CN104459427A - 双vga接口自动测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种双VGA接口自动测试装置,其包括切换模块及控制模块。切换模块包括RGB信号单元、扫描及控制信号单元及地址信号单元。RGB信号单元包括第一组、第二组RGB信号输入端及一组RBG信号输出端。扫描及控制信号单元包括第一组、第二组扫描及控制信号输入端及一组扫描及控制信号输出端。地址信号单元包括第一组、第二组地址信号输入端及一组地址信号输出端。控制模块分别与RGB信号单元、扫描及控制信号单元及地址信号单元相连接。通过设置两组输入端及一组输出端,并控制两组输入端分别与输出端相连接,从而仅需在输出端安装一个显示器就可实现对与两组输入端分别相连接的两个VGA接口的测试。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置,特别涉及一种双视频图形阵列(video graphics array, VGA)接口自动测试装置。
背景技术
现在越来越多的电子产品上设置有两个VGA接口。为保证质量,需对两个VGA接口进行测试,测试时,需要提供两个显示器,并分别与两个VGA接口连接,以判断数字视频是否能从两个VGA接口分别传输到对应显示器。由于每个VGA接口都需要一台显示器,设备成本高。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种能降低成本的双VGA接口自动测试装置。
一种双VGA接口自动测试装置,其包括一切换模块及一控制模块。所述切换模块包括一RGB信号单元、一扫描及控制信号单元及一地址信号单元。所述RGB信号单元包括一第一组RGB信号输入端、一第二组RGB信号输入端及一组RBG信号输出端。所述扫描及控制信号单元包括一第一组扫描及控制信号输入端、一第二组扫描及控制信号输入端及一组扫描及控制信号信号输出端。所述地址信号单元包括一第一组地址信号输入端、一第二组地址信号输入端及一组地址信号输出端。所述控制模块分别与所述RGB信号单元、所述扫描及控制信号单元及所述地址信号单元相连接。当所述控制模块输出第一信号时,所述第一组RGB信号输入端与所述RBG信号输出端、所述第一组扫描及控制信号输入端与所述扫描及控制信号输出端、所述第一组地址信号输入端与所述地址信号输出端连接。当所述控制模块输出第二信号时,所述第二组RGB信号输入端与所述RBG信号输出端、所述第二组扫描及控制信号输入端与所述扫描及控制信号信号输出端、所述第二组地址信号输入端与所述地址信号输出端连接。
本发明提供的双VGA接口自动测试装置通过设置两组输入端及一组输出端,并控制两组输入端分别与输出端相连接,从而仅需在输出端连接一个显示器就可实现对与两组输入端分别相连接的两个VGA接口的测试。
附图说明
图1是本发明实施方式提供的双VGA接口自动测试装置的功能模块示意图。
图2-4是图1中的双VGA接口自动测试装置的电路图。
主要元件符号说明
双VGA接口自动测试装置 | 100 |
主板 | 200 |
VGA测试接口 | 201 |
显示器 | 300 |
VGA输入接口 | 301 |
切换模块 | 10 |
RGB信号单元 | 11 |
第一组RGB信号输入端 | 111 |
第二组RGB信号输入端 | 112 |
RBG信号输出端 | 113 |
第一控制端 | 114 |
扫描及控制信号单元 | 12 |
第一组扫描及控制信号输入端 | 121 |
第二组扫描及控制信号输入端 | 122 |
扫描及控制信号输出端 | 123 |
第二控制端 | 124 |
地址信号单元 | 13 |
第一组地址信号输入端 | 131 |
第二组地址信号输入端 | 132 |
地址信号输出端 | 133 |
第三控制端 | 134 |
控制模块 | 20 |
切换芯片 | U1、U2、U3 |
引脚 | 1B1、2B1、3B1、4B1、1B2、2B2、3B2、4B2、1A、2A、3A、4A、S |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1-4所示,本发明实施方式提供的一种双VGA接口自动测试装置100,其用于连接安装在一主板200上的两个VGA测试接口201与安装在一显示器300上的VGA输入接口301之间。所述VGA接口是一种D型接口,上面共有15针孔,分成三排,每排五个。所述VGA接口包括3个RGB彩色分量信号端,2个扫描同步信号端,2个地址信号端,2个总线信号端,5个GND信号端。
所述双VGA接口自动测试装置100包括一切换模块10及一与所述切换模块10相连接的控制模块20。
所述切换模块10包括一RGB信号单元11、一扫描及控制信号单元12及一地址信号单元13。
所述RGB信号单元11包括一第一组RGB信号输入端111、一第二组RGB信号输入端112、一组RBG信号输出端113及一第一控制端114。所述RGB信号单元11为一切换芯片U1。所述第一组RGB信号输入端111为所述切换芯片U1的三个引脚1B1、2B1及3B1。所述第二组RGB信号输入端112为所述切换芯片U1的三个引脚1B2、2B2及3B2。所述RBG信号输出端113为所述切换芯片U1的三个引脚1A、2A及3A。所述第一控制端114为所述切换芯片U1的引脚S。所述引脚S输入第一信号(例如,高电平)时,所述引脚1A、2A及3A分别与所述引脚1B1、2B1及3B1相导通;所述引脚S输入第二信号(例如,低电平)时,所述1A、2A及3A分别与所述引脚1B2、2B2及3B2相导通。
所述扫描及控制信号单元12包括一第一组扫描及控制信号输入端121、一第二组扫描及控制信号输入端122、一组扫描及控制信号输出端123及一第二控制端124。所述扫描及控制信号单元12为一切换芯片U2。所述第一组扫描及控制信号输入端121为所述切换芯片U2的四个引脚1B1、2B1、3B1及4B1。所述第二组扫描及控制信号输入端122为所述切换芯片U2的四个引脚1B2、2B2、3B2及4B2。所述扫描及控制信号输出端123为所述切换芯片U2的四个引脚1A、2A、3A及4A。所述第二控制端124为所述切换芯片U2的引脚S。所述引脚S输入第一信号时,所述引脚1A、2A、3A及4A分别与所述引脚1B1、2B1、3B1及4B1相导通;所述引脚S输入第二信号时,所述1A、2A、3A及4A分别与所述引脚1B2、2B2、3B2及4B2相导通。
其中,所述切换芯片U2的引脚1A、2A、1B1、2B1、1B2、2B2用于传输扫描信号,所述切换芯片U2的引脚3A、4A、3B1、4B1、3B2、4B2用于传输控制信号。
所述地址信号单元13包括一第一组地址信号输入端131、一第二组地址信号输入端132、一组地址信号输出端133及一第三控制端134。所述地址信号单元13为一切换芯片U3。所述第一组地址信号输入端131为所述切换芯片U3的两个引脚1B1及2B1。所述第二组地址信号输入端132为所述切换芯片U3的两个引脚1B2及2B2。所述地址信号输出端133为所述切换芯片U3的三个引脚1A及2A。所述第三控制端134为所述切换芯片U3的引脚S。所述引脚S输入第一信号时,所述引脚1A及2A分别与所述引脚1B1及2B1相导通;所述引脚S输入第二信号时,所述1A及2A分别与所述引脚1B2及2B2相导通。
本实施方式中,所述切换芯片U1、U2及U3为相同型号的芯片,并依次排列在一电路板(图未示)上。
本实施方式中,所述切换芯片U1的第一组引脚1B1、2B1及3B1,所述切换芯片U2的第一组引脚1B1、2B1、3B1及4B1及所述切换芯片U3的第一组引脚1B1及2B1与一与所述VGA测试接口201相配合的VGA接头相电性连接。所述切换芯片U1的第二组引脚1B2、2B2及3B2,所述切换芯片U2的第二组引脚1B2、2B2、3B2及4B2及所述切换芯片U3的第二组引脚1B2及2B2与另一个与所述VGA测试接口201相配合的VGA接头相电性连接。
所述控制模块20分别与所述切换芯片U1的引脚S,所述切换芯片U2的引脚S及所述切换芯片U3的引脚S相电性连接。所述控制模块20分别用于向所述切换芯片U1的引脚S,所述切换芯片U2的引脚S及所述切换芯片U3的引脚S输出第一信号或第二信号。本实施方式中,所述控制模块20包括一三极管T1,一开关SW1及一电阻R1。所述三极管T1包括一集电极C1、一发射级E1及一用于控制所述集电极C1和所述发射极E1的通断的基极B1。所述集电极C1通过所述电阻R1与一电源Vcc相连接,所述发射极E1接地,所述基极B1通过所述SW1连接另一电源Vcc。所述集电极C1直接与所述引脚S连接。
在测试前,先将所述两个VGA测试接口201的3个RGB彩色分量信号端分别与所述切换芯片U1的第一组引脚1B1、2B1及3B1和第二组引脚1B2、2B2及3B2相电性连接,所述两个VGA测试接口201的2个扫描同步信号端及2个总线信号端分别与所述切换芯片U2的第一组引脚1B1、2B1、3B1及4B1和第二组引脚1B2、2B2、3B2及4B2相电性连接,所述两个VGA测试接口201的2个地址信号端分别与所述切换芯片U3的第一组引脚1B1及2B1和第二组引脚1B2及2B2相电性连接。所述切换芯片U1的引脚1A、2A及3A,所述切换芯片U2的引脚1A、2A及3A及所述切换芯片U3的引脚1A、2A及3A分别与所述VGA输入接口301的3个RGB彩色分量信号端、2个扫描同步信号端、2个总线信号端及2个地址信号端相电性连接。
在测试过程中,所述控制模块20先分别向三个切换芯片U1、U2、U3的引脚S发出第一信号,使得与切换芯片U1的1B1、2B1及3B1、切换芯片U2的1B1、2B1、3B1及4B1及切换芯片U3的1B1及2B1相连接的VGA测试接口201与所述VGA输入接口301相电性连接,从而实现对该VGA测试接口201的测试。所述控制模块20再分别向三个切换芯片U1、U2、U3的引脚S发出第二信号,使得与切换芯片U1的1B2、2B2及3B2、切换芯片U2的1B2、2B2、3B2及4B2及切换芯片U3的1B2及2B2相连接的VGA测试接口201与所述VGA输入接口301相电性连接,从而实现对该VGA测试接口201的测试。
本发明提供的双VGA接口自动测试装置通过设置两组输入端及一组输出端,并控制两组输入端分别与输出端相连接,从而仅需在输出端安装一个显示器就可实现对与两组输入端分别相连接的两个VGA接口的测试。
可以理解的是,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形,而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (6)
1.一种双VGA接口自动测试装置,其包括一切换模块及一控制模块;所述切换模块包括一RGB信号单元、一扫描及控制信号单元及一地址信号单元;所述RGB信号单元包括一第一组RGB信号输入端、一第二组RGB信号输入端及一组RBG信号输出端;所述扫描及控制信号单元包括一第一组扫描及控制信号输入端、一第二组扫描及控制信号输入端及一组扫描及控制信号信号输出端;所述地址信号单元包括一第一组地址信号输入端、一第二组地址信号输入端及一组地址信号输出端;所述控制模块分别与所述RGB信号单元、所述扫描及控制信号单元及所述地址信号单元相连接;当所述控制模块输出第一信号时,所述第一组RGB信号输入端与所述RBG信号输出端、所述第一组扫描及控制信号输入端与所述扫描及控制信号输出端、所述第一组地址信号输入端与所述地址信号输出端连接;当所述控制模块输出第二信号时,所述第二组RGB信号输入端与所述RBG信号输出端、所述第二组扫描及控制信号输入端与所述扫描及控制信号信号输出端、所述第二组地址信号输入端与所述地址信号输出端连接。
2.如权利要求1所述的双VGA接口自动测试装置,其特征在于:所述RGB信号单元为一切换芯片,所述第一组RGB信号输入端为所述切换芯片的三个引脚,所述第二组RGB信号输入端为所述切换芯片的三个引脚,所述RBG信号输出端为所述切换芯片的三个引脚。
3.如权利要求1所述的双VGA接口自动测试装置,其特征在于:所述扫描及控制信号单元为一切换芯片,所述第一组扫描及控制信号输入端为所述切换芯片的四个引脚,所述第二组扫描及控制信号输入端为所述切换芯片的四个引脚,所述扫描及控制信号输出端为所述切换芯片的四个引脚。
4.如权利要求1所述的双VGA接口自动测试装置,其特征在于:所述地址信号单元为一切换芯片,所述第一组地址信号输入端为所述切换芯片的两个引脚,所述第二组地址信号输入端为所述切换芯片的两个引脚,所述地址信号输出端为所述切换芯片的三个引脚。
5.如权利要求1所述的双VGA接口自动测试装置,其特征在于:所述所述RGB信号单元包括一第一控制端,所述扫描及控制信号单元包括一第二控制端,所述地址信号单元包括一第三控制端,所述第一控制端、所述第二控制端及所述第三控制端分别与所述控制模块相连接。
6.如权利要求1所述的双VGA接口自动测试装置,其特征在于:所述控制模块包括一三极管,一开关及一电阻;所述三极管包括一集电极、一发射级及一用于控制所述集电极和所述发射极的通断的基极;所述集电极通过所述电阻与一电源相连接,所述发射极接地,所述基极通过所述接地;所述集电极直接与所述第一控制端、所述第二控制端及所述第三控制端连接。
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