CN108573683B - 一种提升显示面板质量的方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种提升显示面板质量的方法及系统，通过ID标定，测量各个区域块的亮度/色度/Mura数据，对各区域块的数据进行深度学习，得到一组ID对应的初始CODE值，使得显示面板呈现的亮度/色度/均匀性更加，通过在线管理系统进行绑定记录，在该产线的后续生成中，根据ID编号，直接赋予切割后的显示面板CODE初值，从而减少后段Gamma/Demua的调节时间，提高产线TT，提高产能，降低成本。

Description

一种提升显示面板质量的方法及系统
技术领域
本发明属于显示检测技术领域，涉及一种提升显示面板质量的方法及系统，应用于OLED(Organic Light-Emitting Diode Display)、LCD(Liquid Crystal Display)等新型显示面板中，能够快速提升产能和质量等级。
背景技术
OLED、LCD等新型显示面板具有高分辨率、高灰度以及无几何变形等优点，其制造工艺复杂，主要包括ARRAY(阵列)、CELL(面板成型)和MODULE(模组构装)三大工序，且每一个大工序中又包含十几至几十个小工序，而且随着平面显示器的尺寸越做越大，其灰度的均匀性也越来越难控制，因此在制造过程中难免会出现各种显示缺陷。另一方面，OLED、LCD等新型显示面板是由大玻璃基板切割而成，而大玻璃基板因制造设备及制造工艺等原因在不同区域块呈现的质量不同，一般在面板的中间呈现的质量较好，在周边区域呈现的质量较差；同一批次(或产线)生产的大玻璃基板所呈现的质量分布情况基本相同，即各个大玻璃基板对应的各区域块所呈现的质量情况基本一致。大玻璃基板在ARRAY、CELL工序中因使用的工艺设备如曝光机、蒸镀机、切割机等不同，质量也不同，可以对不同区域块及使用到的工艺设备进行标定，由在线系统进行记录，后段可通过在线系统查看相应的制造设备及切分块等信息。
现有工艺中不对任何的显示面板来源进行标定，不可预测显示面板来源于哪一部分，在工序后段Gamma(显示器的响应曲线，即亮度与输入电压的非线性关系)调节、Mura缺陷修复时只能使用统一的CODE(点亮显示模组需要的一组特殊的寄存器值)初值，使得显示面板呈现的亮度和色度较差，增加Gamma调节及Mura缺陷修复时间，同时调节后的效果较差。
发明内容
针对上述现有技术的不足，本发明公开一种提升显示面板质量的方法及系统，通过对大玻璃基板的各区域块进行标定，以及将各区域块显示面板的CODE值作为大玻璃基板各区域块的CODE初值，使得大玻璃基板不同区域块采用不同的CODE初值，从而使得所有的显示面板都能呈现较佳亮度和色度，进而可以减少产线的Gamma调节及Mura缺陷修复时间，提高产线的生产节拍时间和产能。
本发明提供了一种提升显示面板质量的方法，其特征在于，包括以下获取CODE初值的步骤：
步骤1：将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
步骤2：对该大玻璃基板样板进行切割，获得与该m*n块区域一一对应的m*n块显示面板样板；
步骤3：分别对该m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得一组与该m*n块显示面板样板一一对应的第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据；
步骤4：将该组第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定，作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。
本发明还提供了一种提升显示面板质量的方法，其特征在于，包括以下获取CODE初值的步骤：
步骤1：将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
步骤2：对N块大玻璃基板样板进行切割，获得N组m*n块显示面板样板；
步骤3：获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息，并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据；
步骤4：将该N组m*n块显示面板样板的特征信息作为输入值，将该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为输出值，进行分类训练操作获得ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值模型。
本发明还提供了一种提升显示面板质量的系统，其特征在于，包括第一模块、第二模块、第三模块、第四模块；其中，
所述第一模块，用于将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
所述第二模块，用于对N块大玻璃基板样板进行切割，获得N组m*n块显示面板样板；
所述第三模块，用于获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息，并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据；
所述第四模块，用于将该N组m*n块显示面板样板的特征信息作为输入值，将该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为输出值，进行分类训练操作获得ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值模型。
本发明还提供了一种快速提升显示面板质量的系统，包括存储器、处理器以及存储在该存储器中并可在该处理器上运行的计算机程序，其特征在于，该处理器被配置为执行该计算机程序时实现如权利要求书中任一项所述方法的步骤。
本发明的优点在于：
1)通过标定，在线管理系统进行记录和识别液晶模组的相关信息。
2)不同的液晶模组可以使用不同的CODE初值，使液晶模组面板呈现的质量更好。
3)节约后段Gamma、Demura调节的TT时间，提升产品质量。
附图说明
图1为本发明实施例的标定原理图；
图2为发明实施例的Gamma调节的原理图。
具体实施方式
为了便于本领域普通技术人员理解和实施本发明，下面结合附图及实施例对本发明作进一步的详细描述，应当理解，此处所描述的实施示例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
请见图1，本发明提供的一种提升显示面板质量的方法，包括以下获取CODE初值的步骤：
步骤1：将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
步骤2：对该大玻璃基板样板进行切割，获得与该m*n块区域一一对应的m*n块显示面板样板；
步骤3：分别对该m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得一组与该m*n块显示面板样板一一对应的第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据；
因工艺材料的问题，每块液晶模组的特性，比如亮度/色度/mura的情况都是不一样的，为了使得液晶面板能比较好的呈现特性，驱动液晶面板的芯片会做一些处理，提供一些可配置的参数，这里称为寄存器，改变寄存器的值，液晶面板的显示特性就会发生变化，实际上就是对液晶面板做一些补偿，使能每块液晶面板的特性统一，调节Gamma/修复Mura都是为了获取这一组特殊的数据，每块面板都不相同，所以需要做一一对应的记录。
步骤4：将该组第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定，作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。
该步骤是使用在线管理系统进行液晶面板和数据绑定，以便后段可通过在线管理系统精确获取，显示在液晶模组上，使每块液晶模组的特性呈现最佳。
本实施例还包括在Array和/或CELL工序中标定的步骤：对曝光机、和/或蒸镀机、和/或切割机进行标定，分别记为Ex、和/或Ty、和/或Cz；并将Ex、和/或Ty、和/或Cz与该ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定。
本实施例依据该m*n块区域对大玻璃基板切割获得m*n块显示面板，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn；分别将ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值设定为对应的显示面板的CODE初值。
本实施例还分别对该m*n块显示面板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得一组与该m*n块显示面板一一对应的第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据；将该组第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定，作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。
本实施例还提供了一种提升显示面板质量的方法，包括以下获取CODE初值的步骤：
步骤1：将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
步骤2：对N块大玻璃基板样板进行切割，获得N组m*n块显示面板样板；
步骤3：获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息(包括亮度、色度、Mura数据等)，并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据；
面板比如手机屏幕，在正常工作时，其亮度/色度/Mura等都是不一样的，需要用专门的测试工具才能标定出这些值，如亮度/色度需要使用CA310(日产设备，符合国际标准)等标定，Mura数据需要用相机等拍照进行评估。市场是出售的手机屏幕，实际上都是经过Gamma调节及Mura修复的，Gamma调节一般调节的是中心亮度/色度符合Gamma曲线，改变Gamma寄存器的值Gamma曲线即发生变化，如图2就是一张对应灰阶和亮度的曲线。Mura修复即是对整个液晶面板的亮度均匀性做调整，使得用人眼查看整个面板时，过度是非常均匀的。
步骤4：将该N组m*n块显示面板样板的特征信息作为输入值，将该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为输出值，利用卷积神经网络进行分类训练操作获得ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值模型。
步骤4用的是机器学习中深度学习的方法，卷积神经网络是深度学习的一种构建模型的方式，通过构建模型，做数据的标定，把相关的数据进行训练，得出想要的一组数据。
本实施例还包括在Array和/或CELL工序中标定的步骤：对曝光机、和/或蒸镀机、和/或切割机进行标定，分别记为Ex、和/或Ty、和/或Cz；并将Ex、和/或Ty、和/或Cz与该ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定。
本实施例依据该m*n块区域对大玻璃基板切割获得m*n块显示面板，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn；其中，获得每块显示面板的CODE初值的方法包括以下步骤：获得该显示面板的特征信息T1；将特征信息T1与该显示面板ID的CODE初值模型中的N组特征信息进行比较，得到与特征信息T1误差最小的特征信息T；则，该特征信息T对应的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为该显示面板的CODE初值。
因显示面板的特性，每片显示面板都需要进行Gamma调节，否则无法达到出货的要求。在后段Gamma时，使用不同的Gamma初始，使显示面板程序的色度及亮度更好，调节Gamma2.2时，调节速度更快。初始CODE对Gamma调节的贡献很大，决定了Gamma调节的收敛速度，提高TT。
初始CODE里面包含Gamma寄存器的值，调节Gamma，即改变Gamma寄存器的值，使得Gamma在每个灰阶下的亮度数据符合Gamma2.2曲线。初始CODE值越好，即越靠近Gamma2.2曲线，调节Gamma时，向Gamma2.2逼近的速度就越快，请见图2，为Gamma调节的原理图2。
本发明通过ID标定，测量各个区域块的亮度/色度/Mura数据，对各区域块的数据进行深度学习，得到一组ID对应的初始CODE值，使得显示面板呈现的亮度/色度/均匀性更加，通过在线管理系统进行绑定记录，在该产线的后续生成中，根据ID编号，直接赋予切割后的显示面板CODE初值，从而减少后段Gamma/Demua的调节时间，提高产线TT，提高产能，降低成本。
本发明还提供了一种提升显示面板质量的系统，包括第一模块、第二模块、第三模块、第四模块；第一模块，用于将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；第二模块，用于对N块大玻璃基板样板进行切割，获得N组m*n块显示面板样板；第三模块，用于获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息，并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据；第四模块，用于将该N组m*n块显示面板样板的特征信息作为输入值，将该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为输出值，进行分类训练操作获得ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值模型。
本实施例还提供了一种快速提升显示面板质量的系统，包括存储器、处理器以及存储在该存储器中并可在该处理器上运行的计算机程序，该处理器被配置为执行该计算机程序时实现如权利要求书中任一项所述方法的步骤。
应当理解的是，本说明书未详细阐述的部分均属于现有技术。
应当理解的是，上述针对较佳实施例的描述较为详细，并不能因此而认为是对本发明专利保护范围的限制，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明权利要求所保护的范围情况下，还可以做出替换或变形，均落入本发明的保护范围之内，本发明的请求保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种提升显示面板质量的方法，其特征在于，包括以下获取CODE初值的步骤：
步骤1：将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
步骤2：对该大玻璃基板样板进行切割，获得与该m*n块区域一一对应的m*n块显示面板样板；
步骤3：分别对该m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得一组与该m*n块显示面板样板一一对应的第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据；
步骤4：将该组第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定，作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。
2.根据权利要求1所述的提升显示面板质量的方法，其特征在于，还包括在Array和/或CELL工序中标定的步骤：对曝光机、和/或蒸镀机、和/或切割机进行标定，分别记为Ex、和/或Ty、和/或Cz；并将Ex、和/或Ty、和/或Cz与该ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定。
3.根据权利要求1所述的提升显示面板质量的方法，其特征在于，还包括以下步骤：
依据该m*n块区域对大玻璃基板切割获得m*n块显示面板，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn；
分别将ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值设定为对应的显示面板的CODE初值。
4.根据权利要求3所述的提升显示面板质量的方法，其特征在于，分别对该m*n块显示面板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得一组与该m*n块显示面板一一对应的第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据；
将该组第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定，作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。
5.一种提升显示面板质量的方法，其特征在于，包括以下获取CODE初值的步骤：
步骤1：将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
步骤2：对N块大玻璃基板样板进行切割，获得N组m*n块显示面板样板；
步骤3：获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息，并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据；
步骤4：将该N组m*n块显示面板样板的特征信息作为输入值，将该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为输出值，进行分类训练操作获得ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值模型。
6.根据权利要求5所述的提升显示面板质量的方法，其特征在于，还包括在Array和/或CELL工序中标定的步骤：对曝光机、和/或蒸镀机、和/或切割机进行标定，分别记为Ex、和/或Ty、和/或Cz；并将Ex、和/或Ty、和/或Cz与该ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定。
7.根据权利要求5所述的提升显示面板质量的方法，其特征在于，依据该m*n块区域对大玻璃基板切割获得m*n块显示面板，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn；其中，获得每块显示面板的CODE初值的方法包括以下步骤：
获得该显示面板的特征信息T1；将特征信息T1与该显示面板ID的CODE初值模型中的N组特征信息进行比较，得到与特征信息T1误差最小的特征信息T；则，
该特征信息T对应的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为该显示面板的CODE初值。
8.根据权利要求5所述的提升显示面板质量的方法，其特征在于，利用卷积神经网络进行该分类训练操作。
9.一种快速提升显示面板质量的系统，其特征在于，包括第一模块、第二模块、第三模块、第四模块；其中，
所述第一模块，用于将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；
所述第二模块，用于对N块大玻璃基板样板进行切割，获得N组m*n块显示面板样板；
所述第三模块，用于获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息，并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据；
所述第四模块，用于将该N组m*n块显示面板样板的特征信息作为输入值，将该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为输出值，进行分类训练操作获得ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值模型。
10.一种快速提升显示面板质量的系统，包括存储器、处理器以及存储在该存储器中并可在该处理器上运行的计算机程序，其特征在于，该处理器被配置为执行该计算机程序时实现如权利要求1-8任一项所述方法的步骤。
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