CN104182714B - 校正信号畸变的方法及激光条码扫描平台 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种校正信号畸变的方法，该方法包括：扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；根据测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值；将平均畸变宽度值为基准值，得出畸变宽度值与平均畸变宽度值的偏离值，并根据偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正。本发明还公开了一种激光条码扫描平台。本发明校正了由条码宽度值所转化的条码信号的畸变，提高了激光条码扫描平台的读码性能，避免了对每一台激光条码扫描平台设备的光头编写控制程序，同时还降低了对光头精度和制造工艺的要求，降低了激光条码扫描平台的生产成本。

Description

校正信号畸变的方法及激光条码扫描平台

技术领域

本发明涉及条码扫描技术领域，尤其涉及校正信号畸变的方法及激光条码扫描平台。

背景技术

目前，条码激光条码扫描平台已能大批量生产，但由于物理硬件本身(例如，光头)性能的缺失，或生产过程中工艺操作或人工操作造成的误差，使激光条码扫描平台形成的网格光线对条码进行扫描所反射的信号数据存在畸变，这种光线的畸变从整体上来看是有方向性的，即越靠近光头和越远离光头的畸变是无穷的，也就是说，这种光线的畸变呈由强到弱，再由弱到强的变化过程，但扫描光线在每个光点上的畸变是随机的，不可预知的，从而导致光线扫描到的畸变信号严重影响了激光条码扫描平台的读码性能。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于解决激光条码扫描平台的扫描光线读取的信号存在强弱不均的畸变而引起的读码性能的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供的一种校正信号畸变的方法，包括以下步骤：

扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

根据所述测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值；

将所述平均畸变宽度值作为基准值，得出所述畸变宽度值与所述平均畸变宽度值的偏离值，并根据所述偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正。

优选地，所述扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值的步骤包括：

调整激光条码扫描平台进入校正模式，该激光条码扫描平台仅发出一条扫描光线；

将条空等宽的测试条码置于所述扫描光线覆盖区域内进行扫描，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

建立测试条码每一个条空所对应的所述扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的所述畸变宽度值之间的一一对应关系。

优选地，所述测试条码的长度大于等于所述扫描光线的长度。

优选地，所述根据所述测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值的步骤包括：

累加所述测试条码每一个条空的畸变宽度值以获得该测试条码的畸变宽度值总和；

将所述畸变宽度值总和除以所述测试条码的条空总数，从而获得该测试条码条空的平均畸变宽度值。

优选地，所述将所述平均畸变宽度值作为基准值，得出所述畸变宽度值与所述平均畸变宽度值的偏离值，并根据所述偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正的步骤包括：

将所述平均畸变宽度值为基准值，利用所述畸变宽度值减去所述平均畸变宽度值以获得所述畸变宽度值偏离所述基准值的偏离值，该偏离值与所述扫描光线覆盖区域的光点一一对应；

将所述偏离值作为对应所述光点的校正值，用于校正每一个所述光点扫描条码所得到的条空宽度值，以获取正确的条码信息。

为实现上述目的，本发明同时还提供一种激光条码扫描平台，包括：

扫描模块，用于扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

均值模块，用于根据所述测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值；

校正模块，用于将所述平均畸变宽度值作为基准值，得出所述畸变宽度值与所述平均畸变宽度值的偏离值，并根据所述偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正。

优选地，所述扫描模块用于：

调整激光条码扫描平台进入校正模式，该激光条码扫描平台仅发出一条扫描光线；

将条空等宽的测试条码置于所述扫描光线覆盖区域内进行扫描，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

建立测试条码每一个条空所对应的所述扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的所述畸变宽度值之间的一一对应关系。

优选地，所述测试条码的长度大于等于所述扫描光线的长度。

优选地，所述均值模块用于：

累加所述测试条码每一个条空的畸变宽度值以获得该测试条码的畸变宽度值总和；

将所述畸变宽度值总和除以所述测试条码的条空总数，从而获得该测试条码条空的平均畸变宽度值。

优选地，所述校正模块用于：

将所述平均畸变宽度值为基准值，利用所述畸变宽度值减去所述平均畸变宽度值以获得所述畸变宽度值偏离所述基准值的偏离值，该偏离值与所述扫描光线覆盖区域的光点一一对应；

将所述偏离值作为对应所述光点的校正值，用于校正每一个所述光点扫描条码所得到的条空宽度值，以获取正确的条码信息。

本发明通过扫描条空等宽的测试条码，并记录下每一个条空的宽度值作为畸变宽度值，然后根据测试条码每一个条空的畸变宽度值得出条空的畸变宽度总和，进而求得畸变宽度值总和的平均值，再将平均畸变宽度值作为基准值，求出畸变宽度值与平均畸变宽度值的偏离值，最后根据该偏离值校正激光条码扫描平台的扫描光线所读取的条码宽度值，从而校正了由条码宽度值所转化的条码信号的畸变，进而提高了激光条码扫描平台的读码性能，避免了对每一台激光条码扫描平台设备的光头编写控制程序，同时还降低了对光头精度和制造工艺的要求，从而可以用价格较低、精度普通的光头达到较高读码性能，降低了激光条码扫描平台的生产成本。

附图说明

图1为本发明校正信号畸变的方法一实施例的流程示意图；

图2为图1中扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值的步骤的细化流程示意图；

图3为图1中根据所述测试条码每一个条空的畸变宽度值获得该测试条码每一个条空的平均畸变宽度值的步骤的细化流程示意图；

图4为图1中将所述平均畸变宽度值为基准值，得出所述畸变宽度值与所述平均畸变宽度值的偏离值，并根据所述偏离值对扫描的条码所获取的条空宽度值进行校正的步骤的细化流程示意图；

图5为本发明激光条码扫描平台一实施例的功能模块示意图；

图6为本发明中条空等宽的测试条码的结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供一种校正信号畸变的方法。

参照图1，图1为本发明校正信号畸变的方法一实施例的流程示意图。

本实施例提供的一种校正信号畸变的方法，包括以下步骤：

步骤S10，扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

首先控制激光条码扫描平台进入设置状态，此时，激光条码扫描平台只能读取具有特定设置功能的设置码，然后激光条码扫描平台扫描控制激光条码扫描平台进入校正模式的设置码，以使激光条码扫描平台进入校正模式，最后控制激光条码扫描平台扫描条空等宽的测试条码，获取每一个条空的畸变宽度值。

步骤S20，根据测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值；

平均畸变宽度值等于测试条码条空的畸变宽度值之和除以被扫描光线覆盖和扫过的测试条码条空总数。

步骤S30，将平均畸变宽度值作为基准值，得出畸变宽度值与平均畸变宽度值的偏离值，并根据偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正。

每一个条空对应的扫描区间对应的偏离值等于畸变宽度值减去平均畸变宽度值，并保存该偏离值(例如，+30，-67)，当激光条码扫描平台每次扫描正常条码时，根据偏离值对扫描的条码所获取的条空宽度值进行校正，即对正常条码的条空所对应区域的扫描光线扫描条码值进行校正，将该扫描光线与测试条码每一条空对应的扫描区间所扫描的条空宽度值加上偏离值，所得的和作为激光条码扫描平台校正后的条空数据。

在本实施例中，通过扫描条空等宽的测试条码，并记录下每一个条空的宽度值作为畸变宽度值，然后根据测试条码每一个条空的畸变宽度值得出条空的畸变宽度总和，进而求得畸变宽度值总和的平均值，再将平均畸变宽度值作为基准值，求出畸变宽度值与平均畸变宽度值的偏离值，最后根据该偏离值校正激光条码扫描平台的扫描光线所读取的条码宽度值，从而校正了由条码宽度值所转化的条码信号的畸变，进而提高了激光条码扫描平台的读码性能，避免了对每一台激光条码扫描平台设备的光头编写控制程序，同时还降低了对光头精度和制造工艺的要求，从而可以用价格较低、精度普通的光头达到较高读码性能，降低了激光条码扫描平台的生产成本。

进一步地，参照图2，图2为图1中步骤S10的细化流程示意图。

在本实施例中，步骤S10包括：

步骤S101，调整激光条码扫描平台进入校正模式，该激光条码扫描平台仅发出一条扫描光线；

在激光条码扫描平台正常工作时，发出的扫描光线为多条(例如20条)并组成光网，当激光条码扫描平台进入校正模式，仅发出一条扫描光线，该扫描光线为激光条码扫描平台的光头发出光线经过激光条码扫描平台内部光学部件反射后在扫描区域形成的光点快速移动的光轨迹。

步骤S102，将条空等宽的测试条码置于扫描光线覆盖区域内进行扫描，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

将测试条码置于扫描光线覆盖区域内进行扫描，并且测试条码的长度要大于等于扫描光线的长度，若测试条码的长度小于扫描光线的长度，则不能获得扫描光线的全范围的畸变宽度值，就不能对扫描光线扫描获得的条空宽度进行全面的校正。

步骤S103，建立测试条码每一个条空所对应的扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的畸变宽度值之间的一一对应关系。

由于激光条码扫描平台形成的网格光线对条码进行扫描所反射的信号数据存在畸变，且这种光线的畸变从整体上来看是有方向性的，即越靠近光头和越远离光头的畸变是无穷的，所以需要对扫描光线的不同区间分别进行校正，即建立测试条码每一个条空所对应的扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的畸变宽度值之间的一一对应关系。

进一步地，参照图3，图3为图1中步骤S20的细化流程示意图。

在本实施例中，步骤S20包括：

步骤S201，累加测试条码每一个条空的畸变宽度值以获得该测试条码的畸变宽度值总和；

平均畸变宽度值等于测试条码条空的畸变宽度值之和除以被扫描光线覆盖和扫过的测试条码条空总数，优选地，测试条码条空宽度与激光条码扫描平台的扫描光线覆盖区域宽度相等。

参照图6，图6为本发明中条空等宽的测试条码的结构示意图，其中设A1、A2、A3……An-1、An表示测试条码的n个条空区域，对应地设B1、B2、B3……Bn-1、Bn为测试条码n个条空区域对应的畸变宽度值，设B为测试条码n个条空区域的畸变宽度值的和，B＝B1+B2+B3+……+(Bn-1)+Bn。

步骤S202，将畸变宽度值总和除以测试条码的条空总数，从而获得该测试条码条空的平均畸变宽度值。

设测试条码条空的平均畸变宽度值为B0，B0＝B/n。

进一步地，参照图4，图4为图1中步骤S30的细化流程示意图。

在本实施例中，步骤S30包括：

步骤S301，将平均畸变宽度值为基准值，利用畸变宽度值减去平均畸变宽度值以获得畸变宽度值偏离基准值的偏离值，该偏离值与扫描光线覆盖区域的光点一一对应；

设与测试条码的条空区域A1、A2、A3……An-1、An一一对应的扫描光线覆盖区域的光点为C1、C2、C3、……Cn-1、Cn，设与测试条码的条空区域A1、A2、A3……An-1、An一一对应的偏离值为P1、P2、P3、……Pn-1、Pn，所以P1＝B1-B0，P2＝B2-B0，P3＝B3-B0，……(Pn-1)＝(Bn-1)-B0，Pn＝Bn-B0，P1、P2、P3、……Pn-1、Pn与C1、C2、C3、……Cn-1、Cn一一对应，即P1为C1的偏离值，P2为C2的偏离值，……Pn为Cn的偏离值。

步骤S302，将偏离值作为对应光点的校正值，用于校正每一个光点扫描条码所得到的条空宽度值，以获取正确的条码信息。

设激光条码扫描平台的扫描光线光点C1、C2、C3、……Cn-1、Cn扫描普通条码的畸变初始值为X1、X2、X3、……Xn-1、Xn，设激光条码扫描平台的扫描光线光点C1、C2、C3、……Cn-1、Cn扫描普通条码的校正后的校正值为Y1、Y2、Y3、……Yn-1、Yn，从而Y1＝X1+P1，Y2＝X2+P2，Y3＝X3+P3，……(Yn-1)＝(Xn-1)+(Pn-1)，Yn＝Xn+Pn。

为实现上述目的，本发明同时还提供一种激光条码扫描平台，参照图5，图5为本发明激光条码扫描平台一实施例的功能模块示意图，激光条码扫描平台包括：

扫描模块40，用于扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

首先控制激光条码扫描平台进入设置状态，此时，激光条码扫描平台只能读取具有特定设置功能的设置码，然后激光条码扫描平台扫描控制激光条码扫描平台进入校正模式的设置码，以使激光条码扫描平台进入校正模式，最后控制激光条码扫描平台扫描条空等宽的测试条码，获取每一个条空的畸变宽度值。

均值模块50，用于根据测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值；

平均畸变宽度值等于测试条码条空的畸变宽度值之和除以被扫描光线覆盖和扫过的测试条码条空总数。

校正模块60，用于将平均畸变宽度值作为基准值，得出畸变宽度值与平均畸变宽度值的偏离值，并根据偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正。

每一个条空对应的扫描区间对应的偏离值等于畸变宽度值减去平均畸变宽度值，并保存该偏离值(例如，+30，-67)，当激光条码扫描平台每次扫描正常条码时，根据偏离值对扫描的条码所获取的条空宽度值进行校正，即对正常条码的条空所对应区域的扫描光线扫描条码值进行校正，将该扫描光线与测试条码每一条空对应的扫描区间所扫描的条空宽度值加上偏离值，所得的和作为激光条码扫描平台校正后的条空数据。

在本实施例中，通过扫描模块40扫描条空等宽的测试条码，并记录下每一个条空的宽度值作为畸变宽度值，然后均值模块50根据测试条码每一个条空的畸变宽度值得出条空的畸变宽度总和，进而求得畸变宽度值总和的平均值，再将平均畸变宽度值作为基准值，求出畸变宽度值与平均畸变宽度值的偏离值，最后校正模块60根据该偏离值校正激光条码扫描平台的扫描光线所读取的条码宽度值，从而校正了由条码宽度值所转化的条码信号的畸变，进而提高了激光条码扫描平台的读码性能，避免了对每一台激光条码扫描平台设备的光头编写控制程序，同时还降低了对光头精度和制造工艺的要求，从而可以用价格较低、精度普通的光头达到较高读码性能，降低了激光条码扫描平台的生产成本。

进一步地，扫描模块40用于：

调整激光条码扫描平台进入校正模式，该激光条码扫描平台仅发出一条扫描光线；

在激光条码扫描平台正常工作时，发出的扫描光线为多条(例如20条)并组成光网，当激光条码扫描平台进入校正模式，仅发出一条扫描光线，该扫描光线为激光条码扫描平台的光头发出光线经过激光条码扫描平台内部光学部件反射后在扫描区域形成的光点快速移动的光轨迹。

将条空等宽的测试条码置于扫描光线覆盖区域内进行扫描，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

将测试条码置于扫描光线覆盖区域内进行扫描，并且测试条码的长度要大于等于扫描光线的长度，若测试条码的长度小于扫描光线的长度，则不能获得扫描光线的全范围的畸变宽度值，就不能对扫描光线扫描获得的条空宽度进行全面的校正。

建立测试条码每一个条空所对应的扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的畸变宽度值之间的一一对应关系。

由于激光条码扫描平台形成的网格光线对条码进行扫描所反射的信号数据存在畸变，且这种光线的畸变从整体上来看是有方向性的，即越靠近光头和越远离光头的畸变是无穷的，所以需要对扫描光线的不同区间分别进行校正，即建立测试条码每一个条空所对应的扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的畸变宽度值之间的一一对应关系。

进一步地，均值模块50用于：

累加测试条码每一个条空的畸变宽度值以获得该测试条码的畸变宽度值总和；

平均畸变宽度值等于测试条码条空的畸变宽度值之和除以被扫描光线覆盖和扫过的测试条码条空总数，优选地，测试条码条空宽度与激光条码扫描平台的扫描光线覆盖区域宽度相等。

参照图6，图6为本发明中条空等宽的测试条码的结构示意图，其中设A1、A2、A3……An-1、An表示测试条码的n个条空区域，对应地设B1、B2、B3……Bn-1、Bn为测试条码n个条空区域对应的畸变宽度值，设B为测试条码n个条空区域的畸变宽度值的和，B＝B1+B2+B3+……+(Bn-1)+Bn。

将畸变宽度值总和除以测试条码的条空总数，从而获得该测试条码条空的平均畸变宽度值。

设测试条码条空的平均畸变宽度值为B0，B0＝B/n。

进一步地，校正模块60用于：

将平均畸变宽度值为基准值，利用畸变宽度值减去平均畸变宽度值以获得畸变宽度值偏离基准值的偏离值，该偏离值与扫描光线覆盖区域的光点一一对应；

设与测试条码的条空区域A1、A2、A3……An-1、An一一对应的扫描光线覆盖区域的光点为C1、C2、C3、……Cn-1、Cn，设与测试条码的条空区域A1、A2、A3……An-1、An一一对应的偏离值为P1、P2、P3、……Pn-1、Pn，所以P1＝B1-B0，P2＝B2-B0，P3＝B3-B0，……(Pn-1)＝(Bn-1)-B0，Pn＝Bn-B0，P1、P2、P3、……Pn-1、Pn与C1、C2、C3、……Cn-1、Cn一一对应，即P1为C1的偏离值，P2为C2的偏离值，……Pn为Cn的偏离值。

将偏离值作为对应光点的校正值，用于校正每一个光点扫描条码所得到的条空宽度值，以获取正确的条码信息。

设激光条码扫描平台的扫描光线光点C1、C2、C3、……Cn-1、Cn扫描普通条码的畸变初始值为X1、X2、X3、……Xn-1、Xn，设激光条码扫描平台的扫描光线光点C1、C2、C3、……Cn-1、Cn扫描普通条码的校正后的校正值为Y1、Y2、Y3、……Yn-1、Yn，从而Y1＝X1+P1，Y2＝X2+P2，Y3＝X3+P3，……(Yn-1)＝(Xn-1)+(Pn-1)，Yn＝Xn+Pn。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种校正信号畸变的方法，其特征在于，所述校正信号畸变的方法包括以下步骤：

调整激光条码扫描平台进入校正模式，该激光条码扫描平台仅发出一条扫描光线；

扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

根据所述测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值；

将所述平均畸变宽度值作为基准值，得出所述畸变宽度值与所述平均畸变宽度值的偏离值，并根据所述偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正；

所述将所述平均畸变宽度值为基准值，得出所述畸变宽度值与所述平均畸变宽度值的偏离值，并根据所述偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正的步骤包括：

将所述平均畸变宽度值作为基准值，利用所述畸变宽度值减去所述平均畸变宽度值，以获得所述畸变宽度值偏离所述基准值的偏离值，该偏离值与所述扫描光线覆盖区域的光点一一对应；

将所述偏离值作为对应所述光点的校正值，用于校正每一个所述光点扫描条码所得到的条空宽度值，以获取正确的条码信息。

2.如权利要求1所述的校正信号畸变的方法，其特征在于，所述扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值的步骤包括：

将条空等宽的测试条码置于所述扫描光线覆盖区域内进行扫描，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

建立测试条码每一个条空所对应的所述扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的所述畸变宽度值之间的一一对应关系。

3.如权利要求2所述的校正信号畸变的方法，其特征在于，所述测试条码的长度大于等于所述扫描光线的长度。

4.如权利要求2所述的校正信号畸变的方法，其特征在于，所述根据所述测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值的步骤包括：

累加所述测试条码每一个条空的畸变宽度值以获得该测试条码的畸变宽度值总和；

将测试条码条空的畸变宽度值之和除以被扫描光线覆盖和扫过的测试条码条空总数，从而获得该测试条码条空的平均畸变宽度值。

5.一种激光条码扫描平台，其特征在于，所述激光条码扫描平台包括：

扫描模块，用于调整激光条码扫描平台进入校正模式，该激光条码扫描平台仅发出一条扫描光线；扫描条空等宽的测试条码，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

均值模块，用于根据所述测试条码每一个条空的畸变宽度值，获得该测试条码条空的平均畸变宽度值；

校正模块，用于将所述平均畸变宽度值为基准值，得出所述畸变宽度值与所述平均畸变宽度值的偏离值，并根据所述偏离值对扫描的条码所获取的扫描宽度值进行校正；

所述校正模块用于：

将所述平均畸变宽度值作为基准值，利用所述畸变宽度值减去所述平均畸变宽度值，以获得所述畸变宽度值偏离所述基准值的偏离值，该偏离值与所述扫描光线覆盖区域的光点一一对应；

将所述偏离值作为对应所述光点的校正值，用于校正每一个所述光点扫描条码所得到的条空宽度值，以获取正确的条码信息。

6.如权利要求5所述的激光条码扫描平台，其特征在于，所述扫描模块用于：

将条空等宽的测试条码置于所述扫描光线覆盖区域内进行扫描，并将扫描该测试条码每一个条空获取的扫描宽度值作为畸变宽度值；

建立测试条码每一个条空所对应的所述扫描光线覆盖区域的光点与该条空对应的所述畸变宽度值之间的一一对应关系。

7.如权利要求6所述的激光条码扫描平台，其特征在于，所述测试条码的长度大于等于所述扫描光线的长度。

8.如权利要求6所述的激光条码扫描平台，其特征在于，所述均值模块用于：

累加所述测试条码每一个条空的畸变宽度值以获得该测试条码的畸变宽度值总和；

将测试条码条空的畸变宽度值之和除以被扫描光线覆盖和扫过的测试条码条空总数，从而获得该测试条码条空的平均畸变宽度值。