CN104360146A - 一种双极性模拟量输入检测电路 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种双极性模拟量输入检测电路，用于连接在被检测信号的输出端和微处理器之间，其包括模拟量输入端，用于与所述被检测信号的输出端相连；第一输出端，用于与微处理器的第一AD口相连；第二输出端，用于与微处理器的第二AD口相连；第一检测电路，连接在所述模拟量输入端和第一输出端之间，用于获取被检测信号中的负电压并将该负电压调整为预设范围内的正电压；以及第二检测电路，连接在模拟量输入端和第二输出端之间，用于获取被检测信号中的正电压并将该正电压调整为预设范围内的正电压。本发明分两路来分别检测双极性模拟量中的正、负极性模拟量，相比于直接将双极性模拟量“抬升”成单极性模拟量输入检测电路至少提高2倍。

Description

一种双极性模拟量输入检测电路

技术领域

本发明涉及电路技术领域，更具体地涉及一种双极性模拟量输入检测电路。

背景技术

在模拟信号变化中，有些模拟信号会过零，即有正负性，有些模拟信号在变化过程中则不会过零，那些过零的模拟变化信号被称为双极性信号，不过零的信号被称为单极性信号。模拟量输入有单极性和双极性两种方式，而不管是单极性模拟量输入还是双极性模拟量输入，在对输入信号进行检测时通常需要利用微处理器例如CPU或DSP芯片进行信号处理以还原所检测到的数据，通常CPU或DSP芯片的AD口只能检测0V～3V的电压，所以进入到CPU或DSP芯片之前，不管是单极性信号还是双极性信号都必须转换变为0V～3V。

在某些应用场合，模拟量是采用双极性方式输入，相比于输入电压幅度范围相同的单极性模拟量，双极性模拟量输入电压范围是单极性的2倍，现有的针对双极性模拟量输入的检测电路是将双极性输入的模拟量“抬升”为单极性，比如，双极性输入-3V～3V，经过电压“抬升”后，双极性输入的-3V、0V、3V分别对应“抬升”后的0V、1.5V、3V，即将双极性输入的模拟量“压缩”成了相同幅度的单极性模拟量，显然，采用上述方式得到的检测精度必然比输入相同幅度范围单极性模拟量低，在很多情况下都不能满足所需精度要求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种检测精度较高的双极性模拟量输入检测电路。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种双极性模拟量输入检测电路，用于连接在被检测信号的输出端和微处理器之间，该双极性模拟量输入检测电路包括：模拟量输入端，用于与所述被检测信号的输出端相连；第一输出端，用于与所述微处理器的第一AD口相连；第二输出端，用于与所述微处理器的第二AD口相连；第一检测电路，连接在所述模拟量输入端和所述第一输出端之间，用于获取被检测信号中的负电压并将该负电压调整为预设范围内的正电压后传送到第一输出端；以及第二检测电路，连接在所述模拟量输入端和所述第二输出端之间，用于获取被检测信号中的正电压并将该正电压调整为预设范围内的正电压后传送到第二输出端。

其进一步技术方案为：所述第一检测电路包括第一精密半波整流电路和第一分压电路，所述第一精密半波整流电路和第一分压电路串接于模拟量输入端和第一输出端之间；所述第一精密半波整流电路用于将输入的负电压转换为相同幅值的正电压或是将输入的正电压转换为0V电压，第一分压电路用于将输入的电压按预设比例调整为预设范围内的电压；

所述第二检测电路包括反相电压跟随电路、第二精密半波整流电路及第二分压电路，所述反相电压跟随电路、第二精密半波整流电路及第二分压电路串接于模拟量输入端和第二输出端之间；所述反相电压跟随电路用于将输入的电压转换为大小相同而极性相反的电压，第二精密半波整流电路用于将输入的负电压转换为相同幅值的正电压或是将正电压转换为0V电压，第二分压电路用于将输入的电压按预设比例调整为预设范围内的电压。

其进一步技术方案为：所述第一精密半波整流电路包括第一运算放大器、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第三二极管、第四二极管及第三电容，其中，第一运算放大器的反相输入端通过第三电阻连接至模拟量输入端，其同相输入端通过第五电阻接地，其输出端连接第四二极管的正极，第四电阻和第三电容均并联在第一运算放大器的反相输入端和第四二极管的负极之间，第三二极管的正极与第一运算放大器的反相输入端相连，其负极与第一运算放大器的输出端相连。

其进一步技术方案为：所述第一分压电路包括第六电阻和第七电阻，所述第六电阻一端与第一精密半波整流电路的输出端相连，另一端连接至第一输出端，所述第七电阻一端连接至第一输出端，另一端接地。

其进一步技术方案为：所述反相电压跟随电路包括第二运算放大器、第八电阻、第九电阻、第十电阻及第四电容，其中，第二运算放大器的反相输入端通过第八电阻连接至模拟量输入端，其同相输入端通过第九电阻接地，其输出端连接至第二精密半波整流电路的输入端，第十电阻和第四电容并联在第二运算放大器的反相输入端和输出端之间。

其进一步技术方案为：所述第二精密半波整流电路包括第三运算放大器、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第九二极管、第十二极管及第七电容，其中，第三运算放大器的反相输入端通过第十二电阻连接至反相电压跟随电路的输出端，其同相输入端通过第十三电阻接地，其输出端连接第十二极管的正极，第十四电阻和第九电容均并联在第三运算放大器的反相输入端和第十二极管的负极之间，第九二极管的正极与第三运算放大器的反相输入端相连，其负极与所述第三运算放大器的输出端相连。

其进一步技术方案为：所述第一分压电路包括第十五电阻和第十六电阻，所述第十五电阻一端与第二精密半波整流电路的输出端相连，另一端连接至第二输出端，所述第十六电阻一端连接至第二输出端，另一端接地。

其进一步技术方案为：所述第一检测电路还包括第一滤波电路，该第一滤波电路包括第一电容，该第一电容一端连接至第一精密半波整流电路的输入端，另一端接地；所述第二检测电路还包括第二滤波电路，该第二滤波电路包括第五电容，该第五电容一端连接至反相电压跟随电路的输出端，另一端接地。

其进一步技术方案为：所述所述第一检测电路还包括第一钳位电路和第二钳位电路，其中，该第一钳位电路包括第一二极管和第二二极管，所述第一二极管的正极与第一精密半波整流电路的输入端相连，其负极连接第一预设正电压，所述第二二极管的正极连接第一预设负电压，其负极与第一精密半波整流电路的输入端相连；第二钳位电路包括第五二极管和第六二极管，所述第五二极管的正极与第一输出端相连，其负极连接第二预设正电压，所述第六二极管的正极接地，其负极与第一输出端相连；

第二检测电路还包括第三钳位电路和第四钳位电路，其中，第三钳位电路包括第七二极管和第八二极管，所述第七二极管的正极与反相电压跟随电路的输出端相连，其负极连接第一预设正电压，所述第八电容的正极连接第一预设负电压，其负极与反相电压跟随电路的输出端相连；第四钳位电路包括第十一二极管和第十二二极管，所述第十一二极管的正极与第二输出端相连，其负极连接第二预设正电压，所述第十二二极管的正极接地，其负极与第二输出端相连。

其进一步技术方案为：还包括滤波及初始电压限定电路，该滤波及初始电压限定电路包括第一电感和第一电阻，所述第一电感一端与模拟量输入端相连，另一端与第一检测电路及第二检测电路的输入端相连，所述第一电阻一端与第一检测电路及第二检测电路的输入端相连，另一端接地。

与现有技术相比，本发明双极性模拟量输入检测电路通过采用两路电路来分别检测双极性模拟量中的正、负极模拟量并将其转换为两个独立的、相同幅度范围的单极性模拟量，进而可通过微处理器例如CPU或DSP芯片的两个AD口传送到CPU或DSP芯片内进行处理以得出所输入的双极性模拟量，采用该电路进行双极性模拟量检测无需将双极性模拟量“抬升”成单极性模拟量，相比现有检测电路其检测精度至少提高2倍，可实现良好的检测效果。

通过以下的描述并结合附图，本发明将变得更加清晰，这些附图用于解释本发明的实施例。

附图说明

图1是本发明双极性模拟量输入检测电路的方框原理图；

图2是本发明双极性模拟量输入检测电路一具体实施例的方框原理图；

图3是图2所示双极性模拟量输入检测电路的电路图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然，以下将描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的双极性模拟量输入检测电路用于连接在被检测信号的输出端和微处理器例如CPU或DSP芯片之间，用于将输入的双极性模拟量分解为正、负极性的模拟量并进行电压调整后输出给CPU或DSP芯片，由CPU或DSP芯片进一步处理后得出与被检测信号相对应的带极性的电压值。

参照图1，本发明双极性模拟量输入检测电路10包括模拟量输入端11、第一检测电路12、第二检测电路13、第一输出端14及第二输出端15。其中，模拟量输入端11用于与被检测信号的输出端相连；第一输出端14用于与微处理器的第一AD口相连；第二输出端15用于与微处理器的第二AD口相连；第一检测电路12连接在模拟量输入端11和第一输出端14之间，用于获取被检测信号中的负电压并将该负电压调整为预设范围的正电压后传送到第一输出端14；第二检测电路13连接在模拟量输入端11和第二输出端15之间，用于获取被检测信号中的正电压并将该正电压调整为预设范围的正电压后传送到第二输出端15。其中，对于预设范围的选择可根据具体微处理器能处理的电压范围值来设置，例如在本实施例中，针对CPU或DSP芯片，由于其AD口只能处理0V～3V的电压，因此可将该预设范围设置为-3V～3V，而该预设范围内的正电压则为AD口可处理的0V～3V。

参照图2，在某些实施例，例如本实施例中，第一检测电路12包括第一精密半波整流电路121和第一分压电路122，所述第一精密半波整流电路121和第一分压电路122依次连接于模拟量输入端11和第一输出端14之间；所述第一精密半波整流电路121用于将输入的负电压转换为相同幅值的正电压或是将输入的正电压转换为0V电压，第一分压电路122用于将输入的电压(来自第一精密半波整流电路121的电压)按预设比例调整为0V～3V的预设范围电压后传送到第一输出端14。

在其它实施例中，第一精密半波整流电路121和第一分压电路122可互换位置，也即，将所述第一分压电路122和第一精密半波整流电路121依次连接于模拟量输入端11和第一输出端14之间，第一分压电路122用于将输入的电压(模拟量输入电压)按预设比例调整为预设范围内的电压，例如，将-10V～+10V的模拟量输入电压调整为-3V～3V的预设范围电压后输出给第一精密半波整流电路121，经该第一精密半波整流电路121处理后的电压则为0V～3V。

所述第二检测电路13包括反相电压跟随电路131、第二精密半波整流电路132及第二分压电路133，所述反相电压跟随电路131、第二精密半波整流电路132及第二分压电路133依次连接于模拟量输入端11和第二输出端15之间；所述反相电压跟随电路131用于将输入的电压转换为大小相同而方向相反的电压，第二精密半波整流电路132用于将来自反相电压跟随电路131的负电压转换为相同幅值的正电压或是将正电压转换为0V电压，第二分压电路133用于将来自第二精密半波整流电路132的电压按预设比例调整为0V～3V的电压后传送到第二输出端15。

在其它实施例中，第二分压电路133可设置在反相电压跟随电路131或第二精密半波整流电路132之前，其具体原理与第一检测电路12中第一分压电路122类似，在此不再赘述。

在其它实施例中，可在电路中只设置一个分压电路(第一分压电路122或第二分压电路133)，而该分压电路对所述模拟量输入端11的电压进行分压后再分为两路电路，一路经第一精密半波整流电路121后由第一输出端14输出至微处理器的第一AD口，另一路经串接的反相电压跟随电路131和第二精密半波整流电路132后由第二输出端15输出至微处理器的第二AD口。本实施方式为本领域技术人员在通读本申请后容易想到的等同技术方案。

在某些实施例，例如本实施例中，双极性模拟量输入检测电路10还包括滤波及初始电压限定电路16，该滤波及初始电压限定电路16包括第一电感L1和第一电阻R1。所述第一电感L1一端与模拟量输入端11相连，另一端与第一检测电路12及第二检测电路13的输入端相连，用于对输入信号进行滤波；所述第一电阻R1一端与第一检测电路12及第二检测电路13的输入端相连，另一端接地；第一电阻R1作为下拉电阻可使得在模拟量输入端11没有输入信号时电路输出电压为0V，避免检测过程产生干扰信号。

参照图3，在某些实施例，例如本实施例中，所述第一精密半波整流电路121包括第一运算放大器U1、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第三二极管D3、第四二极管D4及第三电容C3，其中，第一运算放大器U1的反相输入端通过第三电阻R3连接至模拟量输入端11，其同相输入端通过第五电阻R5接地，其输出端连接第四二极管D4的正极，第四电阻R4和第三电容C3均并联在第一运算放大器U1的反相输入端和第四二极管D4的负极之间，第三二极管D3的正极与第一运算放大器U1的反相输入端相连，其负极与第一运算放大器U1的输出端相连。其中，第三电容C3作为补偿电容，用于补偿第一运算放大器U1的相位滞后，避免电路工作不稳定甚至发生振荡。

所述第一分压电路122包括第六电阻R6和第七电阻R7，所述第六电阻R6一端与第一精密半波整流电路121的输出端相连，另一端连接至第一输出端14，所述第七电阻R7一端连接至所述第一输出端14，另一端接地。

在某些实施例，例如本实施例中，所述反相电压跟随电路131包括第二运算放大器U2、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10及第四电容C4，其中，第二运算放大器U2的反相输入端通过第八电阻R8连接至模拟量输入端11，其同相输入端通过第九电阻R9接地，其输出端连接至第二精密半波整流电路132的输入端，第十电阻R10和第四电容C4并联在第二运算放大器U2的反相输入端和输出端之间。

所述第二精密半波整流电路132包括第三运算放大器U3、第十二电阻R12、第十三电阻R13、第十四电阻R14、第九二极管D9、第十二极管D10及第七电容C7，其中，第三运算放大器U3的反相输入端通过第十二电阻R12连接至反相电压跟随电路131的输出端，其同相输入端通过第十三电阻R13接地，其输出端连接第十二极管D10的正极，第十四电阻R14和第九电容C9均并联在第三运算放大器U3的反相输入端和第十二极管D10的负极之间，第九二极管D9的正极与第三运算放大器U3的反相输入端相连，其负极与第三运算放大器U3的输出端相连。其中，第七电容C7作为补偿电容，用于补偿第三运算放大器U3的相位滞后，避免电路工作不稳定甚至发生振荡。

所述第一分压电路122包括第十五电阻R15和第十六电阻R16，所述第十五电阻R15一端与第二精密半波整流电路132的输出端相连，另一端连接至第二输出端15，所述第十六电阻R16一端连接至第二输出端15，另一端接地。

在某些实施例，例如本实施例中，为了改善电路性能，第一检测电路12还包括第一滤波电路123，该第一滤波电路123包括第一电容C1，该第一电容C1一端连接至第一精密半波整流电路121的输入端，另一端接地；优选地，该第一滤波电路123还包括第二电阻R2，该第二电阻R2串联在模拟量输入端11和第一精密半波整流电路121的输入端之间以提供更好的滤波效果。类似地，第二检测电路13还包括第二滤波电路134，该第二滤波电路34包括第五电容C5，该第五电容C5一端连接至反相电压跟随电路131的输出端，另一端接地；优选地，该第二滤波电路134还包括第十一电阻R11，该第十一电阻R11串联在反相电压跟随电路131的输出端和第二精密半波整流电路132的输入端之间，以提供更好的滤波效果。可理解地，在其它实施例中，第一电容C1和第五电容C5均可由多个并联电容来取代，只要其达到相同滤波功能则可。

在某些实施例，例如本实施例中，为了保护电路，第一检测电路12还包括第一钳位电路124和第二钳位电路125，其中，第一钳位电路124包括第一二极管D1和第二二极管D2，所述第一二极管D1的正极与第一精密半波整流电路121的输入端相连，其负极连接第一预设正电压，所述第二二极管D2的正极连接第一预设负电压，其负极与第一精密半波整流电路121的输入端相连；第二钳位电路125包括第五二极管D5和第六二极管D6，所述第五二极管D5的正极与第一输出端14相连，其负极连接第二预设正电压，所述第六二极管D6的正极接地，其负极与第一输出端14相连。

在某些实施例，例如本实施例中，为了保护电路，第二检测电路13还包括第三钳位电路135和第四钳位电路136，其中，第三钳位电路135包括第七二极管D7和第八二极管D8，所述第七二极管D7的正极与反相电压跟随电路131的输出端相连，其负极连接第一预设正电压，所述第八电容D8的正极连接第一预设负电压，其负极与反相电压跟随电路131的输出端相连；第四钳位电路136包括第十一二极管D11和第十二二极管D12，所述第十一二极管D11的正极与第二输出端15相连，其负极连接第二预设正电压，所述第十二二极管D12的正极接地，其负极与第二输出端15相连。

其中，所述第一预设正电压和第一预设负电压的幅值均大于模拟量输入端11所输入的最大电压幅值，且小于或等于多个运算放大器的工作电压幅值，本实施例中运算放大器的工作电压幅值为±15V，因此将第一预设正电压和第一预设负电压分别设定为+15V和-15V，以保证电路正常输入且对相应的运算放大器进行保护；第二预设正电压的幅值小于或等于所述预设范围例如0V～3V中的最大电压值，本实施例中，第二预设正电压为+3V，以确保第一输出端14和第二输出端15所输出的电压均在允许的范围0～3V内。

继续参照图3，模拟量输入端11的所输入的双极性模拟量AI一般幅值范围为-10V～+10V，下面以该幅值范围的双极性模拟量AI为例详细说明本实施例双极性模拟量输入检测电路10的工作原理。

当模拟量输入端11没有输入信号时，在第一电阻的下拉作用下，第一输出端14和第二输出端15的初始输出电压为0V。

当模拟量输入端11的输入信号AI为负电压时，在第一检测电路12中，该负电压经过第一精密半波整流转换后变为|AI|(相同幅值的正电压)，再经过第一分压电路122进行分压，该分压带来的作用是按预设比例将|AI|调整为0V～3V的电压，最后该电压通过第一输出端14输出给CPU或DSP芯片，由CPU或DSP芯片处理后可以还原出当前的AI的极性及具体的电压值，例如预先设定经由第一输出端14输出的信号判断为负极性，并且按照与分压电路预设比例相反的另一比例还原电压幅值。此时，在第二检测电路13中，AI经过反相电压跟随电路131进行相位反相后，变为|AI|(相同幅值的正电压)，|AI|经过第二精密半波整流转换为0V，该0V电压经过第二分压电路133及第二输出端15后传送到CPU或DSP芯片，该0V电压虽然不作为得出AI电压值的依据，但可作为CPU或DSP芯片判断AI极性的另一个条件，具体可根据CPU或DSP芯片的不同编程来实现。

当模拟量输入端11的输入信号AI为正电压时，在第一检测电路12中，该正电压经过第一精密半波整流转换后变为0V，该0V电压经过第一分压电路122及第一输出端14传送到CPU或DSP芯片，该0V电压虽然不作为得出AI电压值的依据，但可作为CPU或DSP芯片判断AI极性的一个条件，具体可根据CPU或DSP芯片的不同编程来实现。此时，在第二检测电路13中，AI经过反相电压跟随电路131进行相位反相后，变为-AI(相同幅值的负电压)，-AI经过第二精密半波整流转换为AI，AI经过分压电路按预设比例调整为0V～3V的电压，最后该0V～3V的电压通过第二输出端15输出给CPU或DSP芯片，由CPU或DSP芯片处理后可以还原出当前的AI的极性及具体的电压值，例如预先设定经由第二输出端15输出的信号判断为正极性，并且按照与分压电路预设比例相反的另一比例还原电压幅值。

其中，CPU或DSP芯片的具体处理过程可通过编程来实现，该处理过程为本领域技术人员所熟知且非本发明所要求保护的技术内容，在此不再赘述。

如上所述，本发明双极性模拟量输入检测电路通过采用两路电路来分别检测双极性模拟量中的正、负极模拟量并将其转换为两个独立的、相同幅度范围的单极性模拟量，进而可通过微处理器例如CPU或DSP芯片的两个AD口传送到CPU或DSP芯片内进行处理以得出所输入的双极性模拟量，采用该电路进行双极性模拟量检测无需将双极性模拟量“抬升”成单极性模拟量，相比现有检测电路其检测精度至少提高2倍，可实现良好的检测效果。

以上结合较佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改。

Claims (10)

1.一种双极性模拟量输入检测电路，用于连接在被检测信号的输出端和微处理器之间，其特征在于，所述双极性模拟量输入检测电路包括：

模拟量输入端，用于与所述被检测信号的输出端相连；

第一输出端，用于与所述微处理器的第一AD口相连；

第二输出端，用于与所述微处理器的第二AD口相连；

第一检测电路，连接在所述模拟量输入端和所述第一输出端之间，用于获取被检测信号中的负电压并将该负电压调整为预设范围内的正电压后传送到第一输出端；以及

第二检测电路，连接在所述模拟量输入端和所述第二输出端之间，用于获取被检测信号中的正电压并将该正电压调整为预设范围内的正电压后传送到第二输出端。

2.根据权利要求1所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：

所述第一检测电路包括第一精密半波整流电路和第一分压电路，所述第一精密半波整流电路和第一分压电路串接于模拟量输入端和第一输出端之间；所述第一精密半波整流电路用于将输入的负电压转换为相同幅值的正电压或是将输入的正电压转换为0V电压，第一分压电路用于将输入的电压按预设比例调整为预设范围内的电压；

所述第二检测电路包括反相电压跟随电路、第二精密半波整流电路及第二分压电路，所述反相电压跟随电路、第二精密半波整流电路及第二分压电路串接于模拟量输入端和第二输出端之间；所述反相电压跟随电路用于将输入的电压转换为大小相同而极性相反的电压，第二精密半波整流电路用于将输入的负电压转换为相同幅值的正电压或是将正电压转换为0V电压，第二分压电路用于将输入的电压按预设比例调整为预设范围内的电压。

3.根据权利要求2所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：所述第一精密半波整流电路包括第一运算放大器、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第三二极管、第四二极管及第三电容，其中，第一运算放大器的反相输入端通过第三电阻连接至模拟量输入端，其同相输入端通过第五电阻接地，其输出端连接第四二极管的正极，第四电阻和第三电容均并联在第一运算放大器的反相输入端和第四二极管的负极之间，第三二极管的正极与第一运算放大器的反相输入端相连，其负极与第一运算放大器的输出端相连。

4.根据权利要求2所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：所述第一分压电路包括第六电阻和第七电阻，所述第六电阻一端与第一精密半波整流电路的输出端相连，另一端连接至第一输出端，所述第七电阻一端连接至第一输出端，另一端接地。

5.根据权利要求2所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：所述反相电压跟随电路包括第二运算放大器、第八电阻、第九电阻、第十电阻及第四电容，其中，第二运算放大器的反相输入端通过第八电阻连接至模拟量输入端，其同相输入端通过第九电阻接地，其输出端连接至第二精密半波整流电路的输入端，第十电阻和第四电容并联在第二运算放大器的反相输入端和输出端之间。

6.根据权利要求2所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：所述第二精密半波整流电路包括第三运算放大器、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第九二极管、第十二极管及第七电容，其中，第三运算放大器的反相输入端通过第十二电阻连接至反相电压跟随电路的输出端，其同相输入端通过第十三电阻接地，其输出端连接第十二极管的正极，第十四电阻和第九电容均并联在第三运算放大器的反相输入端和第十二极管的负极之间，第九二极管的正极与第三运算放大器的反相输入端相连，其负极与所述第三运算放大器的输出端相连。

7.根据权利要求2所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：所述第一分压电路包括第十五电阻和第十六电阻，所述第十五电阻一端与第二精密半波整流电路的输出端相连，另一端连接至第二输出端，所述第十六电阻一端连接至第二输出端，另一端接地。

8.根据权利要求2所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：

所述第一检测电路还包括第一滤波电路，该第一滤波电路包括第一电容，该第一电容一端连接至第一精密半波整流电路的输入端，另一端接地；

所述第二检测电路还包括第二滤波电路，该第二滤波电路包括第五电容，该第五电容一端连接至反相电压跟随电路的输出端，另一端接地。

9.根据权利要求2所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：

所述第一检测电路还包括第一钳位电路和第二钳位电路，其中，该第一钳位电路包括第一二极管和第二二极管，所述第一二极管的正极与第一精密半波整流电路的输入端相连，其负极连接第一预设正电压，所述第二二极管的正极连接第一预设负电压，其负极与第一精密半波整流电路的输入端相连；第二钳位电路包括第五二极管和第六二极管，所述第五二极管的正极与第一输出端相连，其负极连接第二预设正电压，所述第六二极管的正极接地，其负极与第一输出端相连；

第二检测电路还包括第三钳位电路和第四钳位电路，其中，第三钳位电路包括第七二极管和第八二极管，所述第七二极管的正极与反相电压跟随电路的输出端相连，其负极连接第一预设正电压，所述第八电容的正极连接第一预设负电压，其负极与反相电压跟随电路的输出端相连；第四钳位电路包括第十一二极管和第十二二极管，所述第十一二极管的正极与第二输出端相连，其负极连接第二预设正电压，所述第十二二极管的正极接地，其负极与第二输出端相连。

10.根据权利要求1所述的双极性模拟量输入检测电路，其特征在于：还包括滤波及初始电压限定电路，该滤波及初始电压限定电路包括第一电感和第一电阻，所述第一电感一端与模拟量输入端相连，另一端与第一检测电路及第二检测电路的输入端相连，所述第一电阻一端与第一检测电路及第二检测电路的输入端相连，另一端接地。