CN104240216A - 图像校正方法、模块及其电子装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种图像校正方法、模块及其电子装置,此图像校正方法执行于电子装置中。首先,于微距离,使用电子装置提取至少一第一图像,借此获得对应第一图像的第二图像。接着,使用电子装置通过第一图像与第二图像标定电子装置的提取镜头,借此获得多个畸变参数的至少其中之一。然后,于微距离,使用电子装置提取一任意图像,借此获得对应任意图像的第三图像。之后,使用电子装置依据多个畸变参数的至少其中之一校正第三图像。本发明可以在不改变提取镜头的精密度的情况下对提取的图像进行校正,以节省成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种提取影像装置,且特别涉及一种用于校正因提取镜头导致图像畸变的图像校正方法、模块及其电子装置。
背景技术
目前市面有许多电子装置(例如手机、平板电脑与数字相机等)都具有提取影像的镜头,以进行远距离提取影像(亦即,上述电子装置属于高拍设备)。因此,当使用者使用上述电子装置于微距离提取物体(例如名片或文本等)时,由于提取镜头(其本身为透镜)对同一距离的物体不同部分的放大率不同,故电子装置所获得的图像往往会产生扭曲,导致图像畸变(distortion)。
虽然,目前精密仪器可以制造出精密度高的提取镜头来处理图像畸变,然而,提取镜头精密度越高,则其成本越高。由于,电子装置一般不会采用成本过高的提取镜头来有效地校正图像,故使用者无法很正确地读取电子装置所获得的图像的信息。即便在不考虑成本的情况下,采用精密度高的提取镜头,所提取获得的图像也免不了多少会有些许的图像畸变。
发明内容
针对现有技术存在的问题,本发明的目的在于提供一种图像校正方法,此图像校正方法执行于电子装置中。首先,于微距离,使用电子装置提取至少一第一图像,借此获得对应第一图像的第二图像。接着,使用电子装置通过第一图像与第二图像标定电子装置的提取镜头,借此获得多个畸变参数的至少其中之一。然后,于微距离,使用电子装置提取一任意图像,借此获得对应任意图像的第三图像。之后,使用电子装置依据多个畸变参数的至少其中之一校正第三图像。
本发明实施例还提供一种图像校正模块,此图像校正模块包括图像处理单元与存储单元。存储单元用以存储第二图像与多个畸变参数的至少其中之一,其中电子装置于微距离提取至少一第一图像,以获得对应第一图像的第二图像。图像处理单元依据第一图像与第二图像标定电子装置的提取镜头,借此获得多个畸变参数的至少其中之一。接着,图像处理单元依据多个畸变参数的至少其中之一校正第三图像,其中电子装置提取一任意图像,借此获得对应任意图像的第三图像。
本发明实施例还提供一种电子装置,此电子装置具有提取镜头、成像模块与上述图像校正模块。
本发明的有益效果在于,综合以上所述,本发明实施例提供一种图像校正方法、模块及其电子装置可以在不改变提取镜头的精密度的情况下对提取的图像进行校正。由于不需要改变提取镜头的精密度,故电子装置可以采用较为廉价的提取镜头,以节省电子装置的制造成本。
为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,但是这些说明与所附附图仅用来说明本发明,而非对本发明的权利范围作任何的限制。
附图说明
图1为根据本发明实施例的图像校正方法的流程图。
图2是本发明实施例的第一图像的第一参考点位于世界坐标系的坐标值与第二图像的第二参考点于电脑图像坐标系的坐标值之间的数学建模流程图。
图3为根据本发明实施例的提取镜头理想模型示意图。
图4是根据本发明实施例的通过标定提取镜头来获得多个畸变参数的至少其中之一的流程图。
图5是本发明实施例的图像校正方法所对应的使用者界面的示意图。
图6是根据本发明实施例的图像校正模块的功能方框图。
图7是根据本发明实施例的电子装置的方框图。
图8A、图8C、图8E分别为电子装置提取所获得的图像产生桶形畸变、枕形畸变及梯形畸变的示意图。
图8B、图8D与图8F分别为图8A、图8C、图8E中的图像使用本发明实施例的图像校正方法进行校正后的示意图。
其中,附图标记说明如下:
S101~S107、S201~S209、S301、S303:步骤
41:图像显示框
43:功能框
430:标定图像处理功能
431:标定提取镜头功能
432:畸变参数与提取镜头内部参数字段
433:图像校正功能
434:畸变参数微调功能
435:重新设定畸变参数功能
436:提取镜头外部参数定标功能
437:梯形度调节功能
438:角度调节功能
439:保存参数功能
5、65:图像校正模块
51:图像处理单元
53:存储单元
6:电子装置
61:提取镜头
63:成像模块
具体实施方式
在下文将参看随附附图更充分地描述各种例示性实施例,在随附附图中展示一些例示性实施例。然而,本发明概念可能以许多不同形式来体现,且不应解释为限于本文中所阐述的例示性实施例。确切而言,提供这些例示性实施例使得本发明详尽且完整,且将向熟知此项技术者充分传达本发明概念的范畴。在诸附图中,可为了清楚而夸示层及区的大小及相对大小。类似数字始终指示类似元件。
应理解,虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种元件,但这些元件不应受这些术语限制。这些术语乃用以区分一元件与另一元件。因此,下文论述的第一元件可称为第二元件而不偏离本发明概念的教示。如本文中所使用,术语“及/或”包括相关联的列出项目中的任一者及一或多者的所有组合。
[图像校正方法的实施例]
请先参照图1,图1为根据本发明实施例的图像校正方法的流程图。所述图像校正方法用以执行于电子装置中,例如,手机、平板电脑、数字相机或个人电脑等,但电子装置的类型并非用以限定本发明。本发明实施例的图像校正方法较佳地可以是一种软件执行的方法,但熟知此项技术者亦可以通过设计硬件电路等来实现本发明实施例的图像校正方法。简单地说,电子装置较佳地可以具有存储单元、处理单元以执行通过软件实现的图像校正方法。另外,电子装置还可以具有提取镜头,以于提取图像后,便能立即地对提取获得的图像进行图像校正。
首先,在步骤S101中,于微距离,使用电子装置提取至少一第一图像,借此获得对应第一图像的第二图像,其中的微距离小于50厘米。第一图像用以标定提取镜头并据此获得至少一畸变参数,且可以是电子装置出厂前的预设图像,但本发明并不限定于此,例如第一图像可以是用户自行定义或选择的图像。第二图像为成像于电子装置中的图像,其因为提取镜头对同一距离的物体不同部分的放大率不同,故第二图像实质上有图像畸变。
于步骤S103中,使用电子装置通过第一图像与第二图像标定提取镜头,借此获得多个畸变参数的至少其中之一,其中多个畸变参数包括径向畸变参数与切向畸变参数,甚至,电子装置还可以通过标定提取镜头来获得提取镜头内部参数与提取镜头外部参数。更精确地说,电子装置可以通过获得第二图像的多个第二参考点于电子装置的提取镜头坐标系的坐标值与于电子装置的电脑图像坐标系的坐标值来获得多个径向畸变参数、多个切向畸变参数与多个提取镜头内部参数,其中多个第二参考点对应第一图像中的多个第一参考点,也就是说第一图像的其中第一参考点经过提取镜头而成像于第二图像的第二参考点。甚至,电子装置可以通过获得第二图像中的多个第二参考点于电子装置的提取镜头坐标系的坐标值与第一图像中的多个第一参考点于世界坐标系的坐标值来获得提取镜头外部参数。
在此请注意,若已经先行给定多个切向畸变参数、多个提取镜头内部参数与多个提取镜头外部参数,则于步骤S103中,电子装置可以仅获得多个径向畸变参数的至少其中之一。对应地,若已经先行给定多个径向畸变参数、多个提取镜头内部参数与多个提取镜头外部参数,则于步骤S103中,电子装置可以仅获得多个切向畸变参数的至少其中之一。总而言之,本发明并不限制是否通过步骤S103中标定提取镜头来获得提取镜头内部参数与提取镜头外部参数,且也不限制通过步骤S103中标定提取镜头来获得的畸变参数的类型。另外,关于步骤S103如何通过标定提取镜头来获得多个畸变参数的至少其中之一的原理将于后面段落描述。
于本实施例中,上述第一图像可以为二维N×N格(正方形格子)的黑白棋盘图像,且多个第一参考点可以是黑白棋盘图像的多个内角点,其中N可以例如等于7,且黑白棋盘图像的每一格的长度与宽度可以例如皆为25.5厘米。然而,需要说明的是,本发明并不限制第一图像的类型、N的数值、黑白棋盘图像的每一格的长度与宽度等。举例来说,第一图像亦可以是多个黑色与白色三角形所组成的跳棋棋盘图像,或者可以是2Nx2N三角形格的黑白棋盘图像。
在此请注意,第一图像亦可以是其他分布均匀且形状方正(例如:六边形、棱形或五边形)如棋盘的图像,且甚至不限定为黑白相间,而可以是任意颜色相间隔。另外,N的数值并未有任何的限制,但如果N的数值越大,则对应产生的校正效果会越好。然而,本发明却不限定于此,第一图像亦可以是其他不具有规则性的图像。
然后,在步骤S105,于微距离,使用电子装置提取一任意图像,以借此获得对应任意图像的第三图像。之后,在步骤S107中,使用电子装置依据多个畸变参数的至少其中之一校正第三图像,甚至,电子装置可以依据多个畸变参数、提取镜头外部参数与提取镜头内部参数校正第三图像。更详细地说,多个第三图像中的多个第三参考点的位置会根据多个畸变参数的至少其中之一被校正,且电子装置会执行插值法(如线性插值法)来校正第三图像的各像素。
值得说明的是,上述步骤S101与步骤S103可以预先执行于电子装置出厂前,亦即,通过电子装置制造商来获得上述的畸变参数、提取镜头内部参数与提取镜头外部参数,且畸变参数、提取镜头内部参数与提取镜头外部参数可以被存储于电子装置的非易失性存储装置中。然而,本发明并不限定步骤S101与步骤S103须预先执行于电子装置出厂前。举例来说,电子装置制造商可以给予使用者特定的脚架与第一图像,让使用者通过电子装置于微距离提取第一图像,并获得第二图像,以借此依据第一图像与第二图像得到畸变参数、提取镜头内部参数与提取镜头外部参数。另外,上述实施例虽然依据一个第一图像与第二图像来获得多个畸变参数的至少其中之一,然而,实务上为了使得获得的畸变参数较为准确,亦可以根据多组第一图像与第二图像来获得统计上的多个畸变参数的至少其中之一一。
接着,进一步地解释步骤S103如何通过标定提取镜头来获得多个畸变参数的至少其中之一的原理。请参照图2,图2是本发明实施例的第一图像的第一参考点位于世界坐标系的坐标值与第二图像的第二参考点于电脑图像坐标系的坐标值之间的数学建模流程图。首先,在步骤S201中,建立第二图像的第二参考点于电脑图像坐标系的坐标值与第一图像中的第一参考点于世界坐标系的坐标值之间的转换模型,亦即建立电子装置使用提取镜头成像的转换模型。接着,在步骤S203中,建立第一参考点于世界坐标系的坐标值与于提取镜头坐标系的坐标值的转换公式,亦即建立第一图像的第一参考点于世界坐标系与提取镜头坐标系的转换模型。
然后,在步骤S205中,建立第一图像中的任意第一参考点于世界坐标系的坐标值与于提取镜头坐标系的坐标值转换公式,亦即建立第一参考点通过提取镜头成像的理想投影转换模型。接着,在步骤S207中,建立第二参考点于提取镜头的成像平面坐标系的理想坐标值与实际坐标值之间的关系式,亦即建立理想的第二图像与实际的第二图像之间的转换模型。最后,于步骤S209中,建立第二参考点于提取镜头的成像平面坐标系的实际坐标值与于电脑图像坐标系的坐标值之间的转换公式。基于上述建立的多个转换模型,可以依据第二图像的第二参考点于电脑图像坐标系的坐标值与第一图像的多个第一参考点于提取镜头坐标系的坐标值,借此获得畸变系数、提取镜头内部参数与提取镜头外部参数。
接着,更进一步地说明上述各转换模型的细节。请参照图3,图3为根据本发明实施例的提取镜头理想模型示意图,亦即是设备坐标的三维坐标。在图3中,电子装置之提取镜头坐标系的原点表示为O,且提取镜头坐标系系表示为(x,y,z);于世界坐标系的原点表示为Ow,且世界坐标系表示为(xw,yw,zw);电子装置的电脑图像坐标系表示为(xf,yf)。第一图像中的任意第一参考点P于世界坐标系的坐标值为(Xw,Yw,Zw),且于提取镜头坐标系的坐标值为(X,Y,Z)。第二图像中对应于第一图样的第一参考点P的第二参考点Pd于电脑图像坐标系的坐标值为(Xf,Yf)。除此之外,第二参考点Pd于提取镜头的成像平面坐标系的实际坐标值为(Xd,Yd),若没有因为提取镜头造成畸变,则第二参考点Pd于提取镜头的成像平面坐标系的理想坐标值为(Xu,Yu)。虽然第二参考点Pd于电脑图像坐标系的坐标值(Xf,Yf)是以像素为单位的坐标值,但Xf与Yf并不受限须为整数,亦即Xf与Yf可为小数,而使得Xf与Yf的精密度可以达到亚像素等级。
一般来说,第二图像的第二参考点于电脑图像坐标系的坐标值(Xf,Yf)与第一图像中的第一参考点P于世界坐标系的坐标值(Xw,Yw,Zw)之间的转换模型可以建立如下(对应步骤S201所产生的转换模型):
接着,第一图像中的任意第一参考点P于世界坐标系的坐标值(Xw,Yw,Zw)与于提取镜头坐标系的坐标值(X,Y,Z)的转换公式可以表示如下(对应步骤S203所产生的转换模型):
另外,由提取镜头理想模型可以得知第二参考点Pd于提取镜头的成像平面坐标系的理想坐标值(Xu,Yu)与第一参考点P于提取镜头坐标系的坐标值(X,Y,Z)之间的转换关系如下(对应步骤S205所产生的转换模型):
然后,第二参考点Pd于提取镜头的成像平面坐标系的理想坐标值(Xu,Yu)与实际坐标值(Xd,Yd)之间的关系式表示如下(对应步骤S207所产生的转换模型):
,其中r2=Xu 2+Yu 2,k1与k2为径向畸变系数,而k3与k4为切向畸变系数。最后,第二参考点Pd于提取镜头的成像平面坐标系的实际坐标值(Xd,Yd)与于电脑图像坐标系的坐标值(Xf,Yf)之间的转换公式可以表示如下(对应步骤S209所产生的转换模型):
由于第二图像的第二参考点于电脑图像坐标系的坐标值(Xf,Yf)与第一图像的多个第一参考点P于提取镜头坐标系的坐标值(X,Y,Z)可以通过计算而得知,因此,可以通过(公式3)~(公式5)求解出径向畸变系数k1、k2、切向畸变系数k3、k4与多个提取镜头内部参数fx、fy、Xc与Yc。除此之外,第一图像的多个第一参考点P于世界坐标系的坐标值(Xw,Yw,Zw)亦可以通过计算而得知,因此,可以通过(公式3)求解出提取镜头外部参数矩阵,亦即获得向量R与T。
接着,以第一图像可以为二维N×N格的黑白棋盘图像,第二图像为有图像畸变的二维N×N格的黑白棋盘图像,且多个第一与第二参考点可以是黑白棋盘图像的多个内角点的情况为例,进一步说明获得多个畸变参数的至少其中一的详细流程。然而,本案并不限制第一参考点与第二参考点为内角点,其可以是轮廓上的多个点、共用同一条线上的多个点或几个预先定义的参考点,例如,灰阶值差异较大的几个点。
请参照图4,图4是根据本发明实施例的通过标定提取镜头来获得多个畸变参数的至少其中之一的流程图。首先,在步骤S301中,电子装置计算第一图像的多个内角点于提取镜头坐标系的坐标值(X,Y,Z)与第二图像的多个内角点于电脑图像坐标系的坐标值(Xf,Yf)。然后,在步骤S303中,电子装置依据第一图像的多个内角点于提取镜头坐标系的坐标值(X,Y,Z)与第二图像的多个内角点于电脑图像坐标系的坐标值(Xf,Yf)获得多个畸变参数的至少其中之一。
另外,如上所述本发明实施例的图像校正方法较佳地以软件来实现。请参照图5,图5是本发明实施例的图像校正方法所对应的使用者界面的示意图。如图5所示,所述使用者界面具有图像显示框41与功能框43。图像显示框41用以显示第二图像、第三图像或校正后的第二或第三图像。功能框43具有标定图像处理功能430、标定提取镜头功能431、畸变参数与提取镜头内部参数字段432、图像校正功能433、畸变参数微调功能434、重新设定畸变参数功能435、提取镜头外部参数定标功能436、梯形度调节功能437、角度调节功能438与保存参数功能439。
一般来说,电子装置制造商会预先执行图1的步骤S101与S103,以预先地将多个畸变参数的至少其中之一存储于电子装置中。然而,如果使用者认为电子装置制造商所使用的第一图像不佳,则使用者亦可以点击标定图像处理功能430,来选取使用者自行定义的第一图像。接着,使用者使用电子装置提取第一图像,且接着第二图像显示于图像显示框41中。然后,使用者紧接着点击标定提取镜头功能431,以让电子装置获得新的畸变参数k1~k4与提取镜头内部参数fx、fy、Xc与Yc,其中新的畸变参数k1、k2与提取镜头内部参数fx、fy、Xc与Yc的数值显示于畸变参数与提取镜头内部参数字段432。使用者可以接着点击图像校正功能433,让电子装置校正第二图像,以进一步判断其新的畸变参数k1~k4与提取镜头内部参数fx、fy、Xc与Yc是否正确。
另外,使用者亦可以直接使用电子装置提取任意图像,以让电子装置将第三图像显示于图像显示框41中,使用者仅需要点击图像校正功能433,便可以获得显示于图像显示框41中的校正后的第三图像。除此之外,使用者若需要进一步手动输入畸变参数k1、k2与提取镜头内部参数fx、fy、Xc与Yc的数值,则可以直接畸变参数与提取镜头内部参数字段432中输入。
另外,畸变参数微调功能434提供使用者手动地微调畸变参数k1、k2,重新设定畸变参数功能435提供使用者将畸变参数、提取镜头内部参数与提取镜头外部参数等恢复为电子装置出厂的初始值。提取镜头外部参数定标功能436用以让使用者重新获取提取镜头外部参数矩阵。梯形度调节功能437提供上下左右四个方向的梯形度供使用者微调。角度调节功能438提供顺时针与逆时针两个方向的角度供使用者微调。保存参数功能439用以让使用者存储目前的畸变参数、提取镜头内部参数与提取镜头外部参数等。
[图像校正模块的实施例]
请参照图6,图6是根据本发明实施例的图像校正模块的功能方框图。图像校正模块5包括图像处理单元51与存储单元53。存储单元53用以储存第二图像与多个畸变参数的至少其中之一,其中电子装置于微距离提取至少一第一图像,以获得对应第一图像的第二图像。图像处理单元51依据第一图像与第二图像标定电子装置的提取镜头,以借此获得多个畸变参数的至少其中之一。接着,图像处理单元51依据多个畸变参数的至少其中之一校正第三图像,其中电子装置提取一任意图像,以借此获得对应任意图像的第三图像。
在此请注意,图像处理单元51与存储单元53可以是额外的硬件电路,或者可以是通过电子装置本身的处理单元与存储单元。总而言之,本发明并不限制图像处理单元51与存储单元53的实现方式。
[电子装置的实施例]
请接着参照本案图7,图7是根据本发明实施例的电子装置的方框图。于本发明实施例中,电子装置6包括提取镜头61、成像模块63与图像校正模块65。提取镜头61与成像模块63用以让电子装置6具有提取功能,以提取第一图像或任意图像来产生第二图像或第三图像。另外,所述图像校正模块65用以校正第三图像,以消除图像畸变,其中图像校正模块65的实现方式与功能如前所述,故不再赘述。
[实施例的有益效果]
请接着参照图8A~图8E,其中图8A、图8C、图8E分别为电子装置提取所获得的图像产生桶形畸变、枕形畸变及梯形畸变的示意图,而图8B、图8D与图8F分别为图8A、图8C、图8E中的图像使用本发明实施例的图像校正方法进行校正后的示意图,其中桶形畸变为边缘部分的放大率小于中心部分的畸变(如图8A所示),枕形畸变为边缘部分的放大率大于中心部分的畸变(如图8C所示),而梯形畸变是由于提取的角度或者提取头自身的物理原因,导致提取的图像发生的梯状变化的畸变(如图8E所示)。由图8A~图8E可以得知,本发明实施例的图像校正方法可以有效地校正因提取镜头造成的图像畸变。要说明的是,本发明实施例的图像校正方法并非仅可以针对桶形畸变、枕形畸变及梯形畸变进行校正,其他一些特殊提取镜头造成的波浪状变化畸变、桶形加上梯形的畸变或枕形加上梯形的畸变亦可以利用本发明实施例的图像校正方法所校正。
综合以上所述,本发明实施例提供的图像校正方法、模块及其电子装置可以在不改变提取镜头的精密度的情况下对提取的图像进行校正。由于不需要改变提取镜头的精密度,故电子装置可以采用较为廉价的提取镜头,以节省电子装置的制造成本。除此之外,在本发明实施例中,图像校正方法可以使用软件来实现,故可以在不增加或变更设计电子装置的硬件电路的情况下,就能够让现有的电子装置具有图像校正功能,且还可以更进一步地减少硬件电路的成本。
虽然本发明已以示范实施例揭示如上,然其并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,因此本发明的保护范围当视的权利要求所界定者为准。
Claims (15)
1.一种图像校正方法,用于电子装置中,其特征在于,该图像校正方法包括:
于微距离,使用该电子装置提取至少一第一图像,借此获得对应该第一图像的第二图像;
使用该电子装置通过该第一图像与该第二图像标定该电子装置的提取镜头,以借此获得多个畸变参数的至少其中之一;
于该微距离,使用该电子装置提取一任意图像,借此获得对应该任意图像的第三图像;以及
使用该电子装置依据该些畸变参数的至少其中之一校正该第三图像。
2.如权利要求1所述的图像校正方法,其特征在于,其中该电子装置还通过该第一图像与该第二图像来获得多个提取镜头内部参数与多个提取镜头外部参数的至少其中之一,且该电子装置还依据所述多个提取镜头内部参数与所述多个提取镜头外部参数的至少其中之一来校正该第三图像。
3.如权利要求1所述的图像校正方法,其特征在于,其中该电子装置通过获得该第二图像的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与于该电子装置的电脑图像坐标系的多个坐标值来获得该些畸变参数的至少其中之一,其中该第一图像中的多个第一参考点经过该提取镜头而成像于该第二图像的该些第二参考点。
4.如权利要求2所述的图像校正方法,其特征在于,其中该电子装置通过获得该第二图像的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与于该电子装置的电脑图像坐标系的多个坐标值来获得所述多个提取镜头内部参数的至少其中之一,且该电子装置通过获得该第二图像中的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与该第一图像中的多个第一参考点于世界坐标系的多个坐标值来获得所述多个提取镜头外部参数的至少其中之一,其中该第一图像中的多个第一参考点经过该提取镜头而成像于该第二图像的该些第二参考点。
5.如权利要求3或4所述的图像校正方法,其特征在于,其中该第一图像为二维N×N格的黑白棋盘图像,且该些第一参考点为该黑白棋盘图像的内角点。
6.一种图像校正模块,其特征在于,该图像校正模块包括:
存储单元,用以存储第二图像与多个畸变参数的至少其中之一,其中电子装置于微距离提取至少一第一图像,以获得对应该第一图像的该第二图像;
图像处理单元依据该第一图像与该第二图像标定该电子装置的提取镜头,借此获得该些畸变参数的至少其中之一,以及依据该些畸变参数的至少其中之一校正第三图像,其中该电子装置提取一任意图像,借此获得对应该任意图像的该第三图像。
7.如权利要求6所述的图像校正模块,其特征在于,其中该电子装置还通过该第一图像与该第二图像来获得多个提取镜头内部参数与多个提取镜头外部参数的至少其中之一,且该电子装置还依据所述多个提取镜头内部参数与所述多个提取镜头外部参数的至少其中之一来校正该第三图像。
8.如权利要求6所述的图像校正模块,其特征在于,其中该电子装置通过获得该第二图像的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与于该电子装置的电脑图像坐标系的多个坐标值来获得该些畸变参数的至少其中之一,其中该第一图像中的多个第一参考点经过该提取镜头而成像于该第二图像的所述第二参考点。
9.如权利要求7所述的图像校正模块,其特征在于,其中该电子装置通过获得该第二图像的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与于该电子装置的电脑图像坐标系的多个坐标值来获得该些提取镜头内部参数的至少其中之一,且该电子装置通过获得该第二图像中的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与该第一图像中的多个第一参考点于世界坐标系的多个坐标值来获得该些提取镜头外部参数的至少其中之一,其中该第一图像中的多个第一参考点经过该提取镜头而成像于该第二图像的该些第二参考点。
10.如权利要求8或9所述的图像校正模块,其特征在于,其中该第一图像为二维N×N格的黑白棋盘图像,且所述第一参考点为该黑白棋盘图像的内角点。
11.一种电子装置,其特征在于,该电子装置包括:
提取镜头;
成像模块;以及
图像校正模块,包括:
存储单元,用以存储第二图像与多个畸变参数的至少其中之一,其中电子装置于微距离提取至少一第一图像,以获得对应该第一图像的该第二图像;
图像处理单元依据该第一图像与该第二图像标定该电子装置的提取镜头,借此获得所述多个畸变参数的至少其中之一,以及依据所述多个畸变参数的至少其中之一校正第三图像,其中该电子装置提取一任意图像,借此获得对应该任意图像的该第三图像。
12.如权利要求11所述的电子装置,其特征在于,其中该电子装置还通过该第一图像与该第二图像来获得多个提取镜头内部参数与多个提取镜头外部参数的至少其中之一,且该电子装置还依据所述多个提取镜头内部参数与所述多个提取镜头外部参数的至少其中之一来校正该第三图像。
13.如权利要求11所述的电子装置,其特征在于,其中该电子装置通过获得该第二图像的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与于该电子装置的电脑图像坐标系的多个坐标值来获得该些畸变参数的至少其中之一,其中该第一图像中的多个第一参考点经过该提取镜头而成像于该第二图像的所述第二参考点。
14.如权利要求12所述的电子装置,其特征在于,其中该电子装置通过获得该第二图像的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与于该电子装置的电脑图像坐标系的多个坐标值来获得该些提取镜头内部参数的至少其中之一,且该电子装置通过获得该第二图像中的多个第二参考点于该电子装置的提取镜头坐标系的多个坐标值与该第一图像中的多个第一参考点于世界坐标系的多个坐标值来获得该些提取镜头外部参数的至少其中之一,其中该第一图像中的多个第一参考点经过该提取镜头而成像于该第二图像的该些第二参考点。
15.如权利要求13或14所述的电子装置,其特征在于,其中该第一图像为二维N×N格的黑白棋盘图像,且所述第一参考点为该黑白棋盘图像的内角点。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20141224 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |