CN104136884A - 待测对象的测量 - Google Patents

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Abstract

一种测量装置，包括第一光学传感器行(200)和第二光学传感器行(202)，平面待测对象(204)布置在第一光学传感器行(200)和第二光学传感器行(202)之间。第一传感器行(200)的方向和第二传感器行(202)的方向彼此不同。第一传感器行(200)的每个传感器(208)形成用于表示待测对象(204)与传感器(208)之间的距离的数据。第二传感器行(202)的每个传感器(210)形成用于表示待测对象(204)与传感器(210)之间的距离的数据，从而基于所述数据确定所述待测对象(204)的至少一种特性。

Description

待测对象的测量
技术领域
本发明涉及一种测量装置以及测量待测对象的方法。
背景技术
例如，可以通过光学方式测量从传感器到纸幅表面的距离。为了测量厚度，已经通过两个相互对齐的测量单元测量了纸幅表面的距离，纸幅位于这两个相互对齐的测量单元之间。每个测量单元包括位于至少二维空间中的至少三个传感器，这是由于通过任何更少的装置都不可能确定三维空间里机器中纸幅的倾斜度以及纸幅的横向机器方向。每个传感器聚焦在设置于对侧的测量单元的一个传感器上，使得意欲成对的这些传感器的位置仅在测量单元之间的距离方向上彼此不同。
除了纸幅的倾斜度之外，由于测量单元之间的距离L可能依赖于传感器i这一事实，即，测量单元也可能相对于彼此倾斜，所以测量进一步复杂化。在这种情况下，如同在测量纸幅倾斜角度时一样，必须从三个不同的点来测量测量单元之间的距离。例如，可以通过光学方式或磁性方式测量测量单元之间的距离。
这种测量单元方案较大、复杂而且难以相互对齐，这使得测量更加困难，而且精度更低。因而，存在改进纸幅测量的需求。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种改进的测量方案。这是通过根据权利要求1所述的测量装置来实现的。
本发明还涉及一种根据权利要求14所述的方法。
在从属权利要求中公开了本发明的优选实施例。
根据本发明的测量装置和方法提供多种优点。该测量单元简单，而且能够利用一维传感器行来测量待测对象的一个表面。
附图说明
现在结合优选实施例并参考附图更详细地描述本发明，其中：
图1示出了现有技术的测量；
图2示出了两个交叉传感器行，待测对象将位于这两个传感器行之间；
图3是其中传感器行相对于待测对象倾斜的测量的透视图；
图4是其中传感器行相对于待测对象的坐标系倾斜并旋转的测量的透视图；
图5是其中传感器行相对于彼此表现出角度变化的测量的透视图；
图6示出了对原点进行测量的原理；
图7示出了待测对象的轮廓的测量；
图8示出了结构光测量；
图9示出了基于焦点的颜色分离(chromatic separation)的测量；
图10示出了另一种基于焦点的颜色分离的测量；
图11示出了由检测器行检测的强度作为波长和位置的函数；
图12示出了在不同方向测量的轮廓；
图13示出了一种造纸机；以及
图14是方法的流程图。
具体实施方式
在本申请中，光学辐射是指波长带范围在紫外辐射(波长大约50nm)和红外辐射(波长大约500μm)之间的电磁辐射。以下示出了一种测量装置，用以测量至少近似平面的待测对象的至少一种特性。在它的每个测量点处，平面待测对象的表面至少近似于平面。该待测对象的表面应当反射光学辐射。该待测对象的表面是指设置在待测对象与其周边环境之间的界面。该待测对象在测量时可以不移动或移动，该测量对象例如可以是纸张、软组织、硬纸板、化学浆、塑料、金属、织物、玻璃等。该待测对象可以是纸张、软组织、硬纸板、化学浆、塑料、金属、织物、玻璃等的涂覆物。这些待测对象具有彼此靠近的两个大的、近似平面的表面，使得至少一个维度方向上平面表面的长度比表面之间的距离大数倍。在许多情况下，在表面方向上的长度比表面之间的距离大数十倍、数百倍或数千倍。该比值甚至可能更高，因为例如纸幅基本是无尽的，而纸张的厚度可能例如是0.1mm。因而，理论上而言，待测对象的长度除以厚度可能也是无限的。
图1示出了现有技术的纸幅测量。在该示例中，测量单元102包括三个传感器106、108和110。类似地，测量单元104也包括三个传感器112、114和116。传感器112、114和116位于测量单元104中通过传感器106、108以及110在传感器106～110的测量方向上朝向纸幅100的相对侧平行移动而获得的位置处。在通常情况下，在一个测量单元中由多个传感器形成的图案是二维或三维空间中的多边形。
在已经从纸幅100的不同侧测量了测量单元102、104的传感器106到110、112到116与纸幅100之间的距离da1到dan、db1到dbn(其中，a是指纸幅100的一侧，b是指纸幅100的另一侧，n是传感器的数量)之后，当测量单元102、104之间的距离L已知时，可以在每个传感器i(i＝1，……，n)处确定纸幅100的厚度D。那么，该厚度D例如是D＝L-(dai+dbi)。该测量结果D仍然包括由于倾斜角度α造成的误差。当至少一个测量单元102、104的传感器106到110、112到116中一个到另一个之间的距离和方向已知时，可以确定倾斜角度α，因为倾斜角度α与纸幅100相对于传感器106到110、112到116之间距离的距离变化成比例。那么，校正后的纸幅厚度Dkor是Dkor＝D*cos(α)，其中cos是三角余弦函数，α是在期望方向上的倾斜角度。
现在我们通过图2来看本公开的方案，这是测量配置的顶视图。该测量装置包括第一光学传感器行200和第二光学传感器行202，平面待测对象204可以布置在第一光学传感器行200和第二光学传感器行202之间。每个传感器行200、202包括至少两个传感器208、210。一个传感器行200、202可以由数百、数千甚至数百万单个传感器构成，然而并不限于这些数量。在一行中，传感器208、210的位置是一个在另一个之后，从而形成了一维布局链。一个传感器行200、202的传感器208、210的一维布局提供了关于一个维度方向上待测对象204的表面的信息。当在计算时将传感器208、210的位置用作坐标值时，每个传感器行200、202的方向可以被确定为基于例如最小平方和的直线的方向。
第一传感器行200的方向和第二传感器行202的方向彼此不同。然而，这使得能够在不同维度的方向上从待测对象204的不同侧获得数据，而且两个交叉的传感器行200、202使得能够获得关于待测对象204的二维数据。传感器行200、202之间的角度β可以是[0°到90°]之间的任意角度。通常，将传感器行200、202之间的角度选为在[45°到90°]之间是合理的。传感器行200、202可以是直的，但这不是必须的。传感器行200、202也可以是弯曲的，在这种情况下，传感器行200、202之间的角度β意味着传感器行200、202相对于彼此的平均角度偏移。通常而言，传感器行200、202的位置在安装之后根本不会改变很多。从经验上而言，已经发现，即使从长期来看传感器行200、202之间的角度β也不会变化超过0.1°。
基于从待测对象204的表面220接收的光学信号，第一传感器行200的每个传感器208形成了数据，该数据包含待测对象204与传感器208之间的距离的信息。所形成的数据通常可以包括在电信号中，该电信号可以是模拟的或数字的。每个传感器208可以通过无线或有线方式，单独地传输数据，或者作为与来自其他传感器的数据组合的信号来传输数据。
第二传感器行202的每个传感器210形成了表示待测对象204的表面222与传感器210之间的距离的数据。所形成的数据可以包括在电信号中，该电信号可以是模拟的或数字的。每个传感器210可以通过无线或有线方式，单独地传输数据，或者作为与来自其他传感器的数据组合的信号来传输数据。
该测量装置还可以包括信号处理单元206，该信号处理单元206可以基于由传感器208、210形成的数据以及信号处理单元206可以获得的关于第一传感器行200和第二传感器行202之间的距离的数据，来确定待测对象204的厚度，该厚度是表面220和222之间的距离。
为了测量待测对象204的特性，从测量配置中需要获得第一传感器行200和第二传感器行202的方向的交点(x0，y0)、传感器行200、202之间的距离Z、以及传感器行200、202之间的角度变化θz。待测对象204相对于传感器行200、202的倾斜角度α1、α2也是必须的。传感器行之间的距离变化通常较小，处于1μm的量级。然而，当测量纸幅时，这种小的变化也是显著的，因为这种小的变化很大程度上会影响到纸幅的厚度。
为了简便起见，假设在图3中传感器行200、202是直的，而且彼此成直角。为了简便起见，进一步假设传感器行200、202的方向与待测对象204的坐标x、y的方向相同。进一步而言，示出了待测对象204相对于传感器行200、202的倾斜，从而也相对于x方向倾斜。通过该简化进而清晰的示例能够容易地理解大致的情况。因而，在图3中，待测对象204相对于传感器行200的方向倾斜了角度α1。本文中可以进一步假设，传感器行200、202相对彼此不倾斜。从图3中可以看出，第一传感器行200的每个传感器208到待测对象204的距离da1到dan由于倾斜角度而不同。在图3的示例中，第一传感器行200的传感器210到待测对象204的距离是da1到dan，其中，n是第一传感器行200中传感器208的数量n。左手边传感器的距离da1是最大的，而右手边传感器的距离dan是最小的。类似地，第二传感器行202的距离是db1到dbm，其中m是传感器行202中传感器210的数量。由于待测对象204是至少近似平面，因而第一传感器行200的传感器之间的距离变化线性地或至少近似线性地依赖于传感器之间的距离。因而，传感器行200的方向上倾斜角度α1的正切是表示线性依赖关系的函数的角度系数。在这种情况下，第一传感器行200的任意传感器i到待测对象的距离dai是dai＝damin+sin(α1)*Ii，其中damin是到待测对象204的最短测量距离(在该示例中，原点布置在该点)，Ii是从最短距离的传感器到该传感器的传感器i的距离，sin(α1)是角度α1的三角正弦函数。由于角度α1通常非常小，因而如果用弧度α1来表示角度，则近似计算公式可以写为dai＝damin+α1*Ii。通常而言，在传感器行的方向上待测对象204的倾斜通过sin(α)*Ii这一项来影响每个传感器208、210测量的距离dji，其中，α是倾斜角度，Ii是传感器i到原点(x0,y0)的距离。
待测对象204也可以相对于传感器行202倾斜为角度α2，在这种情况下，相应地，第二传感器行202中没有两个传感器210会产生相同的距离测量结果。可以如同角度α1那样来确定这一倾斜角度α2。在造纸机中，纸幅的倾斜角度可能通常在0°到20°之间变化，其最常见的范围可能是在0°到5°之间。
图4示出了待测对象204相对于不同传感器行200、202倾斜的大致情况。在这种情况下，待测对象204的坐标x、y可以相对于传感器行200、202的坐标x’、y’和x”、y”旋转。x’、y”轴之间的角度β并不必须是直角。然而，通过本身已知的对坐标的简单修改，可以在期望的坐标系中确定待测对象204和传感器行200、202的任意倾斜角度。传感器行200可以相对于x轴和y轴这二者倾斜角度α11、α12。类似地，传感器行202可以相对于x轴和y轴这二者倾斜角度α21、α22。
图5示出了传感器行200、202相对于彼此倾斜了角度变化θz的情况。当测量待测对象204的厚度时，必须将传感器行200、202相对于彼此的倾斜度考虑进来，因为传感器208、210中至少一些传感器从而会位于与待测对象204相距不同的距离处。
因而，通过从待测对象204的不同侧执行的测量，可以确定待测对象204的总的倾斜度，在这种情况下，不需要在待测对象204的两侧均设置二维传感器矩阵，而是可以通过一维传感器行来执行测量。这使得测量装置更简单。
因而，第一传感器行200的每个传感器208可以形成用于表示待测对象204与传感器之间从平面待测对象204的第一侧的表面220起的距离的数据。类似地，第二传感器行202的每个传感器210可以形成用于表示待测对象204与传感器之间从平面待测对象204的相对侧的表面222起的距离的数据。信号处理单元206可以确定在第一传感器行200的方向上待测对象204的第一侧220的表面的倾斜角度α1以及在第二传感器行202的方向上相对侧的表面的倾斜角度α2，从而确定待测对象204的总的倾斜度。由于第一传感器行200和第二传感器行202的方向彼此不同，因而可以确定两个倾斜角度，这两个倾斜角度是与任意两个不同倾斜方向相关联的倾斜角度。确定一个维度方向上的一个倾斜角度以及另一个维度方向上的另一个倾斜角度通常是有用的。可以认为这些维度彼此正交。这样，可以自由选择维度的方向。当造纸机上的纸幅是待测对象204时，这些维度可以是机器方向(machine direction)以及横向机器方向。
在一实施例中，例如，信号处理单元206可以具有可以获得的关于第一传感器行200和第二传感器行202之间的距离Z的数据，以确定待测对象204的厚度D。传感器行200、202可以被安装，使得它们固定地彼此间隔开，在这种情况下，期望它们之间的距离Z不变化。可以提前测量该距离Z并将其存储在信号处理单元206的存储器中以便进行计算操作。
在一实施例中，用于传感器行200的支撑结构500和用于传感器行202的支撑结构502包括用于测量传感器行200、202之间的距离Z并产生距离测量数据(距离测量数据可以用来形成关于传感器行200、202之间的角度变化θz的数据)的共用(mutual)传感器504、506、508、510、512以及514。共用传感器504、506、508、510、512以及514可以布置成平面，使得在不同维度方向上传感器行200、202之间的倾斜度能够被检测。共用传感器504、506、508、510、512以及514可以测量成对的距离以及。共用传感器504、506、508、510、512以及514可以是磁性传感器、电感式传感器、光学传感器或声学传感器。磁性传感器的操作可以基于磁致伸缩性(magnetostrictivity)。电感式传感器的操作可以基于涡流现象。光学传感器的操作可以类似于传感器行200、202中的传感器208、210的操作。声学操作可以基于超声技术。
在一实施例中，为了确定待测对象204的厚度，信号处理单元206具有可以获得的关于第一传感器行200和第二传感器行202的方向的交点的数据，在测量中，这一数据可以用作原点(x0，y0)。传感器行200、202可以在它们自身长度的距离上相交，或者即使它们的方向相交，它们也并不必须在它们自身长度的距离上相交。交点变化是指传感器行200、202相对于彼此的横向位移，这可能影响关于待测对象204的一种或多种特性的测量结果。
在一实施例中，信号处理单元204具有可以获得的关于第一传感器行200和第二传感器行202之间的角度变化θz的数据，以确定待测对象204的厚度。
在一实施例中，例如，可以如图6所示确定原点(x0，y0)以及角度变化θz。如果设置在待测对象204一侧的传感器行202的一个传感器600用于通过聚焦或准直光学辐射来照明待测对象204，则在半透明的待测对象204中被照亮的点602的位置可以被设置在待测对象204的相对侧的传感器行200检测到。在这种情况下，可以在最靠近照亮点602的传感器604中检测到最高强度。因而，当开始测量时，可以确定传感器行200、202相对于彼此的对准，即信号处理单元206可以确定测量坐标的原点(x0，y0)。如果在后续测量中通过在安装传感器行200、202时预期的传感器之外的传感器检测到了最高强度，则可以得知，传感器行200、202的传感器208、210已经相对于彼此倾斜或移动。当将该结果与通过共用传感器504到514执行的测量相比较时，信号处理单元206可以得出倾斜角度和/或位移的大小，并补偿待测对象204的测量变化的影响，以将该影响从中去除。
在一实施例中，可以使用本身已知的测量方案来测量传感器行200、202之间的横向位移。
在一实施例中，除了在结合图5提及的操作之外或者代替结合图5提及的操作，与两个传感器行200、202关联的共用传感器504、506、508、510、512以及514可以测量传感器行200、220之间的横向位移。这对应于传感器行200、202的交点的测量。用于测量横向位移的共用传感器可以是光学传感器。也可以使用磁性传感器、电感式传感器或声学传感器。
传感器行200、202这二者可以包括大量能够精确测量待测对象204的传感器208、210。例如，可以设置数以千计的传感器208、210。例如，传感器行200、202的测量误差可以是数十微米。在一实施例中，例如，测量误差可以是大约1微米或更小。在这种情况下，信号处理单元206可以通过瞬间执行的测量来确定待测对象204的第一侧220和相对侧222在毫米、厘米甚至数十厘米距离上的横向轮廓(crosswise profile)。即使待测对象204可能在三维空间中倾斜，这也使得通过使用一维行检测能够将轮廓测量和厚度测量彼此结合。
图7示出了通过一移动纸幅700上的横向测量装置进行轮廓测量的示例，该移动纸幅700是待测对象204。当纸幅700高速移动时，不可能获得整个纸幅700的连续轮廓，但是横向测量提供了在跨越整个纸幅的长度和宽度的两个不同方向上的单独轮廓702的整个范围。对于缓慢移动的纸幅700，也可以获得纵向方向和横向方向这两个方向上的连续轮廓。
在一实施例中，如图8所示，从第一和第二传感器行200、202到待测对象204的距离的测量可以基于结构光。在这一方案中，通过传感器行200、202的传感器208、210将期望图案800投射到待测对象204的表面上。由于测量表面204的不规则性使得图案800变形，因而例如信号处理单元206可以通过关联或另外的比较来基于图案的变形而确定待测对象204深度方向上的信息，例如轮廓和/或粗糙度。可替代地，或者此外，信号处理单元206例如可以基于接收到的图案800的尺寸来确定传感器行200、202与待测对象204之间的距离。
在一实施例中，如图9和图10所示，第一传感器行200中的每个传感器208可以形成一行颜色焦点(chromatic foci)912，其中每个焦点处于从传感器208到待测对象204的方向上的不同距离处，并且每个焦点是由不同波长形成的。每个传感器208可以接收从设置在待测对象204的表面上的焦点反射的光学辐射。不在待测对象204表面上的焦点内的波长不会非常好地被反射回传感器208。由于每个波长被聚焦的距离是预先确定的，因而信号处理单元206可以基于接收到的波长来确定待测对象204与焦点之间的距离。第二传感器行202的传感器210可以依照类似的方式与信号处理单元206一起操作。
现在让我们检视通过一行颜色焦点的图案9形成的一个光学传感器。这一方案采用彼此分开的发射器900和接收器902。传感器的发射部900可以包括光源904以及光学组件部906，该光学组件部906将从光源904发出的光学辐射的不同波长聚焦在传感器行200、202之间的空间中的不同距离处。一些波长可以被聚焦在待测对象204的上方，一些波长被聚焦到待测对象204内，一些波长被聚焦到待测对象204的下方(如果想象待测对象204不阻止焦点的形成)。例如，通过光学组件部906中的棱镜或光栅可以将宽带光学辐射分散成单独的波长。反过来，借助一个或多个透镜或镜子，通过将不同波长聚焦在不同焦点912上，可以执行聚焦。传感器的接收部902可以包括检测器908和第二光学组件部910。第二光学组件部910将接收到的光学辐射聚焦在检测器908上。信号处理单元206可以确定哪个波长辐射得最强，即，确定哪个波长聚焦在待测对象204的表面上。
图10示出了用于实现一行颜色焦点的可替代方式。这一方案采用共用的发送和接收光圈(aperture)1000。来自光源904的光学辐射通过分束器1002被引导至光学组件1004，该光学组件1004经由光圈1000将不同的波长聚焦到距离光学组件1004不同的距离上。还经由光圈1000来执行接收。在这种情况下，穿过光学组件1004的辐射通过分束器1002被引导至检测器908。可替代地，分束器1002也可以位于光圈1000和光学组件1004之间，在这种情况下，通过光圈1000而不是通过光学组件1004来执行接收。
图11示出了被检测器行200、208检测到的作为波长λ和位置x的函数的强度1100，其中位置x是根据每个传感器208、210的位置给出的。图11示出了其中待测对象204根据图3相对于传感器行200、202倾斜的测量结果。最大强度1102的波长根据传感器208、210而变化。由于在最大强度1102的波长和传感器208、210与待测对象204间的距离之间存在已知的依赖性，因而可知道待测对象204相对于传感器208、210的倾斜度是多少。而且，由于传感器208、210之间的距离是已知的，因而可以确定待测对象204在传感器行200、202的方向上的倾斜角度α1、α2。这进一步使得能够在任意方向上确定待测对象204的倾斜角度。
图12示出了在相同坐标系中测得的轮廓以及它们之间彼此相距的距离。轮廓1200是由传感器行200测得的，而轮廓1206是由传感器行202测得的。y轴是在Z方向上的距离，而x轴是在自由选择的尺度上传感器200、202的开始到端部的距离。即使这些轮廓处于不同的方向，它们也可以呈现在相同的坐标系中。当所有的关于轮廓的测量值均可以获得时，在待测对象的倾斜度、传感器行之间的倾斜度以及传感器行之间的距离已知或被测量之后，可以基于轮廓的一些值或全部值来将待测对象204的厚度确定为平均值。在一实施例中，基于轮廓1200的所有点和在原点中的传感器行202的点1204之间的厚度方向上的距离L-(di+d0)，将待测对象204的厚度D确定为平均值，其中i是一侧的传感器的索引，而0是另一侧的传感器的索引。可以将距离L-(di+d0)测量为穿过点1204的直线1202与轮廓1200的每个点彼此之间的最短距离。这种测量的优点是，基于在一个时刻执行的测量获得了厚度的平均值，而不需要对时间进行积分。与基于单一传感器测量结果的测量相比，这种测量还改善了测量的信噪比。
图13大体上示出了造纸机的结构。在该这一方案中，待测对象204是纸幅。一种或多种原料经由机外白水槽(wire pit silo)1300被馈送到造纸机上，在机外白水槽1300之前通常是用于多个部分原料的混合浆池1332和成浆池1334。例如，将机器原料以通过定量(basis weight)控制或等级变化程序控制的短循环来分发。混合浆池1332和成浆池1334也可以由单独的混合反应器(图13中未示出)替换，且机器原料的分发通过由阀门或其他流量控制装置1330来分别馈送每一部分原料来控制。在机外白水槽1300中，水被混合到机器原料以针对该短循环(从成形部1310到机外白水槽1300的虚线)获得期望的稠度。可以使用清洁装置1302从获得的原料中移除沙子(离心清洁器)、空气(纸浆排气装置)以及其他粗粒物质(压力过滤器)，而且用泵1304将该原料泵送到流浆箱1306。在流浆箱1306之前，可以通过分发可以被控制的阀门1336和1338，以期望的方式在原料中加入填料TA(例如，包括石膏、高岭土、碳酸钙、滑石、白垩、二氧化钛以及硅藻土等)和/或助留剂RA(例如，无机物、非人工有机物或合成水溶性有机聚合物)。例如，通过填料，可以减少纸幅中的孔隙度，因为细粒型的填料趋向于填充空气通道和空洞。这从成形和表面特性、不透明度、亮度和可打印性方面看出来。助留剂RA反过来增大了细粒和填料的驻留性，同时以本身已知的方式加快了脱水。因而，填料和助留剂二者均影响纸张的结构特性(例如孔隙度)，这可以在表面的光学特性和光滑度以及图形中观察到。
原料从流浆箱1306经由流浆箱的堰板开口1308馈送至成形部1310，该成形部1310可以是长网(forudrinier wire)或夹网成形器(gap former)。在成形部1310中，水从幅材(是被测对象204)中排放出去，而且额外地将灰尘、细粒和纤维引导至短循环中。在成形部1310中，原料被馈送到网(wire)上以形成作为待测对象204的移动纸幅，并且用作待测对象204的幅材在加压部1312中被初步干燥和加压，这影响了孔隙度。用作待测对象204的幅材在干燥机1314中被实际干燥。传统上而言，造纸机包括至少一个测量装置1316到1326，该测量装置1316到1326包括位于幅材不同侧上的交叉的传感器行200、202。在用作待测对象204的幅材的横向方向(cross direction)上，可以固定地设置一行用于测量幅材的横向方向厚度和/或轮廓的数个测量装置组件1316到1326。系统控制器1328可以包括计算单元206，在这种情况下，来自测量装置组件1316到1326的数据可以首先被信号处理单元206接收到，该系统控制器1328能够基于由信号处理单元206形成的厚度和/或轮廓信息来控制造纸机。
当使用一个或多个测量装置1316到1326来测量幅材的厚度和/轮廓时，该测量装置1316到1326可以在横向方向上从一边跨越幅材到另一边。
该造纸机(与本申请相关的造纸机是指造纸机或纸板机)还可以包括预压光机1340、涂布部1342和/或整饰压光机1344，其运行影响孔隙度。然而，并不必须要设置涂布部1342，在这种情况下，不必须具有多于一个的压光机1340、1344。在涂布部1342中，可以将涂浆(coating paste)散布到纸张表面上，涂浆例如可以包含石膏、高岭土、滑石或碳酸盐、浆粉和/或乳胶。纸幅越是多孔，该涂浆越好地附着到纸幅上。另一方面，涂布后的纸幅的粗糙度低于未涂布纸幅的粗糙度。轮廓的均一性对于涂布剂的均一分布是非常重要的。
在压光机1340、1344中，未涂布的或已涂布的纸张或纸板幅材在用期望的力加压的辊之间传动，这可以改变纸张的表面特性、厚度和孔隙度。在压光机1340、1344中，纸幅的特性可以通过幅材加湿、温度以及辊之间的压区压力(nip pressure)而改变，这样，施加到幅材上的压力越大，则厚度和/或粗糙度变得越低，而且纸张将会越薄、越光滑且具有光泽。加湿和升高温度可以进一步减小粗糙度而且使得纸张更薄。除此之外，可以清楚的是，本领域技术人员本身已经了解造纸机的运行，因而，无需在本文中更详细地进行呈现。
可以执行信号和数据处理的系统控制器1328可以基于测得的压力来控制造纸机的各种处理，以确保被制造的纸张的厚度和/或轮廓以及其他特性将满足设定要求。例如，该系统控制器1328还可以以图形化的形式和/或按照期望的度量单位以数值形式并且根据期望的标准将测得的厚度和/或轮廓呈现到显示器上。系统控制器1328的运行原理例如可以是PID(比例-积分-微分)、MPC(模型预测控制)或者GPC(通用预测控制)控制。系统控制器1328可以包括信号处理单元206。该系统控制器1328和/或信号处理单元206可以包括至少一个处理器、存储器和合适的计算机程序。该系统控制器1328和/或信号处理单元206是基于输入信号、当前状态以及输出信号来由时钟信号顺序控制其状态变化的状态机。该输入信号可以包括例如来自用户界面的信号以及来自传感器行200、202的传感器208、210的数据。
除了测量纸张本身或代替测量纸张本身，纸张的测量还可以涉及测量涂覆量、平滑度、粗糙粗、光泽度、光泽变化、表面形状等。涂覆量和/或涂覆例如也影响平滑度、粗糙度、光泽度、光泽变化和/或表面形状。例如，可以测量纸板和/或设置在液体封装中的纸板上的塑料的特性(例如厚度)。
图14是方法的流程图。在步骤1400中，通过来自待测对象204一侧的第一光学传感器行200的每个传感器208形成表示待测对象204与传感器208之间的距离的数据。在步骤1402中，通过来自待测对象204另一侧的第二光学传感器行202的每个传感器210形成用于表示待测对象204与传感器210之间的距离的数据，第二传感器行202的方向不同于第一传感器行200的方向。在步骤1404中，从传感器行200、202发送用于表示距离的所述数据，以基于所述数据以及能够获得的关于第一传感器行200和第二传感器行202之间的距离来确定待测对象204的厚度。
即使以上已经参照根据附图的示例描述了本发明，然而，应当清楚的是，本发明不限于此，而是可以在所附权利要求书的范围内以各种方式进行改型。

Claims (24)

1.一种测量装置，用于测量待测对象(204)的至少一种特性，其特征在于：
所述测量装置包括待设置的第一光学传感器行(200)和第二光学传感器行(200)，在第一光学传感器行(200)和第二光学传感器行(200)之间布置有平面待测对象(204)；
所述第一传感器行(200)的方向和所述第二传感器行(202)的方向彼此不同；
所述第一传感器行(200)的每个传感器(208)被布置以形成用于表示待测对象(204)与所述传感器(208)之间的距离的数据；以及
所述第二传感器行(202)的每个传感器(210)被布置以形成用于表示待测对象(204)与所述传感器(210)之间的距离的数据，从而基于所述数据确定所述待测对象(204)的至少一种特性。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述第一传感器行(200)的每个传感器(208)被布置以形成用于表示所述待测对象(204)与所述传感器(208)之间从所述平面待测对象(204)的第一侧的表面起的距离的数据；
所述第二传感器行(202)的每个传感器(210)被布置以形成用于表示所述待测对象(204)与所述传感器(210)之间从所述平面待测对象(204)相对侧的表面起的距离的数据，从而确定在一个维度的方向上待测对象(204)的所述第一侧的表面的倾斜角度，以及确定在另一个维度的方向上所述相对侧的表面的倾斜角度，进而确定待测对象(204)的总的倾斜度。
3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括至少一个光学、磁性、涡流和/或超声共用传感器对(504到514)，以确定所述光学传感器行(200，202)之间的距离。
4.根据权利要求1或3所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括至少两个光学、磁性、涡流和/或超声共用传感器对(504到514)，以确定所述光学传感器行(200，202)之间的倾斜角度。
5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述第一传感器行(200)的每个传感器(208)被布置以形成一行焦点(912)，其中每个焦点是由不同波长形成的，并且位于从传感器(208，210)到待测对象(204)的方向上的不同距离处，并且所述第一传感器行(200)的每个传感器(208)被布置以接收从设置在待测对象(204)的表面上的焦点反射的光学辐射；并且所述第二传感器行(202)的每个传感器(208，210)被布置以形成一行焦点(912)，其中每个焦点是由不同波长形成的，并且位于从传感器(210)到待测对象(204)的方向上的不同距离处，并且所述第二传感器行(202)的每个传感器(208，210)被布置以接收从设置在待测对象(204)的表面上的焦点反射的光学辐射。
6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述第一传感器行和第二传感器行被布置为，通过结构光来测量所述传感器行(200，202)与所述待测对象(204)之间的距离。
7.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括信号处理单元(206)，所述信号处理单元(206)被布置以通过来自所述第一传感器行(200)和所述第二传感器行(202)的传感器(208，210)的数据来确定所述待测对象(204)的至少一种特性。
8.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述信号处理单元(206)被布置以通过所述数据确定所述待测对象(204)的厚度。
9.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述信号处理单元(206)能获得关于所述第一传感器行(200)与所述第二传感器行(202)之间的距离(Z)的数据，以确定所述待测对象(204)的厚度。
10.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述信号处理单元(206)能获得关于所述第一传感器行(200)和所述第二传感器行(202)的方向的交点(x0，y0)的数据，以确定所述待测对象(204)的厚度。
11.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述信号处理单元(206)能获得所述第一传感器行(200)与所述第二传感器行(202)之间的角度变化数据，以确定所述待测对象(204)的厚度。
12.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述信号处理单元(206)被布置以确定所述待测对象(204)的第一表面和相对表面的横向轮廓。
13.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述信号处理单元(206)被布置以基于接收到的波长确定所述待测对象(204)与所述焦点之间的距离。
14.一种用于测量平面待测对象(204)的至少一种特性的方法，其特征在于：
通过第一光学传感器行(200)的每个传感器(208)形成(1400)用于表示待测对象(204)与所述传感器(208)之间从所述待测对象(204)的一侧起的距离的数据；
通过第二光学传感器行(202)的每个传感器(210)形成(1402)用于表示待测对象(204)与所述传感器(210)之间从所述待测对象(24)另一侧起的距离的数据，所述第二传感器行(202)的方向与所述第一传感器行(200)的方向不同，
从而基于所述数据确定所述待测对象(204)的至少一种特性。
15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，基于所述数据来确定所述待测对象(204)的厚度。
16.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，基于来自所述传感器(208，210)的数据确定在一个维度的方向上待测对象(204)一侧的表面的倾斜角度以及在另一个维度的方向上相对侧的表面的倾斜角度，以确定所述待测对象(204)的总的倾斜度。
17.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，通过至少一个光学、磁性、涡流和/或超声共用传感器对(504到514)来确定所述光学传感器行(200，202)之间的距离。
18.根据权利要求14或17所述的方法，其特征在于，通过至少两个光学、磁性、涡流和/或超声共用传感器对(504到514)来确定所述光学传感器行(200，202)之间的倾斜角度。
19.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，通过所述第一传感器行(200)的每个传感器(208)形成一行焦点(912)，其中每个焦点是由不同波长形成的，并且位于从传感器(208，210)到待测对象(204)的方向上的不同距离处，并且通过所述第一传感器行(200)的每个传感器(208)来接收从设置在待测对象(204)的表面上的焦点反射的光学辐射，以及通过信号处理单元(206)基于接收到的波长确定所述待测对象与所述焦点之间的距离；通过第二传感器行(202)的每个传感器(208，210)来形成一行焦点(912)，其中每个焦点是由不同波长形成的，并且位于从传感器(210)到待测对象(204)的方向上的不同距离处，并且通过第二传感器行(202)的每个传感器(208，210)来接收从设置在待测对象(204)的表面上的焦点反射的光学辐射；以及通过所述信号处理单元(206)基于接收到的波长确定所述待测对象(204)与所述焦点之间的距离。
20.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，通过所述第一和第二传感器行(200，202)的结构光来测量所述传感器行(200，202)与所述待测对象(204)之间的距离。
21.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述信号处理单元(206)能获得关于所述第一传感器行(200)与所述第二传感器行(202)之间的距离(Z)的数据，以确定所述待测对象(204)的厚度。
22.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述信号处理单元(206)能获得关于所述第一传感器行(200)和所述第二传感器行(202)的方向的交点的数据，以确定所述待测对象(204)的厚度。
23.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述信号处理单元(206)能获得所述第一传感器行(200)与所述第二传感器行(202)之间的角度变化数据，以确定所述待测对象(204)的厚度。
24.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，通过所述信号处理单元(206)来确定所述待测对象(204)的第一表面和相对表面的横向轮廓。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107209002A (zh) * 2014-12-19 2017-09-26 犹他大学研究基金会 干扰量度系统以及相关方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9147405B2 (en) * 2013-12-05 2015-09-29 Seagate Technology Llc Light source alignment
US9470514B2 (en) * 2015-02-11 2016-10-18 Southwest Research Institute System and method for using laser scan micrometer to measure surface changes on non-concave surfaces
JP6398950B2 (ja) * 2015-11-09 2018-10-03 東芝三菱電機産業システム株式会社 板状体側面の表面疵撮影装置
JP6801573B2 (ja) * 2017-05-10 2020-12-16 日立金属株式会社 ケーブルの止水構造及びワイヤハーネス
EP3450184B1 (en) * 2017-09-01 2021-04-21 Canon Production Printing Holding B.V. Deformation detection for print media
US11524136B2 (en) * 2018-12-24 2022-12-13 Biosense Webster (Israel) Ltd. Non-invasive measurement of the pitch of a braid

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101379366A (zh) * 2005-12-22 2009-03-04 霍尼韦尔国际公司 三角测量位置测量的光学平移
CN101868689A (zh) * 2007-08-31 2010-10-20 Abb有限公司 幅片厚度测量设备
EP2270422A2 (de) * 2003-12-22 2011-01-05 Voith Patent GmbH Vorrichtung zum Messen der Dicke einer laufenden Materialbahn
CN102483322A (zh) * 2009-07-02 2012-05-30 沃依特专利有限责任公司 通过修正定向误差无接触地确定料幅厚度的方法和装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06273162A (ja) * 1993-03-18 1994-09-30 Sumitomo Metal Ind Ltd 平坦度測定装置
US5798836A (en) * 1996-11-15 1998-08-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical distance measuring apparatus and method therefor
US7199884B2 (en) 2004-12-21 2007-04-03 Honeywell International Inc. Thin thickness measurement method and apparatus
US7880156B2 (en) * 2006-12-27 2011-02-01 Honeywell International Inc. System and method for z-structure measurements using simultaneous multi-band tomography
CN102483321A (zh) * 2009-07-02 2012-05-30 沃依特专利有限责任公司 用于无接触地确定料幅厚度的方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2270422A2 (de) * 2003-12-22 2011-01-05 Voith Patent GmbH Vorrichtung zum Messen der Dicke einer laufenden Materialbahn
CN101379366A (zh) * 2005-12-22 2009-03-04 霍尼韦尔国际公司 三角测量位置测量的光学平移
CN101868689A (zh) * 2007-08-31 2010-10-20 Abb有限公司 幅片厚度测量设备
CN102483322A (zh) * 2009-07-02 2012-05-30 沃依特专利有限责任公司 通过修正定向误差无接触地确定料幅厚度的方法和装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107209002A (zh) * 2014-12-19 2017-09-26 犹他大学研究基金会 干扰量度系统以及相关方法

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Publication number Publication date
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