JP2011008882A - 磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法 - Google Patents
磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011008882A JP2011008882A JP2009152965A JP2009152965A JP2011008882A JP 2011008882 A JP2011008882 A JP 2011008882A JP 2009152965 A JP2009152965 A JP 2009152965A JP 2009152965 A JP2009152965 A JP 2009152965A JP 2011008882 A JP2011008882 A JP 2011008882A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- track
- core width
- output
- write
- effective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Abstract
【課題】実効ライトコア幅/実効イレーズコア幅の測定を、DTM媒体を使用した場合でも高精度に測定することを可能とし、実効ライトコア幅/実効イレーズコア幅が非常に狭い場合でも、再現性を維持した測定を可能とする。
【解決手段】磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅の測定方法であって、出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、テストトラックを書き込む工程と、リード位置で前記テストトラックの出力を測定する工程と、この3工程を、テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置とリード位置で測定されるテストトラックの出力との関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含む。
【選択図】図5
【解決手段】磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅の測定方法であって、出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、テストトラックを書き込む工程と、リード位置で前記テストトラックの出力を測定する工程と、この3工程を、テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置とリード位置で測定されるテストトラックの出力との関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含む。
【選択図】図5
Description
本発明は、磁気ヘッドを使用した磁気ディスク装置において、検査等の過程で必要とされる磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法に関する。
従来、HDD装置において、データの記録は、磁気ヘッドにライト(write)電流が流れ、そこに発生した磁界によって磁気記録媒体の一部の磁化の向きが変化することで行われる。磁気記録媒体の一種の連続媒体上に記録を行った際、書き込まれるデータトラックの幅は、磁気ヘッドのライト素子の幅への依存性が高いことから、実効ライトコア幅と呼ばれる。この実効ライトコア幅は、磁気ヘッドのライト素子の物理的な幅だけではなく、素子の高さやその他の素子形状、ライト電流の強さ、媒体の種類などの様々な影響を受けるため、個々の磁気ヘッドによって異なってくる。一方でHDD装置の設計においては隣接するトラック間の距離は(一種類あるいは特定の範囲内で)定められているため、実効ライトコア幅が広すぎるヘッドまたは狭すぎるヘッドを組み込むと装置不良を招く。したがって、コスト低減のためには、磁気ヘッドをHDD装置に組み込む前に磁気ヘッドの実効ライトコア幅を測定し、設計値から外れたヘッドを除外することが求められる。
また、データの記録が行われる際、連続媒体上にそれまであったデータを消すイレーズトラックの幅は実効ライトコア幅以上に広いことが多い。これを実効イレーズコア幅と呼ぶ。この実効イレーズコア幅は、実効ライトコア幅と同様、個々の磁気ヘッドによって異なってくる。実効ライトコア幅が適切でも、実効イレーズコア幅が広すぎる場合、隣接トラックに及ぼす影響が設計値以上になるため、これも装置不良の原因となる。コスト低減のためには、実効ライトコア幅と同様、磁気ヘッドをHDD装置に組み込む前に実効イレーズコア幅についても測定を行い、設計値から外れたヘッドを除外することが求められている。
近年、高記録密度化に伴い、HDD装置で使われるトラック間の距離は徐々に小さくなり、200nmを下回るものも出てきている。必然的に実効ライトコア幅/実効イレーズコア幅はそれよりも同等以下であることが要求され、その測定が困難になっている。一方でプロセス微細化の困難から、実効ライトコア幅/実効イレーズコア幅のバラツキは相対的に増大傾向にあり、正確な測定の重要性がますます高まっている。
一方で、現在磁気記録の将来的な技術として、ディスクリート・トラック・メディア(以下DTM)が検討されている。このDTMは媒体上に磁性/非磁性の磁性的な溝を円周方向に設けたものである。この時、磁性部分の幅よりも実効ライトコア幅が広ければ、媒体上に記録されるデータトラックの幅は磁性部分の幅と同値になるため、実効ライトコア幅の大小は一見装置に影響を及ぼさないように見える。しかし実効ライトコア幅(または実効イレーズコア幅)が広すぎると、隣接する磁性部分(すなわち、隣接トラック)にもデータが書き込まれてしまう。一方実効ライトコア幅が狭すぎると磁性部分にデータが書き込まれない隙間が発生する。このようなことから、実運用では従来の連続媒体の場合と同様、実効ライトコア幅の大小の測定/判定が重要である。また、高TPI(Tracks Per Inch)化に伴い、磁性/非磁性部分の双方の幅が小さくなるため、精度に関しても従来の連続媒体適用時と同等の精度が求められる。
なお、トラック幅測定方法に関する先行技術文献として特許文献1がある。本文献は、ビデオテープレコーダに関する発明を開示するものであり、リードヘッドより巾の狭い記録トラックを用いて、リード位置を動かしたヘッドでリードを行い、リードヘッドの巾を調べる技術が開示されている。この特許文献1には、「ハードディスク装置では、磁気ヘッドのトラック幅よりも広い幅の記録トラックを再生するため、磁気ヘッドのトラック幅は厳密な制御を必要としない。すなわち、ハードディスク装置では、厳密なトラック幅を有さない磁気ヘッドによっても正確な再生が可能となっている。」との記載もあり、以下に説明するような(および上記で説明した)ハードディスク装置における課題認識はない。
(A)従来の実効ライトコア幅の測定方法とその課題
従来の実効ライトコア幅の測定方法として一般的に使用されているのは、オフトラックプロファイルと呼ばれる方法である。この方法の概略を、図1及び以下に示す。まず、イレーズにより不要な記録を消去する(図示せず)。次に、測定を行いたいライト電流・周波数で1周ライトを行う。この上で、インナからアウタ方向に、あるいはアウタからインナ方向に磁気ヘッドをオフセットさせながら、ライトされたトラックの出力を測定する(リードオフセット)。そして、横軸をリードオフセット量、縦軸を出力としてプロットすると、図1に示すような、上に凸のプロファイルが示される。リード素子の読み取り有効幅(リードコア幅に対してライトトラック幅が十分に広い場合、このプロファイルの半値幅が実効ライトコア幅となる。
従来の実効ライトコア幅の測定方法として一般的に使用されているのは、オフトラックプロファイルと呼ばれる方法である。この方法の概略を、図1及び以下に示す。まず、イレーズにより不要な記録を消去する(図示せず)。次に、測定を行いたいライト電流・周波数で1周ライトを行う。この上で、インナからアウタ方向に、あるいはアウタからインナ方向に磁気ヘッドをオフセットさせながら、ライトされたトラックの出力を測定する(リードオフセット)。そして、横軸をリードオフセット量、縦軸を出力としてプロットすると、図1に示すような、上に凸のプロファイルが示される。リード素子の読み取り有効幅(リードコア幅に対してライトトラック幅が十分に広い場合、このプロファイルの半値幅が実効ライトコア幅となる。
連続媒体では上記の通りオフトラックプロファイルから実効ライトコア幅が求められるが、磁気ディスク媒体が磁性/非磁性のトラックで分けられたDTMの場合、オフトラックプロファイルは有効ではない。これを図2及び以下に示す。この場合、媒体の磁性部分の幅は通常実効ライトコア幅より小さく、リードコア幅は磁性部分の幅とほぼ同様(あるいはやや広い)となることが多い。この関係で上記のようにオフトラックプロファイルを測定すると、そのプロファイルは従来の場合と同様に上に凸となる。しかしその半値幅として得られる値は、媒体の磁性部分の幅あるいはリードコア幅であり、プロファイルの半値幅で実効ライトコア幅を求めることは出来ない。
(B)従来の実効イレーズコア幅の測定方法とその課題
従来の実効イレーズコア幅の測定方法としては主に1)両側に隣接トラックを書いた後でその中心のトラックの出力を測定する方法、2)両側に隣接トラックを書いた後でその中心のトラックのプロファイルを測定する方法の2通りがある。以下でそれぞれについて述べる。
従来の実効イレーズコア幅の測定方法としては主に1)両側に隣接トラックを書いた後でその中心のトラックの出力を測定する方法、2)両側に隣接トラックを書いた後でその中心のトラックのプロファイルを測定する方法の2通りがある。以下でそれぞれについて述べる。
1)両側に隣接トラックを書いた後でその中心のトラックの出力を測定し実効イレーズコア幅を求める方法を図3及び以下に示す。まず不要な記録を消去した後(図示せず)、中心トラックに周波数Aで1周ライトを行い、出力がピークとなるリードコア幅の位置とその出力を測定する(このときの出力を100%とし、以下はその比率で表す)。続いて中心トラックの両側に等間隔で離れた位置に周波数Bで隣接トラックを書き込んだ後、上記の(ピークとなる)リード位置に移動して中心トラック(周波数A)の出力をリードする。この方法で、中心トラックと隣接トラックの距離を最初は十分に遠くし、徐々に近づける方向に移動していくと、中心トラック(周波数A)の出力は初期は100%、その後徐々に低下していく。ここで出力が0%となるトラック間距離(図3のC)を求め、それを2倍すると、実効イレーズコア幅が求められる。しかし最近の高TPIではトラックピッチの変化に対する出力の変化が急激となるため、この出力が0%となるトラック間距離を求めるのは再現性・精度の観点から困難になっている。
2)両側に隣接トラックを書いた後でその中心のトラックのプロファイルを測定し実効イレーズコア幅を求める方法を図4及び以下に示す。まず不要な記録を消去した後に、中心トラックに周波数Aで1周ライトを行う。実効ライトコア幅の測定と同様に、磁気ヘッドをオフセットさせながら、書かれたトラック(周波数A)の出力を測定し、そのプロファイルの半値幅を求める。続いて中心トラックの両側に等間隔で離れた位置に周波数Bで隣接トラックを書き込んだ後、再び中心トラック(周波数A)のプロファイルを測定し、半値幅を求める。例えば、隣接トラックとの距離を初期半値幅と同じに設定すれば、(初期半値幅×2)−(後期半値幅)が実効イレーズコア幅となる。しかしこの測定を正確に行うには、実効ライトコア幅がある程度分かっていることが前提であり、実効ライトコア幅がばらついている場合、適切な条件(隣接トラックとの距離)を定めるのが困難である。またDTM媒体ではこの条件を求めるのがさらに困難になる。
上記(A)、(B)で示した方法は、S/N比、エラーレート、VMM(ビタビ・メトリック・マージン)などを用いても同様に測定可能であるが、出力、S/N、エラーレート、VMMのどの値で測定しても同様の課題が残る。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、その目的は、(1)高TPI(すなわち、狭いトラック幅)でも、精度および再現性の高い評価が行えること、(2)DTM媒体でも(困難さを増さずに)測定可能であること、(3)従来と同様、出力、S/N、エラーレート、VMMのどの特性を用いても判定可能であること、を達成できる実効ライトコア幅及び実効イレーズコア幅の測定方法を提供することにある。なお、VMM(Viterbi Metric Margin)はCSM(Channel Statistics Measurement)と呼ばれることがあるが、本明細書においては、VMMという用語を用いることとする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅の測定方法であって、出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、テストトラックを書き込む工程と、前記リード位置で前記テストトラックの出力を測定する工程と、前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と前記リード位置で測定される前記テストトラックの出力との関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする。
また、本発明は、磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効イレーズコア幅の測定方法であって、出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、出力を測定する前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、前記トラックAの出力を測定する工程と、前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAの出力との関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする。
また、本発明は、磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅を同時に測定する方法であって、周波数Aで書き込まれる基準トラックAの出力が最大となるリードの位置を求め、該位置を、出力を測定するリード位置として決定する工程と、出力を測定する前記リード位置をイレーズする工程と、前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、前記リード位置で前記トラックA及びトラックBの出力を測定する工程と、前記イレーズする工程から前記測定する工程までを、前記トラックBのライト位置を変化させながら繰り返し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックAの出力の関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックBの出力の関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする。
本発明によれば、磁気ヘッドの重要な特性である実効ライトコア幅/実効イレーズコア幅の測定を、DTM媒体を使用した場合でも高精度に測定することが可能となり、実効ライトコア幅/実効イレーズコア幅が非常に狭い場合でも、再現性を維持した測定が可能となる。
以下に、本発明にかかる磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。なお、以下に説明する各実施例における測定方法は、磁気ヘッドを磁気ディスク装置に組み込む前に、磁気ディスクヘッド試験装置(ヘッドテスター)等の試験装置を用いて実施することができる。この場合、試験装置(図12に試験装置の一例を示し後述する)に備わる制御手段により、以下に説明するイレーズ/ライト/リードの際の磁気ヘッドの位置制御および測定がなされる。
[実施例1]
(実効ライトコア幅の測定方法I)
はじめに、本発明にかかる実効ライトコア幅の測定方法の第1の実施例について説明する。図5に、本実施例における実効ライトコア幅の測定方法のフローチャートを、図6に、出力の測定結果を含めて測定方法を示す。以下では、図5および図6に対応する形で、測定の流れを説明する。なお、以下の測定方法で出力をリードする位置は全て特定の1箇所であるが、その位置を中心として考える。
(実効ライトコア幅の測定方法I)
はじめに、本発明にかかる実効ライトコア幅の測定方法の第1の実施例について説明する。図5に、本実施例における実効ライトコア幅の測定方法のフローチャートを、図6に、出力の測定結果を含めて測定方法を示す。以下では、図5および図6に対応する形で、測定の流れを説明する。なお、以下の測定方法で出力をリードする位置は全て特定の1箇所であるが、その位置を中心として考える。
まず、磁気ヘッドを中心位置(出力をリードする位置の中心、すなわちリード位置)へ移動させその位置でイレーズを行い、不要なデータを消去する(ステップS501)。通常、面内記録ではDCイレーズ、垂直記録では高周波のACイレーズが用いられる。
次に、磁気ヘッド(ライト素子)をライト位置まで移動した後ライトを行う(ステップS502)。
次に、磁気ヘッド(リード素子)を中心位置(リード位置)に戻して、ステップS502でライトしたテストトラックの出力をリードすることにより測定する(ステップS503)。
以上を、テストトラックのライト位置をリード位置の中心から十分離れた位置から順次に、リード位置を通過して反対側の位置へとオフセットさせるよう変化させながら(ステップS505)、この所定のオフセットが終了するまで繰り返す(ステップS501〜S505)。一連の測定が終了すると実効ライトコア幅を計算する(ステップS506)。
ところで、以上のようにして書き込まれたテストトラックの位置がリード位置の中心から十分に離れている場合(図6のAの位置)、リードの際、リード位置でのテストトラックの出力はほぼ0となる。その位置からライト位置をリード位置の中心に近づけると(図6のB)、出力をリードする範囲にテストトラックが書かれるため、一定の出力が測定される。出力をリードする範囲全てにテストトラックが書かれると(図6のC)、出力値は最大値を示す(この出力を100%で示している)。さらに同じ方向にライト位置をシフトしていくと(図6のD,E)、出力は再び減少傾向となり、最終的には再び0となる。
ここで実効ライトコア幅をW、リードコア幅をRとして、プロファイルの半値幅を考えると、台形のプロファイルの底辺の長さが(W+R)、上辺の長さが(W−R)となるので、プロファイルの半値幅は{(W+R)+(W−R)}/2=Wとなり、プロファイルの半値幅から実効ライトコア幅Wが求められる。
ここで、DTM媒体での同様の測定を行った場合を考える。磁性部分の幅をTとし、T>Rの場合、上記のプロファイルの半値幅を求める式がそのまま成り立つ。T<Rの場合も、上記式でのRがTに置き換わるだけなので、プロファイルの半値幅がそのまま実効ライトコア幅(W)となる。本実施例では、連続媒体かDTM媒体かに関わらず、磁気ヘッドの実効ライトコア幅の測定が可能である。
[実施例2]
(実効ライトコア幅の測定方法II)
上述した実施例1の測定方法と従来の測定方法を比較すると、実施例1ではイレーズ回数およびライト回数が多いため、従来の測定方法よりも測定時間が増加する欠点がある。これを改善した測定方法が本実施例である。この測定方法の概要は実施例1の図5に示したフローと同様であるが、詳細が異なっている。本実施例における、出力の測定結果を含む測定方法を図7に示し、以下では、図5および図7に対応する形で、測定の流れを説明する。なお、以下の測定で出力をリードする位置は全て特定の1箇所であるが、その位置を中心として考える。
(実効ライトコア幅の測定方法II)
上述した実施例1の測定方法と従来の測定方法を比較すると、実施例1ではイレーズ回数およびライト回数が多いため、従来の測定方法よりも測定時間が増加する欠点がある。これを改善した測定方法が本実施例である。この測定方法の概要は実施例1の図5に示したフローと同様であるが、詳細が異なっている。本実施例における、出力の測定結果を含む測定方法を図7に示し、以下では、図5および図7に対応する形で、測定の流れを説明する。なお、以下の測定で出力をリードする位置は全て特定の1箇所であるが、その位置を中心として考える。
まず、磁気ヘッドを中心位置(出力をリードする位置の中心)へ移動させその位置でイレーズを行い、不要なデータを消去する(ステップS501)。通常、面内記録ではDCイレーズ、垂直記録では高周波のACイレーズが用いられる。
次に、磁気ヘッド(ライト素子)をライト位置まで移動した後ライトを行う(ステップS502)。本実施例では、最初のライトはその中心位置がリードの中心位置に重なるように設定する。
次いで、磁気ヘッド(リード素子)をリード位置である中心位置に戻して、ステップS502でライトしたテストトラックの出力をリードする(測定する)。必然的にそのときの出力は最大値=ピーク出力となる。
引き続き同様にイレーズ、オフセット後のライト、および中心位置(リード位置)でのリードを所定のオフセットが終了するまで繰り返す(ステップS501〜S505)。ただし、ライト位置のオフセットは、リード位置である中心位置から徐々に両側に(+/−方向に)交互に離れていく方向に設定するようにする。リード位置でのテストトラック出力は最初はピーク出力を示すが、その後に低下し始めるので、本実施例では、出力がピーク出力の半分以下になった時点(この時点を、所定のオフセットが終了した、と判定する)で一連の測定を終了する。
本実施例では、実施例1と同様に、プロファイルの半値幅を求める式を用いて、半値幅=実効ライトコア幅を計算する(ステップS506)。本実施例は上記のように、ライト位置をオフセットする範囲が狭いため、トータルの測定時間は実施例1と比較して短縮される。
[実施例3]
(実効イレーズコア幅の測定方法)
図8に、本実施例の実効イレーズコア幅の測定方法のフローチャートを、図9にその(出力の)測定結果を含めて測定方法を示す。以下では、図8および図9に対応する形で、測定の流れを説明する。
(実効イレーズコア幅の測定方法)
図8に、本実施例の実効イレーズコア幅の測定方法のフローチャートを、図9にその(出力の)測定結果を含めて測定方法を示す。以下では、図8および図9に対応する形で、測定の流れを説明する。
はじめに、初期測定として、初期トラック(周波数Aで記録)に対して、出力が最大となるリードの位置を決定し、これを中心位置とする(ステップS801)。以下の測定で出力をリードする位置は、全てこの中心位置となる。この中心位置の測定方法としては、従来の実効ライトコア幅の測定方法で示したオフトラックプロファイルを利用できる。またDTM媒体においても同様の方法で中心位置を決定できる。
次に、磁気ヘッドを上記中心位置に移動させこの中心位置でイレーズを行い、不要なデータを消去する(ステップS802)。通常、面内記録ではDCイレーズ、垂直記録では高周波のACイレーズが用いられる。
次いで、磁気ヘッド(ライト素子)を中心位置に移動させ、この中心位置に周波数Aで初期トラックをライトする(ステップS803)。その後、ライト位置をリード位置の中心から十分離れた位置にオフセットさせて周波数Bでテストトラックをライトする(ステップS804)。その上で磁気ヘッド(リード素子)を中心位置に戻して、周波数Aでライトされた初期トラックの出力をリードすることにより測定する。以上のイレーズから測定までの工程(ステップS802〜S807)を、リード位置の中心から十分離れた最初のライト位置から順次に、リード位置を通過して反対側の位置へと周波数Bでのライト位置を変化させながら、この所定のオフセットが終了するまで繰り返す。
周波数Bでのライト位置が中心位置から十分に離れている場合(図9のA)、リード位置である中心位置では周波数Aの記録データをそのまま測定することになるため、その出力(周波数A)はほぼピーク値を示している(この出力を100%で示している)。そこから周波数Bでのライト位置を中心位置に近づけると(図9のB)、出力をリードする範囲に周波数Bでライトしたテストトラックが影響を及ぼす(この時、通常は書き込みトラックの幅以上に影響を及ぼす)。その結果、中心位置での周波数Aの出力はピーク値から減少する。さらに周波数Bでのライト位置を中心位置に近づけ、リードする範囲を完全にカバーすると(図9のC)、中心位置での周波数Aの出力はほぼ0となる。さらに同じ方向に周波数Bでのライト位置をシフトしていくと(図9のD,E)、出力は再び増加傾向となり、最終的には再び100%となる。
ここで実効イレーズコア幅をE、リードコア幅をRとして、プロファイルの半値幅を考えると、逆台形のプロファイルの底辺の長さが(E−R)、上辺の長さが(E+R)となるので、半値幅は{(E+R)+(E−R)}/2=Eとなり、実効イレーズコア幅が求められる。
ここで、DTM媒体での同様の測定を行った場合を考える。磁性部分の幅をTとし、T>Rの場合、上記の実効イレーズコア幅を求める式がそのまま成り立つ。T<Rの場合も、上記式でのRがTに置き換わるだけなので、プロファイルの半値幅がそのまま実効イレーズコア幅(E)となる。本実施例では、連続媒体かDTM媒体かに関わらず、ヘッドの実効イレーズコア幅の測定が可能である。
[実施例3の変形例]
上記実施例3では、ライト位置のオフセットを実施例1と同様に、リード位置の中心から十分離れた最初のライト位置から順次に、リード位置を通過して反対側の位置へと変化させているが、実施例2のように、オフセットさせる構成とすることもできる。すなわち、ライト位置を、リード位置である中心位置から徐々に両側に(+/−方向に)交互に離れていく方向に設定するようにする。この場合、中心位置での出力は最初は0を示すが、その後に上昇し始め最終的にピークとなるので、本変形例では、中心位置での出力がピーク出力(このピーク値は最初の中心位置決定の際得られる)の半分まで回復した時点(この時点を、所定のオフセットが終了した、と判定する)で一連の測定を終了する。
上記実施例3では、ライト位置のオフセットを実施例1と同様に、リード位置の中心から十分離れた最初のライト位置から順次に、リード位置を通過して反対側の位置へと変化させているが、実施例2のように、オフセットさせる構成とすることもできる。すなわち、ライト位置を、リード位置である中心位置から徐々に両側に(+/−方向に)交互に離れていく方向に設定するようにする。この場合、中心位置での出力は最初は0を示すが、その後に上昇し始め最終的にピークとなるので、本変形例では、中心位置での出力がピーク出力(このピーク値は最初の中心位置決定の際得られる)の半分まで回復した時点(この時点を、所定のオフセットが終了した、と判定する)で一連の測定を終了する。
本変形例では、上記実施例3と同様に、プロファイルの半値幅を求める式を用いて、半値幅=実効イレーズコア幅を計算する(ステップS808)。本変形例は前述の実施例2のようにライト位置をオフセットする範囲が狭いため、トータルの測定時間は実施例3と比較して短縮される。
[実施例4]
(実効ライトコア幅及び実効イレーズコア幅の同時測定方法)
上述した実施例1および実施例3は、実効ライトコア幅、実効イレーズコア幅の測定を単独に行うものであるが、実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定を同時に行えるようにしたのが本実施例である。図10に、本実施例の実効ライトコア幅及び実効イレーズコア幅の同時測定方法のフローチャートを、図11に、出力の測定結果を含めて測定方法を示す。以下では、図10および図11に対応する形で、測定の流れを説明する。
(実効ライトコア幅及び実効イレーズコア幅の同時測定方法)
上述した実施例1および実施例3は、実効ライトコア幅、実効イレーズコア幅の測定を単独に行うものであるが、実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定を同時に行えるようにしたのが本実施例である。図10に、本実施例の実効ライトコア幅及び実効イレーズコア幅の同時測定方法のフローチャートを、図11に、出力の測定結果を含めて測定方法を示す。以下では、図10および図11に対応する形で、測定の流れを説明する。
はじめに、初期測定として、初期トラック(周波数Aで記録)に対して、出力が最大となるリードの位置を決定し、これを中心位置とする(ステップS1001)。以下の測定で出力をリードする位置は、全てこの中心位置となる。この中心位置の測定方法としては、従来の実効ライトコア幅の測定方法で示したオフトラックプロファイルを利用できる。またDTM媒体においても同様の方法で中心位置を決定できる。
次に、磁気ヘッドを上記中心位置に移動させこの中心位置でイレーズを行い、不要なデータを消去する(ステップS1002)。通常、面内記録ではDCイレーズ、垂直記録では高周波のACイレーズが用いられる。
次いで、磁気ヘッド(ライト素子)を中心位置に移動させ、この中心位置に周波数Aで初期トラックをライトする(ステップS1003)。その後、ライト位置をリード位置の中心から十分離れた位置にオフセットさせて周波数Bでテストトラックをライトする(ステップS1004)。その上で磁気ヘッド(リード素子)を中心位置に戻して、周波数Aでライトされた初期トラックの出力をリードすることにより測定する。以上のイレーズから測定までの工程(ステップS1002〜S1007)を、リード位置の中心から十分離れた最初のライト位置から順次に、リード位置を通過して反対側の位置へと周波数Bでのライト位置を変化させながら、この所定のオフセットが終了するまで繰り返す。一連の測定が終了すると実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅を計算する(ステップS1008)。
周波数Bでのライト位置が中心位置から十分に離れている場合(図11のA,a)、リード位置である中心位置では周波数Aの記録データをそのまま測定することになるため、その出力(周波数A)はほぼピーク値を示している(この出力を100%で示している)。一方、周波数Bの出力は0である。そこから周波数Bでのライト位置を中心位置に近づけると(図11のB,b)、出力をリードする範囲に周波数Bでライトしたテストトラックが影響を及ぼす(この時、通常は書き込みトラックの幅以上に影響を及ぼす)。その結果、中心位置での周波数Aの出力はピーク値から減少し、周波数Bの出力は増加する。さらに周波数Bでのライト位置を中心位置に近づけ、リードする範囲を完全にカバーすると(図11のC,c)、中心位置での周波数Aの出力はほぼ0となる。一方、周波数Bの出力は周波数Bの記録データをそのまま測定することになるため、その出力(周波数B)はほぼピーク値(100%)を示している。さらに同じ方向に周波数Bでのライト位置をシフトしていくと(図11のD,d,E,e)、周波数Aの出力は再び増加傾向となり、出力は最終的には再び100%となる。一方、周波数Bの出力は再び減少傾向となり、出力は最終的には再び0となる。
実施例1でも説明したように、ここで実効ライトコア幅をW、リードコア幅をRとして、プロファイルの半値幅を考えると、台形のプロファイルの底辺の長さが(W+R)、上辺の長さが(W−R)となるので、プロファイルの半値幅は{(W+R)+(W−R)}/2=Wとなり、プロファイルの半値幅から実効ライトコア幅Wが求められる。また、実施例3でも説明したように、実効イレーズコア幅をE、リードコア幅をRとして、プロファイルの半値幅を考えると、逆台形のプロファイルの底辺の長さが(E−R)、上辺の長さが(E+R)となるので、半値幅は{(E+R)+(E−R)}/2=Eとなり、実効イレーズコア幅が求められる。
ここで、DTM媒体での同様の測定を行った場合を考える。磁性部分の幅をTとし、T>Rの場合、上記の実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅を求める式がそのまま成り立つ。T<Rの場合も、上記式でのRがTに置き換わるだけなので、図11中一点鎖線で示されるプロファイルの半値幅がそのまま実効ライトコア幅(W)となる。また、同図中、破線で示されるプロファイルの半値幅がそのまま実効イレーズコア幅(E)となる。本実施例では、連続媒体かDTM媒体かに関わらず、ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の同時測定が可能である。
[実施例4の変形例]
上記実施例4では、ライト位置のオフセットを実施例1または実施例3と同様に、リード位置の中心から十分離れた最初のライト位置から順次に、リード位置を通過して反対側の位置へと変化させているが、実施例2のように、オフセットさせる構成とすることもできる。すなわち、ライト位置を、リード位置である中心位置から徐々に両側に(+/−方向に)交互に離れていく方向に設定するようにする。この場合、リード位置での出力(周波数B)は最初はピーク出力を示すが、その後に低下し始めるので、本変形例では、出力がピーク出力の半分以下になった時点を、実効ライトコア幅の測定に関して所定のオフセットが終了したと判定する。一方、中心位置での出力(周波数A)は最初は0を示すが、その後に上昇し始め最終的にピークとなるので、本変形例では、中心位置での出力(周波数A))がピーク出力(このピーク値は最初の中心位置決定の際得られる)の半分まで回復した時点を、実効イレーズコア幅の測定に関して所定のオフセットが終了したと判定する。そして、実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定の両方について所定のオフセットが完了した時点で一連の測定を終了する。
上記実施例4では、ライト位置のオフセットを実施例1または実施例3と同様に、リード位置の中心から十分離れた最初のライト位置から順次に、リード位置を通過して反対側の位置へと変化させているが、実施例2のように、オフセットさせる構成とすることもできる。すなわち、ライト位置を、リード位置である中心位置から徐々に両側に(+/−方向に)交互に離れていく方向に設定するようにする。この場合、リード位置での出力(周波数B)は最初はピーク出力を示すが、その後に低下し始めるので、本変形例では、出力がピーク出力の半分以下になった時点を、実効ライトコア幅の測定に関して所定のオフセットが終了したと判定する。一方、中心位置での出力(周波数A)は最初は0を示すが、その後に上昇し始め最終的にピークとなるので、本変形例では、中心位置での出力(周波数A))がピーク出力(このピーク値は最初の中心位置決定の際得られる)の半分まで回復した時点を、実効イレーズコア幅の測定に関して所定のオフセットが終了したと判定する。そして、実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定の両方について所定のオフセットが完了した時点で一連の測定を終了する。
本変形例では、上記実施例3と同様に、プロファイルの半値幅を求める式を用いて、実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅を計算する。本変形例は前述の実施例2のようにライト位置をオフセットする範囲が狭いため、トータルの測定時間は実施例4と比較して短縮される。
[その他の実施例]
上記各実施例では、リード位置である中心位置で測定される出力(出力レベル)を基に、実効ライトコア幅または実効イレーズコア幅の測定を行っている。別法として、出力に代えて、中心位置での測定の際取得できるS/N比、エラーレート、VMM(ビタビ・メトリック・マージン)等の特性を用いて、上記各実施例と同様の手法で、実効ライトコア幅または実効イレーズコア幅を測定することもできる。なお、エラーレート、VMM(ビタビ・メトリック・マージン)を用いる場合は、例えばその逆数の値を用いそのピーク値を100%とする。
上記各実施例では、リード位置である中心位置で測定される出力(出力レベル)を基に、実効ライトコア幅または実効イレーズコア幅の測定を行っている。別法として、出力に代えて、中心位置での測定の際取得できるS/N比、エラーレート、VMM(ビタビ・メトリック・マージン)等の特性を用いて、上記各実施例と同様の手法で、実効ライトコア幅または実効イレーズコア幅を測定することもできる。なお、エラーレート、VMM(ビタビ・メトリック・マージン)を用いる場合は、例えばその逆数の値を用いそのピーク値を100%とする。
(試験装置の一実施例)
図12に、上記各測定方法を実行できる試験装置の一実施例を示す。試験装置としては、ハードディスク装置のヘッドとディスクの自由な組合せを行なって記録・再生試験をできるようにしたスピンスタンドと呼ばれる装置等を利用することができる。
図12に、上記各測定方法を実行できる試験装置の一実施例を示す。試験装置としては、ハードディスク装置のヘッドとディスクの自由な組合せを行なって記録・再生試験をできるようにしたスピンスタンドと呼ばれる装置等を利用することができる。
図12に示すように、磁気ヘッド2はシークを含むポジショニングを行なうためのポジショナ4に搭載される。そして、リード/ライトの際には、スピンドルモータ5に取り付けられた磁気ディスク媒体1に対し、例えば、書込ヘッドとGMR素子を用いた読取ヘッドを組み込んだヘッド素子を取り付けた磁気ヘッド2を浮上させ、この磁気ヘッド2をリード位置/ライト位置に移動させてリード/ライトを行う。コントローラ6はスピンドルモータ5やポジショナ4の駆動制御用のドライバ回路、コンバータ、電源装置等から成っている。また、磁気ヘッド2は、信号処理を行なうためのヘッドアンプ3、R/Wチャネル7に接続され、さらに、CPU(図示せず)を内蔵した制御装置8に接続されている。メモリ9には、試験装置に用いる各種プログラムやデータ処理のための一時記憶領域を有する。
このような構成において、制御手段としてのコントローラ6および制御装置8によって、イレーズ/ライト/リードの際の磁気ヘッドの位置制御および測定がなされる。測定結果は、図示しない表示装置に表示することができ、また本試験装置に接続されるホストコンピュータ(図示せず)により管理することができる。また、実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の算出は、試験装置側で行っても、ホストコンピュータが、試験装置により磁気ディスク媒体1からリードしたデータを取得して、ホストコンピュータ側で算出するようにしてもよい。
以上の各実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅の測定方法であって、
出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
テストトラックを書き込む工程と、
前記リード位置で前記テストトラックの出力を測定する工程と、
前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と前記リード位置で測定される前記テストトラックの出力との関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅の測定方法。
出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
テストトラックを書き込む工程と、
前記リード位置で前記テストトラックの出力を測定する工程と、
前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と前記リード位置で測定される前記テストトラックの出力との関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅の測定方法。
(付記2)最初に前記テストトラックのライト位置の中心を前記リード位置の中心とほぼ重なるように設定し、その後のライト位置を前記リード位置の中心から+/−方向に交互に離れていくようにオフセットし、測定された前記出力がピークの半分以下になった時点で測定を終了することを特徴とする付記1に記載の実効ライトコア幅の測定方法。
(付記3)磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効イレーズコア幅の測定方法であって、
出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
出力を測定する前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記トラックAの出力を測定する工程と、
前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAの出力との関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効イレーズコア幅の測定方法。
出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
出力を測定する前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記トラックAの出力を測定する工程と、
前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAの出力との関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効イレーズコア幅の測定方法。
(付記4)最初に前記トラックBのライト位置の中心を前記リード位置の中心とほぼ重なるように設定し、その後のライト位置を前記リード位置の中心から+/−方向に交互に離れていくようにオフセットし、前記トラックAの出力がピークの半分まで回復した時点で測定を終了することを特徴とする付記3に記載の実効イレーズコア幅の測定方法。
(付記5)磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅を同時に測定する方法であって、
周波数Aで書き込まれる基準トラックAの出力が最大となるリードの位置を求め、該位置を、出力を測定するリード位置として決定する工程と、
出力を測定する前記リード位置をイレーズする工程と、
前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記リード位置で前記トラックA及びトラックBの出力を測定する工程と、
前記イレーズする工程から前記測定する工程までを、前記トラックBのライト位置を変化させながら繰り返し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックAの出力の関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックBの出力の関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法。
周波数Aで書き込まれる基準トラックAの出力が最大となるリードの位置を求め、該位置を、出力を測定するリード位置として決定する工程と、
出力を測定する前記リード位置をイレーズする工程と、
前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記リード位置で前記トラックA及びトラックBの出力を測定する工程と、
前記イレーズする工程から前記測定する工程までを、前記トラックBのライト位置を変化させながら繰り返し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックAの出力の関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックBの出力の関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法。
(付記6)最初に前記トラックBのライト位置の中心を前記リード位置の中心とほぼ重なるように設定し、その後のトラックBのライト位置を前記リード位置の中心から+/−方向に交互に離れていくようにオフセットし、トラックAの出力がピークの半分以上まで回復し、トラックBの出力がピークの半分以下まで下がった時点で測定を終了することを特徴とする付記5に記載の実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法。
(付記7)S/N比を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
テストトラックを書き込む工程と、
前記リード位置で前記テストトラックのS/N比を測定する工程と、
前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と測定される前記テストトラックのS/N比の関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅の測定方法。
テストトラックを書き込む工程と、
前記リード位置で前記テストトラックのS/N比を測定する工程と、
前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と測定される前記テストトラックのS/N比の関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅の測定方法。
(付記8)エラーレートまたはVMM(ビタビ・メトリック・マージン)を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
テストトラックを書き込む工程と、
前記リード位置で前記テストトラックからの出力のエラーレートまたはVMMを測定する工程と、
前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と測定される前記テストトラックからの出力のエラーレートあるいはVMMの関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅の測定方法。
テストトラックを書き込む工程と、
前記リード位置で前記テストトラックからの出力のエラーレートまたはVMMを測定する工程と、
前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と測定される前記テストトラックからの出力のエラーレートあるいはVMMの関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅の測定方法。
(付記9)S/N比を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
S/N比を測定する前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記トラックAからの出力のS/N比を測定する工程と、
前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAからの出力のS/N比の関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効イレーズコア幅の測定方法。
S/N比を測定する前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記トラックAからの出力のS/N比を測定する工程と、
前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAからの出力のS/N比の関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効イレーズコア幅の測定方法。
(付記10)エラーレートまたはVMM(ビタビ・メトリック・マージン)を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記トラックAからの出力のエラーレートまたはVMMを測定する工程と、
前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAからの出力のエラーレートまたはVMMの関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効イレーズコア幅の測定方法。
前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記トラックAからの出力のエラーレートまたはVMMを測定する工程と、
前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAからの出力のエラーレートまたはVMMの関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効イレーズコア幅の測定方法。
1…磁気ディスク媒体
2…磁気ヘッド
3…ヘッドアンプ
4…ポジショナ
5…スピンドルモータ
6…コントローラ
7…R/Wチャネル
8…制御装置
9…メモリ
2…磁気ヘッド
3…ヘッドアンプ
4…ポジショナ
5…スピンドルモータ
6…コントローラ
7…R/Wチャネル
8…制御装置
9…メモリ
Claims (6)
- 磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅の測定方法であって、
出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
テストトラックを書き込む工程と、
前記リード位置で前記テストトラックの出力を測定する工程と、
前記3工程を、前記テストラックのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られるライト位置と前記リード位置で測定される前記テストトラックの出力との関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅の測定方法。 - 最初に前記テストトラックのライト位置の中心を前記リード位置の中心とほぼ重なるように設定し、その後のライト位置を前記リード位置の中心から+/−方向に交互に離れていくようにオフセットし、測定された前記出力がピークの半分以下になった時点で測定を終了することを特徴とする請求項1に記載の実効ライトコア幅の測定方法。
- 磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効イレーズコア幅の測定方法であって、
出力を測定する特定のリード位置をイレーズする工程と、
出力を測定する前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記トラックAの出力を測定する工程と、
前記4工程を、前記トラックBを書き込む工程でのトラックBのライト位置を変化させながら繰り返すことにより得られる前記トラックBのライト位置と測定される前記トラックAの出力との関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効イレーズコア幅の測定方法。 - 最初に前記トラックBのライト位置の中心を前記リード位置の中心とほぼ重なるように設定し、その後のライト位置を前記リード位置の中心から+/−方向に交互に離れていくようにオフセットし、前記トラックAの出力がピークの半分まで回復した時点で測定を終了することを特徴とする請求項3に記載の実効イレーズコア幅の測定方法。
- 磁気ディスク媒体に対する磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅を同時に測定する方法であって、
周波数Aで書き込まれる基準トラックAの出力が最大となるリードの位置を求め、該位置を、出力を測定するリード位置として決定する工程と、
出力を測定する前記リード位置をイレーズする工程と、
前記リード位置に周波数AでトラックAを書き込む工程と、
周波数Aと異なる周波数BでトラックBを書き込む工程と、
前記リード位置で前記トラックA及びトラックBの出力を測定する工程と、
前記イレーズする工程から前記測定する工程までを、前記トラックBのライト位置を変化させながら繰り返し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックAの出力の関係に基づいて、実効イレーズコア幅を算出し、前記トラックBのライト位置と前記リード位置で測定される前記トラックBの出力の関係に基づいて、実効ライトコア幅を算出する工程とを含むことを特徴とする実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法。 - 最初に前記トラックBのライト位置の中心を前記リード位置の中心とほぼ重なるように設定し、その後のトラックBのライト位置を前記リード位置の中心から+/−方向に交互に離れていくようにオフセットし、トラックAの出力がピークの半分以上まで回復し、トラックBの出力がピークの半分以下まで下がった時点で測定を終了することを特徴とする請求項5に記載の実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009152965A JP2011008882A (ja) | 2009-06-26 | 2009-06-26 | 磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009152965A JP2011008882A (ja) | 2009-06-26 | 2009-06-26 | 磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011008882A true JP2011008882A (ja) | 2011-01-13 |
Family
ID=43565338
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009152965A Pending JP2011008882A (ja) | 2009-06-26 | 2009-06-26 | 磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011008882A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104573590A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-04-29 | 福建联迪商用设备有限公司 | 一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置 |
US10211342B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-02-19 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Thin film transistor and fabrication method thereof, array substrate, and display panel |
-
2009
- 2009-06-26 JP JP2009152965A patent/JP2011008882A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104573590A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-04-29 | 福建联迪商用设备有限公司 | 一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置 |
US10211342B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-02-19 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Thin film transistor and fabrication method thereof, array substrate, and display panel |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7529050B2 (en) | Track width measurement for magnetic recording heads | |
US7843658B2 (en) | Method for measuring magnetic write width in discrete track recording | |
US20060098318A1 (en) | System and method for determining long-range erasure of adjacent tracks in hard disk drive | |
US8837065B1 (en) | Systems and methods for fast measurement of channel performance metrics such as error margin and off-track recording capability in shingled magnetic recording | |
US8908312B2 (en) | Dynamic fly height control that is insensitive to off-track motion | |
US7411754B2 (en) | System and method for measuring readback signal amplitude asymmetry in a perpendicular magnetic recording disk drive | |
JP3909044B2 (ja) | 磁気ヘッドの磁気記録幅測定方法およびその装置 | |
JP2011008882A (ja) | 磁気ヘッドの実効ライトコア幅および実効イレーズコア幅の測定方法 | |
US20090002860A1 (en) | Storage apparatus and control apparatus thereof, and head vibration measurement method | |
KR101068191B1 (ko) | 자기 디스크 장치의 시험 방법 및 시험 장치 | |
JP4961408B2 (ja) | サーボ情報書込み方法及びこれを用いる磁気ヘッド検査装置 | |
US7663829B2 (en) | Performance test method of head gimbal assembly with precise positioning micro-actuator | |
US6853511B2 (en) | Average position error measurement in a data storage device | |
JP5433260B2 (ja) | 複合磁気ヘッドの書込幅及び/又は読出幅の測定方法および測定装置 | |
US7957087B2 (en) | Servo write method and servo write system for hard-disk drive | |
JP4484169B2 (ja) | 記憶装置、記憶装置制御方法 | |
KR100688506B1 (ko) | 셀프 서보 기록 방법, 이에 적합한 하드디스크 드라이브,그리고 기록 매체 | |
JPH03203071A (ja) | 磁気ディスク装置におけるサーボ信号書き込み方法およびサーボディスク媒体 | |
Li et al. | Adjacent track encroachment analysis at high track density | |
US6912098B2 (en) | Method for dynamically measuring suspension in-plane and out-plane thermal drift hard disk drives | |
KR100640606B1 (ko) | 하드디스크 드라이브의 서보 정보 검사 방법 그리고 이에적합한 기록 매체 | |
JP2007087450A (ja) | 磁気ディスク媒体のオーバーライト特性の測定方法 | |
US20100123963A1 (en) | Magnetic storage apparatus, head test method, and head test apparatus | |
US7489467B2 (en) | Method for measuring track width of hard disk drive | |
KR20050112779A (ko) | 서보 타이밍 제어 방법 및 이를 이용한 디스크 드라이브 |