300A。
ADC400对来自压电传感器10P的按压信号进行模拟数字转换,然后向积分运算部210A输出。
接触检测信号生成部300A与第一实施方式的接触检测信号生成部300同样,根据来自静电传感器10D的接触信号,生成二值化后的接触检测信号,并向积分运算部210A输出。
积分运算部210A在被输入对检测到接触的状态进行表示的接触检测信号的期间,对数字化后的按压信号进行积分运算,生成按压量检测信号。积分运算部210A将该按压量检测信号向第二输出端子Pout2和比较运算部500输出。
如果按压量检测信号的信号电平为选择基准电位以上,则比较运算部500将表示接触状态的确定接触检测信号向第一输出端子Pout1输出。如果按压量检测信号的信号电平小于选择基准电位,则比较运算部500将表示非接触状态的确定接触检测信号向第一输出端子Pout1输出。
根据这样的结构,也能够与上述第三实施方式同样地高精度维持按压量的检测精度。并且,通过进行数字IC化,能够使接触检测信号生成部、按压量计算部、以及比较器小型化,可使触摸式输入装置小型化。
此外,在上述的各实施方式中,举例说明了一同输出接触检测信号和按压量检测信号的触摸式输入装置,但也可以仅输出按压量检测信号。该情况下,能够实现按压量检测传感器。
另外,在上述的说明中,示出了以单一压电膜为基底来形成压电传感器10P和静电传感器10D的例子,但也可以使用分别独立地形成压电传感器10P和静电传感器10D并将它们重叠而成为一体的结构。
附图标记说明:1、1A、1B、1C...触摸式输入装置;10...触摸面板;10P...压电传感器;10D...静电传感器;200、200B...按压量计算部;210A...积分运算部;234A、234C...数字IC;300、300A...接触检测信号生成部;400...ADC(模拟数字转换部);500...比较运算部;U1...运算放大器;U2...比较器;R1...电阻器;C1...电容器;R0...放电用电阻器;S0...开关元件;Pout1...第一输出端子;Pout2...第二输出端子。
Claims (10)
1.一种按压量检测传感器,其中,具备:
压电传感器,输出与按压操作面时的位移量对应的按压信号;
接触检测传感器,检测所述压电传感器向所述操作面的接触而输出接触检测信号;以及
按压量计算部,对所述按压信号与基准电位之差进行积分,并根据积分结果来输出按压量检测信号,
所述按压量计算部根据所述接触检测信号的状态变化,来切换所述积分处理和基准电位的复位处理,
将所述接触检测信号与所述按压量检测信号一同输出。
2.根据权利要求1所述的按压量检测传感器,其中,
所述接触检测传感器输出以与所述操作面接触和不与所述操作面接触的两个状态划分的二值的接触检测信号,
所述按压量计算部以所述二值中的一个进行所述积分处理,以所述二值中的另一个进行复位处理。
3.根据权利要求2所述的按压量检测传感器,其中,
所述按压量计算部是带旁通电路的积分电路,
所述按压量计算部由在所述二值中的一个时使所述旁通电路有效,在所述二值中的另一个时使所述旁通电路无效的电路结构构成。
4.根据权利要求3所述的按压量检测传感器,其中,
所述按压量计算部具备:
运算放大器,反转输入端子经由电阻器被输入所述按压信号,非反转输入端子被赋予基准电位;
电容器,并联连接在所述运算放大器的输出端子和所述反转输入端子之间;以及
基于所述接触检测信号被导通截止控制的开关元件和放电用电阻器的串联电路,该串联电路与所述电容器并联连接。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的按压量检测传感器,其中,
所述接触检测传感器具备:
静电传感器,输出与静电电容因向所述操作面的接触而发生变化的位置对应的所述接触检测信号;和
接触检测信号生成部,根据所述接触检测信号,生成因接触状态而发生状态变化的所述接触检测信号,
所述按压量计算部和所述接触检测信号生成部通过被单片化后的数字IC实现。
6.一种触摸式输入装置,其中,
具备权利要求1~4中任一项所述的按压量检测传感器。
7.根据权利要求6所述的触摸式输入装置,其中,
所述按压量计算部具备信号输出选择部,该信号输出选择部在所述按压量检测信号小于阈值时停止所述接触检测信号的输出,若所述按压量检测信号为所述阈值以上则能够输出所述接触检测信号。
8.根据权利要求6或者权利要求7所述的触摸式输入装置,其中,
所述接触检测传感器具备:
静电传感器,输出与静电电容因向所述操作面的接触而发生变化的位置对应的所述接触检测信号;和
接触检测信号生成部,根据所述接触检测信号,生成因接触状态而发生状态变化的所述接触检测信号,并向所述按压量计算部输出,
所述按压量计算部和所述接触检测信号生成部通过被单片化后的数字IC实现。
9.根据权利要求8所述的触摸式输入装置,其中,
所述压电传感器和所述静电传感器具备:
平膜状的压电膜,具备相互对置的第一主面和第二主面;
静电电容检测用电极,形成于该压电膜的至少所述第一主面或者所述第二主面;以及
压电电压检测用电极,形成于所述压电膜的所述第一主面以及所述第二主面。
10.根据权利要求9所述的触摸式输入装置,其中,
所述压电膜由至少在单轴方向进行了拉伸处理的聚乳酸构成。
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