CN104152568B - 高通量str序列核心重复数检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种高效快捷的高通量STR序列核心重复数检测的方法，包括首先在已扩增到检测基片的STR序列簇上杂交一对检测引物，其中终引物上修饰荧光基团；随后利用核苷酸组合进行分步延伸，同时在每轮延伸后检测荧光信号，直至终引物上带荧光的碱基被聚合酶切除，信号消失为止；最终分析荧光信号的情况，得到相应的STR序列核心重复数。本发明采用通用的生物化学试剂，广泛适用于生物芯片及高通量测序等检测平台，且信噪比很高，明显提高了STR检测的准确性和对杂合STR的分辨率，同时其高通量特性使得该方法可以通过检测更多STR基因座得到更加确信的结果以及检测更多样本实现快速的群体STR检测。

Description

高通量STR序列核心重复数检测方法

技术领域

本发明涉及生物技术领域，特别涉及一种高效快捷的高通量STR序列核心重复数检测方法。

背景技术

十九世纪八十年代发现的DNA指纹图谱，开创了检测DNA多态性(生物的不同个体或不同种群在DNA结构上存在着差异)的多种多样的手段，如RFLP(限制性内切酶酶切片段长度多态性)分析、串联重复序列分析、RAPD(随机扩增多态性DNA)分析等等。各种分析方法均以DNA的多态性为基础，产生具有高度个体特异性的DNA指纹图谱，由于DNA指纹图谱具有高度的变异性和稳定的遗传性，且仍按简单的孟德尔方式遗传，成为当时最具吸引力的遗传标记。

1985年Jefferys博士首先将DNA指纹技术应用于法医鉴定。1989年该技术获美国国会批准作为正式法庭物证手段。随着生物技术的发展，DNA聚合酶链式反应(PCR)技术的出现使对样品量的需求大大降低，将分析目标集中到VNTR(可变数目串联重复)中的较短的重复序列(STR)，使得较短的核酸片段也能够用于分析。后来进一步出现了多重PCR技术，使STR基因分型检测在法医和刑侦中迅速推广。

短串联重复序列又称简单重复序列(SSR)或微卫星DNA(microsatelliteDNA)，由2～6bp的核心序列组成，重复次数通常在15～30次。STR广泛存在于真核生物基因组中。由于STR核心序列的重复次数存在个体间差异，具有高度多态性，因而被作为一种遗传标记广泛地应用于植物、动物的种类鉴定中。在人类基因组中，STR分散在人的整个基因组中，平均每15～20kb就存在一个STR基因座，约占人基因组的3％。STR标记还具有多态性丰富、易于检测等特点，因此被广泛应用于人类遗传制图、基因定位、连锁分析、亲子鉴定、罪犯鉴定和人类遗传研究等方面。

目前通用的STR检测方法主要采用上世纪九十年代提出的分组多重扩增STR基因座并通过荧光毛细管电泳对扩增片段长度进行检测，最后反馈出与核心重复数相应的荧光峰位。其基本原理是利用基因座内等位基因长度的不同以及扩增的基因座之间片段长度范围的不同，采用高分辨率的毛细管电泳技术进行分离。通常，对于每个基因座中一条引物进行荧光标记，不同的基因座引物标记不同的荧光，结合扩增片段的迁移率和荧光的颜色，应用基因序列分析仪及采用相应的分析软件可自动化检出复合扩增的众多STR基因座的所有信息。

根据上述的检测原理，不难判断，目前的STR检测方法具有如下的不足之处：(1)检测反应基于第一代测序技术类似的荧光毛细管电泳法，该法的通量很低，无法对海量样本进行大规模并行检测；(2)由于需要根据产物片段的长度对STR进行荧光分组，这意味着该方法对检测的基因座有数量上的限制，难以通过增加待测STR序列的手段，进一步提高生物学个体的识别率；(3)存在无效等位基因，致使不同的试剂盒有可能出现某些基因座测定结果的差异；(4)由于是对片段长度的检测，对STR内部核心重复中的单核苷酸多态性(SNP)位点无法检测出来。

发明内容

发明目的：提供一种高效快捷的高通量STR序列核心重复数检测方法，以快速有效地以较低成本对海量样本的多个STR序列进行大规模地并行检测，解决现有技术存在的一个或多个问题。

技术方案：一种高通量STR序列核心重复数检测方法，包括以下步骤：

A.将一对引物杂交到待测STR序列上，其中下游引物带荧光标记；

B.重复交替地加入核苷酸单体组合，利用具有5’→3’外切酶活性的DNA聚合酶合成待测STR序列的互补链，每次加入核苷酸单体组合完成聚合反应后进行清洗，然后检测荧光强度；

C.分析荧光信号的变化及信号变化发生的轮次，判断STR序列的杂合情况并计算出核心重复数。

其具体操作过程包括以下步骤：

(1)样本基因座STR序列的特异性扩增

选取相应数量的STR序列，作为检测对象；通过多重PCR技术，将上述STR序列从人类DNA样本的相应基因座上扩增出来；

选取完待检STR序列后，根据STR序列中核心重复单元的序列信息来设计聚合时的核苷酸单体组合以及设计多组STR序列同时检测的分组检测方案，同时还需要设计每种STR序列相应的上下游检测引物并合成；

(2)检测基片上STR序列的固定及文库制备

检测基片上的每一个反应位点上仅有唯一样本的同一种STR单链序列拷贝；

上述STR单链序列拷贝可以直接固定于基片的固相载体表面，或者通过微媒介物间接地先将单链序列拷贝固定在媒介物的表面，再将媒介物固定于检测基片的表面；

(3)STR序列核心重复数的检测实验

检测反应进行前，首先读取芯片上每个反应位点上的STR序列所属的样本信息以及基因座信息；

随后加入混合后的上下游检测引物进行杂交，杂交完成后清洗并检测荧光；

不断重复进行加入核苷酸单体组合聚合的操作，并在每次聚合完全后清洗及检测荧光，直至整张反应基片上所有反应位点的荧光降低到下限阈值以下后结束检测；

(4)荧光信号分析

根据检测芯片上的每个反应位点在不同轮次下的荧光信号强度，找到荧光信号强度发生衰减的反应轮次，根据该轮次及核苷酸单体组合方式推导出该位点上STR序列的核心重复数；

同时需要对荧光信号衰减率进行分析，判断该位点的STR序列是否为杂合并根据二次荧光衰减得到另一条等位STR序列的核心重复数；

最终，通过对检测芯片上海量位点的检测结果进行统计学分析，得到每个样本的每条STR序列的核心重复数及其纯合比率。

有益效果：本发明实现了STR检测技术从现有检测平台向高通量检测平台的转变，通过高通量地并行检测，极大程度的减少了单个样本的检测时间和成本。本发明适用于多种高通量检测平台，既可以适用于便于现场检测的生物芯片技术，又可以应用于高通量测序系统实现对大规模样本的高速检测。本发明的检测方法简单快速，检测中的操作仅有延伸聚合、清洗和检测荧光三个步骤。涉及的生化反应少且反应间干扰小。本发明中的延伸聚合反应采用非专利保护的天然dNTP单体组合，可以降低延伸的错误率，同时降低实验的试剂成本。本发明在延伸反应时不存在常规检测方法中由于荧光剪切带来的荧光信号的衰减，延伸反应可进行非常多轮次，可以检测多重复数的STR序列。本发明使用DNA聚合酶自带的5’外切酶活性，将包含荧光基团的碱基整体切除。无需特意设计荧光的连接基团以及剪切试剂或者是淬灭方案，采用普通的荧光引物即可。

附图说明

图1是本发明实施例中直接固定在生物芯片固相载体表面的STR序列示意图及其功能分区。

图中：101表示检测芯片的固相载体表面，102表示STR序列和固相载体表面的连接基团，103表示一对扩增引物在STR序列上的位置，104表示一对检测引物在STR序列上的位置，105表示STR序列中待检测的核心重复区域。

图2是本发明实施例中通过磁珠媒介固定于高通量测序芯片上的STR序列在检测过程中的示意图。图中合成链的延伸方向如图示从右向左。

图中：201表示测序芯片的反应基面，202表示磁珠，203表示连接基团，204表示与待检STR序列杂交的带荧光修饰的下游检测引物，205表示DNA聚合酶，206表示经之前轮次的延伸聚合后已合成出的DNA链，207表示与待检STR序列杂交的上游检测引物。

图3是本发明实施例中通过磁珠媒介固定于高通量测序芯片上的STR序列在检测结束时荧光衰减的示意图。图中合成链的延伸方向如图示从右向左。

图中：301表示测序芯片的反应基面，302表示磁珠，303表示连接基团，304表示被聚合酶切除带荧光碱基后的下游检测引物，305表示DNA聚合酶，306表示经之前轮次的延伸聚合后已合成出的DNA链，307表示与待检STR序列杂交的上游检测引物，308表示被聚合酶切除并冲洗离开反应位点的带荧光碱基。

图4a是本发明实施例中采用的物理区域分隔法将不同样本的多种STR序列拷贝簇固定在检测基片上的示意图。

图4b是图4a的区域放大图(含20个样本的区域)。

图中：401表示检测基片的固相载体表面，402表示固相载体表面上某个样本的STR拷贝簇构成的检测区域。

图4c是图4b的区域放大图(含16个STR拷贝簇)。

图4d是图4c的简化示意图。

具体实施方式

结合如图1至图4d描述本发明高效快捷的高通量STR序列核心重复数检测方法。

实施例1：基于生物芯片平台的法医学身份识别STR检测

该次实验为本发明在高通量芯片检测平台中的应用，可以实现数万个检测位点的并行检测，相较于目前基于荧光毛细管电泳的96道并行检测，单次运行得到的检测结果大幅增多，这同时意味着单样本的检测时间和检测成本的大幅下降。

检测步骤为：

(一)芯片上检测序列文库的制备：

首先，从待检组织中提取出基因组DNA。选用如表1所示的16对扩增引物，对基因组DNA中的相应基因座进行多重扩增。其中，Amelogenin为检测性别的基因座，其余15种为不同的STR基因座。

该次实验选取的待检STR序列为目前用于法医学身份鉴定的16个标准序列，但本方法检测的序列种类并不局限于此，因为每个拷贝簇作为单独的检测位点，不存在位点间的信号检测范围的相互交叠。

表1

随后，将上述15个STR基因座根据其核心重复区域的序列特征进行分组。由于该15个STR序列的核心重复单元中均具有单独的碱基G(或C)，因此可以同组检测，但是需要根据核心重复单元中的单独碱基是G还是C来选择相应的检测链和固定在芯片上的引物。最终选择基因座TPOX、PentaE、D18S51、TH01、PentaD、CSF1PO、D16S539、D7S820、D5S818的前扩增引物以及基因座D21S11、D3S1358、FGA、D8S1179、vWA、D13S317的反向扩增引物作为连接到检测芯片上的引物。上述引物通过点样的方式按照固定的顺序点在芯片的表面的不同部位，形成如图4所示的一个个与芯片上物理位置一一编码对应的独立样本检测区域，每个样本检测区域中都点有上述16种连接引物。将多重PCR扩增的混合产物滴加到固定好引物的芯片表面，同时控制温度的变化，让芯片表面的引物特异性地捕获扩增产物中相应基因座的STR序列拷贝。捕获完成后清洗芯片表面，然后滴加含DNA聚合酶、dNTP和缓冲液的混合扩增试剂到芯片的表面，让芯片上连接的引物以其杂交捕获到的STR序列拷贝为模板，合成出最终连接在芯片上的待检STR序列单链簇，如图1所示。上述聚合反应完成后，变性模板并再次清洗。

(二)基于芯片平台的检测流程：

首先将16种待检STR序列相应的上下游检测引物混合，滴加到芯片表面并覆盖所有的反应位点。控制适当的温度，让这些检测引物和它们对应的STR待检序列杂交。杂交反应完成后，清洗芯片并将其置入芯片扫描仪进行荧光检测。调节合适的曝光参数让芯片上的大部分检测位点处于较亮的状态，记录该曝光参数并在后续的所有检测中使用该曝光参数。

第二步进行延伸检测。由于固定在芯片上的STR单链中的核心重复片段中均含有单个的G碱基，因此该实施例中采用的核苷酸单体组合为：

第一组：dATP、dTTP、dGTP混合单体；

第二组：dCTP单体。

首轮检测中加入第一组dATP、dTTP、dGTP混合单体，与聚合酶及其他聚合反应试剂混合后，滴加到芯片表面，并控制合适的反应条件在芯片上发生聚合反应。上述反应完全后，清洗芯片并将其置入芯片扫描仪进行荧光检测。

第二轮检测中加入的是另一组核苷酸单体，即dCTP单体，同样跟聚合酶及其他聚合反应所需的试剂混合后，滴加到芯片表面，并控制合适的反应条件在芯片上发生聚合反应。反应完全后，同样进行芯片的清洗和荧光检测。

后续的检测过程类似上述两轮检测，即每次检测中加入与上轮检测中加入的不同的核苷酸单体组合，实现两组组合的重复交替延伸，直至芯片上所有反应位点的荧光强度值低于检测下限阈值。

检测过程中所用的dNTP均为非专利保护的常用天然核苷酸单体，其在生化反应中的性质更加符合自然过程，这将会使由dNTP竞争性带来的检测错误率大大降低，提高了检测的精度。同时，由于合理地设计了荧光基团的位置，以及利用了聚合酶的外切性质，使得检测过程中每轮的生化反应操作均为最基本的实验操作，不易出错，从而提高了检测的稳定性。

(三)数据分析

首先读取每个样本区域及其中STR序列位点的编号，根据位点的物理位置及相应的编码表对检测图像结果中的每个荧光信号位点进行定位。以第一轮各个检测位点的荧光强度值为基准，确立荧光强度上限阈值的参考值，并计算得到各个位点荧光强度的下限阈值。随后将各个检测位点在每轮检测中的荧光强度以各自的上限阈值为标准，进行标准化，根据标准化荧光强度的衰减分析出该位点对应STR的核心重复数。Amelogenin基因的检测结果由有效荧光衰减的次数决定。

如某次检测结果中，第aNk145-04号检测位点的标准荧光强度如下表所示：

表二

轮次	强度	轮次	强度
				1	100％	16	11.3％
2	99.8％	17	11.3％
				3	99.2％	18	11.1％
4	99.3％	19	10.8％
				5	98.7％	20	10.8％
6	97.4％	21	9.6％
				7	96.2％	22	10.1％
8	95.6％	23	10.2％
				9	96.1％	24	9.8％
10	94.7％	25	9.9％
				11	93.9％	26	9.7％
12	58.6％	27	9.7％
				13	54.6％	28	9.5％
14	11.7％	29	9.1％
				15	11.6％	30	9.3％

根据该位置编号aNk145-04，查找到此荧光位点上的STR序列为来自样本KL87932的CSF1PO基因座STR序列。从该位点的标准荧光强度值中找到两个衰减位置，两次强度衰减均大于荧光强度浮动阈值且第一次衰减后荧光强度大于衰减下限阈值，第二次衰减荧光强度小于衰减下限阈值。因此判断该位点为有效位点，输出结果为12,14。再根据前后引物偏移值+1、+1，得到最终的STR核心重复数为6，7。

从该次实验结果同时还可以看出本发明方法将荧光设计在下游检测引物上的优点，从前11轮和最后17轮荧光强度和分别得到荧光在反应过程中的衰减率为：6.1％和2.4％，这相较于常规的将荧光基团设计在dNTP上的荧光检测来说非常低，主要得益于本发明针对STR序列检测的性质，从原理上进行了改进。当延伸反应未到达下游引物的荧光基团位置时，杂交在模板序列上的下游检测引物实际上并未参与到延伸反应中，其荧光强度不会发生衰减。

实施例2：基于高通量测序平台的法医学身份识别STR磁珠法检测

该次实验为本发明在高通量测序平台中的应用，其检测通量得到了进一步的提升，可以实现数百万个检测位点的并行检测，更进一步降低了单样本的检测时间和检测成本。

检测步骤为：

(一)测序检测文库的制备：

首先从待检组织中提取出基因组DNA，同时分别制备连接有如表1所示的16对扩增引物中某条单侧扩增引物的磁珠。其中单侧引物的选择根据STR基因座核心重复区域的序列特征进行分组。由于表1中的15个STR序列的核心重复单元中均具有单独的碱基G(或C)，因此可以同组检测。将待检测碱基统一成G后得到最终连接到磁珠上的单侧引物为基因座TPOX、PentaE、D18S51、TH01、PentaD、CSF1PO、D16S539、D7S820、D5S818的前扩增引物以及基因座D21S11、D3S1358、FGA、D8S1179、vWA、D13S317的反向扩增引物。对每个样本进行扩增时，需要在独立体系中加入合适量的16种上述磁珠，并加入与之相对的另一侧扩增引物进行多重扩增。为了区别不同的检测样本，需要在引物中引入了一段标签序列。

所有样本的扩增完成后，将磁珠混合并筛除表面未扩增出足量STR片段的磁珠。随后将磁珠悬液缓缓通入基面修饰有连接基团的测序芯片流道内，控制合适的条件进行孵育，将磁珠固定到测序芯片的检测基面。

(二)测序检测流程：

测序检测时，首先对测序标签进行读取，确定测序芯片上所有位点的样本信息。随后通过组合荧光杂交法确定所有位点上是何种STR序列，具体方法如下：

由于需要分辨出15种不同的STR序列，可采用4×4的组合荧光序列杂交的方法，即每个STR序列中选出两段特异性序列，分别标记上合适的四种荧光，一种合理的分组方法如下表3所示：

表3

首先杂交P1引物，反应完成后清洗流道并在四个荧光通道下检测每个反应位点的荧光信号。然后变性模板，杂交P2引物，同样在反应完成后清洗流道并在四个荧光通道下检测每个反应位点的荧光信号。最后结合两组信号和荧光编码表确定每个反应位点为何种STR序列。

后续的检测过程与实施例一中类似，首先将16种待检STR序列相应的上下游检测引物混合，通入到测序芯片的反应流道内。控制适当的温度，让这些检测引物和它们对应的STR待检序列杂交。杂交反应完成后，清洗芯片并进行荧光拍照。调节合适的曝光参数让测序芯片流道内的大部分检测位点处于较亮的状态，记录该曝光参数并在后续的所有检测中使用该曝光参数。

第二步进行延伸检测。由于固定在磁珠上的STR单链中的核心重复片段中均含有单个的G碱基，因此该实施例中采用的核苷酸单体组合为：

第一组：dATP、dTTP、dGTP混合单体；

第二组：dCTP单体。

首轮检测中加入第一组dATP、dTTP、dGTP混合单体，与聚合酶及其他聚合反应试剂混合后，通入流道内，并控制合适的反应条件发生聚合反应。上述反应完全后，清洗流道并检测荧光。

第二轮检测中加入的是另一组核苷酸单体，即dCTP单体，同样跟聚合酶及其他聚合反应所需的试剂混合后，通入流道内，并控制合适的反应条件发生聚合反应。反应完全后，同样进行流道的清洗和荧光检测。

后续的检测过程类似上述两轮检测，即每次检测中加入与上轮检测中加入的不同的核苷酸单体组合，实现两组组合的重复交替延伸，如图2所示，直至芯片上所有反应位点的荧光强度值低于检测下限阈值。荧光强度衰减的原理如图3所示，由于聚合酶的5’→3’外切酶活性会将下游引物中带荧光的碱基切除，导致当核心重复区域检测完成后，反应位点的荧光信号会出现突然衰减。

(三)数据分析

数据分析的过程与芯片法类似，同样以第一轮各个检测位点的荧光强度值为基准，确立荧光强度上限阈值的参考值，并计算得到各个位点荧光强度的下限阈值。随后将各个检测位点在每轮检测中的荧光强度以各自的上限阈值为标准，进行标准化，根据标准化荧光强度的衰减分析出该位点对应STR的核心重复数。

与芯片法不同的是，由于测序的高通量性质，会使多个反应位点同时表征某个样本的同一个基因组STR序列，因此相对于芯片法的结果，高通量检测结果为统计量，不仅可以得到正确的检测结果，同时可以避免由于扩增的偏向性及初始浓度差异导致的错误隐患。

总之，本发明将STR检测技术以一种简单、高效、低成本的方式引入到高通量的检测平台中，不仅可以让STR检测再现有的应用领域，如基因组图谱制作、法医学个体识别、遗传学多态性研究、疾病的治疗和研究等方面得到更为广泛的应用，更重要的是得到的群体性的检测结果将有可能更加深入地揭示一些生物学原理。

以上详细描述了本发明的优选实施方式，但是，本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明的技术构思范围内，可以对本发明的技术方案进行多种等同变换，这些等同变换均属于本发明的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本发明对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本发明的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本发明的思想，其同样应当视为本发明所公开的内容。

Claims (6)

1.一种高通量STR序列核心重复数检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤A．将一对引物杂交到待测STR序列上，其中下游引物带荧光标记；所述的一对引物分别位于STR序列核心区域的上游和下游，将检测区域限定在STR核心区域附近，减少反应和检测的轮次；

步骤B．重复交替地加入核苷酸单体组合，利用具有5’→3’外切酶活性的DNA聚合酶合成待测STR序列的互补链，每次加入核苷酸单体组合完成聚合反应后进行清洗，检测荧光强度；

步骤C．分析荧光信号的变化及信号变化发生的轮次，判断STR序列的杂合情况并计算出核心重复数；

以第一轮各个检测位点的荧光强度值为基准，确立荧光强度上限阈值的参考值，并计算得到各个位点荧光强度的下限阈值，随后将各个检测位点在每轮检测中的荧光强度以各自的上限阈值为标准，进行标准化，根据标准化荧光强度的衰减分析出该位点对应STR的核心重复数。

2.根据权利要求1所述的高通量STR序列核心重复数检测方法，其特征在于：待测的STR序列簇固定于固相载体表面，其中，所述固相载体表面包括测序流道或生物芯片的基片，以及连接在检测基片上的媒介物的表面。

3.根据权利要求1所述的高通量STR序列核心重复数检测方法，其特征在于，所述步骤A之前还包括步骤：

A0.对需要检测的STR序列进行多重扩增，将待测STR序列直接或是通过媒介物扩增并连接到检测基片表面。

4.根据权利要求2所述的高通量STR序列核心重复数检测方法，其特征在于，所述的媒介物包括磁珠、微珠、微柱、微粒及微槽中的至少一个。

5.根据权利要求1所述的高通量STR序列核心重复数检测方法，其特征在于，所述步骤A中所述的下游引物上修饰的荧光标记位于下游引物5’端附近的碱基上。

6.根据权利要求1所述的高通量STR序列核心重复数检测方法，其特征在于，所述步骤B中所述的核苷酸单体组合为常用脱氧核糖核苷三磷酸中的一种或几种。