CN104573590B - 一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电子支付领域，尤其是涉及一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置。通过在磁卡测试装置上设有磁卡定位槽，用于定位磁卡和判断待测试磁卡的尺寸是否符合要求，若待测试磁卡的尺寸不符合要求，则对于磁卡上所附带信息的磁条是否标准而言就无任何意义，因此需要优先确定待测试磁卡的尺寸是否符合要求；其次，将显影处理的待测试磁卡与POS机及金融刷卡产品磁头进行刷卡，若磁头划过的有效刷卡位置在设置的磁头中心及磁头位置判定标准范围内，即磁头的有效刷卡位置符合要求。
Description
技术领域
本发明涉及电子支付领域，尤其是涉及一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置。
背景技术
目前市场上使用机器检测磁头刷卡的有效性，机器成本较高，不具有通用性。
因此需要一种工装(装置)适用于POS机、金融刷卡产品、银行磁卡规范核准中，工装具有功能有1：对银行发行的磁卡检测是否满足磁卡标准。2：检测金融支付产品、POS机，使用磁头刷卡时，磁头位置包括磁头中心位置，磁头有效覆盖面积是否满足磁头刷卡标准。电子支付主要是通过电子支付产品的磁头与磁卡进行刷卡比对信息，来支付。本工装通过先检测磁卡是否为合格卡，再检测刷卡后磁头的有效位置是与磁卡上信息比对，来支付。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
一种用于检测磁头的方法，包括以下步骤：
S100、将在磁道位置显影处理后的待测试磁卡放置在磁卡测试装置上，所述磁卡测试装置上设有磁卡定位槽，用于定位磁卡；所述磁卡定位槽的尺寸符合标准磁卡尺寸要求；
S200、将步骤S100所得待测试磁卡放置在所述磁卡定位槽中，判断所述待测试磁卡的尺寸是否符合标准磁卡尺寸要求，若所述待测试磁卡的尺寸不符合标准磁卡尺寸要求，则所述待测试磁卡为不合格磁卡；若所述待测试磁卡的尺寸符合标准磁卡尺寸要求，则进入步骤S300；
S300、所述磁卡测试装置设有磁道测试模块；所述磁道测试模块符合标准磁卡的磁道测试；判断步骤S200所得待测试磁卡的磁道是否符合磁道测试模块的测试要求，若所述待测试磁卡的磁道符合磁道测试模块的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；若所述待测试磁卡的磁道不符合磁道测试模块的测试要求，则所述待测试磁卡为不合格磁卡；
S400、将合格的磁卡通过待测试磁头进行刷卡操作，比对磁头划过的位置是否符合标准磁卡的磁道测试要求，若符合标准磁卡的磁道测试要求，则所述待测试磁头为合格磁头。
本发明采用的另一技术方案为：
一种磁卡测试装置，所述装置设有呈矩形状凹槽，所述凹槽的尺寸与标准磁卡相适配，所述凹槽用于测试待测试磁卡的尺寸是否符合标准；所述装置还设有一个以上的磁道测试装置，所述磁道测试装置包括第一测试模块和第二测试模块；
所述第一测试模块包括第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽；所述第一凹槽与第二凹槽相对设置，所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽依次平行设置，所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽的开口在同一侧；所述第一凹槽的侧壁上设有第一凸起，所述第一凸起与第一凹槽开口方向相垂直，所述第二凹槽的侧壁上设有第二凸起，所述第二凸起与第二凹槽开口方向相垂直；所述第三凹槽与第四凹槽之间设有第三凸起，所述第四凹槽与第五凹槽之间设有第四凸起；所述第一凸起与第三凹槽相对设置，所述第二凸起与第五凹槽相对设置；
所述第二测试模块包括第五凸起，所述第五凸起与第四凹槽相对设置；
所述第二凹槽与第五凹槽之间设有第六凹槽；
所述装置设有三个磁道测试装置，分别为第一磁道测试装置、第二磁道测试装置和第三磁道测试装置；所述第一磁道测试装置、第二磁道测试装置和第三磁道测试装置相互平行设置；
所述第一磁道测试装置的第三凹槽、第二磁道测试装置的第三凹槽和第三磁道测试装置的第三凹槽并列设置；
所述第一磁道测试装置的第四凹槽、第二磁道测试装置的第四凹槽和第三磁道测试装置的第四凹槽并列设置；
所述第一磁道测试装置的第五凹槽、第二磁道测试装置的第五凹槽和第三磁道测试装置的第五凹槽并列设置；
所述第一凸起与第三凹槽相适配；所述第二凸起与第五凹槽相适配。
本发明的有益效果在于：通过在磁卡测试装置上设有磁卡定位槽，用于定位磁卡和判断待测试磁卡的尺寸是否符合要求，若待测试磁卡的尺寸不符合要求，则对于磁卡上所附带信息的磁条是否标准而言就无任何意义，因此需要优先确定待测试磁卡的尺寸是否符合要求；其次，将显影处理的待测试磁卡与POS机及金融刷卡产品磁头进行刷卡，若磁头划过的有效刷卡位置在装置的磁头中心及磁头位置判定标准范围内，即磁头的有效刷卡位置符合要求。通过本发明提供的方法，能够检测磁头是否为合格磁头。
附图说明
图1为本发明具体实施方式的用于检测磁头的方法的步骤流程图；
图2为本发明具体实施方式的磁卡测试装置的结构示意图；
标号说明：
1、第一凹槽；2、第二凹槽；3、第三凹槽；4、第四凹槽；5、第五凹槽；6、第一凸起；7、第二凸起；8、第三凸起；9、第四凸起；11、第五凸起；10、第六凹槽；12、数字区域测试装置；13、地址区域测试装置。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
本发明最关键的构思在于：通过判断待测试磁卡的尺寸是否符合要求，再通过显影处理的待测试磁卡与电子支付产品刷卡，再用装置进行磁头有效性测试，确保电子支付产品的磁头刷卡的有效性。
请参照图1，为本发明具体实施方式的用于检测磁头的方法的步骤流程图，具体如下：
一种用于检测磁头的方法，包括以下步骤：
S100、将在磁道位置显影处理后的待测试磁卡放置在磁卡测试装置上，所述磁卡测试装置上设有磁卡定位槽，用于定位磁卡；所述磁卡定位槽的尺寸符合标准磁卡尺寸要求；
S200、将步骤S100所得待测试磁卡放置在所述磁卡定位槽中，判断所述待测试磁卡的尺寸是否符合标准磁卡尺寸要求，若所述待测试磁卡的尺寸不符合标准磁卡尺寸要求，则所述待测试磁卡为不合格磁卡；若所述待测试磁卡的尺寸符合标准磁卡尺寸要求，则进入步骤S300；
S300、所述磁卡测试装置设有磁道测试模块；所述磁道测试模块符合标准磁卡的磁道测试；判断步骤S200所得待测试磁卡的磁道是否符合磁道测试模块的测试要求，若所述待测试磁卡的磁道符合磁道测试模块的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；若所述待测试磁卡的磁道不符合磁道测试模块的测试要求，则所述待测试磁卡为不合格磁卡；
S400、将合格的磁卡通过待测试磁头进行刷卡操作，比对磁头划过的位置是否符合标准磁卡的磁道测试要求，若符合标准磁卡的磁道测试要求，则所述待测试磁头为合格磁头。
从上述描述可知，本发明的有益效果在于：通过在磁卡测试装置上设有磁卡定位槽，用于定位磁卡和判断待测试磁卡的尺寸是否符合要求，若待测试磁卡的尺寸不符合要求，则对于磁卡上所附带信息的磁条是否标准而言就无任何意义，因此需要优先确定待测试磁卡的尺寸是否符合要求；其次，将显影处理的待测试磁卡与POS机及金融刷卡产品磁头进行刷卡，若磁头划过的有效刷卡位置在装置的磁头中心及磁头位置判定标准范围内，即磁头的有效刷卡位置符合要求。通过本发明提供的方法，能够检测磁头是否为合格磁头。
经过显影处理的磁卡会显现出磁卡三道磁道的位置，显影处理后铁粉与有机溶剂覆盖在磁卡磁道位置，从而显现出三道磁道的位置。
进一步的，所述步骤S200判断所得待测试磁卡的尺寸是否符合标准磁卡尺寸要求具体为：所述磁卡定位槽的尺寸符合标准磁卡尺寸最大允许范围，若所述待测试磁卡能够放入所述磁卡定位槽，则所述待测试磁卡符合标准磁卡尺寸要求。
由上述描述可知，将待测试磁卡放入所述磁卡定位槽中，若能够放入，则符合标准磁卡尺寸要求。
进一步的，所述步骤S300判断步骤S200所得待测试磁卡的磁道是否符合磁道测试模块的测试要求具体为：所述磁道测试模块设有符合标准磁卡的三道磁道，若所述待测试磁卡的三道磁道符合所述磁道测试模块的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；所述磁道测试模块的测试要求为：将显影后的磁卡的三道磁道覆盖铁粉与有机溶剂的位置均在标准磁卡的三道磁道尺寸允许范围内时，所述待测试磁卡为合格磁卡。所述磁道测试模块的测试要求为所述磁道测试模块上的三道磁道的有效位置应与显影出三道磁道的磁卡尺寸相吻合。
由上述描述可知，根据目前磁卡的标准设计磁道测试模块，目前标准磁卡有三道磁道，根据标准磁卡的三道磁道尺寸允许范围设计标准磁道测试模块，另外要求待测试磁卡的三道磁道均在标准磁卡的三道磁道尺寸允许范围内时，所述待测试磁卡为合格磁卡，符合标准磁卡的要求。
进一步的，所述步骤S300判断步骤S200所得待测试磁卡的磁道是否符合磁道测试模块的测试要求还包括：所述磁道测试模块设有符合标准磁卡的磁头中心，若所述待测试磁卡的三道磁道的中心位置符合标准磁卡的磁头中心位置，则所述待测试磁卡为合格磁卡。
将POS或金融产品的磁头进行刷卡，观察显影后的磁头划过位置是否在设置的磁头中心位置与磁头有效位置范围内，来验证磁头刷卡的有效性。
由上述描述可知，通过设置标准磁卡的磁头中心位置与磁头有效位置，提高磁头刷卡的有效精度。
进一步的，所述步骤S300还包括：所述磁卡测试装置上设有符合标准磁卡数字区域的测试模块，判断所述待测试磁卡的数字区域是否符合标准磁卡数字区域的测试要求，若所述待测试磁卡的数字区域符合标准磁卡数字区域的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；所述标准磁卡数字区域的测试要求具体为：所述标准磁卡数字区域的测试模块设有标准磁卡数字区域的有效起始范围与终止范围，所述待测试磁卡的数字区域在标准磁卡数字区域的有效范围内时，所述待测试磁卡为合格磁卡。
进一步的，所述磁卡测试装置上设有符合标准磁卡数字区域凸字高度的测试模块，判断所述待测试磁卡的数字区域凸字高度是否符合标准磁卡数字区域凸字高度的测试要求，若所述待测试磁卡的数字区域凸字高度符合标准磁卡数字区域凸字高度的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；所述标准磁卡数字区域凸字高度的测试要求具体为：所述标准磁卡数字区域凸字高度的测试模块设有标准磁卡数字区域凸字高度的有效高度范围，所述待测试磁卡的数字区域凸字高度在有效高度范围内时，所述待测试磁卡为合格磁卡。
由上述描述可知，若所述待测试磁卡的数字区域不在标准磁卡数字区域的有效范围内时，所述待测试磁卡为不合格磁卡，另外若所述待测试磁卡的数字区域凸字高度不符合标准磁卡数字区域凸字高度的测试要求，则待测试磁卡放入该装置中会出现不平整现象，由于凸字高度不符合标准很可能导致刷卡消费时产生故障等问题。
进一步的，所述步骤S300还包括：所述磁卡测试装置上设有符合标准磁卡地址区域的测试模块，判断所述待测试磁卡的地址区域是否符合标准磁卡地址区域的测试要求，若所述待测试磁卡的地址区域符合标准磁卡地址区域的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；所述标准磁卡地址区域的测试要求具体为：所述标准磁卡地址区域的测试模块设有标准磁卡地址区域的有效起始范围与终止范围，所述待测试磁卡的地址区域在标准磁卡地址区域的有效范围内时，所述待测试磁卡为合格磁卡。
进一步的，所述步骤S300还包括：所述磁卡测试装置上设有符合标准磁卡地址区域凸字高度的测试模块，判断所述待测试磁卡的地址区域凸字高度是否符合标准磁卡地址区域凸字高度的测试要求，若所述待测试磁卡的地址区域凸字高度符合标准磁卡地址区域凸字高度的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；所述标准磁卡地址区域凸字高度的测试要求具体为：所述标准磁卡地址区域凸字高度的测试模块设有标准磁卡地址区域凸字高度的有效高度范围，所述待测试磁卡的地址区域凸字高度在标准磁卡地址区域的有效高度范围时，所述待测试磁卡为合格磁卡。
由上述描述可知，若所述待测试磁卡的地址区域不在标准磁卡地址区域的有效范围内时，所述待测试磁卡为不合格磁卡，另外若所述待测试磁卡的地址区域凸字高度不符合标准磁卡地址区域凸字高度的测试要求，则待测试磁卡放入该装置中会出现不平整现象，由于凸字高度不符合标准很可能导致刷卡消费时产生故障等问题。
请参照图2，实施例1：
一种用于检测磁头的方法，包括以下步骤：
S100、将在磁道位置显影处理后的待测试磁卡放置在磁卡测试装置上，所述磁卡测试装置上设有磁卡定位槽，用于定位磁卡；所述磁卡定位槽的尺寸符合标准磁卡尺寸要求；
S200、将步骤S100所得待测试磁卡放置在所述磁卡定位槽中，判断所述待测试磁卡的尺寸是否符合标准磁卡尺寸要求，若所述待测试磁卡的尺寸不符合标准磁卡尺寸要求，则所述待测试磁卡为不合格磁卡；若所述待测试磁卡的尺寸符合标准磁卡尺寸要求，则进入步骤S300；
S300、所述磁卡测试装置设有磁道测试模块；所述磁道测试模块符合标准磁卡的磁道测试；判断步骤S200所得待测试磁卡的磁道是否符合磁道测试模块的测试要求，若所述待测试磁卡的磁道符合磁道测试模块的测试要求，则所述待测试磁卡为合格磁卡；若所述待测试磁卡的磁道不符合磁道测试模块的测试要求，则所述待测试磁卡为不合格磁卡；
S400、将合格的磁卡通过待测试磁头进行刷卡操作，比对磁头划过的位置是否符合标准磁卡的磁道测试要求，若符合标准磁卡的磁道测试要求，则所述待测试磁头为合格磁头。
上述磁卡测试装置具体如下：所述装置设有呈矩形状凹槽，所述凹槽的尺寸与标准磁卡相适配，所述凹槽用于测试待测试磁卡的尺寸是否符合标准；所述装置还设有一个以上的磁道测试装置，所述磁道测试装置包括第一测试模块和第二测试模块；
所述第一测试模块包括第一凹槽1、第二凹槽2、第三凹槽3、第四凹槽4和第五凹槽5；所述第一凹槽1与第二凹槽2相对设置，所述第三凹槽3、第四凹槽4和第五凹槽5依次平行设置，所述第三凹槽3、第四凹槽4和第五凹槽5的开口在同一侧，上述凹槽的尺寸为固定值，符合磁道测试标准，用于磁道测试；所述第一凹槽1的侧壁上设有第一凸起6，所述第一凸起6与第一凹槽1开口方向相垂直，所述第二凹槽2的侧壁上设有第二凸起7，所述第二凸起7与第二凹槽2开口方向相垂直，用于设置标准磁卡的磁头一道磁头和三道磁头有效位置，提高三道磁道的测试精度；所述第三凹槽3与第四凹槽4之间设有第三凸起8，所述第四凹槽4与第五凹槽5之间设有第四凸起9；所述第一凸起6与第三凹槽3相对设置，所述第二凸起7与第五凹槽5相对设置；
所述第二测试模块包括第五凸起11，所述第五凸起11与第四凹槽4相对设置。
所述第二凹槽2与第五凹槽5之间设有第六凹槽10。所述装置设有三个磁道测试装置，分别为第一磁道测试装置、第二磁道测试装置和第三磁道测试装置；所述第一磁道测试装置、第二磁道测试装置和第三磁道测试装置相互平行设置；位置覆盖起点、中点、终点，用于更加精确地判定磁头的有效划过位置。
所述第一磁道测试装置的第三凹槽、第二磁道测试装置的第三凹槽和第三磁道测试装置的第三凹槽并列设置；
所述第一磁道测试装置的第四凹槽、第二磁道测试装置的第四凹槽和第三磁道测试装置的第四凹槽并列设置；
所述第一磁道测试装置的第五凹槽、第二磁道测试装置的第五凹槽和第三磁道测试装置的第五凹槽并列设置；
所述第一凸起与第三凹槽相适配；所述第二凸起与第五凹槽相适配。凸起的宽度小于等于凹槽的宽度。所述第一凸起、第二凸起和第五凸起宽度相同。
该装置还包括数字区域测试装置12和地址区域测试装置13；所述数字区域测试装置呈凹字形；所述地址区域测试装置呈凸字形；所述数字区域测试装置和地址区域测试装置均设有有效区域范围，用于判定待测试磁卡地址区域与数字区域是否为标准磁卡。若所述待测试磁卡的数字区域不在标准磁卡数字区域的有效范围内时，所述待测试磁卡为不合格磁卡，另外若所述待测试磁卡的数字区域凸字高度不符合标准磁卡数字区域凸字高度的测试要求，则待测试磁卡放入该装置中会出现不平整现象，由于凸字高度不符合标准很可能导致刷卡消费时产生故障等问题。
综上所述，本发明提供的一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置，通过在磁卡测试装置上设有磁卡定位槽，用于定位磁卡和判断待测试磁卡的尺寸是否符合要求，若待测试磁卡的尺寸不符合要求，则对于磁卡上所附带信息的磁条是否标准而言就无任何意义，因此需要优先确定待测试磁卡的尺寸是否符合要求；其次，通过显影处理的待测试磁卡与电子支付产品进行磁头刷卡，若刷卡后的磁头划过的有效中心位置与磁头有效位置符合装置上检测标准则磁头刷卡即为有效；通过以上两次判断，确保磁卡和磁头结合的唯一性，提高磁头刷卡的有效性。将待测试磁卡放入所述磁卡定位槽中，若能够放入，则符合标准磁卡尺寸要求。根据目前磁卡的标准设计磁道测试模块，目前标准磁卡有三道磁道，根据标准磁卡的三道磁道最大允许范围设计标准磁道测试模块，另外要求待测试磁卡的三道磁道均在标准磁卡的三道磁道最大允许范围内时，所述待测试磁卡为合格磁卡，符合标准磁卡的要求。通过设置标准磁卡的磁头中心位置，提高三道磁道的测试精度。若所述待测试磁卡的数字区域不在标准磁卡数字区域的有效范围内时，所述待测试磁卡为不合格磁卡，另外若所述待测试磁卡的数字区域凸字高度不符合标准磁卡数字区域凸字高度的测试要求；若所述待测试磁卡的地址区域不在标准磁卡地址区域的有效范围内时，所述待测试磁卡为不合格磁卡，另外若所述待测试磁卡的地址区域凸字高度不符合标准磁卡地址区域凸字高度的测试要求，则待测试磁卡放入该装置中会出现不平整现象，由于凸字高度不符合标准很可能导致刷卡消费时产生故障等问题。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (2)
1.一种磁卡测试装置，其特征在于，所述装置设有呈矩形状凹槽，所述凹槽的尺寸与标准磁卡相适配，所述凹槽用于测试待测试磁卡的尺寸是否符合标准；所述装置还设有一个以上的磁道测试装置，所述磁道测试装置包括第一测试模块和第二测试模块；
所述第一测试模块包括第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽；所述第一凹槽与第二凹槽相对设置，所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽依次平行设置，所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽的开口在同一侧；所述第一凹槽的侧壁上设有第一凸起，所述第一凸起与第一凹槽开口方向相垂直，所述第二凹槽的侧壁上设有第二凸起，所述第二凸起与第二凹槽开口方向相垂直；所述第三凹槽与第四凹槽之间设有第三凸起，所述第四凹槽与第五凹槽之间设有第四凸起；所述第一凸起与第三凹槽相对设置，所述第二凸起与第五凹槽相对设置；
所述第二测试模块包括第五凸起，所述第五凸起与第四凹槽相对设置；
所述第二凹槽与第五凹槽之间设有第六凹槽；
所述磁卡测试装置设有三个磁道测试装置，分别为第一磁道测试装置、第二磁道测试装置和第三磁道测试装置；所述第一磁道测试装置、第二磁道测试装置和第三磁道测试装置相互平行设置；
所述第一磁道测试装置的第三凹槽、第二磁道测试装置的第三凹槽和第三磁道测试装置的第三凹槽并列设置；
所述第一磁道测试装置的第四凹槽、第二磁道测试装置的第四凹槽和第三磁道测试装置的第四凹槽并列设置；
所述第一磁道测试装置的第五凹槽、第二磁道测试装置的第五凹槽和第三磁道测试装置的第五凹槽并列设置；
所述第一凸起与第三凹槽相适配；所述第二凸起与第五凹槽相适配。
2.根据权利要求1所述的磁卡测试装置，其特征在于，该磁卡测试装置还包括数字区域测试装置和地址区域测试装置；所述数字区域测试装置呈凹字形；所述地址区域测试装置呈凸字形；所述数字区域测试装置和地址区域测试装置均设有有效区域范围，用于判定待测试磁卡是否为标准磁卡。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |