CN104349160B - 以Sensor曝光Y值校验MTF测试亮度的方法 - Google Patents

以Sensor曝光Y值校验MTF测试亮度的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104349160B
CN104349160B CN201410474483.9A CN201410474483A CN104349160B CN 104349160 B CN104349160 B CN 104349160B CN 201410474483 A CN201410474483 A CN 201410474483A CN 104349160 B CN104349160 B CN 104349160B
Authority
CN
China
Prior art keywords
value
test
mtf
brightness
interval
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201410474483.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104349160A (zh
Inventor
徐宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiangxi Italy Optoelectronic Technology Co., Ltd.
Original Assignee
CHANGSHU SHIYING OPTICAL TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CHANGSHU SHIYING OPTICAL TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical CHANGSHU SHIYING OPTICAL TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201410474483.9A priority Critical patent/CN104349160B/zh
Publication of CN104349160A publication Critical patent/CN104349160A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104349160B publication Critical patent/CN104349160B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

本发明公开了一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法,包括如下步骤:(1)选取标准样品;(2)定义标准Y值;(3)软件测试标准样品的Y值;(4)校验;(5)完成校验。本发明一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法,利用摄像头模组感光最终反映为Sensor曝光的Y值这一特点,以模组测试时Sensor 的实际曝光Y值来定义测试亮度,避免了校验过程中因测试环境亮度差异及模组个体差异造成的MTF测试差异,提高了产线作业效率及减少不良品的误判。另外,本发明还将Y值校验软件可整合至原有MTF测试软件,使测试、校验一体化,大幅节省校验测试环境的时间,提高效率。

Description

以 Sensor 曝光 Y 值校验 MTF 测试亮度的方法
技术领域
本发明涉及摄像头模组影像测试技术领域,特别是涉及一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法。
背景技术
解析度的好坏是评价手机摄像头模组优劣的最重要指标之一。目前在CMOS手机摄像头模组领域,生产公司均会测试摄像头模组的解析度。当前,模组解析度测试运用最为广泛的方法是:以手机摄像头拍摄某个固定频率的线条Chart,来计算出相应的MTF值,并以MTF值的大小判断摄像头模组解析度的优劣。在各手机摄像头生产公司中,MTF值测试都是整个生产测试流程中最为重要的环节之一。
现有手机摄像头测试影像一般以RAW数据格式输出,而以RAW格式输出影像来测试MTF值时会存在一个普遍的问题,即测试的MTF值会随着测试环境亮度的变化而变化,所以定义一固定的测试亮度,以及保证摄像头模组每次测试时测试亮度的一致性是准确测试出MTF值的重要前提。当前各生产公司的普遍做法有:一、测试时定义摄像头拍摄的透射式线条Chart处的亮度值;二、测试时定义摄像头通光孔处进光方向的亮度值。这两种方法操作简单,易于实现,但由于是通过标定摄像头模组测试外部环境的亮度值来实现测试亮度的一致性,故存在如下问题:①外部测试环境随时间的变化不是一成不变的,生产时不可能对测试环境做到实时监测;②因测试光源是由测试机台提供,所以不同的测试机台也会影响MTF测试亮度的一致性;③由于各摄像头模组存在感光差异,所以即使外部环境亮度保证了一致性,实际测试MTF值的影像亮度也会存在差异。因此,上述通过直接测试MTF的方法会影响测试的准确性以及MTF测试结果的误判,影响产线产能及作业效率。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法,能够解决由于测试环境亮度及模组个体差异造成MTF测试差异的问题。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法,包括如下步骤:
(1)选取标准样品:所述标准样品需满足的条件为:组装后模组的tilt\shift值为零、MTF值符合要求及光轴中心零偏移;
(2)定义标准Y值:选取Y值区间,并将该Y值区间分成若干区间Y值,用步骤(1)中的标准样品将生产线各个机台分别调节至所述各个区间Y值,同时测试在各个区间Y值下的MTF值,统计在不同区间Y值下,各个机台用标准样品的测试MTF值的差异,选取差异最小时的曝光Y值为标准Y值;
(3)软件测试标准样品的Y值:在标准样品上选取5个区域,测试并计算各个区域内每个传感器像素的亮度Y值,然后计算所述区域内所有传感器像素Y值的平均值,作为该区域的整体Y值,即为标准样品的Y值;
(4)校验:在测试光箱内,通过四向调节测试光源,将步骤(3)中得到的标准样品的测试Y值调节至符合步骤(2)中定义的标准Y值;
(5)完成校验:将步骤(4)中调整后的测试光源的亮度固定,即完成了所述以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度,进而测试正常生产的摄像头产品。
在本发明一个较佳实施例中,所述步骤(2)中,所述Y值区间为产品影像能曝光正常的Y值区间。
在本发明一个较佳实施例中,所述步骤(2)中,所述各区间Y值的差值为整个Y值区间值的1/10。
在本发明一个较佳实施例中,所述步骤(3)中,所述测试区域包括测试影像中心,及0.7视场左上、右上、左下和右下区域。
在本发明一个较佳实施例中,所述每个测试区域的大小按1/10影像总高等比例选取。
在本发明一个较佳实施例中,所述每个测试区域的大小与MTF测试选取区域大小一致。
在本发明一个较佳实施例中,所述步骤(4)中,所述测试光源的四向调节方向为:左上、右上、左下和右下。
上述校验过程采用Y值校验软件完成,并可采用C++汇编的方法将所述Y值校验软件与MTF 测试软件整合为集测试、校验一体化的软件,以大幅节省之前校验测试环境的时间,提高效率。
本发明的有益效果是:本发明一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法,利用摄像头模组感光最终反映为Sensor曝光的Y值这一特点,以模组测试时Sensor 的实际曝光Y值来定义测试亮度,避免了校验过程中因测试环境亮度差异及模组个体差异造成的MTF测试差异,提高了产线作业效率及减少不良品的误判。
附图说明
图1是本发明一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法的测试、校验程式图示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
请参阅图1,本发明实施例包括:
一种以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度的方法,其校验步骤为:作业前使用标准样品测试,用测试软件得出各个测试区域的Y值,对比定义的标准Y值规格,调节测试光箱内光源,使测试Y值符合标准Y值规格,固定测试光箱光源亮度后,即可测试正常生产摄像头产品;
具体步骤如下:
(1)选取标准样品:
所述标准样品需满足的条件为:组装后模组的tilt\shift值为零、MTF值符合要求及光轴中心零偏移;
选取方法为:先选取组装后没有横向或纵向偏移的模组,然后使用MTF测试软件测试MTF值及查看光轴中心,确定MTF值满足客户要求且光轴中心无偏移的产品作为标准样品,将标准样品保留,用于之后的机台校验使用;
(2)定义标准Y值:选取产品影像能曝光正常的Y值区间(Y值过小时影像会偏暗;Y值过大时影像会过曝),并将该Y值区间分成若干区间Y值,用步骤(1)中的标准样品将生产线各个机台分别调节至所述各个区间Y值,同时测试在各个区间Y值下的MTF值,统计在不同区间Y值下,各个机台用标准样品的测试MTF值的差异,选取差异最小时的曝光Y值为标准Y值;
其中,所述各区间Y值的差值即为一个Step,其定义方法为:整个Y值区间值的1/10,例如:Y值区间为130~180,其区间值为180-130=50,那么就以Y=5为一个Step,即区间差值为5;
(3)软件测试标准样品的Y值:在标准样品上选取测试影像中心,及0.7视场左上、右上、左下和右下总共5个区域,每个测试区域的大小按1/10影像总高等比例选取,且与MTF测试选取区域大小一致,测试并计算各个区域内每个Sensor Pixel(传感器像素)的亮度Y值,然后计算所述区域内所有Pixel Y值的平均值,作为该区域的整体Y值,即为标准样品的Y值;
(4)校验:模组测试在测试光箱内完成,在测试光箱内,将测试光源沿左上、右上、左下、右下四向调节,调整各区域的照明亮度,以将步骤(3)中得到的标准样品的测试Y值调节至符合步骤(2)中定义的标准Y值;
(5)完成校验:将步骤(4)中调整后的测试光源的亮度固定,即完成了所述以Sensor 曝光Y值校验MTF测试亮度,进而测试正常生产的摄像头产品。
因摄像头模组感光最终反映为Sensor曝光的Y值,本方法采用Sensor曝光Y值定义MTF测试亮度,避免了测试环境亮度及模组个体差异造成的MTF测试差异。
上述MTF测试采用MTF测试软件完成,上述校验过程采用Y值校验软件完成,本发明将采用C++汇编的方法将Y值校验软件整合至原有的MTF 测试软件中,使之成为测试、校验一体化的软件,可以大幅节省之前校验测试环境的时间,提高效率。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种以Sensor 曝光Y 值校验MTF 测试亮度的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)选取标准样品:所述标准样品需满足的条件为:组装后模组的tilt\shift 值为零、MTF 值符合要求及光轴中心零偏移;
(2)定义标准Y 值:选取Y 值区间,并将该Y 值区间分成若干区间Y 值,用步骤(1)中的标准样品将生产线各个机台分别调节至所述各个区间Y 值,同时测试在各个区间Y 值下的MTF 值,统计在不同区间Y 值下,各个机台用标准样品的测试MTF 值的差异,选取差异最小时的曝光Y 值为标准Y 值;所述Y 值区间为产品影像能曝光正常的Y 值区间;
(3)软件测试标准样品的Y 值:在标准样品上选取5 个区域,测试并计算各个区域内每个传感器像素的亮度Y 值,然后计算所述区域内所有传感器像素Y 值的平均值,作为该区域的整体Y 值,即为标准样品的Y 值;
(4)校验:在测试光箱内,通过四向调节测试光源,将步骤(3)中得到的标准样品的测试Y 值调节至符合步骤(2)中定义的标准Y 值;
(5)完成校验:将步骤(4)中调整后的测试光源的亮度固定,即完成了所述以Sensor曝光Y 值校验MTF 测试亮度,进而测试正常生产的摄像头产品。
2.根据权利要求1 所述的以Sensor 曝光Y 值校验MTF 测试亮度的方法,其特征在于,所述步骤(2)中,所述各区间Y 值的差值为整个Y 值区间值的1/10。
3.根据权利要求1 所述的以Sensor 曝光Y 值校验MTF 测试亮度的方法,其特征在于,所述步骤(3)中,所述测试区域包括测试影像中心,及0.7 视场左上、右上、左下和右下区域。
4.根据权利要求2 所述的以Sensor 曝光Y 值校验MTF 测试亮度的方法,其特征在于,所述每个测试区域的大小按1/10 影像总高等比例选取。
5.根据权利要求2 所述的以Sensor 曝光Y 值校验MTF 测试亮度的方法,其特征在于,所述每个测试区域的大小与MTF 测试选取区域大小一致。
6.根据权利要求1 所述的以Sensor 曝光Y 值校验MTF 测试亮度的方法,其特征在于,所述步骤(4)中,所述测试光源的四向调节方向为:左上、右上、左下和右下。
CN201410474483.9A 2014-09-17 2014-09-17 以Sensor曝光Y值校验MTF测试亮度的方法 Expired - Fee Related CN104349160B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410474483.9A CN104349160B (zh) 2014-09-17 2014-09-17 以Sensor曝光Y值校验MTF测试亮度的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410474483.9A CN104349160B (zh) 2014-09-17 2014-09-17 以Sensor曝光Y值校验MTF测试亮度的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104349160A CN104349160A (zh) 2015-02-11
CN104349160B true CN104349160B (zh) 2016-08-24

Family

ID=52503844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410474483.9A Expired - Fee Related CN104349160B (zh) 2014-09-17 2014-09-17 以Sensor曝光Y值校验MTF测试亮度的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104349160B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109587476B (zh) * 2019-01-10 2020-10-02 横店集团东磁有限公司 一种减少机台差异对模组一致性影响的方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09298683A (ja) * 1996-04-26 1997-11-18 Sony Corp 映像信号処理方法及び映像信号処理装置
CN101207834A (zh) * 2006-12-19 2008-06-25 Tcl数码科技(深圳)有限责任公司 数码相机清晰度的检测方法
TWI396932B (zh) * 2007-12-14 2013-05-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 調製傳遞函數值之測量方法
KR100924115B1 (ko) * 2009-07-15 2009-10-29 김대봉 카메라 모듈 검사 장치 및 방법
JP2012170002A (ja) * 2011-02-16 2012-09-06 Canon Inc 画像処理装置、画像処理方法、およびその画像処理プログラム
TWI413855B (zh) * 2011-04-27 2013-11-01 Altek Corp 解像力測試裝置及其方法
CN103037242B (zh) * 2013-01-10 2016-09-07 格科微电子(上海)有限公司 一种摄像头模组测试系统
CN103929598B (zh) * 2014-04-30 2018-04-27 信利光电股份有限公司 一种自动曝光方法及摄像头模组检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104349160A (zh) 2015-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20110249116A1 (en) Color measuring apparatus and color measuring method
CN104008736B (zh) 自动调节液晶显示器伽马曲线的装置、光学调试装置
CN103630332B (zh) 背光源亮度均匀性测量装置及测量方法
CN102034407B (zh) Led显示屏颜色亮度调整方法与系统
US9530337B2 (en) Test method and test apparatus for transparent display device
CN102376292B (zh) 一种显示单元亮色度校准方法
US9945724B2 (en) Method and device for determining yellowish level of screen caused by pressing
CN103698682A (zh) 一种基于fpga技术的cmos图像传感器测试装置
CN104994376B (zh) 一种投影仪投影的色彩自动模拟方法及系统
CN103162939A (zh) 一种摄像机镜头对焦检测方法及装置
CN105547342A (zh) 基于液晶面板的工业镜头测试装置及方法
CN110310596B (zh) 一种oled模组的gamma调节初值预测方法及系统
CN104316295A (zh) 一种led器件的光电测试方法及装置
CN103323894A (zh) 扩散板网点的加工方法、加工装置和背光模组
CN103900795A (zh) 一种测试透明显示屏透明效果的设备及方法
CN101556250A (zh) 产品质量的检验系统及其方法
CN108986721A (zh) 一种用于显示面板检测的检测图形生成方法
CN104349160B (zh) 以Sensor曝光Y值校验MTF测试亮度的方法
CN105611184A (zh) 数码影像装置白平衡调试方法及调试系统
CN106226033B (zh) 检测透光基板透过率的方法及装置
CN105744261A (zh) 机顶盒前面板的测试系统及测试方法
CN204229077U (zh) Lcd液晶屏检测装置
CN102982785A (zh) 用于电视墙的色彩调校系统
CN106128314A (zh) 一种室内全彩拼接屏及其校正方法
CN103347141A (zh) 一种cmyk四色印刷色差定位方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20180828

Address after: 334000 electronic information double creation Park, B District, Guangfeng District, Shangrao, Jiangxi

Patentee after: Jiangxi Italy Optoelectronic Technology Co., Ltd.

Address before: 215500 18 Suzhou Road, Yushan hi tech Industrial Park, Changshou City, Suzhou, Jiangsu.

Patentee before: CHANGSHU SHIYING OPTICAL TECHNOLOGY CO., LTD.

TR01 Transfer of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20160824

Termination date: 20200917

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee