CN104409936A - 一种n型快插测试用射频连接器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种N型快插测试用射频连接器，其包括：同轴设置的内导体与外导体，绝缘介质位于内导体与外导体之间；所述弹性轴套压接于外导体上面，使之成为一整体；所述弹性卡环安装于外导体与固定套之间。本发明是一种结构简单，性能可靠，稳定性高强、测试效率高、机械性能可靠、电气性能优越、驻波比小、组装效率高、适合于大批量生产的N型快插测试用射频连接器。

Description

一种N型快插测试用射频连接器

技术领域

本发明涉及一种N型快插测试用射频连接器。

背景技术

目前，针对N型测试接头操作不便对其结构进行分析。如图2A-2B传统N型测试接头结构，具体操作是先使用专用工装将绝缘子7撑开，其次将插针8卡入到绝缘子7的内孔中，再将绝缘子7使用专用工装压接到外壳9中，从而生产出传统的N型测试接头。这种方式结构过于简单，该设置的保障性措施都未进行设置，最终导致出现三大弊端：一是使用寿命低，绝缘子7与插针8以及外壳9之间均为采取任何防转防窜的措施，测试时容易将插针8之间从接头中带出，导致测试件报废；二是指标精度低，各个零件之间无法固定，测试时容易发生移位，由于N型测试接头主要是依靠机械尺寸以及与被测件之间的接触性保证电性能，如果内部各个零部件之间产生相互位移就会导致产品的指标性能下降，导致测试精度低，测试指标不稳定；同时由于外壳9上未设置增强接触性的措施，在测试时，外壳间的接触容易产生波动，也会导致测试精度低；三是报废率高，由于外壳9上未有导向性的结构，测试时容易产生偏斜，导致插针8报废；四是环境适应性差，由于绝缘子7与外壳9之间仅仅依靠摩擦力进行固定，在受到高低温冲击的时候，绝缘子7会产生一定的形变，即便恢复至室温，绝缘子7的形状依然无法完全恢复，外径会变小，导致从外壳9中直接脱落。

发明内容

为克服现有技术的缺陷，本发明的目的在于提供一种N型快插测试用射频连接器，是一种结构简单，性能可靠，稳定性高强、测试效率高、机械性能可靠、电气性能优越、驻波比小、组装效率高、适合于大批量生产的快插测试用射频连接器。

本发明解决技术问题采用如下技术方案：

一种N型快插测试用射频连接器，其包括：

同轴设置的内导体与外导体，绝缘介质位于内导体与外导体之间；

所述弹性轴套压接与外导体的上面，使之成为一整体；

所述弹性卡环安装于外导体与固定套之间。

本发明的结构特点也在于：

    所述绝缘介质的为中空部分为八面体结构，用于实现对内导体的径向固定，外圆周方向设置有对称的固定台，实现绝缘介质径向固定；所述空气补偿环设置于绝缘介质的上下两面，可以降低电压驻波比，对电气性能传输效率进行改善；

    所述外导体的内孔圆周方向设置有定位槽，实现对绝缘介质的径向定位；

    所述弹性轴套的圆周方向设置有劈槽，使用弹性优良的铍青铜进行加工、成型后再进行时效处理，并进行扩口处理，保证可以与相应的另一端的连接器接触充分，如此在进行多次反复的使用后仍可以保持良好的弹性与接触性；所述弹性卡环为两端粗中间部分稍细，同样使用铍青铜进行加工时效处理，在弹性卡环圆周方向设置有扩张槽；

     所述内导体的外圆周的位置设置八面防转面，与绝缘介质的固定孔相配合，中间有一台阶，绝缘介质安装在台阶的两边位置；

与已有技术相比，本发明的有益效果体现在：

本发明的N型快插测试用射频连接器，一是测试精度高，设置了弹性轴套，可以与被测产品外导体形成良好的机械接触，避免接触不良、接触不稳的现象的产生，保证微波信号的良好传输；二是报废率低，在该发明设置有固定套，里面安装有弹性卡环，在与被测件进行对接的过程中，可以有效的控制被测件的运动轨迹，防止对接偏斜的不良现象产生，避免内导体接触过程中损坏；三是使用寿命长，对称设置的固定台可以保证绝缘介质与外导体之间无法进行径向的转动，固定台也可以有效的改善产品的电气性能，弹性轴套压接后，可以防止绝缘介质在轴向的移动；内导体外圆周的位置设置八面防转面，与绝缘介质的固定孔相配合，可以防止内导体在径向的动，中间有一台阶，绝缘介质安装在台阶的两边位置，可以防止内导体径向的移动；即便是反复使用，内部的各个零件也不会产生位移、脱落，有效保证产品的使用寿命；四是电性能优越，由于在绝缘介质的两面设置有空心补偿环，可以降低信号在不同介质界面传输时产生的折射与反射，降低电压驻波，增大微波功率的信号传输效率，最大限度的降低产品测试时因测试件的电性能因素导致的测试误差；五是测试效率高，实现被测试件的快速插拔，将测试时需要使用螺纹进行旋接的繁琐动作改为直接插拔，缩短测试周期，提升测试效率。

附图说明：

图1A为本发明的整体结构示意图，图1B为本发明的外导体俯视示意图；图1C为本发明的绝缘介质俯视示意图；图1D为本发明的弹性轴套示意图，图1E为本发明的弹性卡环示意图；图1F为本发明的内导体示意图；图2A为传统N型测试接头结构示意图；图2B为传统N型测试接头的绝缘子的示意图；

图中标号：1内导体，11八面棱，2外导体，21定位槽，3绝缘介质，31固定台，32空气补偿环，4弹性轴套，41劈槽，5弹性卡环，51扩张槽，6固定套，7绝缘子，8插针，9外壳.

以下通过具体实施方式，并结合附图对本发明作进一步说明。

具体实施方式：

实施例：结合图1A-1F，本实施例的N型快插测试用射频连接器，其包括：

同轴设置的内导体1与外导体2，绝缘介质3位于内导体1与外导体2之间，起到支撑作用，同时参与电性能的传输；绝缘介质3安装到外导体2的内孔后，通过定位槽21与固定台31的共同作用，实现对绝缘介质3的径向固定；弹性轴套4压接于外导体2的上面，在对产品进行测试时可以与被测件之间充分的接触，使得测试指标精准；弹性卡环5安装于外导体2与固定套6之间，其一为实现与被测试件机械夹紧，实现测试的稳定性，其二导向作用，保证被测试件在与该发明向对接的过程不会发生偏斜，造成报废；固定套6为一圆形环，在端面设置有挡圈61；弹性轴套4与弹性卡环5为使用弹性优良的铍青铜进行加工、成型后再进行时效处理，如此可以保证在进行多次反复的使用后仍可以保持良好的弹性与接触性；

   装配时，将绝缘介质3从内导体1的两端安装至台阶处，绝缘介质3的固定台31与外导体2的定位槽21对准后，将绝缘介质3安装到外导体2内孔中，将弹性轴套4压接于外导体2的上面，将弹性卡环5放置在固定套6内部，将固定套6压接于外导体2上面即可完成一种N型快插测试用射频连接器的装配。 

Claims (5)

1.一种N型快插测试用射频连接器，其特征在于包括：

同轴设置的内导体（1）与外导体（2），绝缘介质（3）位于内导体（1）与外导体（2）之间；所述弹性轴套（4）压接于外导体（2）的上面，使之成为一整体；所述弹性卡环（5）安装于外导体（2）与固定套（6）之间。

2.根据权利要求1所述的一种N型快插测试用射频连接器，其特征在于，所述内导体（1）的外圆周的位置设置八面棱（11），与绝缘介质（3）中空部分的八面体结构相配合，实现径向固定，中间有一台阶，绝缘介质（3）安装在台阶的两边位置。

3.根据权利要求1所述的一种N型射频连接器，其特征在于，所述外导体（2）的内孔圆周方向设置有定位槽（21），实现对绝缘介质（3）的径向定位。

4.根据权利要求1所述的一种N型快插测试用射频连接器，其特征在于，所述绝缘介质（3）的中空部分为八面体结构，用于实现对内导体（1）的径向固定，外圆周方向设置有对称的固定台（31），实现径向固定；所述空气补偿环（32）设置于绝缘介质（3）的上下两面，可以降低电压驻波比，对电气性能传输效率进行改善。

5.根据权利要求1所述的一种N型插射频连接器，其特征在于，所述弹性轴套（4）的圆周方向设置有劈槽（41），使用弹性优良的铍青铜进行加工、成型，并进行扩口处理后，再进行时效处理，保证可以与相应的另一端连接器接触充分，如此可以在进行多次反复的使用后仍可以保持良好的弹性与接触性；所述弹性卡环（5）为两端粗中间部分稍细，同样使用铍青铜进行加工时效处理，在弹性卡环（5）圆周方向设置有扩张槽（51）。