CN103995226B - 用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，本发明采用标准万用表读取的数据和理论数据进行比较计算，获得各量程的修正参数；在用到该量程时，使用修正参数对输出的电流及电压进行修正，达到提高系统的驱动精度及测试精度的目的。当用户改变电源模块时，不会造成计算机中存储的修正参数与电源模块中的修正参数不匹配的问题。本发明具有用户可以按需随意改变电源模块，控制器会调用EEPROM中存储的修正参数对计算机中的数据库信息及时进行更新；无需重新校正数据，保证了系统精度的稳定性和一致性的特点。

Description

用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法

技术领域

本发明涉及测量精度保证技术领域，尤其是涉及一种能够不受用户硬件调整的影响，有效保证测试系统精度的稳定性和一致性的用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法。

背景技术

模拟集成电路测试系统用于检测模拟集成块的各项参数，并对各项参数进行综合分析，从而确定被检测的模拟集成块是否合格，合格的可以出厂，不合格的将被报废。

模拟集成电路测试系统的技术指标包括电源模块的电压驱动精度、电压测量精度、电流驱动精度和电流测量精度，随着被测试集成块产品技术的提升，对测试精度要求越来越高，模拟测试系统需要有较高的驱动和测试精度，并且要求系统精度有较高的稳定性和一致性。

通常，模拟集成电路测试系统精度的稳定性和一致性是靠调试技术来保证，但这种方法难以保证各量程的精度。在实际应用中，如果用户对原来的电源模块进行了调整，或与其他测试系统的同类电源模块进行交换或借用，由于原来保存在计算机里的相关数据与硬件不对应，则测试精度无法保证。

中国专利授权公开号：CN102938646A，授权公开日2013年2月20日，公开了一种混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块，所述微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入通道选择电路以选择多路DAC模块的通道，并将选择的通道存储在锁存译码单元；多路DAC模块通过对输入信号经过模拟输出，并将模拟输出的结果以及通道传递给控制装置，并通过控制装置对多路DAC模块进行反馈调节。该发明的不足之处是，无法有效保证测试系统精度的稳定性和一致性。

发明内容

本发明的发明目的是为了克服现有技术中的模拟集成电路测试系统受用户电源模块调整的影响，无法有效保证测试系统精度稳定性和一致性的不足，提供了一种能够有效保证测试系统精度的稳定性和一致性的用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，所述模拟集成电路测试系统包括计算机、并行总线和若干个电源模块，每个电源模块包括FPGA大规模集成电路模块、EEPROM数据存储器和若干个电源通道，每个电源通道包括若干个电压量程和若干个电流量程，FPGA大规模集成电路模块和EEPROM数据存储器电连接，计算机通过并行总线与各个电源模块的FPGA大规模集成电路模块电连接，万用表与计算机电连接；包括如下步骤：

(1-1)计算机中设有误差阈值e，每个通道的通道号Channel，每个量程的编号RangCh；将电源模块的各个通道的各个量程分别与校验模块电连接，所述校验模块包括若干个继电器，每个继电器一端与电压量程或电流量程电连接，每个继电器另一端与精密电阻一端电连接，各个精密电阻另一端相互电连接；

(1-2)计算电压修正参数：

(1-2-1)使用万用表检测每个通道的每个电压量程输出到校验模块上的至少2个电压值，取其中任意两个测量电压值X₁，X₂；

(1-2-2)在计算机中设有与X₁相对应的理论输出电压值Y₁，与X₂相对应的理论输出电压值Y₂；

将X₁，X₂，Y₁和Y₂代入公式Y＝GAIN×X+OFFSET中，计算得到所述电压量程的电压修正参数GAIN和OFFSET；

(1-2-3)利用GAIN、OFFSET和y′＝GAIN×x′+OFFSET对所述电压量程中的电压值x′进行修正，得到电压修正值y′；

设定v_max为所述电压量程的最大值，v_min则为所述电压量程的最小值；

当则重新检测所述电压量程输出到校验模块上的至少2个电压值，取其中任意两个测量电压值X₁，X₂，转入步骤(1-2-2)；

当则将电压修正参数GAIN和OFFSET存储到计算机中；

(1-3)计算电流修正参数，构成数据库：

(1-3-1)使用万用表检测每个通道的每个电流量程输出到校验模块上的至少2个电流值，取其中任意两个测量电流值X₁′，X₂′；

(1-3-2)在计算机中设有与X₁′相对应的理论输出电流值Y₁′，与X₂′相对应的理论输出电流值Y₂′；

将X₁′，X₂′，Y₁′和Y₂′代入公式Y′＝GAIN′×X′+OFFSET′中，计算得到所述电流量程的电流修正参数GAIN′和OFFSET′；

(1-3-3)利用GAIN′、OFFSET′和y″＝GAIN′×x″+OFFSET′对所述电流量程中的电流值x″进行修正，得到电流修正值y″，设定i_max为所述电流量程的最大值，i_min则为所述电流量程的最小值；

当则重新检测所述电流量程输出到校验模块上的至少2个电流值，取其中任意两个测量电流值X₁′，X₂′，转入步骤(1-3-2)；

当则将电流修正参数GAIN′和OFFSET′存储到计算机中，存储在计算机中的GAIN、OFFSET、GAIN′和OFFSET′的数据构成数据库；

(1-4)计算存储地址：

计算机利用公式ADD₁＝256Channel+8RangCh+AddOffset₁计算GAIN的存储地址ADD₁，利用公式ADD₂＝256Channel+8RangCh+AddOffset₂计算OFFSET的存储地址ADD₂；其中，AddOffset₁为计算机中设定的电压修正参数GAIN的偏移地址，AddOffset₂为计算机中设定的电压修正参数OFFSET的偏移地址；

计算机利用公式ADD₃＝256Channel+8RangCh+AddOffset₃计算GAIN′的存储地址ADD₃，利用公式ADD₄＝256Channel+8RangCh+AddOffset₄计算OFFSET′的存储地址ADD₄；其中，AddOffset₃为计算机中设定的电流修正参数GAIN′的偏移地址，AddOffset₄为计算机中设定的电流修正参数OFFSET′的偏移地址；

(1-5)将GAIN、OFFSET、GAIN′和OFFSET′转换成16进制数据：

(1-5-1)计算机利用公式EEPGAIN＝(k(GAIN-dat₁)+c)dat₂计算GAIN的16进制数据EEPGAIN；

计算机利用公式EEPGAIN′＝(k(GAIN′-dat₁′)+c)dat₂计算GAIN′的16进制数据EEPGAIN′；

其中，dat₁为计算机中设定的GAIN最小值，dat₁′为计算机中设定的GAIN′最小值，k为设定的修正系数，c为设定的误差补偿系数，dat₂为65535的十六进制数值；

(1-5-2)计算机利用公式

计算OFFSET的16进制数据EEPOFFSET；

利用公式计算OFFSET′的16进制数据EEPOFFSET′；其中，k₁为设定的修正系数，c₁为设定的误差补偿系数；

(1-5-3)将EEPGAIN、EEPGAIN′、EEPOFFSET和EEPOFFSET′分别按照(1-4)中计算得到的对应的存储地址存储到EEPROM中；

(1-6)电压参数数据更新：

(1-6-1)计算机调用与每个电压量程相对应的EEPROM中的EEPGAIN和EEPOFFSET，并按照步骤(1-5)将计算机中当前存储的所述电压修正参数GAIN、OFFSET转换成16进制数据，将EEPGAIN和EEPOFFSET与GAIN、OFFSET转换得到的数据分别进行比较；

(1-6-2)当EEPGAIN与GAIN转换得到的数据不同和\或EEPOFFSET与OFFSET转换得到的数据不同时，

计算机利用公式计算GAIN，计算机利用公式计算OFFSET；用计算得到的GAIN和OFFSET更新数据库中相对应的数据；

(1-7)电流参数数据更新：

(1-7-1)计算机调用与每个电流量程相对应的EEPROM中的EEPGAIN′和EEPOFFSET′，并按照步骤(1-5)将计算机中当前存储的所述电流修正参数GAIN′、OFFSET′转换成16进制数据，将EEPGAIN′和EEPOFFSET′与GAIN′、OFFSET′转换得到的数据分别进行比较；

(1-7-2)当EEPGAIN′与GAIN′转换得到的数据不同和\或EEPOFFSET′与OFFSET′转换得到的数据不同时，

利用公式计算GAIN′；

利用公式计算OFFSET′；

用计算得到的GAIN′和OFFSET′更新数据库中相对应的数据；

(1-8)计算每个量程的输出值：

(1-8-1)计算每个电压量程的输出值：

将各个电源模块与被测试电路电连接，计算机利用公式y＝GAINx+OFFSET计算每个电压量程的输出电压值y，其中x为所述电压量程的理论电压值；

(1-8-2)计算每个电流量程的输出值：

计算机利用公式I₂＝GAIN′I₁+OFFSET′计算每个电流量程的输出电流值I₂，其中I₁为所述电流量程的理论电流值；

(1-9)计算机控制各个电源模块按照y和I₂给被测试电路输出电压及电流。

通常，模拟集成电路测试系统精度的稳定性和一致性是靠调试技术来保证，但这种方法难以保证各档位的精度。因此，本发明采用标准万用表读取的数据和理论数据进行比较计算，获得各量程的修正参数。

模拟集成电路测试系统使用电压量程输出电压时，使用电压修正参数对输出的电压进行修正；模拟集成电路测试系统使用电流量程输出电流时，使用电流修正参数对输出的电流进行修正，从而达到提高系统的驱动精度及测试精度的目的。

电流及电压修正参数保存在测试系统的计算机的数据库中，当用户改变电源模块，使用存储在电源模块的EEPROM中的数据对数据库中的数据进行更新，因此，对电源模块进行更换不会造成计算机中存储的修正参数与电源模块中的修正参数不匹配的问题，从而保证了模拟集成电路测试系统精度的稳定性和一致性。

本发明的精度保证技术改变了传统的数据保存和管理技术，将修正参数保存在EEPROM数据存储器中，数据的安全性、稳定性和一致性。

作为优选，所述校验模块还包括电压端口MV、电流端口MI和接地端口GND；各个继电器均为TN2-12型继电器；所述校验模块的第一继电器的第2、第7管脚接地，第一继电器的第3管脚与第二继电器的第2管脚电连接，第一继电器的第8管脚与第二继电器的第7管脚电连接，第二继电器的第3管脚和第8管脚与电流端口MI电连接；接地端口GND分别与第一继电器的第2、第7管脚和第二继电器的第3、第8管脚电连接；第一继电器和第二继电器之外的其它继电器的第2管脚与电流量程电连接，第7管脚通过电压端口MV与电压量程电连接，第3、第8管脚分别与精密电阻一端电连接，精密电阻另一端与电流端口MI电连接。

测量时，每个电压量程或电流量程依次接通，并用万用表检测。

当测量电压量程时，万用表的两个探头分别与电压端口MV和接地端口GND电连接；当测量电流量程时，万用表的两个探头分别与电流端口MI和接地端口GND电连接。

作为优选，所述万用表是6位半数字万用表或8位半数字万用表，所述万用表通过GPIB通信接口与计算机电连接。

万用表是经过计量局计量合格的6位半数字万用表或更高级的8位半万用表，所用的万用表要具备GPIB的通信功能，该通信接口与计算机相连，计算机软件通过GPIB接口自动获取万用表测试得到的电压和电流值。

作为优选，所述dat1和dat₁′均为0.5-1.5。

作为优选，所述c和c₁均为0.4-0.6。

作为优选，k和k₁均为15000至17000。

作为优选，误差阈值e为0.2％至1％。

因此，本发明具有如下有益效果：(1)每个电源模块的修正参数存储在其EEPROM中，保证了系统精度的安全性、一致性和稳定性。(2)用户可以按需随意改变电源模块，控制器会调用EEPROM中存储的修正参数对计算机中的数据库信息及时进行更新；无需重新校正数据，保证了系统精度的稳定性和一致性。

附图说明

图1是本发明的一种原理框图；

图2是本发明的实施例的一种流程图；

图3是本发明的校验模块的一种电路图。

图中：计算机1、并行总线2、电源模块3、大规模集成电路模块4、EEPROM数据存储器5、电源通道6、电压量程7、电流量程8、万用表9、GPIB接口10、第一继电器11、其它继电器12、精密电阻13。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的描述。

如图1所示的实施例是一种用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，模拟集成电路测试系统包括计算机1、并行总线2和电源模块3，每个电源模块包括FPGA大规模集成电路模块4、EEPROM数据存储器5和电源通道6，每个电源通道包括电压量程7和电流量程8，FPGA大规模集成电路模块和EEPROM数据存储器电连接，计算机通过并行总线与各个电源模块的FPGA大规模集成电路模块电连接，万用表9与计算机电连接；包括如下步骤：

如图2所示，步骤100，计算机中设有误差阈值e，每个通道的通道号Channel，每个量程的编号RangCh；将电源模块的各个通道的各个量程分别与校验模块电连接；

校验模块的每个继电器一端与电压量程或电流量程电连接，每个继电器另一端与精密电阻14一端电连接，各个精密电阻另一端相互电连接；

步骤200，计算电压修正参数：

步骤210，使用万用表检测每个通道的每个电压量程输出到校验模块上的2个电压值，取其中任意两个测量电压值X₁，X₂；

步骤220，在计算机中设有与X₁相对应的理论输出电压值Y₁，与X₂相对应的理论输出电压值Y₂；

将X₁，X₂，Y₁和Y₂代入公式Y＝GAIN×X+OFFSET中，得到Y₁＝GAIN×X₁+OFFSET和Y₂＝GAIN×X₂+OFFSET，并计算得到电压量程的电压修正参数GAIN和OFFSET；

步骤230，利用GAIN、OFFSET和y′＝GAIN×x′+OFFSET对电压量程中的每一个电压值x′进行修正，得到电压量程中的每一个电压修正值y′；

v_max为电压量程的最大值，v_max＝50V，v_min为电压量程的最小值，v_min＝1.0V；

当则重新检测所述量程输出到校验模块上的2个电压值，取其中任意两个测量电压值X₁，X₂，转入步骤220；

当则将电压修正参数GAIN和OFFSET存储到计算机中；

步骤300，计算电流修正参数，构成数据库：

步骤310，使用万用表检测每个通道的每个电流量程输出到校验模块上的2个电流值，取其中任意两个测量电流值X₁′，X₂′；

步骤320，在计算机中设有与X₁′相对应的理论输出电流值Y₁′，与X₂′相对应的理论输出电流值Y₂′；

将X₁′，X₂′，Y₁′和Y₂′代入公式Y′＝GAIN′×X′+OFFSET′中，得到Y₁′＝GAIN′×X₁′+OFFSET′和Y₂′＝GAIN′×X₂′+OFFSET′，并计算得到电流量程的电流修正参数GAIN′和OFFSET′；

步骤330，利用GAIN′、OFFSET′和y″＝GAIN′×x″+OFFSET′对电流量程中的电流值x″进行修正，得到电流修正值y″，i_max为电流量程的最大值，i_max＝10A，i_min为电流量程的最小值，i_min＝200nA；

当则重新检测电流量程输出到校验模块上的2个电流值，取其中任意两个测量电流值X₁′，X₂′，转入步骤320；

当则将电流修正参数GAIN′和OFFSET′存储到计算机中，存储在计算机中的GAIN、OFFSET、GAIN′和OFFSET′的数据构成数据库；

步骤400，计算存储地址：

计算机利用公式ADD₁＝256Channel+8RangCh+AddOffset₁计算GAIN的存储地址ADD₁，利用公式ADD₂＝256Channel+8RangCh+AddOffset₂计算OFFSET的存储地址ADD₂；其中，AddOffset₁为计算机中设定的电压修正参数GAIN的偏移地址，AddOffset₂为计算机中设定的电压修正参数OFFSET的偏移地址；

计算机利用公式ADD₃＝256Channel+8RangCh+AddOffset₃计算GAIN′的存储地址ADD₃，利用公式ADD₄＝256Channel+8RangCh+AddOffset₄计算OFFSET′的存储地址ADD₄；其中，AddOffset₃为计算机中设定的电流修正参数GAIN′的偏移地址，AddOffset₄为计算机中设定的电流修正参数OFFSET′的偏移地址；

步骤500，将GAIN、OFFSET、GAIN′和OFFSET′转换成16进制数据：

步骤510，计算机利用公式EEPGAIN＝(k(GAIN-dat₁)+c)dat₂计算GAIN的16进制数据EEPGAIN；

计算机利用公式EEPGAIN′＝(k(GAIN′-dat₁′)+c)dat₂计算GAIN′的16进制数据EEPGAIN′；

其中，dat₁为计算机中设定的GAIN最小值，dat₁′为计算机中设定的GAIN′最小值，k为设定的修正系数，c为设定的误差补偿系数，dat₂为65535的十六进制数值OXFFFF；

步骤520，计算机利用公式

计算OFFSET的16进制数据EEPOFFSET；

利用公式计算OFFSET′的16进制EEPOFFSET′；其中，k₁为设定的修正系数，c₁为设定的误差补偿系数；

步骤530，将EEPGAIN、EEPGAIN′、EEPOFFSET和EEPOFFSET′分别按照步骤400中计算得到的对应的存储地址存储到EEPROM中；

步骤600，电压参数数据更新：

步骤610，计算机调用与每个电压量程相对应的EEPROM中的EEPGAIN和EEPOFFSET，并按照步骤500将计算机中当前存储的电压修正参数GAIN、OFFSET转换成16进制数据，将EEPGAIN和EEPOFFSET与GAIN、OFFSET转换得到的数据分别进行比较；

步骤620，当EEPGAIN与GAIN转换得到的数据不同和\或EEPOFFSET与OFFSET转换得到的数据不同时，

计算机利用公式计算GAIN，计算机利用公式计算OFFSET；用计算得到的GAIN和OFFSET更新数据库中相对应的GAIN和OFFSET数据；

步骤700，电流参数数据更新：

步骤710，计算机调用与每个电流量程相对应的EEPROM中的EEPGAIN′和EEPOFFSET′，并按照步骤500将计算机中当前存储的所述量程GAIN′、OFFSET′转换成16进制数据，将EEPGAIN′和EEPOFFSET′与GAIN′、OFFSET′转换得到的数据分别进行比较；

步骤720，当EEPGAIN′与GAIN′转换得到的数据不同和\或EEPOFFSET′与OFFSET′转换得到的数据不同时，

利用公式计算GAIN′；

利用公式计算OFFSET′；

用计算得到的GAIN′和OFFSET′更新数据库中相对应的GAIN′和OFFSET′数据。

步骤800，计算每个量程的输出值：

步骤810，计算每个电压量程的输出值：

将各个电源模块与被测试电路电连接，计算机利用公式y＝GAINx+OFFSET计算每个电压量程的输出电压值y，其中x为所述电压量程的理论电压值；

步骤820，计算每个电流量程的输出值：

计算机利用公式I₂＝GAIN′I₁+OFFSET′计算每个电流量程的输出电流值I₂，其中I₁为所述电流量程的理论电流值；

步骤900，计算机控制各个电源模块按照y和I₂给被测试电路输出电压及电流。

如图3所示，所述校验模块还包括电压端口MV、电流端口MI和接地端口GND；各个继电器均为TN2-12型继电器；所述校验模块的第一继电器11的第2、第7管脚接地，第一继电器的第3管脚与第二继电器的第2管脚电连接，第一继电器的第8管脚与第二继电器的第7管脚电连接，第二继电器的第3管脚和第8管脚与电流端口MI电连接；接地端口GND分别与第一继电器的第2、第7管脚和第二继电器的第3、第8管脚电连接；第一继电器和第二继电器之外的其它继电器12的第2管脚与电流量程电连接，第7管脚通过电压端口MV与电压量程电连接，第3、第8管脚分别与精密电阻一端电连接，精密电阻另一端与电流端口MI电连接。

图3中，VIPCH代表电流信号，VISCH代表电压信号。

万用表是6位半数字万用表，万用表通过GPIB通信接口10与计算机电连接。

本实施例中dat1和dat₁′均为0.5，c和c₁均为0.4，k和k₁均为15000，误差阈值e为1％。

本发明可实现校准数据跟随电源模块功能，允许用户在同类测试系统之间随意交换模块和变更配置，无需重新校准同样能达到原来的系统精度，有效解决了用户对模拟测试系统变更配置后必须对测试系统重新校准后才能正常使用的难题，是对模拟测试系统配置变更传统做法的一次革命。

应理解，本实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。此外应理解，在阅读了本发明讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。

Claims (7)

1.一种用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，所述模拟集成电路测试系统包括计算机(1)、并行总线(2)和若干个电源模块(3)，每个电源模块包括FPGA大规模集成电路模块(4)、EEPROM数据存储器(5)和若干个电源通道(6)，每个电源通道包括若干个电压量程(7)和若干个电流量程(8)，FPGA大规模集成电路模块和EEPROM数据存储器电连接，计算机通过并行总线与各个电源模块的FPGA大规模集成电路模块电连接，万用表(9)与计算机电连接；其特征是，包括如下步骤：

(1-1)计算机中设有误差阈值e，每个通道的通道号Channel，每个量程的编号RangCh；将电源模块的各个通道的各个量程分别与校验模块电连接，所述校验模块包括第一继电器、第二继电器和多个其它继电器，每个其它继电器一端与电压量程或电流量程电连接，每个其它继电器另一端与精密电阻(13)一端电连接，各个精密电阻另一端相互电连接；

(1-2)计算电压修正参数：

(1-2-1)使用万用表检测每个通道的每个电压量程输出到校验模块上的至少2个电压值，取其中任意两个测量电压值X₁，X₂；

(1-2-2)在计算机中设有与X₁相对应的理论输出电压值Y₁，与X₂相对应的理论输出电压值Y₂；

将X₁，X₂，Y₁和Y₂代入公式Y＝GAIN×X+OFFSET中，计算得到所述电压量程的电压修正参数GAIN和OFFSET；

(1-2-3)利用GAIN、OFFSET和y′＝GAIN×x′+OFFSET对所述电 压量程中的电压值x′进行修正，得到电压修正值y′；

设定v_max为所述电压量程的最大值，v_min则为所述电压量程的最小值；

当则重新检测所述电压量程输出到校验模块上的至少2个电压值，取其中任意两个测量电压值X₁，X₂，转入步骤(1-2-2)；

当则将电压修正参数GAIN和OFFSET存储到计算机中；

(1-3)计算电流修正参数，构成数据库：

(1-3-1)使用万用表检测每个通道的每个电流量程输出到校验模块上的至少2个电流值，取其中任意两个测量电流值X₁′，X₂′；

(1-3-2)在计算机中设有与X₁′相对应的理论输出电流值Y₁′，与X₂′相对应的理论输出电流值Y₂′；

将X₁′，X₂′，Y₁′和Y₂′代入公式Y′＝GAIN′×X′+OFFSET′中，计算得到所述电流量程的电流修正参数GAIN′和OFFSET′；

(1-3-3)利用GAIN′、OFFSET′和y″＝GAIN′×x″+OFFSET′对所述电流量程中的电流值x″进行修正，得到电流修正值y″，设定i_max为所述电流量程的最大值，i_min则为所述电流量程的最小值；

当则重新检测所述电流量程输出到校验模块上的至少2个电流值，取其中任意两个测量电流值X₁′，X₂′，转入步骤(1-3-2)；

当则将电流修正参数GAIN′和OFFSET′存储到计算机中，存储在计算机中的GAIN、OFFSET、GAIN′和OFFSET′的数据构成数据库；

(1-4)计算存储地址：

计算机利用公式ADD₁＝256Channel+8RangCh+AddOffset₁计算GAIN的存储地址ADD₁，利用公式ADD₂＝256Channel+8RangCh+AddOffset₂计算OFFSET的存储地址ADD₂；其中，AddOffset₁为计算机中设定的电压修正参数GAIN的偏移地址，AddOffset₂为计算机中设定的电压修正参数OFFSET的偏移地址；

计算机利用公式ADD₃＝256Channel+8RangCh+AddOffset₃计算GAIN′的存储地址ADD₃，利用公式

ADD₄＝256Channel+8RangCh+AddOffset₄计算OFFSET′的存储地址ADD₄；其中，AddOffset₃为计算机中设定的电流修正参数GAIN′的偏移地址，AddOffset₄为计算机中设定的电流修正参数OFFSET′的偏移地址；

(1-5)将GAIN、OFFSET、GAIN′和OFFSET′转换成16进制数据：

(1-5-1)计算机利用公式EEPGAIN＝(k(GAIN-dat₁)+c)dat₂计算GAIN的16进制数据EEPGAIN；

计算机利用公式EEPGAIN′＝(k(GAIN′-da₁′)+c)dat₂计算GAIN′的16进制数据EEPGAIN′；

其中，dat₁为计算机中设定的GAIN最小值，da₁′为计算机中设定的GAIN′最小值，k为设定的修正系数，c为设定的误差补偿系数，dat₂为65535的十六进制数值；

(1-5-2)计算机利用公式

计算OFFSET的16进制数据EEPOFFSET；

利用公式计算OFFSET′的16进制数据EEPOFFSET′；其中，k₁为设定的修正系数，c₁为设定的误差补偿系数；

(1-5-3)将EEPGAIN、EEPGAIN′、EEPOFFSET和EEPOFFSET′分别按照(1-4)中计算得到的对应的存储地址存储到EEPROM中；

(1-6)电压参数数据更新：

(1-6-1)计算机调用与每个电压量程相对应的EEPROM中的EEPGAIN和EEPOFFSET，并按照步骤(1-5)将计算机中当前存储的所述电压修正参数GAIN、OFFSET转换成16进制数据，将EEPGAIN和EEPOFFSET与GAIN、OFFSET转换得到的数据分别进行比较；

(1-6-2)当EEPGAIN与GAIN转换得到的数据不同和\或EEPOFFSET与OFFSET转换得到的数据不同时，

计算机利用公式计算GAIN，计算机利用公式计算OFFSET；用计算得到的GAIN和OFFSET更新数据库中相对应的数据；

(1-7)电流参数数据更新：

(1-7-1)计算机调用与每个电流量程相对应的EEPROM中的EEPGAIN′和EEPOFFSET′，并按照步骤(1-5)将计算机中当前存储的所述电流修正参数GAIN′、OFFSET′转换成16进制数据，将EEPGAIN′和EEPOFFSET′与GAIN′、OFFSET′转换得到的数据分别进行比较；

(1-7-2)当EEPGAIN′与GAIN′转换得到的数据不同和\或EEPOFFSET′与OFFSET′转换得到的数据不同时，

利用公式计算GAIN′；

利用公式计算OFFSET′；

用计算得到的GAIN′和OFFSET′更新数据库中相对应的数据；

(1-8)计算每个量程的输出值：

(1-8-1)计算每个电压量程的输出值：

将各个电源模块与被测试电路电连接，计算机利用公式y＝GAINx+OFFSET计算每个电压量程的输出电压值y，其中x为所述电压量程的理论电压值；

(1-8-2)计算每个电流量程的输出值：

计算机利用公式I₂＝GAIN′I₁+OFFSET′计算每个电流量程的输出电流值I₂，其中I₁为所述电流量程的理论电流值；

(1-9)计算机控制各个电源模块按照y和I₂给被测试电路输出电压及电流。

2.根据权利要求1所述的用于提高模拟集成电路测试系统精度 的方法，其特征是，所述校验模块还包括电压端口MV、电流端口MI和接地端口GND；各个继电器均为TN2-12型继电器；所述校验模块的第一继电器(11)的第2、第7管脚接地，第一继电器的第3管脚与第二继电器的第2管脚电连接，第一继电器的第8管脚与第二继电器的第7管脚电连接，第二继电器的第3管脚和第8管脚与电流端口MI电连接；接地端口GND分别与第一继电器的第2、第7管脚和第二继电器的第3、第8管脚电连接；多个其它继电器(12)的第2管脚与电流量程电连接，第7管脚通过电压端口MV与电压量程电连接，第3、第8管脚分别与精密电阻一端电连接，精密电阻另一端与电流端口MI电连接。

3.根据权利要求1所述的用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，其特征是，所述万用表是6位半数字万用表或8位半数字万用表，所述万用表通过GPIB通信接口(10)与计算机电连接。

4.根据权利要求1所述的用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，其特征是，所述dat1和dat₁′均为0.5-1.5。

5.根据权利要求1所述的用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，其特征是，所述c和c₁均为0.4-0.6。

6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，其特征是，k和k₁均为15000至17000。

7.根据权利要求1或2或3或4或5所述的用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法，其特征是，误差阈值e为0.2％至1％。