CN104122448A - 一种高温测试夹具 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种高温测试夹具,所述夹具包括:至少三个平行设置的贵金属电极,相邻的两个贵金属电极用于夹持待测样品;一端与所述贵金属电极连接的贵金属导线,所述贵金属导线的另一端连接至测试装置以通过贵金属电极将待测样品产生的测试信号传递给所述测试装置;以及用于测量被测试材料温度的热电偶。

Description

一种高温测试夹具
技术领域
本发明属于材料性能测试技术领域,具体涉及一种适用于在高温下测试材料电学性能的夹具。
背景技术
利用耐高温的压电材料制作的传感器广泛应用在高温(400℃~1600℃)环境下测试被测试系统的一系列原位工作数据。由于这些数据都是在原位获得的第一手数据,所以对整个系统的工作状态有更加全面、可靠、准确的掌握。例如用硅酸镓镧晶体(Langasite)制作的高温压力传感器,可用于航天器、航空飞行器和汽车等的引擎中监控发动机气缸的内部压力。实时监测发动机的气缸压力,可以提供发动机重要的工作状态参数。这些参数不仅可以用来分析发动机正常工作与否,还可以检测发动机气缸燃烧情况。通过分析传感器收集的数据,可以延长发动机的寿命,提高气缸中燃料的燃烧效率。因此,开发这类传感器对于国计民生等领域都是非常重要的。目前,此类型的传感器在国外已经用于航天器、航空飞行器和汽车的发动机中,并大量用于发动机的研究中。
然而,一般材料在高温下的性能和在常温下的性能是存在差异的,换句话说就是材料的性能随着温度的变化也存在着变化。例如,有些材料在常温下是绝缘体,在高温下可能就变成了导体。所以,为了高温材料能在高温环境下应用就必需先测定此类材料在高温下的性能,即测定此类材料的某项性能随温度的变化关系,特别是高温(400℃~1600℃)下随温度的变化关系。
传统的材料性能测试是常规的测试,一般都在较低的温度(<400℃)下测的。为了能在高温下测试材料的性能,则必需引进能在高温下工作的测试系统。而在这个测试系统中,测试仪器都是现有的,缺少了能在高温下放置样品的夹具。在国外虽然有文献报道了测试材料高温性能,但是并没有介绍相应夹具的相关情况。而在国内,高温领域应用刚刚起步,鲜有高温性能测试的介绍,这和没有相应的能在高温下测试材料性能的夹具直接相关。
在测试材料高温性能时通常需要经过升温—测试—降温的过程,升降温时间往往占测试时间的80%以上,使得测试效率低下。因此,该领域迫切需要一种能够提高测试效率的夹具。
发明内容
本发明旨在克服现有高温测试材料电学性能用夹具的不足,本发明提供了一种适用于在高温下测试材料电学性能的夹具。
本发明提供了一种适用于在高温下测试材料电学性能的夹具,所述夹具包括:
至少三个平行设置的贵金属电极,相邻的两个贵金属电极用于夹持待测样品;
一端与所述贵金属电极连接的贵金属导线,所述贵金属导线另一端连接至测试装置以通过贵金属电极将待测样品产生的测试信号传递给所述测试装置;以及
用于测量被测试材料温度的热电偶。
测试时,将被夹持在贵金属电极之间的被测试材料置于高温炉中,高温炉中在测试要求下不断升温。与此同时,将电阻测试仪器与连接金属电极的贵金属导线相连接,将热电偶与温度显示装置连接。当温度显示装置显示被测试材料在规定温度时,记录此时电阻测试仪器上的数值,即可得到被测试材料在该温度下的电学性能。调整高温炉使被测试材料处于不同的温度下,即可得到被测试材料在不同温度下的电学性能。由于本发明中的夹具设置有至少三个平行设置的贵金属电极,可以形成至少两个夹持单元,因此采用本发明中的夹具,实验人员可以同时测量两种以上被测试材料在不同温度下的电学性能。
较佳地,所述贵金属电极包括第一电极、第二电极和至少一个第三共用电极,所述第一电极和至少一个第三共用电极设置为在垂直于贵金属电极的方向上可移动以能够调整各个贵金属电极之间的距离。
本发明中使相邻的两个夹持单元共用一个贵金属电极,能够节约夹具的制造成本同时实现夹具结构的紧凑化。与此同时,为了能够测试不同尺寸,使得贵金属电极之间的距离能够改变。
较佳地,所述夹具还包括围绕与第一电极连接的第一导线设置的保护套管,所述保护套管在垂直于贵金属电极的方向上可移动,所述第一电极设置在所述保护套管的端面上。
在导线外侧设置保护套管,其作用是防止导线之间接触,避免出现短路。所述的保护套管可以采用耐高温的绝缘陶瓷,如高纯氧化铝陶瓷或者氧化锆陶瓷等。所述的高纯氧化铝陶瓷最高使用温度可达1900℃,可以用于任何气氛环境下;所述的高纯氧化锆陶瓷最高使用温度可达2300℃,可以用于任何气氛环境下。将第一电极设置在所述保护套管的端面上,可以借助于移动保护套管来实现第一电极的移动。
较佳地,所述夹具还包括具有开口的框形支架,所述贵金属电极朝着所述开口延伸。
本发明中通过设置有框形支架,用于限制整个夹具的体积,能够节约夹具的制造成本同时实现夹具结构的紧凑化。待测试样品可以方便地通过开口放入和取出。
较佳地,所述夹具还包括固定在所述框形支架上用于支撑第二电极和第三共用电极的电极支架,所述电极支架在垂直于贵金属电极的方向上延伸设置,所述第二电极的固定设置在所述电极支架的一端,所述电极支架还具有可滑动容纳所述第三共用电极的端部的滑槽以使所述第三共用电极在垂直于贵金属电极的方向上可移动。
以上述方式固定电极,能够容易实现电极与电极支架之间结实结构,且性能稳定。第二电极滑动地设置在电极支架上,第一电极移动推压位于第一电极和第二电极之间的待测样品时可进一步推压第二电极使其沿着滑槽移动。
较佳地,所述夹具还包括固定在所述框形支架上用于支撑贵金属导线,热电偶和保护套管的第一导线支架,所述第一导线支架具有对应于贵金属导线,热电偶和保护套管的多个通孔。
以上述方式设置的第一导线支架,可支撑贵金属导线,热电偶和保护套管并能够实现夹具结构的紧凑化。
较佳地,所述夹具还包括固定在所述电极支架上的第二导电支架,所述第二导电支架具有对应于热电偶、与第二电极相连的第二导线、和/或与第三共用电极相连的第三导线的多个通孔。
以上述方式设置的第二导电支架,可辅助支撑热电偶、与第二电极相连的第二导线、和/或与第三共用电极相连的第三导线,能够实现夹具结构的进一步紧凑化。
较佳地,所述夹具还包括弹簧(耐高温弹簧),所述弹簧的一端连接在第一导线支架上,另一端连接至保护套管。
本发明中夹具设置有弹簧,作为施加压力单元,使得测试样品时,电极与测试样品能够紧密和牢固的接触,保证测试结果的可靠和有效。
较佳地,所述贵金属电极和/或贵金属导线的材质为铂金或铱金。
所述的铂金可以用于氧化、还原或者惰性气氛中,其熔点为1773℃;所述的铱金只能用于还原或者惰性气氛中,其熔点为2454℃。采用上述材质制成的贵金属电极、贵金属导线具有高熔点,因而能够满足本发明的技术目的。
较佳地,热电偶为S型、B型或者材质为钨铼的热电偶。
热电偶的作用是提供测试样品的实时温度信号,接上相应的仪表,即可显示样品的实时温度。上述的热电偶可以采用S型、B型、钨铼等可以用于最高1600℃的热电偶。所述的S型热电偶的测量范围为0~1600℃;所述的B型热电偶的测量范围为0~1800℃;钨铼热电偶的测量范围为0~2300℃。但是,所述的钨铼热电偶不能在氧化气氛下使用。
较佳地,所述保护套管、框形支架、电极支架、第一导线支架和/或第二导线支架的材质为耐高温绝缘陶瓷。
本发明中的夹具由于在高温中使用,且上述组成需要为绝缘材料,因而上述结构组成可以采用耐高温的绝缘陶瓷。
较佳地,所述耐高温绝缘陶瓷包括氧化铝陶瓷和氧化锆陶瓷。
所述的高纯氧化铝陶瓷最高使用温度可达1900℃,可以用于任何气氛环境下;所述的高纯氧化锆陶瓷最高使用温度可达2300℃,可以用于任何气氛环境下。
本发明的有益效果:
使用本发明设计的高温测试夹具可以满足在高温环境下(400℃~2300℃)测试样品的电学及相关性能的需求。另外,由于本高温夹具每次可以同时测试两片样品的性能,可以大大提高测试效率。
附图说明
图1示出了本发明的一个实施方式中的适用于在高温下测试材料电学性能的夹具示意图;
其中,1-贵金属导线,2-贵金属导线,3、4-热电偶的两极,5-贵金属导线,6-保护套管;7-(框形)支架,8、10、14、16-导线支架(固定装置),15-电极支架(固定装置),9-耐高温弹簧,11、12、13-贵金属电极。
具体实施方式
以下结合附图和下述实施方式进一步说明本发明,应理解,附图及下述实施方式仅用于说明本发明,而非限制本发明。
本发明涉及一种适用于高温条件(工作温度400℃~2300℃)测试材料电学性能的夹具,以满足高温环境下测试样品性能时对夹具的要求。在测试材料高温性能时通常需要经过升温--测试--降温的过程,由于温度需要精确控制,升降温速度不能太快,所以测试时,升降温时间往往占测试时间的80%以上,使得测试效率低下。针对这一测试材料高温性能时升降温时间过长的缺点,本发明通过巧妙的设计,使高温夹具每次可以同时测试两片样品的性能,大大提高了测试效率。
参见图1,其示出本发明高温测试夹具的示例结构。通过选择不同的贵金属、热电偶和高温绝缘陶瓷材料,夹具的使用温度有所不同。比如:选择铂金、S型热电偶和氧化铝陶瓷,夹具的最高温度在1600℃左右;如果选择铱金、钨铼热电偶和氧化锆陶瓷,在氧化性气氛中夹具的最高使用温度可以达到2300℃左右。贵金属,高温导电性好,可以提供电信号回路。
参见图1,夹具可包括多个平行设置(例如图1示出的竖立设置)的贵金属电极11、12、13,其作用是与样品接触,夹持样品,将样品产生的信号有效、可靠的传递给测试仪器。夹具至少包括三个贵金属电极以形成至少可夹持两个样品,例如参见图1贵金属电极11、12可构成了一个夹持单元,则贵金属电极12、13构成了又一个夹持单元。这两个夹持单元相邻,共用一个贵金属电极12。应理解,贵金属电极不限于三个,例如可使用四个或五个用于同时夹持三个或四个待测样品。所述的贵金属电极11、12、13采用可以耐高温的铂金(Pt)、铱金(Ir)。所述的铂金可以用于氧化、还原或者惰性气氛中,其熔点为1773℃;所述的铱金只能用于还原或者惰性气氛中,其熔点为2454℃。所述贵金属电极11和12,可以在垂直于贵金属电极的方向(例如图1中示出的水平方向上)移动,以满足测试的不同尺寸的待测样品。在一个示例中贵金属电极(第一电极)11可在外力作用下在水平方向上移动,贵金属电极(第三共用电极)12,则在第一电极的推动下移动。贵金属电极13(第二电极)则优选为固定不动。
各个贵金属电极11、12、13分别有与其相连的贵金属导线5、2、1。贵金属导线(第一导线)5,主要用于连接贵金属电极(第一电极)11,采集电极11获得的信号。贵金属采用可以耐高温的铂金(Pt)、铱金(Ir)。所述的铂金可以用于氧化、还原或者惰性气氛中,其熔点为1773℃;所述的铱金只能用于还原或者惰性气氛中,其熔点为2454℃。贵金属导线5自由端可具有接线端c,可以用于连接外部的测试仪器。
贵金属导线(第二导线)1,主要用于连接贵金属电极(第二电极)13,采集电极13上的信号。贵金属导线1采用可以耐高温的铂金(Pt)、铱金(Ir)。所述的铂金可以用于氧化、还原或者惰性气氛中,其熔点为1773℃;所述的铱金只能用于还原或者惰性气氛中,其熔点为2454℃。贵金属导线1的自由端可具有接线端a,可以用于连接外部的测试仪器。
又参见图1,所述夹具具有贵金属导线(第三导线)2,主要用于连接贵金属电极13,采集电极13获得的信号。贵金属采用可以耐高温的铂金(Pt)、铱金(Ir)。所述的铂金可以用于氧化、还原或者惰性气氛中,其熔点为1773℃;所述的铱金不能用于氧化气氛中,其熔点为2454℃。贵金属导线2的自由端可具有的接线端b,可以用于连接外部的测试仪器。
又参见图1,所述夹具具有热电偶的两极3、4,其作用是提供测试样品的实时温度的信号,接上相应的仪表,即可显示样品的实时温度。上述的热电偶可以采用S型、B型、钨铼等可以用于最高1600℃的热电偶。所述的S型热电偶的测量范围为0~1600℃;所述的B型热电偶的测量范围为0~1800℃;钨铼热电偶的测量范围为0~2300℃。但是,所述的钨铼热电偶不能在氧化气氛下使用。
贵金属导线(第一导线)5可具有保护套管6,保护套管6围绕贵金属导线(第一导线)5设置,其作用是防止接线端c及其连接线,与其它连接线接触,导致短路,使得测试失败。另外,所述的保护套管6还用来固定高温弹簧9。所述的保护套管6可以采用耐高温的绝缘陶瓷,如高纯氧化铝陶瓷或者氧化锆陶瓷等。所述的高纯氧化铝陶瓷最高使用温度可达1900℃,可以用于任何气氛环境下;所述的高纯氧化锆陶瓷最高使用温度可达2300℃,可以用于任何气氛环境下。保护套管6也设置为可沿垂直于电极的方向(例如水平方向)移动,第一电极11可设置在保护套管6的端面上,这样通过拉动或推动保护套管6来移动第一电极11。
高温夹具还可包括(框形)支架7,其作用是为夹具的其他部件提供支撑,其可以采用耐高温的绝缘陶瓷,如高纯氧化铝陶瓷或者氧化锆陶瓷等。所述的高纯氧化铝陶瓷最高使用温度可达1900℃,可以用于任何气氛环境下;所述的高纯氧化锆陶瓷最高使用温度可达2300℃,可以用于任何气氛环境下。(框形)支架7可具有开口,贵金属电极(11、12、13)可朝着所述开口延伸以便于放入待测样品。
高温夹具还可包括固定装置8、10、14、15、16,为相应的部件提供支撑,可以采用耐高温的绝缘陶瓷,如高纯氧化铝陶瓷或者氧化锆陶瓷等;所述的高纯氧化铝陶瓷最高使用温度可达1900℃,可以用于任何气氛环境下;所述的高纯氧化锆陶瓷最高使用温度可达2300℃,可以用于任何气氛环境下。
固定装置(第一导线支架)8固定在高温支架7上,用于支撑贵金属导线1和2、热电偶、贵金属导线5、保护套管6以及耐高温弹簧9;例如固定装置(第一导线支架)8上可具有多个通孔,金属导线1和2、热电偶、贵金属导线5、保护套管6分别从该多个通孔穿过;
高温支架7上还可固定一个或多个固定装置(第一导线支架)10(第一导线支架),用于辅助支撑贵金属导线1和2、热电偶、贵金属导线5以及保护套管6;例如固定装置(第一导线支架)10上可具有多个通孔,金属导线1和2、热电偶、贵金属导线5、保护套管6分别从该多个通孔穿过;
固定装置(电极支架)15固定在高温支架7上,固定装置(电极支架)15可沿着垂直于电极方向(例如图1示出的水平方向)延伸设置,用于支撑第二电极13和第三共用电极12,其中第二电极13可以固定至电极支架15上,第三共用电极12则可滑动支撑在电极支架15上,例如电极支架15上可具有滑槽,第三共用电极12的端部(例如下端部)可在滑槽上滑动;
所述夹具还可包括固定装置14固定在固定装置(电极支架)15上的第二导线支架(固定装置)14、16,用于支撑热电偶、与第二电极13相连的第二导线1、和/或与第三共用电极12相连的第三导线2;例如固定装置14用于支撑热电偶,固定装置(第二导线支架)14上可具有多个通孔,热电偶分别从该多个通孔穿过;例如固定装置14用于支撑与第二电极13相连的第二导线1、和与第三共用电极12相连的第三导线2,固定装置(第二导线支架)16上也可具有多个通孔,导线1、2分别从该多个通孔穿过。
耐高温弹簧9,可固定在保护套管6和固定装置8,即、弹簧9的一端连接在第一导线支架8上,另一端连接至保护套6,可用提共一个压力作用于贵金属电极11上,使得测试样品时贵金属电极11、12和13与测试样品能够紧密和牢固的接触,保证测试结果的可靠和有效。通过拉动或推动保护套管6,可调整通过保护套管6作用在第一电极11上的作用力。
测试时,将测试样品放置贵金属电极11与12、贵金属电极12与13之间,然后按照性能测试要求连接测试电路即可测试样品的相应性能。测试电路的两极连接接线端c和接线端b时,测试的是放置在贵金属电极11、12之间样品;如果测试电路的两极连接接线端b和接线端a,测试的是放置在贵金属电极12、13之间样品;如果测试电路的两极连接接线端c和接线端a,测试的结果相当于是两个样品串联后的结果。当只有一个测试样品时,可以自由选择将样品放置在贵金属电极11、12之间还是放置在贵金属电极12、13之间。如果一个样品放置在贵金属电极11、12之间时,测试电路的两极必需连接接线端c和接线端b;但是如果样品放置在12、13贵金属电极之间时,测试电路的两极必需连接接线端b和接线端a。
以下进一步列举出一些示例性的实施例以更好地说明本发明。应理解,本发明详述的上述实施方式,及以下实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围,本领域的技术人员根据本发明的上述内容作出的一些非本质的改进和调整均属于本发明的保护范围。另外,下述工艺参数中的具体配比、时间、温度等也仅是示例性,本领域技术人员可以在上述限定的范围内选择合适的值。
高温夹具中的贵金属选择铂金,热电偶选择S型热电偶,耐高温绝缘陶瓷选用高纯氧化铝陶瓷,则该夹具的最高工作温度在1600℃左右,可以使用任意气氛。具体测试过程参见实施例1、2、3。
高温夹具中的贵金属选择铱金,热电偶选择钨铼热电偶,耐高温绝缘陶瓷选择氧化锆陶瓷,则该夹具的最高工作温度在2300℃左右,但是不能在氧化性气氛下使用。具体测试过程参见实施例1、2、3。
实施例1
同时测试两片晶片在某一特定温度下的电阻
第一步:取出高温夹具,向左侧拉保护套管6,将待测试的两个样品分别放入贵金属电极11与12、贵金属电极12与13之间,将整个高温夹具放入高温炉中,但是贵金属导线1、2的接线端a、b,热电偶的两极3、4,贵金属导线5的接线端c,穿过炉体暴露在炉腔外;
第二步:先将热电偶的两极3、4接温度显示装置,实时显示被测试样品的温度;
第三步:开炉升温,待被测样品温度达到需要的温度时,将贵金属导线1、2接线端a、b连接电阻测试仪器,即可读出贵金属电极12、13之间样品的电阻值;然后断开贵金属导线1的接线端a,将贵金属导线2、5接线端b、c连接电阻测试仪器,即可读出贵金属电极11、12之间样品的电阻;
第四步:关炉降温,待样品温度接近或达到室温时取出高温夹具和样品,完成测试工作。
实施例2
同时测试两片晶片电阻率随温度的变化关系
第一步:取出高温夹具,向左侧拉保护套管6,将待测试的两个样品分别放入贵金属电极11与12、贵金属电极12与13之间,将整个高温夹具放入高温炉中,但是贵金属导线1、2的接线端a、b,热电偶的两极3、4,贵金属导线5的接线端c,穿过炉体暴露在炉腔外;
第二步:先将热电偶的两极3、4接温度显示装置,实时显示被测试样品的温度;
第三步:开炉升温,设定高温炉温度,使被测样品温度达到第一个所需要的温度;
第四步:将贵金属导线1、2接线端a、b连接电阻测试仪器,即可读出贵金属电极12、13之间样品的电阻值;然后断开1接线端,然后断开贵金属导线1的接线端a,将贵金属导线2、5接线端b、c连接电阻测试仪器,即可读出贵金属电极11、12之间样品的电阻;根据测试所得的电阻值,结合样品尺寸,计算出样品在此温度下的电阻率;
第五步:设定高温炉温度,使样品温度达到第二个所需温度,重复第四步操作,直至完成所有所需温度点的测试;
第六步:关炉降温,待样品温度接近或达到室温时取出高温夹具和样品,完成测试工作。
实施例3
测试一片陶瓷片在某一特定温度下的电阻率
第一步:取出高温夹具,向左侧拉保护套管6,将待测试样品放入贵金属电极11、12或贵金属电极12、13之间,将整个高温夹具放入高温炉中,但是贵金属导线1、2的接线端a、b,热电偶的两极3、4,贵金属导线5的接线端c,穿过炉体暴露在炉腔外;
第二步:先将热电偶的两极3、4接温度显示装置,实时显示被测试样品的温度;
第三步:开炉升温,待被测样品温度达到需要的温度时,如果样品放入11、12电极之间,则将贵金属导线2、5的接线端b、c连接电阻测试仪器,读出样品的电阻值,然后根据样品的尺寸计算出样品的电阻率;如果样品放入贵金属电极12、13之间,则将贵金属导线1、2接线端a、b连接电阻测试仪器,读出样品的电阻值,然后根据样品的尺寸计算出样品的电阻率;
第四步:关炉降温,待样品温度接近或达到室温时取出高温夹具和样品,完成测试工作。

Claims (12)

1.一种适用于在高温下测试材料电学性能的夹具,其特征在于,所述夹具包括:
至少三个平行设置的贵金属电极(11、12、13),相邻的两个贵金属电极(11、12、13)用于夹持待测样品;
一端与所述贵金属电极(11、12、13)连接的贵金属导线(1、2、5),所述贵金属导线(1、2、5)的另一端连接至测试装置以通过贵金属电极(11、12、13)将待测样品产生的测试信号传递给所述测试装置;以及
用于测量被测试材料温度的热电偶。
2.根据权利要求1所述的夹具,其特征在于,所述贵金属电极(11、12、13)包括第一电极(11)、第二电极(13)和至少一个第三共用电极(12),所述第一电极(11)和至少一个第三共用电极(12)设置为在垂直于贵金属电极的方向上可移动以能够调整各个贵金属电极之间的距离。
3.根据权利要求2所述的夹具,其特征在于,所述夹具还包括围绕与第一电极(11)连接的第一导线(5)设置的保护套管(6),所述保护套管(6)在垂直于贵金属电极的方向上可移动,所述第一电极(11)设置在所述保护套管(6)的端面上。
4.根据权利要求3所述的夹具,其特征在于,所述夹具还包括具有开口的框形支架,所述贵金属电极(11、12、13)朝着所述开口延伸。
5.根据权利要求4所述的夹具,其特征在于,所述夹具还包括固定在所述框形支架上用于支撑第二电极和第三共用电极的电极支架(15),所述电极支架(15)在垂直于贵金属电极的方向上延伸设置,所述第二电极(13)固定设置在所述电极支架(15)的一端,所述电极支架还具有可滑动容纳所述第三共用电极(12)的端部的滑槽以使所述第三共用电极(12)在垂直于贵金属电极的方向上可移动。
6.根据权利要求5所述的夹具,其特征在于,所述夹具还包括固定在所述框形支架上用于支撑贵金属导线(1、2、5),热电偶和保护套管(6)的第一导线支架(8),所述第一导线支架(8)具有对应于贵金属导线(1、2、5),热电偶和保护套管(6)的多个通孔。
7.根据权利要求6所述的夹具,其特征在于,所述夹具还包括固定在所述电极支架(15)上的第二导电支架(14、16),所述第二导电支架(14、16)具有对应于热电偶、与第二电极(13)相连的第二导线(1)、和/或与第三共用电极(12)相连的第三导线(2)的多个通孔。
8.根据权利要求6所述的夹具,其特征在于,所述夹具还包括弹簧(9),所述弹簧(9)的一端连接在第一导线支架(8)上,另一端连接至保护套管(6)。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的夹具,其特征在于,所述贵金属电极(11、12、13)和/或贵金属导线(1、2、5)的材质为铂金或铱金。
10.根据权利要求1-9中任一所述的夹具,其特征在于,热电偶为S型、B型或者材质为钨铼的热电偶。
11.根据权利要求6-8中任一所述的夹具,其特征在于,所述保护套管(6)、框形支架(7)、电极支架(15)、第一导线支架(8)和/或第二导线支架(14、16)的材质为耐高温绝缘陶瓷。
12.根据权利要求11所述的夹具,其特征在于,所述耐高温绝缘陶瓷包括氧化铝陶瓷和氧化锆陶瓷。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105137190A (zh) * 2015-09-08 2015-12-09 哈尔滨工业大学 永磁材料电阻率随温度和应力变化的测量方法
CN108037326A (zh) * 2017-11-30 2018-05-15 南通星晨电子有限公司 一种片式电容器的高温测试方法
CN108918976A (zh) * 2018-04-18 2018-11-30 杭州电子科技大学 一种多通道高温介电温谱测试装置
CN110044720A (zh) * 2019-03-11 2019-07-23 中国航发北京航空材料研究院 一种适用于非标小试样蠕变性能测试的多功能夹具
CN110146576A (zh) * 2019-06-13 2019-08-20 东北大学 一种用于固体电解质的电化学测试装置
CN111830396A (zh) * 2020-07-15 2020-10-27 广东利扬芯片测试股份有限公司 具有芯片测试环境温度检测功能的芯片测试系统
CN113352248A (zh) * 2021-06-02 2021-09-07 西南交通大学 一种非导电陶瓷热震测试设备夹具
CN117214536A (zh) * 2023-09-06 2023-12-12 河南工业大学 一种适用于高温条件的多路并行阻抗的测试装置及测试方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113390917A (zh) * 2020-03-10 2021-09-14 中国科学院大连化学物理研究所 换样便捷且耐高温的熔断电极
CN113390935B (zh) * 2021-07-21 2024-07-02 清华大学 高温电化学测试系统
CN113866341B (zh) * 2021-09-02 2024-07-05 陕西省产品质量监督检验研究院 一种电线电缆阻燃耐火实验装置
CN115498099B (zh) * 2022-11-15 2023-03-24 北京东方金荣超声电器有限公司 一种压电陶瓷高温极化系统及极化方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3313004A (en) * 1965-06-14 1967-04-11 Fred W Vahldiek High pressure electrical resistance cell
US3982177A (en) * 1970-10-08 1976-09-21 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Soil sample conductivity measurement utilizing a bridge circuit and plural electrode cell
US4019133A (en) * 1975-12-29 1977-04-19 Gulf Research & Development Company Corrosion detecting and monitoring apparatus
US4529869A (en) * 1979-12-31 1985-07-16 Ekstrom Jr R A Instrument for inducing heat into an elongated object whose temperature is to be measured
NL8003358A (nl) * 1980-06-09 1982-01-04 Leuven Res & Dev Vzw Waarschuwingsinrichting voor de overschrijding van een temperatuurgrens.
DE3023063C2 (de) * 1980-06-20 1982-04-08 Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V., 5000 Köln Zugspannvorrichtung für die Werkstoffprüfung im Hochtemperaturversuch
DE3023052C2 (de) * 1980-06-20 1987-05-07 MAN Gutehoffnungshütte GmbH, 4200 Oberhausen Verfahren zum Nachsetzen der Elektroden eines Elektro-Lichtbogenofens
DE3540946A1 (de) * 1985-11-19 1987-05-21 Krupp Gmbh Vorrichtung zur handhabung an eine hoehenverstellbare sondenlanze ankuppelbarer sonden, insbesondere mess- und probenahmesonden
JPH06137955A (ja) * 1992-10-22 1994-05-20 Furukawa Electric Co Ltd:The パイプ温度測定器
US5441344A (en) * 1993-10-22 1995-08-15 Cook, Iii; Walter R. Temperature measurement and display of a cooking surface
JPH11264852A (ja) * 1998-03-18 1999-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高温負荷制御装置
JP3553391B2 (ja) * 1998-10-28 2004-08-11 東北電力株式会社 コーティング部材の劣化検出方法及び装置
US6498495B1 (en) * 1999-08-26 2002-12-24 Kenneth A. Bradenbaugh Method and apparatus for testing fuel gas control systems for gas fired appliances
US6179846B1 (en) * 1999-09-17 2001-01-30 Joseph T. McFadden Surgical head clamping device
CA2355783C (en) * 2000-08-26 2007-03-27 Kenneth A. Bradenbaugh Method and apparatus for testing fuel gas control systems for gas fired appliances
US7537427B2 (en) * 2002-12-04 2009-05-26 Tygard Machine & Manufacturing Company Clamping apparatus
US20060191907A1 (en) * 2005-02-07 2006-08-31 Henley Clifton T Welding electrode holder with retractable cable connector
US7354193B2 (en) * 2005-11-23 2008-04-08 Jaffe Limited Clamping device with flexible contact for heat pipe
US20070242260A1 (en) * 2006-01-26 2007-10-18 Thorne Robert E Microfabricated tools for manipulation of small samples
CN101571425B (zh) * 2008-04-28 2012-05-02 富准精密工业(深圳)有限公司 温度感测装置
US8821008B2 (en) * 2009-04-29 2014-09-02 Waters Technologies Corporation Simultaneous differential thermal analysis system
CN101762784B (zh) * 2009-12-30 2014-11-05 上海硅酸盐研究所中试基地 一种大功率光电导开关测试装置及其应用
CN101806815A (zh) * 2010-04-08 2010-08-18 中国电子科技集团公司第十三研究所 用于SiC MESFET直流测试的夹具
CN201732101U (zh) * 2010-05-05 2011-02-02 如皋市易达电子有限责任公司 一种贴片二极管的sma高温测试夹具
GB2482004A (en) * 2010-07-14 2012-01-18 Influx Measurements Ltd Monitoring apparatus
US9222844B2 (en) * 2013-02-25 2015-12-29 Rosemount Inc. Process temperature transmitter with improved sensor diagnostics
CN203241441U (zh) * 2013-05-07 2013-10-16 上海大学 高温测电阻率试验夹具
EP2929843B1 (de) * 2014-04-10 2018-05-30 Lazic Besitz GmbH & Co. KG Chirurgischer clip mit drei klemmarmen

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105137190A (zh) * 2015-09-08 2015-12-09 哈尔滨工业大学 永磁材料电阻率随温度和应力变化的测量方法
CN105137190B (zh) * 2015-09-08 2017-10-24 哈尔滨工业大学 永磁材料电阻率随温度和应力变化的测量方法
CN108037326A (zh) * 2017-11-30 2018-05-15 南通星晨电子有限公司 一种片式电容器的高温测试方法
CN108918976A (zh) * 2018-04-18 2018-11-30 杭州电子科技大学 一种多通道高温介电温谱测试装置
CN108918976B (zh) * 2018-04-18 2020-11-27 杭州电子科技大学 一种多通道高温介电温谱测试装置
CN110044720A (zh) * 2019-03-11 2019-07-23 中国航发北京航空材料研究院 一种适用于非标小试样蠕变性能测试的多功能夹具
CN110146576A (zh) * 2019-06-13 2019-08-20 东北大学 一种用于固体电解质的电化学测试装置
CN110146576B (zh) * 2019-06-13 2020-05-19 东北大学 一种用于固体电解质的电化学测试装置
CN111830396A (zh) * 2020-07-15 2020-10-27 广东利扬芯片测试股份有限公司 具有芯片测试环境温度检测功能的芯片测试系统
CN113352248A (zh) * 2021-06-02 2021-09-07 西南交通大学 一种非导电陶瓷热震测试设备夹具
CN113352248B (zh) * 2021-06-02 2023-03-10 西南交通大学 一种非导电陶瓷热震测试设备夹具
CN117214536A (zh) * 2023-09-06 2023-12-12 河南工业大学 一种适用于高温条件的多路并行阻抗的测试装置及测试方法

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