CN104007683A - 调试电路及具有该调试电路的主板 - Google Patents

调试电路及具有该调试电路的主板 Download PDF

Info

Publication number
CN104007683A
CN104007683A CN201310060477.4A CN201310060477A CN104007683A CN 104007683 A CN104007683 A CN 104007683A CN 201310060477 A CN201310060477 A CN 201310060477A CN 104007683 A CN104007683 A CN 104007683A
Authority
CN
China
Prior art keywords
power supply
control
signal input
change
resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201310060477.4A
Other languages
English (en)
Inventor
黄发生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN201310060477.4A priority Critical patent/CN104007683A/zh
Priority to TW102108088A priority patent/TW201433801A/zh
Priority to US14/185,017 priority patent/US20140239971A1/en
Publication of CN104007683A publication Critical patent/CN104007683A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31705—Debugging aspects, e.g. using test circuits for debugging, using dedicated debugging test circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

本发明涉及一种调试电路及具有该调试电路的主板。该调试电路，用于调整一待测芯片输入的控制信号至一预期数值。该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及至少一信号输出端，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。

Description

调试电路及具有该调试电路的主板
技术领域
本发明涉及一种调试电路及具有该调试电路的主板。
背景技术
在主板的设计阶段，需要调整主板上一些芯片中控制信号输入端的电信号值或芯片内部寄存器内数据以达到控制芯片输出信号的电压强弱、跳变时间的快慢等参数的目的。通常，业界采用选择性地将待测的芯片的多个控制控制信号输入端中的部分或全部控制信号输入端焊接电阻，再将电阻上拉至电源或下拉至“地”（Ground）。然后观测待测芯片的输出信号是否符合当前需求。当待测芯片的输出信号不符合当前要求时，通常，需要熔融电阻以便调整焊接电阻的连接位置或在电路板上重新插入所需的上拉或下拉电阻。如此以来，每次在电路板上焊接电阻或者重新插入所需的上拉或者下拉电阻都会造成时间的浪费，调试效率较低。
发明内容
因此，有必要提供一种调试效率较高的调试电路。
也有必要提供一种具有该调试电路的主板。
一种调试电路，用于调整一待测芯片输入的控制信号至一预期数值，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及至少一信号输出端，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。
一种主板，该主板包括至少一待测芯片，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及信号输出端，该主板还包括一调试电路，用于调整该待测芯片输入端的控制信号至一预期数值，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。
与现有技术相较，本发明调试电路及包括该调试电路的主板将待测芯片中的每个控制信号输入端均与电阻单元中的相应电阻相连，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端。通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位，进而改变该待测芯片的输出信号的大小。实施本发明，不需要调整焊接电阻的连接位置或在主板上重新插入上拉电阻或下拉电阻，从而达到了提高调试效率的技术效果。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1为本发明调试电路用于检测待测芯片一较佳实施方式的示意图。
主要元件符号说明
主板 1
待测芯片 10
调试电路 3
第一控制信号输入端 11
第二控制信号输入端 12
第三控制信号输入端 13
第四控制信号输入端 14
第五控制信号输入端 15
信号输出端 16
电阻单元 31
调整单元 33
判断单元 35
开关单元 331
第一检测电源 333
第二检测电源 335
控制端 331a-331b
第一双端切换开关 SW1
第二双端切换开关 SW2
第三双端切换开关 SW3
第四双端切换开关 SW4
第五双端切换开关 SW5
第一端 a
第二端 b
第三端 c
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，其为本发明调试电路用于检测待测芯片一较佳实施方式的示意图。该调试电路3用于调整一主板1上一待测芯片10输入的控制信号至预期数值。该待测芯片10包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端17及至少一信号输出端16，可以理解，该控制芯片10依据控制信号输入端输入的控制信号对该数据控制信号输入端17的输入信号进行调整转换，以便控制该至少一信号输出端16的信号输出。以本实施方式中的该待测芯片10包括五个控制信号输入端为例进行描述，为方便描述，将该五个控制信号输入端分别命名为第一控制信号输入端11、第二控制信号输入端12、第三控制信号输入端13、第四控制信号输入端14及第五控制信号输入端15。可举例说明地，该待测芯片10可为连接在主板上的主控芯片(Host Controller)与硬盘之间的收发器(Transceiver)，用于实现主控芯片与硬盘之间的数据互连。相应地，该五个控制信号输入端11-15可为收发器的信号输入引脚。以该收发器为DS64BR401SQ为例，该控制信号输入端可以为收发器的IA_0+、IA_0-、IA_1+、IA_1-、IA_2+、IA_2-、IA_3+、IA_3-等信号输入引脚。
该调试电路3包括电阻单元31、调整单元33及判断单元35。该电阻单元31包含多个电阻，在本实施方式中，该电阻单元31包括与待测芯片10的控制信号输入端11-15等数目且一一对应连接的电阻，即电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4及电阻R5。具体地，该第一控制信号输入端11连接该电阻R1，该第二控制信号输入端12连接该电阻R2，该第三控制控制信号输入端13连接该电阻R3，该第四控制控制信号输入端14连接该电阻R4，该第五控制控制信号输入端15连接该电阻R5。在此，该控制控制信号输入端11-15与相应电阻R1-R5连接时可采用但并不局限于焊接或者插接的方式。
该调整单元33包括与电阻单元31的电阻等数目的控制端331a-331e，该多个控制端331a-331e分别通过相应电阻R1-R5连接至每个控制信号输入端11-15。该调整单元33用于通过改变输出至该多个控制端331a-331e的电压值改变加载在每个控制信号输入端11-15上的电位。
该调整单元33进一步包括开关单元331、第一检测电源333及第二检测电源335。该第一检测电源333及第二检测电源335用于提供改变控制端的电位所需要的电压。在本实施方式中，该第一检测电源333为该控制端提供高电位电压，如5V电压，该第二检测电源335为该控制端提供低电位的电压，如接地电压。该开关单元331用于选择与第一检测电源333还是第二检测电源335电连接，以改变输出至该多个控制端331a-331e的电压值。
具体地，该开关单元331包括与控制端等数目的多个双端切换开关，在本实施方式中，由于该待测芯片10的控制端的数目为五个，则该开关单元331中包括的双端切换开关的数目也为5个，为方便描述，将这五个双端切换开关分别命名为第一双端切换开关SW1、第二双端切换开关SW2、第三双端切换开关SW3、第四双端切换开关SW4及第五双端切换开关SW5。每个双端切换开关包括第一端a、第二端b及第三端c。每个双端切换开关的第一端a分别经由一控制端及一电阻连接至相应的控制信号输入端，每个双端切换开关的第二端b均与该第一检测电源333相连接，每个双端切换开关的第三端c均与第二检测电源335相连。当双端切换开关的第一端a与该第二端b相连时，该第一检测电源333的电压通过该双端切换开关及相应电阻加载至相应的控制信号输入端，此时该控制信号输入端的电位为“1”。当该第一端a与该第三端c相连时，则该待测芯片10的相应的控制信号输入端接地，此时该控制信号输入端的电位为“0”。该待测芯片10的控制信号输入端11-15分别加载相应电位，相应地，该待测芯片10内部用于寄存控制信号的寄存器中也相应存储代表电位高低的数值组合。举例而言，在图1中，由于该第一双端切换开关SW1、该第三双端切换开关SW3及该第四双端切换开关SW4的第一端a分别与第三端c相连，因此，该第一控制信号输入端11、第三控制信号输入端13及第四控制信号输入端14与第二检测电源335相连，此时，该第一控制信号输入端11、第三控制信号输入端13及第四控制信号输入端14的数值均为“0”。该第二双端切换开关SW2及第五双端切换开关SW5的第一端a分别与第二端b相连，因此，该第一检测电源333的电压加载于该第二控制信号输入端12及该第五控制信号输入端15，此时，该第二控制信号输入端12及该第五控制信号输入端15的数值均为“1”。此时，该待测芯片10中寄存器内寄存的数值为“01001”。
该判断单元35连接该信号输出端16，该待测芯片10依据自控制信号输入端接收到控制信号或寄存在寄存器内部的数值，控制输出信号经由该信号输出端16输出。该判断单元35读取该待测芯片10的输出信号，并将读取到的输出信号的参数与该判断单元35内预存的标准信号的参数进行比较。具体地，该判断单元35获取该待测芯片10的输出信号的电压幅值、变换周期及频率等参数，并将该输出信号的参数与预存的标准信号的参数进行比较。若该输出信号的参数与该预存的标准信号的参数间的差异大于一预定范围内时，则认为该输出信号与该预存的标准信号不相同，则根据该输出信号的情况调整该调整单元33中各个开关单元331的状态，改变加载在每个控制信号输入端的电位，同时起到相应调整该待测芯片10中寄存器的数值的目的。当该输出信号的参数与该预存的标准信号的参数相同或者差异在一预定范围内时，则认为该输出信号与该预存的标准信号相同。此时，保持该调整单元33中各个开关单元331的连接状态不变，加载在该待测芯片10各控制信号输入端上的控制信号符合当前需求，相应地，用于寄存该控制信号的寄存器内的数值的调整过程完成。
可以理解，本发明的开关单元还可为其他的切换开关，如：每一双端切换开关可由一串联的NMOS(Negative Mental Oxide Semiconductor, NMOS)开关管及PMOS(positive Mental Oxide Semiconductor, PMOS)开关管构成，其中一开关管的漏极接第一检测电源333，源极与另一开关管的漏极相连，且作为该开关单元51的一控制端与相应的一电阻相连，另一开关管的源极接该第二检测电源335，二开关管的栅极用于接收一开关控制信号，该开关控制信号可来自一控制器。
与现有技术相较，本发明调试电路10及包括该调试电路10的主板将待测芯片10中的每个控制信号输入端均与电阻单元31中的相应电阻相连，该多个控制信号输入端11-15分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元33包括与该电阻单元31中电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端。通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位，进而改变该待测芯片10的输出信号的大小。实施本发明，不需要调整焊接电阻的连接位置或在主板上重新插入上拉电阻或下拉电阻，从而达到了提高调试效率的技术效果。
虽然本发明以优选实施方式揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做各种的变化，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种调试电路，用于调整一待测芯片输入的控制信号至一预期数值，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及至少一信号输出端，其特征在于，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。
2.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于，该调整单元包括开关单元、第一检测电源及第二检测电源，该第一检测电源及该第二检测电源用于提供改变该控制端的电位所需的电压，该开关单元用于选择与该第一检测电源还是第二检测电源电连接，以改变输出至该多个控制端的电压值。
3.如权利要求2所述的调试电路，其特征在于，该开关单元包括与该控制端等数目的多个双端切换开关，该双端切换开关包括第一端、第二端及第三端，每个双端切换开关的第一端分别经由一控制端及一电阻连接至相应的控制信号输入端，每个双端切换开关的第二端连接该第一检测电源，每个双端切换开关的第三端连接该第二检测电源，该双端切换开关通过该第一端连接该第二端或该第一端连接该第三端以控制该第一检测电源及该第二检测电源提供给每个控制端的电通路的断开与连接。
4.如权利要求2所述的调试电路，其特征在于，该第一检测电源的电压值为5V，该第二检测电源提供一接地信号。
5.如权利要求2所述的调试电路，其特征在于，每一双开关单元由一串联的NMOS开关管及PMOS开关管构成，其中，一开关管的漏极接该第一检测电源，源极与另一开关管的漏极相连，且作为该开关单元的一控制端与相应的一电阻相连，另一开关管的源极接该第二检测电源，二开关管的栅极用于接收一开关控制信号。
6.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于，该调试电路还包括判断单元，该判断单元连接该信号输出端，用于读取该待测芯片的输出信号，并将读取到的输出信号的参数与该判断单元内预存的标准信号的参数进行比较，当该输出信号的参数与该预存的标准信号的参数相同或者差异在一预定范围内时，则该判断单元认为该输出信号与该预存的标准信号相同。
7.一种主板，该主板包括至少一待测芯片，该待测芯片包括多个控制信号输入端、至少一数据控制信号输入端及信号输出端，其特征在于，该主板还包括一调试电路，用于调整该待测芯片输入端的控制信号至一预期数值，该调试电路包括电阻单元及调整单元，该电阻单元包括多个电阻，该多个控制信号输入端分别与该多个电阻一一对应相连，该调整单元包括与该电阻单元中的电阻等数目的控制端，该多个控制端分别通过相应电阻连接至每个控制信号输入端，用于通过改变输出至该多个控制端的电压值改变加载在每个控制信号输入端的电位。
8.如权利要求7所述的主板，其特征在于，该调整单元包括开关单元、第一检测电源及第二检测电源，该第一检测电源及该第二检测电源用于提供改变该控制端的电位所需的电压，该开关单元用于选择与该第一检测电源还是第二检测电源电连接，以改变输出至该多个控制端的电压值。
9.如权利要求8所述的主板，其特征在于，该开关单元包括与该控制端等数目的多个双端切换开关，该双端切换开关包括第一端、第二端及第三端，每个双端切换开关的第一端分别经由一控制端及一电阻连接至相应的控制信号输入端，每个双端切换开关的第二端连接该第一检测电源，每个双端切换开关的第三端连接该第二检测电源，该双端切换开关通过该第一端连接该第二端或该第一端连接该第三端以控制该第一检测电源及该第二检测电源提供给每个控制端的电通路的断开与连接。
10.如权利要求8所述的主板，其特征在于，该第一检测电源的电压为5V，该第二检测电源提供一接地信号。
11.如权利要求8所述的主板，其特征在于，每一双开关单元由一串联的NMOS开关管及PMOS开关管构成，其中，一开关管的漏极接该第一检测电源，源极与另一开关管的漏极相连，且作为该开关单元的一控制端与相应的一电阻相连，另一开关管的源极接该第二检测电源，二开关管的栅极用于接收一开关控制信号。
12.如权利要求1所述的主板，其特征在于，该调试电路还包括判断单元，该判断单元连接该信号输出端，用于读取该待测芯片的输出信号，并将读取到的输出信号的参数与该判断单元内预存的标准信号的参数进行比较，当该输出信号的参数与该预存的标准信号的参数相同或者差异在一预定范围内时，则该判断单元认为该输出信号与该预存的标准信号相同。
CN201310060477.4A 2013-02-27 2013-02-27 调试电路及具有该调试电路的主板 Pending CN104007683A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310060477.4A CN104007683A (zh) 2013-02-27 2013-02-27 调试电路及具有该调试电路的主板
TW102108088A TW201433801A (zh) 2013-02-27 2013-03-07 調試電路及具有該調試電路之主機板
US14/185,017 US20140239971A1 (en) 2013-02-27 2014-02-20 Debugging circuit and circuit board using same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310060477.4A CN104007683A (zh) 2013-02-27 2013-02-27 调试电路及具有该调试电路的主板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104007683A true CN104007683A (zh) 2014-08-27

Family

ID=51368392

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310060477.4A Pending CN104007683A (zh) 2013-02-27 2013-02-27 调试电路及具有该调试电路的主板

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20140239971A1 (zh)
CN (1) CN104007683A (zh)
TW (1) TW201433801A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109270439A (zh) * 2018-11-05 2019-01-25 郑州云海信息技术有限公司 一种芯片测试方法、装置、设备及介质

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111737069A (zh) * 2020-06-19 2020-10-02 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 一种调试电路、开发板、调试方法以及设备

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109270439A (zh) * 2018-11-05 2019-01-25 郑州云海信息技术有限公司 一种芯片测试方法、装置、设备及介质

Also Published As

Publication number Publication date
US20140239971A1 (en) 2014-08-28
TW201433801A (zh) 2014-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101191825B (zh) 直流电源检测装置
CN104239240A (zh) 具有整合功能usb接口的电子装置
CN110572738A (zh) 无线耳机充电电路与无线耳机盒
CN106451385B (zh) 静电放电保护电路与集成电路
CN103605017A (zh) 一种汽车开关量信号的检测方法
CN101614761B (zh) 电流侦测电路
CN104038207A (zh) 一种切换电路及电子设备
CN103997334A (zh) 电平转换电路
CN106208028A (zh) 电源保护装置与其电源保护方法
CN103605396A (zh) 变流器输出电流处理电路及方法
CN103746681B (zh) 一种cmos器件电源上下电输出三态控制电路
CN104007683A (zh) 调试电路及具有该调试电路的主板
CN203759094U (zh) 一种变频调速器的直流母线电压检测电路
CN104901679A (zh) 一种新型输入检测电路
CN103176922A (zh) Usb识别电路
US20140375143A1 (en) Power control device
CN102902333A (zh) 电源控制电路
CN106849002B (zh) 电压保护电路以及终端设备
CN104459426A (zh) 线缆检测系统
CN103425561A (zh) Vga接口测试装置
CN106548742B (zh) 面板驱动电路
CN103592485A (zh) 具有输入电阻保护功能的示波器
US11455269B1 (en) Reconfigurable communication interface for a device
CN103123372A (zh) 信号采集单元和电流检测装置
CN102385018B (zh) 外界设备连接侦测电路

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20140827