CN104275877A - 一种中性透过色的双银low-e玻璃 - Google Patents
一种中性透过色的双银low-e玻璃 Download PDFInfo
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Abstract
一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,包括玻璃基材,所述玻璃基材的上表面由下而上依次设有Bi2O3介质层、第一TiO2介质层、CrNx膜层、ZnO平整层、第一Ag层、Cu层、第一CrNxOy膜层、第二TiO2介质层、AZO介质层、第二Ag层、第二CrNxOy膜层、第三TiO2介质层、以及Si3N4Oy顶膜层。本发明的透过色更中性。
Description
技术领域:
本发明涉及一种中性透过色的双银LOW-E玻璃。
背景技术:
LOW-E玻璃,是一种高端的低辐射玻璃,是在玻璃基材表面镀制包括银层在内的多层金属及其它化合物组成的膜系产品。
随着现代建筑的发展,人们审美观念的提高,对幕墙玻璃的外观色调与整体的建筑的协调性越来越受到人们的关注。而在众多颜色中,中性色越来越受到人们的喜欢。许多大型的工程建筑不约而同的都采用了中性色。传统的双银LOW-E玻璃,均采用单银LOW-E玻璃叠加的对称结构,这种结构,由于第一层银与第二层银厚度基本一致,使得传统的双银LOW-E玻璃的透过色偏绿色。
故有必要对现有的双银LOW-E玻璃作出改进,以提供一种透过色呈中性的双银LOW-E玻璃。
发明内容:
本发明的目的在于提供一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其透过色更中性。
一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,包括玻璃基材,所述玻璃基材的上表面由下而上依次设有Bi2O3介质层、第一TiO2介质层、CrNx膜层、ZnO平整层、第一Ag层、Cu层、第一CrNxOy膜层、第二TiO2介质层、AZO介质层、第二Ag层、第二CrNxOy膜层、第三TiO2介质层、以及Si3N4Oy顶膜层。
本发明可通过如下方案进行改进:
所述Bi2O3介质层的厚度为25nm。
所述第一TiO2介质层、第二TiO2介质层的厚度为30nm,第三TiO2介质层的厚度为20nm。
所述CrNx膜层的厚度为2nm。
所述ZnO平整层的厚度为10nm。
所述第一Ag层的厚度为3~5nm,第二Ag层的厚度为12~15nm。
所述Cu层的厚度为3~5nm。
所述第一CrNxOy膜层的厚度为3nm,第二CrNxOy膜层的厚度为2nm。
所述AZO介质层的厚度为70nm。
所述Si3N4Oy顶膜层的厚度为30nm。
本发明具有如下优点:1、本发明通过减少第一Ag层的厚度,并在第一Ag层的上面创造性地增加一层Cu层,同时,增加第二Ag层的厚度,产品的总辐射率相当,但由于两层Ag层的厚度不一致,在保证辐射率不变的情况下,其透过色更中性。2、基膜层采用Bi2O3介质层,可以增强玻璃与膜层的附着力及耐腐蚀性能,是传统Si3N4膜层的3倍以上,产品的耐腐蚀性能可增强3倍以上。
附图说明:
图1为本发明结构剖视图。
具体实施方式:
如图所示,一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,包括玻璃基材1,所述玻璃基材1的上表面由下而上依次设有Bi2O3介质层2、第一TiO2介质层3、CrNx膜层4、ZnO平整层5、第一Ag层6、Cu层7、第一CrNxOy膜层8、第二TiO2介质层9、AZO介质层10、第二Ag层11、第二CrNxOy膜层12、第三TiO2介质层13、以及Si3N4Oy顶膜层14。
进一步地,所述Bi2O3介质层2的厚度为25nm。其采用磁控溅射镀膜工艺,用交流中频电源、以氩气为溅射气体、氧气为反应气体溅射Bi靶,其中,氩氧比为(400SCCM~420SCCM):(450SCCM~500SCCM),将靶材上的材料打到玻璃基材表面,最终形成Bi2O3介质层,上述氩氧比是形成该膜层的核心,决定了成膜的质量。其可增强玻璃与膜层的附着力及耐腐蚀性能,是传统Si3N4的三倍以上。
再进一步地,所述第一TiO2介质层3、第二TiO2介质层9的厚度为30nm,第三TiO2介质层13的厚度为20nm。各TiO2介质层,均采用磁控溅射镀膜工艺,用交流中频电源溅射陶瓷钛靶,用氧气作反应气体,最终形成各TiO2介质层。
更进一步地,所述CrNx膜层4的厚度为2nm。其采用磁控溅射镀膜工艺,用直流电源溅射铬靶,用氮气做反应气体,最终形成CrNx膜层,相对以往的产品,耐磨性好。
又进一步地,所述ZnO平整层5的厚度为10nm。其主要用于平滑CrNx层,其采用磁控溅射镀膜工艺,用中频交流电源溅射陶瓷Zn(AZO)靶,最终形成ZnO平整层,为第一Ag层作铺垫,降低辐射率。
具体地,所述第一Ag层6的厚度为3~5nm,第二Ag层11的厚度为12~15nm。各Ag层,均采用磁控溅射镀膜工艺,用直流电源溅射银靶,最终形成各Ag层,第一Ag层6和第二Ag层11的厚度不对称,第一Ag层6较第二Ag层11薄,可以取得良好的膜层均匀性。
再进一步地,所述Cu层7的厚度为3~5nm。其采用磁控溅射镀膜工艺,用直流电流溅射铜靶,最终形成Cu层。通过增加这层Cu层,使本发明的透过色变得更中性。
更进一步地,所述第一CrNxOy膜层8的厚度为3nm,第二CrNxOy膜层12的厚度为2nm。各CrNxOy膜层,均采用磁控溅射镀膜工艺,用直流电源溅射铬靶,用氮气做反应气体,渗少量氧气,最终形成各CrNxOy膜层,其可提高膜层耐磨性、提高透光率、提高钢化时抗高温氧化。
又进一步地,所述AZO介质层10的厚度为70nm,其采用磁控溅射镀膜工艺,用中频交流电源溅射陶瓷AZO靶(氧化锌铝靶),最终形成AZO介质层。
再进一步地,所述Si3N4Oy顶膜层14的厚度为30nm。其采用磁控溅射镀膜工艺,用交流中频电源、氮气作反应气体、渗入少量氧气溅射半导体材料Si:Al(90:10),提高钢化时抗高温氧化性。
本发明通过减少第一Ag层的厚度,并在第一Ag层的上面创造性地增加一层Cu层,同时,增加第二Ag层的厚度,产品的总辐射率相当,但由于两层Ag层的厚度不一致,在保证辐射率不变的情况下,其透过色更中性,基本呈无色。所谓的透过色,是指玻璃竖直放置时,从内向外看出去的颜色。另外,本发明的基膜层采用Bi2O3介质层,可以增强玻璃与膜层的附着力及耐腐蚀性能,是传统Si3N4膜层的3倍以上,产品的耐腐蚀性能可增强3倍以上。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并非用来限定本发明实施的范围,凡依本发明专利范围所做的同等变化与修饰,皆落入本发明专利涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,包括玻璃基材,其特征在于:所述玻璃基材的上表面由下而上依次设有Bi2O3介质层、第一TiO2介质层、CrNx膜层、ZnO平整层、第一Ag层、Cu层、第一CrNxOy膜层、第二TiO2介质层、AZO介质层、第二Ag层、第二CrNxOy膜层、第三TiO2介质层、以及Si3N4Oy顶膜层;其中,所述第二Ag层的厚度是第一Ag层的2.4~5倍。
2.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述Bi2O3介质层的厚度为25nm。
3.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述第一TiO2介质层、第二TiO2介质层的厚度为30nm,第三TiO2介质层的厚度为20nm。
4.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述CrNx膜层的厚度为2nm。
5.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述ZnO平整层的厚度为10nm。
6.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述第一Ag层的厚度为3~5nm,第二Ag层的厚度为12~15nm。
7.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述Cu层的厚度为3~5nm。
8.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述第一CrNxOy膜层的厚度为3nm,第二CrNxOy膜层的厚度为2nm。
9.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述AZO介质层的厚度为70nm。
10.根据权利要求1所述的一种中性透过色的双银LOW-E玻璃,其特征在于:所述Si3N4Oy顶膜层的厚度为30nm。
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