CN104068885A - Ct机的扫描触发控制方法、装置及ct机 - Google Patents

Abstract

本发明提出了一种CT机的扫描触发控制方法、装置及CT机。其中，将一个扫描周期的旋转角度划分为M个角度段；并预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量；进行CT扫描时，从第一个角度段开始，对每个角度段，在接收到该角度段开始端的传感信号时，开始本角度段当前旋转时长的计时，并延迟若干个采样所对应的采样时间后，开始本角度段对应的采样，在接收到该角度段结束端的传感信号时，得到该角度段的当前旋转时长；计算该角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值，将所述差值通过该角度段所对应的剩余采样数量中的若干个采样所对应的采样时间进行补偿。本发明技术方案能够对旋转机架的速度误差进行补偿。

Description

CT机的扫描触发控制方法、装置及CT机

技术领域

本发明涉及医疗设备领域，特别是一种计算机X射线断层成像（computed tomography，CT）机的扫描触发控制方法、装置及CT机。 

背景技术

CT机作为一种医疗设备广泛应用于医疗卫生领域以协助医生进行诊断。图1中示出了目前的一种CT机的结构示意图。如图1所示，该CT机包括：一个底部支撑部件11、一个旋转机架（gantry）12、一个X光球管13、一个X光探测器14、一个控制装置15和一个图像重建装置16。 

其中，旋转机架（gantry）12通常为环形结构，且安装在底部支撑部件11上，能够绕自身的轴线旋转。通常情况下，将与旋转机架12的轴线平行的方向称为Z方向，将与Z方向垂直的水平方向称为X方向，并将分别与X方向和Z方向相垂直的方向称为Y方向。 

X光球管13安装在旋转机架12上，能够在垂直于Z方向的方向上发射X射线。 

X光探测器14安装在旋转机架12上与X光球管13相对的位置，用于接收X光球管发射的X射线，并将其转换为图像信息输出给图像重建装置16。 

在进行CT扫描时，对于每个扫描切面，一般可以先从多个角度采集目标对象的信息，再根据从多个角度采集到的信息进行目标对象的图像重建。 

为了获取目标对象多个角度的信息，通常由控制装置15控制旋转机架12带动X光球管13和X光探测器14绕旋转机架12的轴线旋转，并在旋转过程中，基于时间触发或位置触发方式控制X光球管发射X射线以及X光探测器14对X光球管13发射的X射线进行采集接收，实现多角度的扫描触发控制。X光球管13每旋转一周并发射X射线的过程称为一个扫描周期。实际应用中，预设零点可以为X正方向的位置。 

图像重建装置16用于接收X光探测器14输出的图像信息，并根据每个扫描周期中所有投影位置对应的图像信息及其投影角的信息进行图像重建。 

传统的基于时间触发方式的扫描控制，是在旋转机架12的旋转过程中，基于等角度均匀分布的原则周期性的触发X光探测器14对X光球管13发射的X射线进行采集接收。 这种方式中，如果由于环境或装置传动结构调整等各种因素的影响，万一造成旋转机架12的旋转速度不均匀，即X光球管13的运动速度不均匀，那么在按照等时间间隔来采集X光球管13发射的X射线时，所获得的图像信息对应的投影位置并不是等角度均匀分布的，此时图像重建装置16在基于等角度均匀分布的原则利用各投影位置的图像信息进行图像重建时，所获得的重建图像的质量便会受到影响。 

传统的基于位置触发方式的扫描控制，是在旋转机架12外围的各投影位置安装若干个传感器，在旋转机架12的旋转过程中，每当X光球管13旋转至一个传感器的位置时，便触发X光探测器14对X光球管13发射的X射线进行采集接收。这种方式中，由于每个扫描周期中需要对X射线进行大量的采集接收，因此需要设置大量的传感器，一方面会增加CT机的成本，一方面由于受旋转机架12的尺寸限制，传感器的数量也无法设置太多，因此限制了重建图像的质量提升。 

为了在较低成本的前提下，进一步提升重建图像的质量。目前提出了一些改进的方案。 

例如，图2a和图2b示出了一种改进的基于时间和位置触发方式的CT机扫描触发控制方法。如图2a所示，该方案中，在旋转机架12的周围均匀分布M个传感元件，如小金属块等，图中以分布20个小金属块为例（实际应用中，还可以分布24个或其它个数的传感元件），从而将一个扫描周期的旋转角度划分为M个片段，如图中所示的20个片段，这样相邻两个小金属块之间的角度（如A、B之间的角度）便是α=360°/20=18°。在旋转机架12的旋转过程中，通过设置的传感器来探测这20个小金属块，并通过对各部分的角度进行累加，便可得到当前小金属块所对应的旋转机架12的旋转角度。由于实际应用中，CT扫描需要更小的角度分辨率，因此，如图2b所示，该方案在每个片段内，如每个18°的区间内，设置一些等分的虚拟角度。该方案假定在每个18°的区间内旋转机架12的旋转速度是固定的，因此将每个18°的区间在时域内划分N等分，这样每个虚拟角度为α′=18°/N。这样通过在每个18°的区间内进行时域的累加，可以得到每个18°的区间内的旋转角度。之后通过确定当前旋转角度是否满足各预设投影位置的投影角，来触发X光探测器14进行X射线的采集接收。 

上述图2a和图2b所示的方案描述的是一种理想状态下的方案。实际应用中，由于旋转机架12的旋转速度在不同的扫描周期内可能是不同的，甚至旋转机架12的旋转速度在同一个扫描周期内也可能不是固定的，这样，在采用对应虚拟角度α′=360°/MN的采 样时间进行采样时，通常会存在误差，因此有必要针对这些误差进行补偿。 

发明内容

有鉴于此，本发明一方面提出了一种CT机的扫描触发控制方法，另一方面提出了一种CT机的扫描触发控制装置及CT机，用以对旋转机架的速度误差进行补偿。 

本发明公开的CT机的扫描触发控制方法，通过均匀分布在旋转机架上的M个传感元件，将一个扫描周期的旋转角度划分为M个角度段；该方法包括：预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量；进行CT扫描时，从设定的第一个角度段开始，对每个角度段，在接收到所述角度段开始端的传感信号时，开始本角度段的当前旋转时长的计时，并延迟Xi个采样所对应的采样时间后，按照基准采样周期开始本角度段对应的采样，在接收到所述角度段结束端的传感信号时，得到所述角度段的当前旋转时长；计算所述角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值Δi，将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样；其中，i=1,2,…,M。 

在本发明的其它实施方式中，所述预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量包括：在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长；根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期；根据所述基准采样周期及每个角度段所对应的基准旋转时长，计算每个角度段内所包含的采样数量值；在保证整个扫描周期的采样数量不变的情况下，对计算得到的每个角度段内所包含的采样数量值进行圆整，得到每个角度段对应的基准采样数量。 

在本发明的其它实施方式中，所述预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长包括：预先进行至少两次测量，对至少两次测量得到的一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长分别进行平均，得到一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。 

在本发明的其它实施方式中，所述将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样包括：对所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样 数量中的Yi个采样按照补偿后的采样周期=基准采样周期+Δi/Yi进行采样。 

本发明提出的CT机的扫描触发控制装置，通过均匀分布在旋转机架上的M个传感元件，将一个扫描周期的旋转角度划分为M个角度段；该装置包括：基准信息确定模块，用于预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量；扫描器，用于对目标区域进行扫描采样；和采集控制与补偿计算模块，用于在进行CT扫描时，从设定的第一个角度段开始，对每个角度段，在接收到所述角度段开始端的传感信号时，开始本角度段的当前旋转时长的计时，并延迟Xi个采样所对应的采样时间后，按照基准采样周期开始本角度段对应的采样，在接收到所述角度段结束端的传感信号时，得到所述角度段的当前旋转时长；计算所述角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值Δi，将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样；其中，i=1,2,…,M。 

在本发明的其它实施方式中，所述基准信息确定模块包括：基准旋转时长确定子模块，用于在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长；基准采样周期确定子模块，用于根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期；和基准采样数量确定子模块，用于根据所述基准采样周期及每个角度段所对应的基准旋转时长，计算每个角度段内所包含的采样数量值；并在保证整个扫描周期的采样数量不变的情况下，对计算得到的每个角度段内所包含的采样数量值进行圆整，得到每个角度段对应的基准采样数量。 

在本发明的其它实施方式中，所述第一子模块包括：测量子模块，用于进行至少两次测量，得到至少两组一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长；和均值计算子模块，用于对所述至少两组一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长分别进行平均计算，得到一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。 

本发明提出的CT机，包括：上述任一具体实现形式的CT机的扫描触发控制装置。 

从上述方案中可以看出，由于本发明中对每个角度段，在接收到所述角度段开始端的传感信号时，延迟若干个采样所对应的采样时间后，再按照基准采样周期开始本角度段对应的采样，从而在接收到该角度段结束端的传感信号时，可以得到该角度段的当前旋转时长；进而可以计算出该角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值，即本角 度段的当前实际旋转时长相对于基准值而言所产生的误差，之后将所述差值通过本角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的若干个采样所对应的采样时间进行补偿，即对所述若干个采样按照补偿后的采样周期进行采样，从而使得每个角度段内产生的误差，即上述的差值，能够被补偿，实现了对旋转机架的速度误差的补偿，从而不会产生采样错误。并且通过在本角度段内实现本角度段的误差补偿，从而不会造成误差在其他角度段内的累积。 

此外，通过预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长，并根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期，根据所述基准采样周期及每个角度段所对应的基准旋转时长，计算每个角度段内所包含的采样数量值，并在保证整个扫描周期的采样数量不变的情况下，对计算得到的每个角度段内所包含的采样数量值进行圆整，得到每个角度段对应的基准采样数量，从而可以实现对传感元件机械安装误差的补偿，进一步提高采样的精确度。 

附图说明

下面将通过参照附图详细描述本发明的优选实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本发明的上述及其它特征和优点，附图中： 

图1为目前的一种CT机的结构示意图。 

图2a和图2b为一种基于时间和位置触发方式的CT机扫描触发控制方法示意图。 

图3为本发明实施例中CT机的扫描触发控制方法的示例性流程图。 

图4为图3所示步骤302的实现过程示意图。 

图5为本发明实施例中CT机的扫描触发控制装置的示例性流程图。 

图6为图5所示装置中基准信息确定模块的结构示意图。 

图7为图5所示装置中基准信息确定模块的另一结构示意图。 

其中，附图标记如下 

标号	含义
		11	底部支撑部件
12	旋转机架
		13	X光球管
14	X光探测器

15	控制装置
		16	图像重建装置
301-302	步骤
		500、510、520、511-517	装置模块

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下举实施例对本发明进一步详细说明。 

本发明实施例中，同样通过均匀分布在旋转机架上的M个传感元件，将一个扫描周期的旋转角度划分为M个角度段。这M个传感元件仅作为控制过程中的参考信号使用。 

图3为本发明实施例中CT机的扫描触发控制方法的示例性流程图。如图3所示，该方法包括如下步骤： 

步骤301，预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量。 

本步骤中，若M个传感元件的机械安装误差可以忽略不计的话，则每个角度段的角度为α=360°/M，其所对应的基准采样数量为S=设定的整个扫描周期的采样数量/M。 

对于基准采样周期的确定，可在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内整个扫描周期的基准旋转时长，根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期。具体实现时，可以预先进行至少两次测量，对至少两次测量得到的整个扫描周期的旋转时长分别进行均值计算，得到整个扫描周期的基准旋转时长。 

进而每个角度段所对应的基准旋转时长可以为L=整个扫描周期的基准旋转时长/M。 

或者，本步骤中，考虑到机械安装误差通常难以避免，因此M个传感元件可能无法保证绝对的均匀分布，这样划分的每个角度段也就不是严格的α=360°/M，相应地，也便不能保证每个角度段对应的基准采样数量为S=设定的整个扫描周期的采样数量/M，同样，也便不能保证每个角度段所对应的基准旋转时长为L=整个扫描周期的基准旋转时长/M。 

为了对这部分机械误差进行补偿，本步骤中可具体包括如下步骤： 

在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。例如，预先进行至少两次测量，对至少两次测量得到的一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长分别进行均值计算，得到一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。 

根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期。 

根据所述基准采样周期及每个角度段所对应的基准旋转时长，计算每个角度段内所包含的采样数量值。 

在保证整个扫描周期的采样数量不变的情况下，对计算得到的每个角度段内所包含的采样数量值进行圆整，得到每个角度段对应的基准采样数量。 

表1中示出了本发明实施例中的一个例子，该例子中以旋转机架的当前设定转速为0.5s/转，以及M为20的情况为例，如表1所示，假设预先设定的整个扫描周期的采样数量为2000，整个扫描周期的理想旋转时长为500ms，则理想采样周期为250μs，每个角度段所对应的理想旋转时长为25ms。但通过实际测量发现，整个扫描周期的基准旋转时长为502.85ms，则基准采样周期为251.425μs。通过测量得到的每个角度段所对应的基准旋转时长也都不同，进而根据基准旋转时长和基准采样周期计算得到的每个角度段所包含的采集数量值也不同，最后通过对计算得到的每个角度段的采样数量值进行圆整后，得到如表1所示的每个角度段对应的基准采样数量。 

表1 

步骤302，进行CT扫描时，从设定的第一个角度段开始，对每个角度段，在接收到所述角度段开始端的传感信号时，开始本角度段的当前旋转时长的计时，并延迟Xi个采样所对应的采样时间后，按照基准采样周期开始本角度段对应的采样，在接收到所述角度段结束端的传感信号时，得到所述角度段的当前旋转时长；计算所述角度段当前旋转 时长和基准旋转时长之间的差值Δi，将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样；其中，i=1,2,…,M。 

图4中示出了本步骤的实现过程示意图。如图4所示，从设定的第一个角度段开始，在接收到所述第一个角度段开始端的传感信号时，开始第一个角度段的当前旋转时长的计时，并在延迟X1个采样所对应的采样时间后开始按照基准采样周期进行采样，在接收到所述第一个角度段结束端的传感信号时，得到第一个角度段的当前旋转时长；由于第一个角度段结束端的传感信号即为第二个角度段开始端的传感信号，因此同时开始第二个角度段的当前旋转时长的计时。之后计算得到第一个角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值Δ1，将所述差值Δ1通过第一个角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Y1个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Y1个采样按照补偿后的采样周期进行采样。本实施例时，Y1个采样可以为第一个角度段对应的基准采样数量中的最后Y1个采样，在本发明的其他实施例中，Y1个采样也可以为第一个角度段对应的基准采样数量中剩余采样数量中的任意位置处的Y1个采样。 

在完成所述第一个角度段所对应的基准采样数量的采样后，即接收到第一个角度段结束端的传感信号后的T′0时间后，按照基准采样周期开始第二个角度段的采样，在接收到所述第二个角度段结束端的传感信号时，得到第二个角度段的当前旋转时长；由于第二个角度段结束端的传感信号即为第三个角度段开始端的传感信号，因此同时开始第三个角度段的当前旋转时长的计时。之后计算第二个角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值Δ2，将所述差值Δ2通过第二个角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Y2个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Y2个采样按照补偿后的采样周期进行采样。同样，本实施例时，Y2个采样可以为第二个角度段对应的基准采样数量中的最后Y2个采样，在本发明的其他实施例中，Y2个采样也可以为第一个角度段对应的基准采样数量中剩余采样数量中的任意位置处的Y2个采样。 

在完成所述第二个角度段所对应的基准采样数量的采样后开始第三个角度段的采样；……；在完成所述第i个角度段所对应的基准采样数量的采样后，即接收到第i个角度段结束端的传感信号后的T′i时间后，按照基准采样周期开始第i+1个角度段的采样，在接收到所述第i个角度段结束端的传感信号时，得到第i个角度段的当前旋转时长；由于第i个角度段结束端的传感信号即为第i+1个角度段开始端的传感信号，因此同时开始第i+1个角度段的当前旋转时长的计时。之后计算第i个角度段当前旋转时长和基准旋转 时长之间的差值Δi，将所述差值Δi通过第二个角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样。同样，本实施例时，Yi个采样可以为第i个角度段对应的基准采样数量中的最后Yi个采样，在本发明的其他实施例中，Yi个采样也可以为第一个角度段对应的基准采样数量中剩余采样数量中的任意位置处的Yi个采样。 

……；一直到在完成第M-1个角度段所对应的基准采样数量的采样后开始第M个角度段的采样，在接收到所述第M个角度段结束端的传感信号时，得到第M个角度段的当前旋转时长；计算第M个角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值ΔM，将所述差值ΔM通过第M个角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的YM个采样所对应的采样时间进行补偿。 

图4中，Ti约等于T′i。 

本实施例中，具体的补偿算法可以是：对所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样按照补偿后的采样周期=基准采样周期+Δi/Yi进行采样。对于表1中所示出的例子，补偿后的采样周期=251.425+Δi/Yi。 

图5为本发明实施例中CT机的扫描触发控制装置的示例性结构图。如图5所示，该装置包括：一基准信息确定模块500、一采集控制与补偿计算模块510和一扫描器520。 

其中，基准信息确定模块500用于预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量。 

扫描器520用于对目标区域进行扫描采样。本实施例中，将CT机中实现X射线扫描的所有器件组合称为扫描器520。具体实现时，扫描器520可包括图1中CT机的旋转机架12、对应安装在旋转机架12上的X光球管13和X光探测器14，以及控制旋转机架12带动X光球管13和X光探测器14旋转并控制X光球管13和X光探测器14进行X射线扫描及采集的控制装置等。 

采集控制与补偿计算模块510用于在进行CT扫描时，从设定的第一个角度段开始，对每个角度段，在接收到所述角度段开始端的传感信号时，开始本角度段的当前旋转时长的计时，并延迟Xi个采样所对应的采样时间后，按照基准采样周期开始本角度段对应的采样，在接收到所述角度段结束端的传感信号时，得到所述角度段的当前旋转时长；计算所述角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值Δi，将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补 偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样；其中，i=1,2,…,M。 

与图3所示方法相对应，具体实现时，基准信息确定模块510可有多种结构形式。例如，当不考虑传感元件的安装误差时，该基准信息确定模块510可如图6所示，包括：基准采样数量计算子模块511、扫描周期的基准旋转时长确定子模块512、基准采样周期计算子模块513和角度段的基准旋转时长计算子模块514。 

其中，基准采样数量计算子模块511用于根据设定的整个扫描周期的采样数量及角度段的数量M的取值，计算得到每个角度段对应的基准采样数量为S=设定的整个扫描周期的采样数量/M。 

扫描周期的基准旋转时长确定子模块512用于在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内整个扫描周期的基准旋转时长。具体地，可以预先进行至少两次测量，对至少两次测量得到的整个扫描周期的旋转时长分别进行均值计算，得到整个扫描周期的基准旋转时长。 

基准采样周期计算子模块513用于根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期。 

角度段的基准旋转时长计算子模块514用于根据整个扫描周期的基准旋转时长及传感元件的数量M，计算得到每个角度段对应的基准旋转时长为L=整个扫描周期的基准旋转时长/M。 

当需要考虑传感元件的安装误差时，该基准信息确定模块510可如图7所示，包括：基准旋转时长确定子模块515、基准采样周期确定子模块516和基准采样数量确定子模块517。 

其中，基准旋转时长确定子模块515用于在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。具体地，可预先进行至少两次测量，对至少两次测量得到的一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长分别进行均值计算，得到一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。 

基准采样周期确定子模块516用于根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期。 

基准采样数量确定子模块517用于根据所述基准采样周期及每个角度段所对应的基准旋转时长，计算每个角度段内所包含的采样数量值；并在保证整个扫描周期的采样数量不变的情况下，对计算得到的每个角度段内所包含的采样数量值进行圆整，得到每个 角度段对应的基准采样数量。 

本发明实施例中的CT机，包括：上述任一实现形式的CT机的扫描触发控制装置。 

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。 

Claims (8)

1.一种CT机的扫描触发控制方法，通过均匀分布在旋转机架上的M个传感元件，将一个扫描周期的旋转角度划分为M个角度段；该方法包括：

预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量；

进行CT扫描时，从设定的第一个角度段开始，对每个角度段，在接收到所述角度段开始端的传感信号时，开始本角度段的当前旋转时长的计时，并延迟Xi个采样所对应的采样时间后，按照基准采样周期开始本角度段对应的采样，在接收到所述角度段结束端的传感信号时，得到所述角度段的当前旋转时长；计算所述角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值Δi，将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样；其中，i=1,2,…,M。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量包括：

在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长；

根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期；

根据所述基准采样周期及每个角度段所对应的基准旋转时长，计算每个角度段内所包含的采样数量值；

在保证整个扫描周期的采样数量不变的情况下，对计算得到的每个角度段内所包含的采样数量值进行圆整，得到每个角度段对应的基准采样数量。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长包括：

预先进行至少两次测量，对至少两次测量得到的一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长分别进行平均，得到一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样包括：

对所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样按照补偿后的采样周期=基准采样周期+Δi/Yi进行采样。

5.一种CT机的扫描触发控制装置，通过均匀分布在旋转机架上的M个传感元件，将一个扫描周期的旋转角度划分为M个角度段；该装置包括：

基准信息确定模块，用于预先确定基准采样周期，以及每个角度段所对应的基准旋转时长和基准采样数量；

扫描器，用于对目标区域进行扫描采样；和

采集控制与补偿计算模块，用于在进行CT扫描时，从设定的第一个角度段开始，对每个角度段，在接收到所述角度段开始端的传感信号时，开始本角度段的当前旋转时长的计时，并延迟Xi个采样所对应的采样时间后，按照基准采样周期开始本角度段对应的采样，在接收到所述角度段结束端的传感信号时，得到所述角度段的当前旋转时长；计算所述角度段当前旋转时长和基准旋转时长之间的差值Δi，将所述差值Δi通过所述角度段所对应的基准采样数量中剩余的采样数量中的Yi个采样所对应的采样时间进行补偿，对所述Yi个采样按照补偿后的采样周期进行采样；其中，i=1,2,…,M。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述基准信息确定模块包括：

基准旋转时长确定子模块，用于在旋转机架的当前设定转速下，预先测量一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长；

基准采样周期确定子模块，用于根据所述整个扫描周期的基准旋转时长及设定的整个扫描周期的采样数量，确定CT扫描的基准采样周期；和

基准采样数量确定子模块，用于根据所述基准采样周期及每个角度段所对应的基准旋转时长，计算每个角度段内所包含的采样数量值；并在保证整个扫描周期的采样数量不变的情况下，对计算得到的每个角度段内所包含的采样数量值进行圆整，得到每个角度段对应的基准采样数量。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一子模块包括：测量子模块，用于进行至少两次测量，得到至少两组一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长；和

均值计算子模块，用于对所述至少两组一个扫描周期内各个角度段所对应的旋转时长及整个扫描周期的旋转时长分别进行平均计算，得到一个扫描周期内各个角度段所对应的基准旋转时长及整个扫描周期的基准旋转时长。

8.一种CT机，包括：如权利要求5至7中任一项所述的CT机的扫描触发控制装置。