CN101201393A - 一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，是采用计算机软件对校准过程中进行控制，校准时，通过各个校准点获得的实际值(即设定值)、测量值，由主芯片计算出每二个校准点之间的线性关系值，并将各校准点的线性关系值存储在存储器中供实测时使用，实测时，只要判定该测量值是处在那两个校准点的测量值之间，就可以利用该两个校准点之间的线性变化关系值而得到实际值与测量值之间的关系，并进而得出实际值。该校准方法可在不拆开机箱的情况下对继电器测试仪的精度进行校准，具有免拆机箱，节约工时，使仪器精度的校准更简单，方便，只需按步骤操作即可的特点，同时还可减少因人为因素造成的误判。

Description

一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法

技术领域

本发明涉及继电器测试仪，特别是涉及一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法。

背景技术

继电器是一种具有隔离功能的自动开关元件，被广泛应用于遥控、遥测、通讯、自动控制、机电一体化及电力电子设备中，是最重要的控制元件之一。为了保证继电器的使用效果，通常需要采用继电器综合参数测试仪对继电器的一些参数进行检测，比如对线圈电阻的测试、接触电阻的测试、吸合/释放电压的测试、吸合/释放时间的测试等等，因此，在继电器综合参数测试仪中就设有对线圈电阻、接触电阻、电压、时间参数、电流、温度等的测试功能。由于受环境及元器件特性的影响，继电器综合参数测试仪经过一段时间的使用后，精度一般会引起一定的偏差，使得对线圈电阻、接触电阻、电压、时间参数、电流、温度等的测试会产生误差，为了保证仪器的精度，通常必须对仪器的精度进行调整，生产线上的继电器综合参数测试仪正常每六个月都必须对其精度进行一次校准。现有技术的继电器综合参数测试仪的精度校准的方式，通常是靠调整元器件的参数来实现的，比如对测试电阻的调整，是在测试接口接入标准的电阻箱，通过比较测试仪显示的电阻值与标准电阻箱的电阻值之间的差异，然后调节仪器中测试电阻电路的电位器，使测试仪显示的电阻值与标准电阻箱的电阻值相一致；再比如，对测试电压的调整，是在测试接口接入精确电压表，通过比较测试仪显示的电压值与精确电压表的电压值读数之间的差异，然后调节仪器中测试电压电路的电位器，使测试仪显示的电压值与精确电压表的电压读数相一致。现有技术的这种精度校准方法存在着如下弊端：一是，校准时必须拆开机箱，调整起来非常不便，造成校准过程的烦琐；二是，校准时要不断地调整对应测试参数电路的电位器，校准速度慢，对校准人员的要求较高；三是，对于测试值与实际值为非线性关系的参数，采用这种方式难以达到各测试点精度的一致。

实用新型内容

本发明的目的在于克服现有技术之不足，提供一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，是通过将计算机程序内置在继电器综合参数测试仪的主芯片中运行，可以在不拆开机箱的情况下即可对继电器综合参数测试仪的所有测试参数的精度进行校准，具有免拆机箱，节约工时，使仪器精度的校准更简单，方便，且对校准人员的要求很低，只需按步骤操作即可的特点，同时还可减少因人为因素造成的误判。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，包括如下步骤：

a1.预先选定被测参数的若干个校准点数值，并将所选定的校准点数值存储在继电器综合参数测试仪内的存储器中；所述校准点至少包括0数值点和最大量程值点；

a2.在继电器综合参数测试仪的参数测试接口中接入标准的所述参数的测试仪表或仪器；

a3.进入校准；

a4.在继电器综合参数测试仪的校准显示界面中，显示由继电器综合参数测试仪内主芯片根据预先选定的第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值；所述n的初始值置为0；

a5.调节继电器综合参数测试仪的测试接口的数值，使所述测试接口的数值与上述第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值相一致；

a6.继电器综合参数测试仪的主芯片采集测试电路中在第n个校准点对所述参数测试过程所产生的测量值；

a7.继电器综合参数测试仪的主芯片将第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值记为Yn，将测试仪在第n个校准点所产生的测量值记为Xn，由Xn、Yn通过下列公式可获得第一系数kn和第二系数bn：

当n＝0时，

k₀＝Y₀/X₀

b₀＝0

当n≠0时，

kn＝(Yn-Yn-1)/(Xn-Xn-1)

bn＝Yn-kn Xn

继电器综合参数测试仪的主芯片将计算后获得kn、bn和Xn的值存入EEPROM存储器中；

a8.进入下一个校准点n＝n+1；所述校准点的前后顺序由所述参数的数值由小到大顺次排列；

a9.继电器综合参数测试仪的主芯片对校准点n值进行比较判断，当n值不大于最大量程值点的排列位的值时，重复步骤a4；当n值大于最大量程值点的排列位的值时，退出校准。

本发明的一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，适用于对继电器综合参数测试仪中所有测试参数的精度校准，包括对线圈电阻、接触电阻、电压、时间、电流、温度等测试参数的精度校准。

本发明的一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，经过上述校准后，在继电器综合参数测试仪的EEPROM存储器中就对应存储有对应于各参数的kn、bn和Xn的值，这样，在实测过程中，就可以利用kn、bn和Xn的值来实现精确测量所述参数。

在参数校准后的实测过程，包括如下步骤：

c1.将继电器综合参数测试仪的测试接口与继电器相连接，并选择对应的参数测试；

c2.进入所述参数的测量；

c3.继电器综合参数测试仪的主芯片采集测试电路中对所述参数测试过程所产生的测量值X；

c4.继电器综合参数测试仪的主芯片从EEPROM存储器中读出Xn的值，其中n为0至最大量程值点的排列位的值；

c5.继电器综合参数测试仪的主芯片将测量值X与Xn值相比较，当测量值X不大于Xn值时转至步骤c8，否则进入下一步骤；所述n的初始值置为0；

c6.将n值累加1；

c7.继电器综合参数测试仪的主芯片对n值进行判断，当n值不小于最大量程值点的排列位的值时，进入下一步骤，否则重复步骤c5；

c8.继电器综合参数测试仪的主芯片对n值是否为0进行判断，并显示实测值；

当n＝0时，实测值：Y＝k₀X

当n≠0时，实测值：Y＝knX+bn

c9.退出测量。

本发明的有益效果是，由于采用了计算机软件对校准过程中进行控制，在校准过程中，通过各个校准点获得的设定值(即相当于实际值)、测量值，由主芯片计算出每二个校准点之间的线性变化参数，虽然有些参数的实际值与测量值并非呈线性关系，但是，在小段范围内，仍然可以假定为线性关系，只要校准点选择的足够多就可以了，有了校准点的实际值(即设定值)、测量值，就可以通过主芯片计算出实际值(即设定值)、测量值之间的线性关系值，即公式k₀＝Y₀/X₀；b₀＝0；kn＝(Yn-Yn-1)/(Xn-Xn-1)；bn＝Yn-kn Xn；有了各校准点的kn、bn和Xn的值，在实测阶段，只要判定该测量值是处在那两个校准点的测量值之间，就可以利用该两个校准点之间的线性变化参数而得到实际值与测量值之间的关系，并进而得出实际值，这种校准方法，它无须拆开机箱节约工时，无须对电位器进行调节，因此，在仪器中也无须使用电位器，对电器元件的本身精度要求也无须太高，它的另一个好处是对校准人员的要求也很低，只需按步骤操作即可，同时也减轻了校准人员的劳动工作强度，使仪器精度的校准更简单，方便，同时还减少了因人为因素造成的误判。

以下结合附图及实施例对本发明作进一步详细说明；但本发明的一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法不局限于实施例。

附图说明

图1是本发明测量值——实际值的关系图；

图2是本发明校准的流程图；

图3是本发明实测的流程图；

图4是实施例一本发明用于测试电阻的硬件示意图；

图5是实施例二本发明用于测试电压的硬件示意图。

具体实施方式

实施例一，参见图1至图4所示，本发明的一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，用于对测试电阻的校准，比如线圈电阻测试、接触电阻测试，其硬件包括主芯片1、信号放大处理电路2、显示芯片3、LED显示器4、恒流源5、存储器6，实现本发明的方法时，包括如下步骤：

步骤a1.预先选定电阻参数的若干个校准点数值，并将所选定的校准点数值存储在继电器综合参数测试仪内的存储器6中；所述校准点至少包括0数值点和最大量程值点；当然，根据需要也可以对被测参数分成几个阶段量程来进行校准，此时每个校准阶段的量程的最大量程值点并不是测试该参数时的最大量程，而是对应于所述参数的最大量程范围内分成几个校准量程阶段中的每一个量程阶段的最大量程，然后，分成几个阶段量程来进行校准；

步骤a2.在继电器综合参数测试仪的电阻测试接口中接入标准电阻箱7；

步骤a3.进入校准，如流程图的框201所示；

步骤a4.在继电器综合参数测试仪的校准显示界面中，显示由继电器综合参数测试仪内主芯片1根据预先选定的第n个校准点所设定的作为实际值的电阻值；本实施例的校准点设为5个，当然，也可以多于5个或少于5个，这主要根据精度要求来定；所述n的初始值置为0；

步骤a5.调节继电器综合参数测试仪的测试接口所接标准电阻箱7的阻值R，使标准电阻箱的阻值R与上述第n个校准点所设定的作为实际值的电阻值相一致；完成上述动作后，按下校准确认键如流程图的框202所示；

步骤a6.继电器综合参数测试仪的主芯片1采集测试电路中在第n个校准点对上述电阻测试过程所产生的测量值；

步骤a7.继电器综合参数测试仪的主芯片1将第n个校准点所设定的作为实际值的电阻值的数值记为Yn，本实施例共有5个校准点，则对应于5个校准点的实际值分别为Y₀、Y₁、Y₂、Y₃、Y₄；将测试仪在第n个校准点所产生的测量值记为Xn，同样对应于5个校准点的测量值分别为X₀、X₁、X₂、X₃、X₄；由Xn、Yn通过下列公式可获得第一系数kn和第二系数bn；此时，主芯片1要对校准点n是否为0进行判断，如流程图的框203所示；

当n＝0时，则第一系数、第二系数分别为：

k₀＝Y₀/X₀

b₀＝0

如流程图的框204所示；

当n≠0时，则第一系数kn和第二系数bn分别为：

kn＝(Yn-Yn-1)/(Xn-Xn-1)

bn＝Yn-kn Xn

如流程图的框205所示；

比如n＝1的校准点，则

k₁＝(Y₁-Y₀)/(X₁-X₀)

b₁＝Y₁-k₁X₁

依此类推；

继电器综合参数测试仪的主芯片1将kn、bn和Xn的值存入EEPROM存储器6中，如流程图的框206所示；

步骤a8.进入下一个校准点n＝n+1，如流程图的框207所示；所述校准点的前后顺序由电阻的数值从小到大顺次排列；所述校准点至少包括0值点和最大量程值点，本实施例的最大量程值点为n＝4；

步骤a9.继电器综合参数测试仪的主芯片1对校准点n值进行比较判断，如流程图的框208所示，当n值不大于最大量程值点的排列位的值时，即n≯4，重复步骤a4；当n值大于最大量程值点的排列位的值时，即n＞4，退出校准，如流程图的框209所示。

这样，通过上述校准，在继电器综合参数测试仪的EEPROM存储器6中就对应存储有对应于电阻测试参数的kn、bn和Xn的值，这样，在实测过程中，就可以利用kn、bn和Xn的值来实现精确测量电阻。

在电阻校准后的实测过程，包括如下步骤：

步骤c 1.将继电器综合参数测试仪的测试接口与继电器相连接，并选择对应的电阻测试；

步骤c2.进入电阻的测量，如流程图的框301所示；

步骤c3.继电器综合参数测试仪的主芯片1采集测试电路中对上述电阻测试过程所产生的测量值X；

步骤c4.继电器综合参数测试仪的主芯片1从EEPROM存储器6中读出Xn的值，如流程图的框302所示；其中n为0至最大量程值点的排列位的值；本实施例中，n值分别为0、1、2、3、4；

步骤c5.继电器综合参数测试仪的主芯片1将测量值X与Xn值相比较，如流程图的框303所示；当测量值X不大于Xn值时转至步骤c8，否则进入下一步骤；所述n的初始值置为0；

步骤c6.将n值累加1，如流程图的框304所示；

步骤c7.继电器综合参数测试仪的主芯片1对n值进行判断，如流程图的框305所示，当n值不小于最大量程值点的排列位的值时，进入下一步骤，否则重复步骤c5；

步骤c8.继电器综合参数测试仪的主芯片1对n值是否为0进行判断，如流程图的框306所示，并显示实测值；

当n＝0时，实测值：Y＝k₀X

当n≠0时，实测值：Y＝knX+bn

如流程图的框307、框308所示；

步骤c9.退出测量，如流程图的框309所示。

实施例二，参见图1至图3、图5所示，本发明的一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，用于电压的校准，其硬件包括主芯片1、显示芯片3、LED显示器4、存储器6、DAC芯片81、电压放大及稳压电路82，实现本发明的方法时，与实施例一的不同之处在于，

在步骤a1中是预先选定电压参数的若干个校准点数值；所述校准点至少包括0数值点和最大量程值点；当然，根据需要也可以对被测参数分成几个阶段量程来进行校准，此时每个校准阶段的量程的最大量程值点并不是测试该参数时的最大量程，而是对应于所述参数的最大量程范围内分成几个校准量程阶段中的每一个量程阶段的最大量程，然后，分成几个阶段量程来进行校准；

在步骤a2中是在继电器综合参数测试仪的电阻测试接口中接入精确电压表9；

在步骤a4中是显示由继电器综合参数测试仪内主芯片1根据预先选定的第n个校准点所设定的作为实际值的电压值；

在步骤a5中是调节测试仪的电压测试接口的电压输出，使精确电压表9读出的电压读数与上述第n个校准点所设定的作为实际值的电压值相一致；比如，上述的第n个校准点的设定电压值为3V，由于仪器的精度差，精确电压表9读出的电压读数并不为3V，可能超过3V，也可能小于3V，此时，就要通过调节仪器使精确电压表9读出的电压读数为3V，这个精确电压表9的读数就是Yn值，而此时测试仪的测量值为调节后的值，它比3V大或小，由此获得Xn。

本发明的一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，适用于对继电器综合参数测试仪中所有测试参数的精度校准，包括对线圈电阻、接触电阻、电压、时间、电流、温度等测试参数的精度校准。

上述实施例仅用来进一步说明本发明的一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，但本发明并不局限于实施例，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均落入本发明技术方案的保护范围内。

Claims (1)

1.一种继电器综合参数测试仪的精度闭壳校准的方法，其特征在于：包括如下步骤：

a1.预先选定被测参数的若干个校准点数值，并将所选定的校准点数值存储在继电器综合参数测试仪内的存储器中；所述校准点至少包括0数值点和最大量程值点；

a2.在继电器综合参数测试仪的参数测试接口中接入标准的所述参数的测试仪表或仪器；

a3.进入校准；

a4.在继电器综合参数测试仪的校准显示界面中，显示由继电器综合参数测试仪内主芯片根据预先选定的第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值；所述n的初始值置为0；

a5.调节继电器综合参数测试仪的测试接口的数值，使所述测试接口的数值与上述第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值相一致；

a6.继电器综合参数测试仪的主芯片采集测试电路中在第n个校准点对所述参数测试过程所产生的测量值；

a7.继电器综合参数测试仪的主芯片将第n个校准点所设定的作为实际值的所述参数的数值记为Yn，将测试仪在第n个校准点所产生的测量值记为Xn，由Xn、Yn通过下列公式可获得第一系数kn和第二系数bn：

当n＝0时，

k₀＝Y₀/X₀

b₀＝0

当n≠0时，

kn＝(Yn-Yn-1)/(Xn-Xn-1)

bn＝Yn-kn Xn

继电器综合参数测试仪的主芯片将计算后获得kn、bn和Xn的值存入EEPROM存储器中；

a8.进入下一个校准点n＝n+1；所述校准点的前后顺序由所述参数的数值由小到大顺次排列；

a9.继电器综合参数测试仪的主芯片对校准点n值进行比较判断，当n值不大于最大量程值点的排列位的值时，重复步骤a4；当n值大于最大量程值点的排列位的值时，退出校准。

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