CN104459220B - 一种测试压头定位机构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试压头定位机构,它包括底座(1)、水平定位柱(2)、测试头定位块(3)、定位螺钉(4)和定位螺钉支撑座(5),测试头定位块(3)放置在底座(1)上,且测试头定位块(3)与底座(1)接触的下表面上开设有方形槽(6),水平定位柱(2)设置在底座(1)的上表面上,且与方形槽(6)滑动配合连接,测试头定位块(3)左右两侧方均设置有一定位螺钉支撑座(5),定位螺钉支撑座(5)内螺纹连接有一定位螺钉(4),定位螺钉支撑座(5)通过螺钉安装在底座(1)的上表面上。本发明的有益效果是:它具有调整位置方便、可避免测试头倾斜和节约生产成本的优点。
Description
技术领域
本发明涉及定位机构,特别是一种测试压头定位机构。
背景技术
晶片上具有多个触点,在测试时,需要触头与触点相接触,但是现有的测试装置中,测试头经过多次使用后,易出现磨损,导致测试到在移动过程中容易出现歪斜,从而使测试头下压产品时不能垂直向下,导致触头与晶片上的待测触点接触不到位,影响产品测试的准确性,严重的还会导致刮坏触点,导致产品报废,提高生产成本。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点,提供一种调整位置方便、可避免测试头倾斜和节约生产成本的测试压头定位机构。
本发明的目的通过以下技术方案来实现:一种测试压头定位机构,它包括底座、水平定位柱、测试头定位块、定位螺钉和定位螺钉支撑座,所述的测试头定位块放置在底座上,且测试头定位块与底座接触的下表面上开设有方形槽,所述的水平定位柱设置在底座的上表面上,且与方形槽滑动配合连接,所述的测试头定位块左右两侧方均设置有一定位螺钉支撑座,定位螺钉支撑座内螺纹连接有一定位螺钉,定位螺钉支撑座通过螺钉安装在底座的上表面上。
所述的测试头定位块下表面的方形槽为两道。
所述的水平定位柱为四个,且每一个方形槽内滑动配合的水平定位柱为两个。
本发明具有以下优点:本发明的定位机构,通过定位螺钉调节测试头定位块的位置,而且设置有水平定位柱,使测试头定位块水平平行移动,从而避免了测试头倾斜时测试不准和测试不到位所造成的产品报废,因而它具有调整位置方便、可避免测试头倾斜和节约生产成本的优点。
附图说明
图1 为本发明的结构示意图;
图2 为本发明的左视示意图图;
图3 为图1中A-A的剖视示意图;
图中,1-底座,2-水平定位柱,3-测试头定位块,4-定位螺钉,5-定位螺钉支撑座,6-方形槽。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的描述,本发明的保护范围不局限于以下所述:
如图1和图2所示,一种测试压头定位机构,它包括底座1、水平定位柱2、测试头定位块3、定位螺钉4和定位螺钉支撑座5,所述的测试头定位块3放置在底座1上,且测试头定位块3与底座1接触的下表面上开设有方形槽6,所述的水平定位柱2设置在底座1的上表面上,且与方形槽6滑动配合连接,所述的测试头定位块3左右两侧方均设置有一定位螺钉支撑座5,定位螺钉支撑座5内螺纹连接有一定位螺钉4,定位螺钉支撑座5通过螺钉安装在底座1的上表面上。
如图3所示,在本实施例中,所述的测试头定位块3下表面的方形槽6为两道,水平定位柱2为四个,且每一个方形槽6内滑动配合的水平定位柱2为两个。
本发明的工作过程如下:通过调节定位螺钉4,使测试头定位块滑动,因为水平定位柱2与方形槽滑动配合连接,所以测试头定位块3的移动为平行水平移动,保证了测试头下压测试产品时垂直下压,避免测试头定位块3倾斜时测试不准或者测试不到位而造成的废品。
Claims (1)
1.一种测试压头定位机构,该定位机构用于触头与触点相接触,其特征在于:它包括底座(1)、水平定位柱(2)、测试头定位块(3)、定位螺钉(4)和定位螺钉支撑座(5),所述的测试头定位块(3)放置在底座(1)上,且测试头定位块(3)与底座(1)接触的下表面上开设有方形槽(6),所述的水平定位柱(2)设置在底座(1)的上表面上,且与方形槽(6)滑动配合连接,所述的测试头定位块(3)左右两侧方均设置有一定位螺钉支撑座(5),定位螺钉支撑座(5)内螺纹连接有一定位螺钉(4),定位螺钉支撑座(5)通过螺钉安装在底座(1)的上表面上,所述的测试头定位块(3)下表面的方形槽(6)为两道,所述的水平定位柱(2)为四个,且每一个方形槽(6)内滑动配合的水平定位柱(2)为两个,通过调节定位螺钉(4),使测试头定位块滑动,因为水平定位柱(2)与方形槽滑动配合连接,所以测试头定位块(3)的移动为平行水平移动,保证了测试头下压测试产品时垂直下压,避免测试头定位块(3)倾斜时测试不准或者测试不到位而造成的废品。
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