CN104459213B - 电子元件测试基座的浮动缓冲机构 - Google Patents

Abstract

本发明关于一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，包括：盖体、本体、弹性垫、滑移件、测试基座及容置座。盖体具有连结至气压泵的入气孔。本体具有一容置空间及多个定位槽，本体与盖体对应相结合。弹性垫夹设于盖体与本体间并覆盖容置空间，以界定出盖体与弹性垫间的一气密空间。滑移件包括多个定位柱，通过每一定位柱对应每一定位槽容设于容置空间内，滑移件可纵向滑移。测试基座是连结于滑移件的底部，具有至少一测试针组。容置座与测试基座对应结合设置，包括有对应于每一测试针组的一容置槽，其可容置有一待测电子元件。

Description

电子元件测试基座的浮动缓冲机构

技术领域

本发明是关于一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，尤指一种适用于电子元件测试设备的测试基座的浮动缓冲机构。

背景技术

已知电子元件于测试时，测试机台本身的震动会通过测试座传递至待测电子元件，此震动将会影响待测电子元件的测试结果。

因此，如中国台湾专利公开号201041076所公开的“电子元件测试座的浮动缓冲机构”，其目的是在减缓此震动问题。如图9所示，是已知的浮动缓冲机构的剖视图，将一气封环84套设于活塞体8外并一体容置于气缸体83的活塞室80内可作轴向滑移。因此，当通过底座81的气体流道811通以高压气体至活塞室80时，将推动活塞体8上的浮动座82产生轴向滑移，并具径向弹性复位等浮动缓冲效果。但该发明的缺点为活塞体8与气缸体83仍有部份区域接触，而无法有效隔离震动，因此电子元件若采此测试架构，会影响测试结果。

发明人缘因于此，本于积极发明的精神，亟思一种可以解决上述问题的“电子元件测试基座的浮动缓冲机构”，几经研究实验终至完成本发明。

发明内容

本发明的主要目的是在提供一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，以便能可隔绝大部份的机台震动传递至待测电子元件，以改善测试稳定性。

本发明一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，包括：一盖体、一本体、一弹性垫、一滑移件、一测试基座及一容置座。盖体具有一连结至一气压泵的入气孔。本体具有一容置空间及多个定位槽，本体与盖体对应相结合。而弹性垫夹设于盖体与本体之间，并覆盖容置空间，用以界定出盖体与弹性垫间的一气密空间。滑移件包括多个定位柱，滑移件是通过每一定位柱对应每一定位槽容设于容置空间内，并位于弹性垫的下方，且滑移件可纵向滑移。测试基座是连结于滑移件的底部并位于本体的下方，具有至少一测试针组。而容置座与测试基座对应结合设置，包括有对应于每一测试针组的一容置槽，且容置槽可容置有一待测电子元件。

上述作动原理为当盖体灌入气压泵的气体至气密空间，使弹性垫膨胀接触滑移件，弹性垫推动滑移件下移，而滑移件的定位柱可套入于本体的定位槽，致使滑移件与所连接的测试基座能准确保维持其位置度；当测试基座下压与容置座的待测电子元件接触进行测试，其接触的下压力致使滑移件上移，使定位柱脱离定位槽，滑移件不与本体接触，减少机械震动传导至待测电子元件。

另一方面，弹性垫夹设于盖体与本体间，亦可吸收由盖体与其所连接的机台设备所产生的机械震动传导至测试基座与容置座，进而免除不必要的震动干扰，增加电性测试的可靠度。

另外，前述测试基座可固设于一基座本体，而基座本体可包括有至少一导引孔，且容置座也可固设于一底座，底座可包括有对应于至少一导引孔的至少一导引柱，以便能使测试基座与容置座间产生准确定位。

再者，前述盖体可包括有多个开孔，本体可包括有多个锁附孔，通过每一开孔对应每一锁附孔进行锁附固定。

又，前述弹性垫亦可包括有对应每一开孔的一定位孔。而基座本体可包括有多个穿孔，滑移件可包括有多个固定孔，通过每一穿孔对应每一固定孔进行锁附固定。

前述多个定位槽的数量可为三、四、五或其他不同的数量，且可呈环状等间距排列。前述弹性垫可为橡胶材质或其他软性材质。另外，弹性垫与滑移件间的中央区域可具有一间隙，以便能容许滑移件的纵向为移。而本体与测试基座间的外环区域亦可具有一间隙，以便能使测试基座可朝上移动。

前述容置座可对应设置于测试基座下方，也可将容置座对应设置于测试基座上方。亦即，容置座与测试基座是可相互上下对调设置，其可依据不同的机型或不同的待测电子元件而弹性运用。

附图说明

为进一步说明本发明的技术内容，以下结合实施例及附图详细说明如后，其中：

图1是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的爆炸图。

图2是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的立体图。

图3是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的测试基座与电子元件分解图。

图4是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的剖视图。

图5是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的下压剖视图。

图6是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的测试基座与滑移件的分解图。

图7是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的测试基座与滑移件的立体图。

图8是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第二较佳实施例的剖视图。

图9是已知是浮动缓冲机构的剖视图。

具体实施方式

如图1、图2、图3及图4所示，是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的爆炸图、立体图、测试基座与电子元件分解图及剖视图。如图所示，本实施例是为一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，包括：一盖体1、一本体3、一弹性垫4、一滑移件5、一具有一测试基座60的基座本体6、及一具有一容置座70的底座7。

盖体1具有一连结至一气压泵2的入气孔11。本体3具有一容置空间31及多个定位槽32，本体3与盖体1对应相结合。而弹性垫4夹设于盖体1与本体3之间，并覆盖容置空间31，用以界定出盖体1与弹性垫4间的一气密空间12，本实施例的弹性垫4是为橡胶材质。

滑移件5包括多个定位柱51，滑移件5是通过每一定位柱51对应每一定位槽32容设于容置空间31内，并位于弹性垫4的下方，且滑移件5可纵向滑移，本实施例的多个定位槽32的数量为四，呈环状等间距排列。另外，测试基座60是固设于基座本体6上，基座本体6连结于滑移件5的底部并位于本体3的下方，具有至少一测试针组61，本实施例的至少一测试针组61数量为四。容置座70是固设于底座7，而对应设置于该测试基座60下方，底座7包括有对应于每一测试针组61的一容置槽71，且容置槽71可容置有一待测电子元件73。通过每一测试针组61下压抵靠每一待测电子元件73上的导通测点进行测试。

另外，本实施例的基座本体6具有二导引孔63，而容置座70包括有对应二导引孔63的二导引柱72，以便能使基座本体6与容置座70间产生准确定位。

再者，本实施例的盖体1包括有四个开孔13，本体3包括有四个锁附孔33，通过每一开孔13对应每一锁附孔33进行锁附固定。

又，本实施例的弹性垫4包括有对应每一开孔13的一定位孔41，而基座本体6包括有多个穿孔62，滑移件5包括有多个固定孔52，通过每一穿孔62对应每一固定孔52进行锁附固定。

另外，本实施例的弹性垫4与滑移件5间的中央区域具有一间隙53，以便能容许滑移件5的纵向位移。而本体3与基座本体6间的外环区域亦具有一间隙64，以便能使基座本体6可朝上移动。

如图5、图6及图7所示，是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第一较佳实施例的立体图、下压剖视图、测试基座与滑移件的分解图及测试基座与滑移件的立体图，一并参阅图1。本实施例的作动原理为当盖体1灌入气压泵2的气体至气密空间12，使弹性垫4膨胀接触滑移件5，弹性垫4推动滑移件5下移，而滑移件5的定位柱51可套入于本体3的定位槽32，致使滑移件5与所连接的基座本体6能准确保维持其位置度。当基座本体6的测试基座60下压与底座7的容置座70的电子元件73接触进行测试，其接触的下压力致使滑移件5上移，使定位柱51脱离定位槽32，滑移件5不与本体3接触，用以达到减少机械震动传导至待测电子元件73的功效，再者，通过弹性垫4吸收盖体1与本体3间的震动，亦可抑制部份震动传导至待测电子元件73，达到隔震的效果。

请再参阅图8是本发明电子元件测试基座的浮动缓冲机构第二较佳实施例的剖视，本实施例与第一实施例的结构配置大致相同，其差异仅在于本实施例的测试基座701是对应设置于容置座601的下方。亦即，本实施例的容置座601是固设于基座本体600上，而测试基座701是固设于底座700上，基座本体600也具有多个导引孔603以与底座700的多个导引柱702相互固定。本实施例可因应待测电子元件73的不同规格及实际测试需求，而仍可达到第一实施例相同的功效。

上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以权利要求范围所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (10)

1.一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构，包括：

一盖体，具有一连结至一气压泵的入气孔；

一本体，具有一容置空间及多个定位槽，该本体与该盖体对应相结合，该多个定位槽的槽内的上方宽度大于下方宽度；

一弹性垫，夹设于该盖体与该本体之间，并覆盖该容置空间，用以界定出该盖体与该弹性垫间的一气密空间；

一滑移件，包括多个定位柱，该滑移件通过每一定位柱对应每一定位槽容设于该容置空间内，并位于该弹性垫的下方，且该滑移件可纵向滑移；

一测试基座，连结于该滑移件的底部并位于该本体的下方，具有至少一测试针组；以及

一容置座，与该测试基座对应结合设置，包括有对应于每一测试针组的一容置槽，用以容设一电子元件。

2.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该测试基座固设于一基座本体，该基座本体包括有至少一导引孔，该容置座固设于一底座，该底座包括有对应于该至少一导引孔的至少一导引柱。

3.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该盖体包括有多个开孔，该本体包括有多个锁附孔，通过每一开孔对应每一锁附孔进行锁附固定。

4.如权利要求3所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该弹性垫包括有对应每一开孔的一定位孔，通过每一开孔对应每一定位孔进行锁附固定。

5.如权利要求2所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该基座本体包括有多个穿孔，该滑移件包括有多个固定孔，通过每一穿孔对应每一固定孔进行锁附固定。

6.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该容置座设置于该测试基座下方。

7.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该容置座与该本体连接，该测试基座对应设于该容置座下方。

8.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该本体的该多个定位槽的数量为四，呈环状等间距排列。

9.如权利要求1所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该弹性垫与该滑移件间的中央区域具有一间隙。

10.如权利要求2所述的电子元件测试基座的浮动缓冲机构，其中，该本体与该基座本体间的外环区域具有一间隙。