CN104345025B - 材料老化测试设备及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种材料老化测试设备及其测试方法，材料老化测试设备包括一脉冲激光光源，用以提供第一光束；一扩束组件，用以将第一光束转换成第二光束后投射至一物件；一平台，用以承载该物件；以及一频谱分析仪，用以量测该物件因第二光束的投射所产生的频谱响应。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试设备及测试方法，尤其是涉及一种材料老化测试设备及其测试方法。
背景技术
太阳能是一种永不耗尽且无污染的能源，在解决目前石化能源所面临的污染与短缺时，一直是最受瞩目的焦点。其中，又以太阳能电池（solar cell）可直接将太阳能转换为电能，而成为目前相当重要的替代能源方案之一。
一般而言，此种长时间在户外环境使用的产品，其耐候性往往受到环境、气候的影响。举例来说，无论是太阳能电池本身亦或其封装材料，其长时间在太阳光底下运作的情况下，紫外线是造成材料劣化的原因之一。
因此，为了提升产品的使用寿命，并在短时间内获得产品的耐候参数，通常会对产品进行加速老化测试，而当老化测试完成后，再对经过老化测试的样品进行频谱量测，以作为老化参数调控的依据。
然而，若以太阳模拟光源、氙灯或是紫外线灯管作为老化测试设备加速老化的测试光源时，由于受限于光源的运作模式，多是以大面积光源照射样品，因而减弱了光源在单位面积上的照度，此时为提高老化的速率，通常会以提高光源强度为一方式，但此举却容易造成样品温度增加，容易导致样品受热，进而影响样品老化的因素。此外，上述老化光源多采大范围面积老化，不易对样品进行局部照射及对各个局部投射不同照度的光源。此外，上述光源皆以一定范围的波长对样品进行老化照射，其可能无法进一步地提供单一波长光源或随着条件微调其波长范围。
如前所述，完成老化测试后，再对经过老化测试的样品进行频谱量测，以作为老化参数调控的依据。就相关技术领域业者而言，老化测试设备与频谱量测设备多是独立的二种设备，且由于老化测试设备所采用的光源与频谱量测设备所采用的光源不同，会将完成老化测试的样品移送至频谱量测平台进行频谱量测。
此外，若将频谱量测设备设置于老化测试设备内部并配合一旋转平台，利用平台旋转将完成老化测试的样品送至频谱系统相对应位置以进行样品频谱量测，其所能达成的功效为可缩短样品移送过程的时间，但是老化测试与频谱量测所采用的光源不同，因此也不易同时进行老化测试与频谱量测，此外，可能会使设备体积极为庞大。
基于上述，如何提高老化测试效率，并能于老化测试过程中同步进行频谱量测，是目前研究的课题之一。
发明内容
为解决上述问题，本发明提供一种材料老化测试设备，包括一脉冲激光光源，用以提供一第一光束；一扩束组件，用以将该第一光束转换成一第二光束后投射至一物件；一平台，用以承载该物件；以及一频谱分析仪，用以量测该物件因该第二光束的投射所产生的频谱响应。
本发明提出一种材料老化测试方法，包括由一脉冲激光光源提供一第一光束投射至一扩束组件；该第一光束经由该扩束组件转换成一第二光束后投射至一物件，并持续投射一段时间；以及于该第二光束投射于该物件的该段时间内，由一频谱分析仪量测该物件因该第二光束的投射所产生的频谱响应。
为使本发明的结构、目的和功效有更进一步的了解，兹配合图示详细说明如后。
附图说明
图1是本发明一实施例的架构示意图；
图2是图1的第二光束在物件上形成光斑的移动路径示意图；
图3是本发明的扩束组件一实施例的结构示意图；
图4是本发明的扩束组件另一实施例的结构示意图；
图5是本发明的扩束组件又一实施例的结构示意图；
图6是本发明利用脉冲激光光源作为老化测试光源与传统老化测试光源的比较曲线图；
图7是本发明物件的光子数量随时间变化的频谱响应图；
图8是将图7积分后的频谱响应图。
符号说明
100：材料老化测试设备
110：基座
120：平台
130：脉冲激光光源
140、140A、140B：扩束组件
141、142：光学元件
150：平台
160：温度控制模块
170：频谱分析仪
171：滤光片
200：物件
A1、A2、A3、A4：区块
B1：第一光束
B2：第二光束
C1、C2、C3、C4：曲线
L1、L2、L3、L4：路径
SP1、SP2、SP3、SP4：光斑
具体实施方式
以下将参照随附的附图来描述本发明为达成目的所使用的技术手段与功效，而以下附图所列举的实施例仅为辅助说明，以利了解，但本案的技术手段并不限于所列举附图。
请参阅图1所示，材料老化测试设备100用以对一物件200进行光老化测试，用于得知材料的耐候特性。材料老化测试设备100包括一基座110、一平台120、一脉冲激光光源130、一扩束组件140以及一频谱分析仪170。基座110例如是一花岗石座，而将平台120、脉冲激光光源130、扩束组件140与频谱分析仪170架设其上。平台120例如是一X轴-Y轴移动平台，其用以承载并驱使物件200移动。扩束组件140位在平台120与物件200的上方。脉冲激光光源130所发出光束经由扩束组件140而投射至平台120上的物件200。此外，材料老化测试设备100还包括设置在平台120上的一平台150与一温度控制模块160，其中平台150是利用真空吸附的方式将物件200固定其上，而温度控制模块160设置在平台150内且具有水冷式回路（未绘示），用以对平台150上的物件200提供冷却的效果。
脉冲激光光源130用以提供一第一光束B1至扩束组件140，并经由扩束组件140将第一光束B1转换成一第二光束B2后方投射至物件200表面。该第一光束B1的功率可调整，且该第一光束B1的波长可调整。在此，本实施例的脉冲激光光源130是以产生波长范围280nm(纳米)至400nm的第一光束B1与第二光束B2，亦即以对材料劣化有明显影响的紫外光作为光老化的照射光源。
在本实施例中，脉冲激光光源130为短脉冲激光，其脉冲宽度小于1μs（微秒），脉冲重复率大于或等于10Hz(赫兹)，以让激光的平均能量能转换成周期性且瞬时的高能量，而让物件200所承受的照度具有周期性且瞬时的高强度老化作用，但是低累积能量的老化效果。
举例来说，当物件200为太阳能电池模块时，以能量为100Mj(百万焦耳)，脉冲宽度为5ns(奈秒)以及脉冲重复率10Hz(赫兹)的脉冲激光光源130为例，经扩束组件140而投射至物件200上的第二光束B2，其平均功率密度能依据不同的扩束面积调整为10kw/m2(千瓦/平方米)至0.1kw/m2，但因脉冲激光光源130的特性，而使物件200所承受的瞬间照度(以5ns进行换算）达20Mkw/m2～0.2Mkw/m2，依照此适中的平均功率密度作用下，将可以对太阳能电池模块进行加速光老化的作用而不致于导致模块的烧熔或再结晶(回火)作用。类似地，当物件200为高分子材料时，第二光束B2的平均功率密度为5kw/m2至0.1kw/m2，可对物件200进行加速光老化的作用而不致于导致高分子材料的破坏。
除了提供瞬时高功率密度的老化特性外，通过激光的脉冲特性，其异于现有持续性的照射光源，因而照射在物件200上的能量并不会因此而累积，亦即物件200的温度并不会因持续照射而逐渐增加，故能有效地降低物件200因热效应而影响其光老化测试。换句话说，本实施例的材料老化测试设备100，其通过设置在平台150内的温度控制模块160便足以达到控制物件200温度的效果。在本实施例中，温度控制模块160可将平台150上的物件200温度维持在10℃至60℃，除避免热量累积而影响其光老化外，也能有效地避免材料发生再结晶（或退火）的现象，甚至因烧熔而损坏。
图2是图1的第二光束在物件上形成光斑的移动路径示意图。请同时参考图1与图2，在本实施例中，通过平台120带动物件200移动，而能让使用者控制第二光束B2在物件200上的移动路径，并进一步地依据测试条件而调整第二光束B2的移动路径、功率与波长范围。
举例来说，将物件200表面区分成四个区块A1至A4（即为老化区），并使第二光束B2在区块A1至A4中分别以不同路径行经物件200的表面，同时让第二光束B2的功率、波长甚或照射面积随着路径而改变。如此一来，在区块A1中，第二光束B2在物件200上形成的光斑SP1便是以路径L1进行扫描。同样地，在区块A2至A4也能以类似方式而让光斑SP2至SP4分别以路径L2至L4进行扫描，其中所述路径L1至L4可以分别具有不同的疏密程度。如此一来，使用者便能在同一物件200上以多种条件形成的光斑进行照射，因而能以更有效率的方式取得物件200对于光老化的耐受参数。此外，通过可调波长的脉冲激光光源130，也能针对部分特定波长而对物件200产生选择性老化的结果，使用者并能因此找出物件200的材料特征对应特定吸收波长的相对关系。
此外，为顺利达到上述效果，从脉冲激光光源130投射出的第一光束B1可以先以扩束组件140对其进行转换，而后以第二光束B2投射在物件200上以形成所需条件的光斑。图3是本发明的扩束组件一实施例的结构示意图。请参考图3，扩束组件140是由多个光学元件（或透镜组）141、142所组成，以将第一光束B1的光斑面积扩大并整形成所需的轮廓，亦即使本实施例的第二光束B2的光斑面积大于第一光束B1的光斑面积。如图2所绘示，在20cm2(平方厘米)的物件200上形成面积大于1cm2的光斑SP1至SP4，而再以图2所绘示不同路径扫描物件200，以达到对物件200进行加速光老化的效果。此外，经由扩束之后的第二光束B2，其单位面积能量也会因此小于第一光束B1的单位面积能量，此举同时降低物件200所承受的能量而避免温度过高。
在此并未限制扩束组件的组成，任何能对脉冲激光光源130所发出的第一光束B1予以扩束、整形者，皆可适用于本实施例。图4是本发明另一实施例扩束组件的示意图，本实施例扩束组件140A为伽利略扩束镜组（Galilean beam expander），在结构上异于图3所绘示者为开普勒式扩束镜组（Keplerian beam expander），但却能达到类似的扩束效果。此外，图5是本发明另一实施例扩束组件的示意图，扩束组件140B能同时针对双光束分别进行扩束整形的效果。据此，使用者能针对物件的面积大小与外形，而通过这些扩束组件以进一步设定所需的光斑轮廓及大小。
本发明由脉冲激光光源作为老化测试光源的效果，可参阅图6所示，其中，曲线C1、C2、C3分别代表于相同条件下采用传统氙灯照射三种不同材质物件时，其黄化指数随时间变化的曲线，对于曲线C1、C2所代表的物件而言，都需要高达5,600小时，方能使黄化指数趋近10，至于曲线C3所代表的物件，甚至要超过5,600小时才有可能使黄化指数趋近于10。然而，于相同条件下，当采用脉冲激光光源作为老化测试光源照射曲线C1所代表的材料时，仅需400小时即可达到所需的黄化指数等于10，如图6中的曲线C4所示，证明本发明采用脉冲激光光源作为老化测试光源具有其可实施性并能达成其功效，本发明老化的时程确实比传统老化的方式有明显加速的效果。
在此说明，图6所示曲线C1、C2、C3为参考文献的结果，且为相同材质但不同配方的材料。至于利用脉冲激光光源老化(亦即本发明)的结果为曲线C4，也是相同材质但不同配方的材料。关于上述参考文献，其是National Renewable Energy Laboratory(NREL)于2008年12月4-5日于中国上海所召开的”APP International PV Reliability Workshop”会议，由John Pern,Ph.D.所提出的公开文献。
请参考图1所示，说明本发明的频谱分析仪170的作用。当第二光束B2投射于物件200时，可使物件200激发荧光，频谱分析仪170量测物件200的材料分子吸收激光光源能量后材料分子因跃迁所产生的荧光，此荧光会因跃迁的机制不同而有不同的激发荧光波长，而物件200老化程度与激发荧光的衰减有关，请参阅图7所示，物件在老化的同时，经由频谱量测每一段时间，包括0小时、16小时、21小时、26小时及31小时的频谱响应，显示物件的频谱响应会随着时间增加而下降。将图7的频谱响应图作积分，更可看出频谱响应随时间而下降的效果，如图8所示，其中，20mJ为投射物件的能量。据此，本发明采用频谱分析仪170配合滤光片171，于第二光束B2投射于物件200的一段时间内，由频谱分析仪170量测物件200因第二光束B2的投射所产生的频谱响应。
频谱分析仪170可与材料老化测试设备100一并启动，也可于脉冲激光光源130射出第一光束B1时启动，没有一定限制，但至少于第二光束B2开始投射于物件200，直至物件200激发荧光的频谱响应达到最高点并随时间下降（如图7所示）至最低点（无频谱响应）之间的时间，量测物件200的频谱响应，例如，若物件是太阳能电池模块时，通常其荧光范围约为400～800nm。而滤光片171的种类，是依所测试物件200的不同而可更换。例如，频谱分析仪170可以采用350～1000nm的可见光量测，滤光片171可以采用可见光滤光片(如380～720nm)以滤掉380nm以下的高能量短波长激发光源，仅量测到380～720nm的荧光吸收。如果以白光光源替代脉冲激光光源130时，则无需使用滤光片，仅量测其反射的可见光部分即可。
请参阅图1所示，通过本发明提出的材料老化测试设备，可提供一种材料老化测试方法，其包括以下步骤：
由一脉冲激光光源130提供一第一光束B1投射至一扩束组件140；
第一光束B1经由扩束组件140转换成一第二光束B2后投射至一物件200，并持续投射一段时间；以及
于第二光束B2投射于物件200的一段时间内，由一频谱分析仪170量测物件200因第二光束B2的投射所产生的频谱响应。
在本发明的上述实施例中，材料老化测试设备通过使用短脉冲激光作为光源，并经由扩束组件调整其光束面积以降低其单位面积平均照度，因而能以较低累积能量但最强瞬间能量的光源照射物件，其能有效改善以灯管式或灯箱式的光老化设备所产生的问题。再者，由于脉冲激光光源能提供物件局部区块的光老化照射，因此搭配以移动平台而使脉冲激光光源以不同功率、不同路径与不同波长照射物件，而在同一物件上完成各种不同条件的光老化照射。此举让材料老化测试设备能以更有效率的方式找出物件的光老化参数。此外，本发明所提供的材料老化测试是采用脉冲激光作为光源，于物件老化的过程中，可即时同步量测物件的频谱响应（亦即物件所激发荧光的衰减情形），作为材料老化评估的依据。
综上所述，本发明采用单一光源（脉冲激光）即可同步进行老化及频谱检测，不必更换光源，且由于物件设置于可多轴移动的平台，可用以承载并驱使物件移动，因此也无须移动物件。
以上所述的仅为本发明的实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围；故凡依本发明权利要求及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆应仍属本发明专利涵盖的范围内。
Claims (16)
1.一种材料老化测试设备，包括：
脉冲激光光源，用以提供一第一光束；
扩束组件，用以将该第一光束转换成一第二光束后投射至一物件；
平台，用以承载该物件；以及
频谱分析仪，用以量测该物件因该第二光束的投射所产生的频谱响应；
其中该第二光束投射于该物件时，可使该物件激发荧光，该频谱分析仪量测该物件所产生的荧光的频谱响应。
2.如权利要求1所述的材料老化测试设备，其中该频谱分析仪与该物件之间设有一滤光片。
3.如权利要求1或2所述的材料老化测试设备，其中该平台为一移动式平台，该物件随该移动式平台移动，而使该第二光束以至少一路径投射至该物件。
4.如权利要求3所述的材料老化测试设备，其中该物件分隔为多个老化区，该第二光束以多个路径投射于该些老化区，不同老化区含不同疏密路径。
5.如权利要求1所述的材料老化测试设备，其中该第一光束的功率可调整。
6.如权利要求1所述的材料老化测试设备，其中该第一光束的波长可调整。
7.如权利要求6所述的材料老化测试设备，其中该第一光束波长可调整范围是280nm至400nm。
8.如权利要求1所述的材料老化测试设备，其中该物件为太阳能电池，且该第二光束的平均功率密度为10kw/m2至0.1kw/m2。
9.如权利要求1所述的材料老化测试设备，其中该物件为高分子材料，而且该第二光束的平均功率密度为5kw/m2至0.1kw/m2。
10.如权利要求1所述的材料老化测试设备，其中该脉冲激光光源的脉冲宽度小于1μs，脉冲重复率大于或等于10Hz。
11.如权利要求1所述的材料老化测试设备，其中该第二光束投射在该物件上的面积大于1cm2。
12.如权利要求1所述的材料老化测试设备，还包括：
温度控制模块，连接该平台，以调整该平台用以承载该物件处的温度。
13.如权利要求12所述的材料老化测试设备，其中该平台温度可调范围为10℃至60℃。
14.一种材料老化测试方法，包括：
由一脉冲激光光源提供一第一光束投射至一扩束组件；
该第一光束经由该扩束组件转换成一第二光束后投射至一物件，并持续投射一段时间；以及
于该第二光束投射于该物件的该段时间内，由一频谱分析仪量测该物件因该第二光束的投射所产生的频谱响应；
其中该第二光束投射于该物件时，可使该物件激发荧光，该频谱分析仪量测该物件所产生的荧光的频谱响应。
15.如权利要求14所述的材料老化测试方法，其中该频谱分析仪量测该物件的频谱响应的时间，至少于该第二光束开始投射于该物件，直至该物件激发荧光的频谱响应达到最高点并随时间下降至最低点为止之间的时间。
16.如权利要求15所述的材料老化测试方法，其中该物件激发荧光的频谱响应下降至的该最低点指该物件无频谱响应的时点。
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|---|---|---|---|---|
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Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2168493B (en) * | 1984-12-13 | 1988-08-03 | Stc Plc | Ageing plastics materials |
| US7123363B2 (en) * | 2003-01-03 | 2006-10-17 | Rose-Hulman Institute Of Technology | Speckle pattern analysis method and system |
| CN201017022Y (zh) * | 2007-03-13 | 2008-02-06 | 杭州浙大三色仪器有限公司 | 半导体发光器件寿命加速试验装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5770430A (en) * | 1980-10-21 | 1982-04-30 | Kawasaki Steel Corp | Testing method for thermal impact resistance of refractory |
| DE102004037602B4 (de) * | 2004-08-03 | 2006-05-24 | Atlas Material Testing Technology Gmbh | Bewitterungsvorrichtung mit UV-Strahlungsquellen und Strahlungssensoren enthaltend einen zweifach kalibrierten UV-Sensor |
| US20120234807A1 (en) * | 2009-12-07 | 2012-09-20 | J.P. Sercel Associates Inc. | Laser scribing with extended depth affectation into a workplace |
| TWI397708B (zh) * | 2010-04-06 | 2013-06-01 | Ind Tech Res Inst | 太陽能電池之量測系統和太陽光模擬器 |
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Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2168493B (en) * | 1984-12-13 | 1988-08-03 | Stc Plc | Ageing plastics materials |
| US7123363B2 (en) * | 2003-01-03 | 2006-10-17 | Rose-Hulman Institute Of Technology | Speckle pattern analysis method and system |
| CN201017022Y (zh) * | 2007-03-13 | 2008-02-06 | 杭州浙大三色仪器有限公司 | 半导体发光器件寿命加速试验装置 |
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