CN104246456B - 光学测量装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。

Description

光学测量装置
技术领域
本发明涉及用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测的光学测量装置。
背景技术
作为用于评价光源性能的指标之一，已知有光的放射特性。配光特性可以作为这种放射特性的典型例子被列举出来。配光特性是指发光强度相对于角度的变化或者分布。绝对发光强度和相对发光强度中的任一种都被作为这种配光特性来使用。绝对发光强度的配光特性被应用于要求光源所发出的整个光束那样的情况等。另一方面，相对发光强度的配光特性被应用于要求配光图案的情况等。
作为用于测量这样的配光特性的装置的现有技术，例如有日本特开平07-294328号公报(专利文件1)、日本特开2003-247888号公报(专利文件2)等。
关于配光特性的测量，在日本工业标准中，规定有JIS C8105-5:2011(照明器具－第5部：配光测量方法)(非专利文件1)。
通常，在针对大型照明器具等光源测量配光特性的情况下，采用通过使反射镜转动而将自光源照射的光引导至受光器这样的构造。在这样的测量装置中，典型的是将测量对象的光源配置为可以绕铅垂轴线旋转，将反射镜配置为可以绕水平轴线旋转。配光测量装置主要分为两种。一种是反射镜在中央处旋转，光源在该反射镜周围旋转的方式(以下也记为“Moving Sample方式”。)，另一种是反射镜在光源的周围旋转的方式(以下也记为“Moving Mirror方式”。)。
更具体的说，在Moving Sample方式中，构成为使连结反射镜的中心和受光器的线与反射镜的旋转轴线相一致。在该方式中，容易依赖于光源的大小、光量而使测光距离(从光源到受光器的距离)变化。并且，在Moving Mirror方式中，连结光源的测光中心和受光器的线与反射镜的旋转轴线一致。在该方式中，不能使测光距离变化。
专利文献1:日本特开平07-294328号公报
专利文献2:日本特开2003-247888号公报
非专利文献1:JIS C8105-5:2011(照明器具－第5部：配光测量方法)，日本标准协会，2011年12月20日制定
发明内容
发明要解决的课题
因为从反射镜到受光器为止的光轴不变，所以上述的Moving Sample方式在测量方面具有优点。不过，由于在测量中光源在空间中移动，因此存在下述课题：在对特性因姿态而变化的放电灯、特性因周围温度而变化的LED照明器具这样的光源进行测量的情况下，特性不稳定。
另外，Moving Mirror方式由于反射镜在光源的周围移动而光源自身不移动，因此存在如下优点：能够将周围温度保持恒定，能够使测量中的光源的特性稳定化。但因为从反射镜到受光器为止的光轴变化，所以存在易受到受光器的受光角特性的影响、以及难以解决杂散光这样的问题。
本发明的目的在于提供与上述现有技术所公开的构造、方法不同的新的、用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测的光学测量装置。
用于解决问题的方案
根据本发明的一个技术方案，提供一种用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测的光学测量装置。光学测量装置包括：中空的圆筒状构件，其在一个平面上具有第一开口，并且在另一平面上具有第二开口；旋转机构，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部，其用于将光源配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个第三反射部，其用于使第一反射部的反射光向第二反射部入射。
优选支承部构成为使光源能够绕与第一轴线正交的第二轴线旋转。
优选旋转机构包含用于旋转支承圆筒状构件的辊。
优选光学测量装置还包含配置在第一轴线上的受光部。
优选支承部包含用于支承多个光源的臂部和通过旋转臂部来依次切换配置于测量位置的光源的部件。
优选第三反射部含有多个反射部，该多个反射部配置为将来自光源的光导向与第一轴线正交的方向。
更加优选第三反射部构成为使来自光源的光绕第一轴线旋转至少一部分。
发明的效果
根据本发明，能够实现用于与照射角相关联地对自光源照射出的光进行检测的新的光学测量装置。
附图说明
图1是基于本发明实施方式的光学测量装置的侧剖视图。
图2是表示基于本发明实施方式的光学测量装置的整体结构的立体图。
图3是图1的III-III线处的剖视图。
图4是表示使图1所示的滚筒沿X轴旋转90°后的状态的图。
图5是表示基于本发明实施方式的处理装置的硬件构成的概略图。
图6是表示基于本发明实施方式的光学测量装置的电气构造的概略图。
图7是表示基于本发明实施方式的第一变形例的光学测量装置的示意图。
图8是表示基于本发明实施方式的第二变形例的光学测量装置的示意图。
图9是表示基于本发明实施方式的第二变形例的另一光学测量装置的示意图。
图10是图9的X-X线处的剖视图。
具体实施方式
参照附图对本发明的实施方式进行详细说明。另外，对于图中相同或者相当的部分标注相同的附图标记，不再重复说明。
<A.整体构造>
基于本实施方式的测量装置1与照射角相关联地对从测量对象的光源照射的光进行检测。更具体而言，光学测量装置1分别测量以光源为中心的空间坐标系的多个位置处的发光强度，从而取得关于光源的发光强度的空间分布。以下，作为光放射特性的典型例，说明对光源的配光特性进行测量的例子。
首先，对光学测量装置1的结构进行说明。图1是基于本发明实施方式的光学测量装置1的侧剖视图。图2是表示基于本发明实施方式的光学测量装置1的整体结构的立体图。图3是图1的III-III线处的剖视图。
参照图1～图3，光学测量装置1包含中空的滚筒2。在滚筒2的一个平面(底面)侧配置光源30并使该光源30点亮，并且由在滚筒2的另一平面(底面)侧配置的受光部6接收来自光源30的光，从而测量光源30的发光强度。滚筒2在一个平面(底面)具有用于配置光源30的开口即光源窗10，并且在另一平面(底面)具有用于取得来自光源30的光的开口即观测窗18。
在测量配光特性的情况下，滚筒2以X轴为中心旋转，光源30以Y轴为中心旋转，从而针对各个照射角测量自光源30照射的光。滚筒2被配置为能够绕作为滚筒2的中心轴(与光轴AX1一致)的X轴旋转。即，光学测量装置1包括用于使滚筒2绕其中心轴旋转的旋转机构。将滚筒2相对于X轴的旋转角度设定为θ。例如，以规定的初始状态为基准(0°)，旋转角度θ被定义在-180°≤θ≤180°的范围内。但实际使用中，只要在-90°≤θ≤90°的范围内测量即可的情况也很多。
与滚筒2的光源窗10相关联地配置光源支承部20。光源支承部20将光源30配置在规定位置，并且提供用于使光源30点亮的电源。光源30的发光面的中心位于滚筒2的中心轴(光轴AX1)上。即，光源支承部20将光源30配置在如下位置(测量位置)：在滚筒2的中心轴上，并且所照射的光穿过光源窗10而入射到滚筒2的内部的位置。
光源30由光源支承部20的臂部22支承，臂部22能够绕Y轴旋转。光源30根据需要绕Y轴旋转。即，光源支承部20构成为使光源30能够绕与滚筒2的中心轴正交的Y轴旋转。将光源30借助该光源支承部20而相对于Y轴的旋转角度设为φ。例如，以规定的初始状态为基准(0°)，旋转角度φ被定义在-180°≤φ≤180°的范围内。
在滚筒2内设置反射镜12、14、16。入射到滚筒2内的来自光源30的光经由反射镜12、反射镜14和反射镜16而被向受光部6引导。即，在滚筒2的内部固定有三个反射镜，在使配置在滚筒2的中心轴上的光源30点亮的状态下滚筒2旋转。伴随着滚筒2的旋转，反射镜12也绕光源30旋转，接收各个放射角的来自光源30的光。反射镜14和反射镜16将来自反射镜12的反射光从滚筒2的旋转中心(观测窗18)射出。受光部6接收从该滚筒2射出的光。
反射镜12将来自光源30的光向预先确定的方向反射。反射镜12因为被固定于滚筒2而伴随着滚筒2的旋转绕X轴旋转。因为光源30的发光面的中心位于滚筒2的中心轴上，因此无论滚筒2的旋转角度多大，从光源30到反射镜12的距离都保持恒定。即，无论滚筒2在哪个旋转位置，光源30总是被包含在反射镜12的视场内。如上所述，光学测量装置1包含配置在滚筒2的内部且用于反射自光源30穿过光源窗10而入射的光的反射镜12。
反射镜14与观测窗18相关联地被固定。反射镜14反射滚筒2的内部的光，使该光穿过观测窗18而沿着滚筒2的中心轴(光轴AX1)向滚筒2的外部传播。反射镜14构成为，无论滚筒2在哪个旋转位置，都将其所反射的反射光向受光部6射出。
反射镜16使反射镜12的反射光向反射镜14入射。在图1所示的例子中，示出了在反射镜12和反射镜14之间配置有一个反射镜16的结构，也可以配置多个反射镜。
受光部6配置在滚筒2的中心轴(光轴AX1)上，用于检测从光源30照射的光、即从滚筒2射出的光的发光强度。受光部6将表示接收到的光的发光强度(强度)的数值向处理装置200输出。作为受光部6，既可以采用像光电二极管这样的用来检测光的强度的器件，也可以采用用来检测各种波长的强度(光谱)的分光检测器。并且，受光部6包含用来收集光的透镜系统等。
基本上，由光学测量装置1进行的配光特性的测量是在暗室内进行的。但是，滚筒2和受光部6之间的测光距离变长的话，有可能使得在其光学路径上的某部分产生的杂散光混进来。这种杂散光成为测量误差的主要原因。因此，优选在滚筒2和受光部6之间的光学路径上设置遮光板62、遮光板64。遮光板62、遮光板64通过限制从滚筒2射出的光的光路(光轴直径)来防止杂散光的混入。
光学测量装置1包含用于控制滚筒2的旋转、光源30的旋转和点亮的控制部4。控制部4与处理装置200连接，根据来自处理装置200的指令使辊52、辊54及臂部22旋转。
处理装置200将受光部6的检测结果(表示发光强度的数值)与检测时的滚筒2的旋转角度θ以及光源支承部20的旋转角度φ相关联地存储。即，处理装置200针对每个旋转角度θ和旋转角度φ的组合来存储检测结果。该存储的检测结果为光源30的发光强度的空间分布、即配光特性。
<B.旋转机构>
如上所述，光学测量装置1包含用来使滚筒2绕该滚筒2的中心轴旋转的旋转机构。只要能够驱动滚筒2旋转，采用任意的机构都可以。例如，也可以将滚筒2的中心部和电动机机械地连结，通过该电动机的旋转驱动来使滚筒2旋转。
在本实施方式中采用如下结构：如图1～图3所示，配置用于旋转支承滚筒2的辊52和辊54，通过旋转驱动该辊52和辊54而使滚筒2旋转。通过采用在滚筒2的外周侧的下部设置辊52和辊54而使滚筒2旋转的驱动结构，可以使装置紧凑化。另外，与对用于支承反射镜的臂部自身和用于支承光源的臂部自身进行旋转驱动的构造相比，能够减小滚筒2的旋转驱动所需的电力。并且，因为驱动结构位于滚筒2的外周侧，因此能够使用户更容易接近光源30。
在图3中，示出了由配置在滚筒2下部的辊52和辊54来进行滚筒2的支承和旋转的结构，但并不仅限于此。例如，也可以分别配置用于使滚筒2可旋转地进行支承的从动辊和用于旋转驱动滚筒2的驱动辊。
(C.测量状态)
图4为表示使图1所示的滚筒2绕X轴旋转90°后的状态的图。在图1中表示测量从光源30铅垂向下照射的光的状态。与此相对，在图4中表示测量从光源30水平向里侧照射的光的状态。在图1和图4所示的任意测量状态下，从光源30照射的光中作为测量对象的成分均先入射到反射镜12，之后再经由反射镜14和反射镜16入射到受光部6。无论滚筒2在哪个旋转位置上，从光源30到受光部6的光学路径都维持同样的光学距离。由此能够测量光源30的配光特性。
<D.处理装置>
接下来，对基于本实施方式的处理装置200进行说明。图5是表示基于本发明实施方式的处理装置200的硬件构成的概略图。
参照图5，处理装置200典型地是由计算机来实现的。具体而言，处理装置200包括执行包含操作系统(OS:Operating System)在内的各种程序的CPU(Central ProcessingUnit)202、暂时存储CPU 202执行程序所需的数据的存储器212、以及非易失性地存储由CPU202执行的程序的硬盘(HDD:Hard Disk Drive)210。另外，在硬盘210中预先存储有用来实现有关配光特性测量的处理的程序，这样的程序由CD-ROM驱动器214从CD-ROM(CompactDisk-Read Only Memory)214A等中读取。或者，CPU202借助网络接口(I/F)206经由网络从服务器装置等接收程序，并将接收到的程序存储至硬盘210。
CPU202借助I/O(Input Output)单元216接收由受光部6检测出的检测结果，并向光学测量装置1发出各种控制指令。CPU202借助由键盘、鼠标等构成的输入部208接受来自用户等的指示，并且将执行程序而计算出的配光特性等输出至显示器204等。
也可以由专用的硬件来实现被搭载在处理装置200上的功能的一部分或者全部。
<E.电气构造>
接下来，对基于本实施方式的光学测量装置1的电气构造进行说明。图6是表示基于本发明实施方式的光学测量装置1的电气构造的概略图。
参照图6，光学测量装置1进一步包含分别用于驱动旋转辊52和旋转辊54的电动机72和电动机74、以及用于旋转驱动光源支承部20的臂部22的电动机76。作为电动机72、电动机74、电动机76，优选能够进行旋转位置(相位)控制的步进电动机，以能够高精度地控制旋转角度。
控制部4还包含：通信接口(I/F)40；电动机驱动器42、电动机驱动器44、电动机驱动器46；供给用来点亮光源30的电力的光源驱动部48。通信接口40解码来自处理装置200的控制指令，向电动机驱动器42、电动机驱动器44、电动机驱动器46及光源驱动部48发出内部指令。
电动机驱动器42、电动机驱动器44、电动机驱动器46按照来自通信接口40的内部指令来驱动电动机72、电动机74、电动机76。光源驱动部48按照来自通信接口40的内部指令而生成用来点亮光源30的电力。
也可以由控制部4基于来自电动机72、电动机74、电动机76的反馈信号(脉冲信号等)来检测滚筒2的旋转角度θ和光源30的旋转角度φ，并将这些检测值向处理装置200输出。
<F.第一变形例(由时效处理引起的测量等待时间的缩短化)>
为了准确地测量光源30的放射特性，需要在测量开始前充分地对光源30进行时效处理。时效处理是指点亮光源30直至其成为稳定状态的动作。以下说明能够缩短由这种时效处理引起的测量等待时间的变形例。
图7是表示基于本发明实施方式的第一变形例的光学测量装置1A的示意图。图7所示的光学测量装置1A取代光源支承部20而配置有光源支承部20A，这点与图1中示出的光学测量装置1不同。其它结构因为与图1中示出的光学测量装置1相同，所以不再重复详细的说明。
光源支承部20A能够支承多个光源30(图7所示的例子中为两个光源30)并将多个光源30点亮。更具体而言，光源支承部20A具有两个臂部22-1、22-2，每个臂部都可以安装光源30。并且，光源支承部20A能够绕Y轴旋转，从而将分别安装在臂部22-1、臂部22-2上的光源30交替配置在测量位置。即，光源支承部20A包含用来支承多个光源30的臂部22-1、臂部22-2，通过旋转臂部22-1、臂部22-2来依次切换配置在测量位置上的光源30。也可以设置三个以上的臂部，从而能够并行地对更多的光源30进行时效处理。
通过采用这样的构造，能够同时点亮多个光源30。也就是说，能够在点亮一个光源30进行测量的期间内点亮其它的光源30进行时效处理。另外，由于在臂部22-1和臂部22-2之间用暗幕70等进行遮光，所以自时效处理中的光源30照射的光不会导致测量误差。
依据本变形例，因为能够同时执行某个光源30的放射特性的测量和其余光源30的时效处理，所以能够缩短由时效处理时间引起的测量等待时间。另外，还能够缩短配置在测量位置的光源30的更换所需的时间。
<G.第二变形例(测光距离的延长化)>
依据上述的JIS C8105-5:2011(照明器具－第5部：配光测量方法)，优选测量配光特性时的测光距离(从光源30到受光部6的距离)是光源(照明器具)的发光面的最大尺寸的5倍以上。例如，优选测量1.2m的荧光灯的配光特性时的测光距离为6m以上。
但是，该发光面的最大尺寸的5倍这一条件，是基于即使从光源30照射的光束的开度为120％也能够使发光强度的误差为1％以下这一假定而确定的。因此，例如，当光源30有聚光性的配光特性时，发光面的最大尺寸的5倍是不够的，需要更长的测光距离。
因此，作为本实施方式的第二变形例，说明测光距离能够延长的结构。
图8是表示基于本发明实施方式的第二变形例的光学测量装置1B的示意图。图8所示的光学测量装置1B取代滚筒2而配置有滚筒2B，这点与图1中示出的光学测量装置1不同。其它结构均与图1中示出的光学测量装置1相同，不再重复详细的说明。
滚筒2B除了反射镜12和反射镜14B之外，还包含反射镜16-1、反射镜16-2、反射镜16-3。反射镜14B与图1所示的反射镜14同样地对滚筒2内部的光进行反射，并沿光轴AX1将该光向滚筒2的外部射出。反射镜16-1、反射镜16-2、反射镜16-3构成用来将入射到反射镜12的光向反射镜14B引导的光路。即，反射镜16-1、反射镜16-2通过将来自光源30的光导向与X轴正交的方向而构成更长的光路。
由该反射镜16-1、反射镜16-2、反射镜16-3构成的光路与由图1中示出的反射镜16构成的光路相比较长，所以能够实现更长的测光距离。
图8中示出构成了将来自光源30的光沿Y轴朝向纸面上方仅传播一次的光路的例子，但不限于此，也可以形成朝向纸面上方或者纸面下方传播多次的光路。
图9是表示基于本发明实施方式的第二变形例的其它光学测量装置1C的示意图。图10是图9的X-X线处的剖视图。
图9所示的光学测量装置1C取代滚筒2而配置有滚筒2C，这点与图1所示的光学测量装置1不同。其它结构因为与图1所示的光学测量装置1同样，所以不再重复详细的说明。
滚筒2C除了反射镜12和反射镜14C之外，还包含以X轴为中心的具有规定关系地配置的反射镜16-4、反射镜16-5、反射镜16-6、反射镜16-7。反射镜14C与图1所示的反射镜14同样地对滚筒2内部的光进行反射，并沿光轴AX1将该光向滚筒2的外部射出。反射镜16-4、反射镜16-5、反射镜16-6、反射镜16-7构成用来将入射到反射镜12的光向反射镜14C引导的光路。即，反射镜16-4、反射镜16-5、反射镜16-6、反射镜16-7通过将来自光源30的光导向与X轴正交的方向而构成更长的光路。如图10所示，反射镜16-4、反射镜16-5、反射镜16-6、反射镜16-7构成为使来自光源30的光绕X轴旋转至少一部分。
因为由该反射镜16-4、反射镜16-5、反射镜16-6、反射镜16-7构成的光路与由图1所示的反射镜16构成的光路相比较长，所以能够实现更长的测光距离。
图9和图10中表示构成了使来自光源30的光以X轴为中心顺时针传播3/4周的光路的例子，但不限于此，也可以形成以X轴为中心传播多周的光路。并且，也可以适当地组合图8所示的结构例和图9、图10所示的结构例。
<H.优点>
根据本实施方式，能够实现一种Moving Mirror方式的配光测量装置。根据本实施方式，因为光源30不移动，从而能够将光源30的周围温度保持恒定，能够使测量中的光源30的特性稳定化。并且，因为无论滚筒2的旋转角度多大，从滚筒2射出后入射到受光部6的光轴总是恒定的，所以能够提高测量精度。
根据本实施方式，因为在由反射镜16反射后的光射出的面上作为开口仅设置了观测窗18，所以可以减少入射到受光部6的杂散光。
根据本实施方式，因为使用配置在滚筒2外周侧的驱动机构，所以可以使装置紧凑化。另外，因为驱动机构位于滚筒2的外周侧，所以更容易使用户接近光源30。
本次公开的实施方式的全部方面都只是例示，应认为并不具有限制性。本发明的范围并不是上述的说明内容，而是由权利要求书示出，旨在包含与权利要求等同的意义以及范围内的全部变更。
附图标记说明
1、1A、1B、1C 光学测量装置
2、2B、2C 滚筒
4 控制部
6 受光部
10 光源窗
12、14、14B、14C、16、16-1～16-7 反射镜
18 观测窗
20、20A 光源支承部
22、22-1、22-2 臂部
30 光源
40 通信接口
42、44、46 电动机驱动器
48 光源驱动部
52、54 辊
62、64 遮光板
70 暗幕
72、74、76 电动机
200 处理装置
202 CPU
204 显示器
206 网络接口
208 输入部
210 硬盘
212 存储器
214 CD-ROM驱动器
216 I/O单元

Claims (6)

1.一种光学测量装置，其用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测，其特征在于，该光学测量装置包括：
中空的圆筒状构件，其在一个平面上具有第一开口，并且在另一平面上具有第二开口；
旋转机构，其包含用于旋转支承所述圆筒状构件的辊，用于使所述圆筒状构件绕所述圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；
支承部，其用于将所述光源配置于测量位置，该测量位置在所述第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过所述第一开口而入射到所述圆筒状构件的内部的位置；
第一反射部，其配置在所述圆筒状构件的内部，用于反射从所述光源穿过所述第一开口而入射的光；
第二反射部，其用于对所述圆筒状构件的内部的光进行反射，使该光穿过所述第二开口而沿所述第一轴线向所述圆筒状构件的外部传播；以及
至少一个的第三反射部，其用于使所述第一反射部的反射光向所述第二反射部入射，
所述支承部包含：
将多个光源以能够绕与所述第一轴线正交的第二轴线旋转的方式支承的臂部；以及
通过旋转所述臂部而依次切换配置于所述测量位置的光源的部件。
2.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，
该光学测量装置还包含配置在所述第一轴线上的受光部。
3.一种光学测量装置，其用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测，其特征在于，该光学测量装置包括：
中空的圆筒状构件，其在一个平面上具有第一开口，并且在另一平面上具有第二开口；
旋转机构，其包含用于旋转支承所述圆筒状构件的辊，用于使所述圆筒状构件绕所述圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；
支承部，其用于将所述光源配置于测量位置，该测量位置在所述第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过所述第一开口而入射到所述圆筒状构件的内部的位置；
第一反射部，其配置在所述圆筒状构件的内部，用于反射从所述光源穿过所述第一开口而入射的光；
第二反射部，其用于对所述圆筒状构件的内部的光进行反射，使该光穿过所述第二开口而沿所述第一轴线向所述圆筒状构件的外部传播；以及
至少一个的第三反射部，其用于使所述第一反射部的反射光向所述第二反射部入射，
所述第三反射部包含配置为将来自所述光源的光导向与所述第一轴线正交的方向的多个反射部。
4.根据权利要求3所述的光学测量装置，其特征在于，
所述第三反射部构成为使来自所述光源的光绕所述第一轴线旋转至少一部分。
5.根据权利要求3或4所述的光学测量装置，其特征在于，
所述支承部构成为，能够使所述光源绕与所述第一轴线正交的第二轴线旋转。
6.根据权利要求3或4所述的光学测量装置，其特征在于，
该光学测量装置还包含配置在所述第一轴线上的受光部。
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