CN104374332A - 一种三维扫描仪扫描测量的辅助工具及测量方法 - Google Patents

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CN104374332A CN201410640873.9A CN201410640873A CN104374332A CN 104374332 A CN104374332 A CN 104374332A CN 201410640873 A CN201410640873 A CN 201410640873A CN 104374332 A CN104374332 A CN 104374332A
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常青
王金葵
陈国建
张磊
罗振
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Tianjin Minjieyun Technology Co ltd
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Abstract

本发明创造提供一种三维扫描仪扫描测量的辅助工具及测量方法,所述辅助工具包括多个矩形且大小相同的定位基板,每个定位基板的正表面上规则排布有多个定位标点。利用此工具,可以不用随着被测量零件尺寸的变化,不断的粘贴或者清理定位标点。仅通过调整辅助定位基板的位置,合理布置出能够满足被测零件的辅助环境。当辅助定位基板布局调整完毕后,可使用三维扫描仪附带的定位标点测量手段,进行先期的定位标点空间坐标的采集工作,当完成上述操作后,可进行最后的点云采集工作。

Description

一种三维扫描仪扫描测量的辅助工具及测量方法
技术领域
本发明创造属于三维扫描技术领域,尤其是涉及一种辅助三维扫描仪进行扫描测量的辅助工具,以及依靠该辅助工具进行测量的测量方法。
背景技术
三维扫描技术突破了单点测量的传统方法,可以高效率、高精度的提供被扫描物体表面的三维点云数据。为了实现三维扫描,被扫描测量的物体表面或者周围环境必须贴有若干个定位标点。而贴点工作及清理定位标点工作过于繁琐,浪费大量工时。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明创造提供了一种三维扫描仪扫描测量的辅助工具,其包括多个矩形且大小相同的定位基板,每个定位基板的正表面上规则排布有多个定位标点。
进一步,每个定位基板均为正方形。进一步,每个定位基板的大小为400mm*400mm。
进一步,所述定位基板由耐变形材质作为基本材料制成。
进一步,所述耐变形材质为ABS塑料。
进一步,所述定位基板的正表面颜色为黑色,与其上的定位标点形成显著的色差。
进一步,所述定位基板上的多个定位标点呈网格状排布。
进一步,所述定位基板上的相邻的定位标点之间中心距为20mm。
本发明还提供了借助所述辅助工具进行三维扫描测量的测量方法:
S1、根据被测物体的投影面积大小,选取适当数量的定位基板,并依次排列平铺成矩形的背景,背景面积大于被测物体的投影面积;
S2、将被测物体摆放在所述定位基板所组成的背景之上,使其在背景上的投影位于背景的范围之内;
S3、使用扫描设备的照相辅助手段,进行上述定位标点的空间坐标位置的采集;
S4、在扫描仪配套软件中,导入上述采集完成的定位标点的存盘文件,切换至扫描设备,进行点云采集工作。
本发明创造具有的优点和积极效果是:
利用此工具,可以不用随着被测量零件尺寸的变化,不断的粘贴或者清理定位标点。仅通过调整辅助定位基板的位置,合理布置出能够满足被测零件的辅助环境。当辅助定位基板布局调整完毕后,可使用三维扫描仪附带的定位标点测量手段,进行先期的定位标点空间坐标的采集工作,当完成上述操作后,可进行最后的点云采集工作。
附图说明
图1是被测物体放置于定位基板组成的背景之上的状态示意图;
图2是图1中圈A所包含部分的放大示意图。
1-定位基板,2-定位标点,3-被测物体
具体实施方式
下面结合附图对本发明创造的具体实施例做详细说明。
图1是被测物体放置于定位基板组成的背景之上的状态示意图,本发明创造所述的一种三维扫描仪扫描测量的辅助工具,就是主要由多个定位基板组成的,所述定位基板1可以选材5mm厚的ABS纯黑色板材,切割成400X400幅宽的若干个正方块,然后分别在每个定位基板的正表面上按照20mm中心距的间距呈网格状的粘贴排布多个定位标点2,定位基板基本制作完成。
在利用上述辅助工具进行测量时,采用如下步骤:
S1、根据被测物体3的投影面积大小,选取适当数量的定位基板1,并依次排列平铺成矩形的背景,背景面积大于被测物体的投影面积;
S2、将被测物体摆放在所述定位基板所组成的背景之上,使其在背景上的投影位于背景的范围之内;
S3、使用扫描设备的照相辅助手段,进行上述定位标点2的空间坐标位置的采集;
S4、在扫描仪配套软件中,导入上述采集完成的定位标点的存盘文件,切换至扫描设备,进行点云采集工作。
以上实施例仅用于说明而并非限制本发明创造所描述的技术方案,不能被认为用于限定本发明创造的实施范围。凡依本发明创造申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍归属于本发明创造的专利涵盖范围之内。

Claims (9)

1.一种三维扫描仪扫描测量的辅助工具,其特征在于,包括多个矩形且大小相同的定位基板,每个定位基板的正表面上规则排布有多个定位标点。
2.根据权利要求1所述的辅助工具,其特征在于:每个定位基板均为正方形。
3.根据权利要求1所述的辅助工具,其特征在于:每个定位基板的大小为400mm*400mm。
4.根据权利要求1所述的辅助工具,其特征在于:所述定位基板由耐变形材质作为基本材料制成。
5.根据权利要求2所述的辅助工具,其特征在于:所述耐变形材质为ABS塑料。
6.根据权利要求1所述的辅助工具,其特征在于:所述定位基板的正表面颜色为黑色,与其上的定位标点形成显著的色差。
7.根据权利要求1所述的辅助工具,其特征在于:所述定位基板上的多个定位标点呈网格状排布。
8.根据权利要求1所述的辅助工具,其特征在于:所述定位基板上的相邻的定位标点之间中心距为20mm。
9.借助如权利要求1所述的辅助工具进行三维扫描测量的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、根据被测物体的投影面积大小,选取适当数量的定位基板,并依次排列平铺成矩形的背景,背景面积大于被测物体的投影面积;
S2、将被测物体摆放在所述定位基板所组成的背景之上,使其在背景上的投影位于背景的范围之内;
S3、使用扫描设备的照相辅助手段,进行上述定位标点的空间坐标位置的采集;
S4、在扫描仪配套软件中,导入上述采集完成的定位标点的存盘文件,切换至扫描设备,进行点云采集工作。
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