CN103983653A - X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台 - Google Patents

X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台 Download PDF

Info

Publication number
CN103983653A
CN103983653A CN201410234255.4A CN201410234255A CN103983653A CN 103983653 A CN103983653 A CN 103983653A CN 201410234255 A CN201410234255 A CN 201410234255A CN 103983653 A CN103983653 A CN 103983653A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sample
ray diffractometer
multifunctional
measuring blocks
platform
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201410234255.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103983653B (zh
Inventor
杨波
韩丽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Qinghai Institute of Salt Lakes Research of CAS
Original Assignee
Qinghai Institute of Salt Lakes Research of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qinghai Institute of Salt Lakes Research of CAS filed Critical Qinghai Institute of Salt Lakes Research of CAS
Priority to CN201410234255.4A priority Critical patent/CN103983653B/zh
Publication of CN103983653A publication Critical patent/CN103983653A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103983653B publication Critical patent/CN103983653B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

本发明属于检测设备技术领域，具体公开了一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台。该多功能样品台包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板；所述定位蒙板设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；所述样品池的两侧边沿设置有水平泡。本发明以玻璃粉填充样品槽，既可对微量的粉末样品进行测试，也可对片状、大尺寸或不规则、不能裁剪、无法研磨成粉末的样品进行测试，有效解决了当前大尺寸样品无法测试或测试时必须裁剪样品才能测试等问题。

Description

X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台
【技术领域】
本发明属于检测设备技术领域，特别涉及一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台。
【背景技术】
目前，对于X射线粉末衍射仪，如荷兰帕纳科的X’Pert Pro、布鲁克及理学等知名品牌的衍射仪，厂家提供的多为用于测试粉末样品的玻璃样品浅槽，无法用于固体块状、片状样品的测试，特别是对于尺寸较大(待测试平面大于18×20mm)的样品或者对于长度和宽度都超过铝制样品架的较大尺寸固体块状样品无法直接上机测试时，往往通过裁减样品或通过改进样品测试架，这时候不可能对部分较大的固体块状样品进行无损测试，或者用线切割等方法将铝制样品测试架的外框裁切掉一部分，大大限制了衍射仪的应用范围。而当样品较大时，样品自重使得测试过程中往往导致测试面偏心而使测试结果失真，探求较大固体块状样品的简单、实用的测定方法是X射线衍射领域一个迫切需要解决的技术问题。
专利201220529658.8公开了一种X射线衍射仪样品测试架，其利用螺旋传动的原理，将载物台和螺杆连接在一起，工作时只需转动摇杆，螺杆便可带动载物台上下自由移动，从而可方便地调节试样的摆放高度。无论试样的尺寸过大还是过小，都可以很方便地放置在载物台上进行X射线扫描，而不再需要通过裁剪样品架等方法来对试样进行固定。该专利虽然利用水平测试仪调整被测试样的摆放位置，但是调节比较麻烦。专利200720174416.0公开了一种便于对薄片状固体样品进行测试的衍射仪样品台，其通过在传统样品台上添加支撑件、在操作过程中既要固定样品又要固定支撑架，操作较繁琐，也无法测量较厚的块状样品。专利201020144904.9公开了一种X衍射仪用固体块状样品架，其通过安装在基座中部的弹簧将样品顶压到样品测试面基准挡板框上实现，该样品台比较适合块状样品测试，但需要具备样品测试面基准挡板，样品台部件较多，制作要求比较高且要对样品进行裁剪破坏。因此，寻找一种制作简单、操作方便、对样品无破坏并适合X射线粉末衍射仪的固体块状样品测试的样品台，就显得尤为迫切。
【发明内容】
为了克服现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台。
本发明的目的通过以下技术方案实现：一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；底座支架主要用来支撑样品槽，测试时以X射线衍射仪的样品台中轴和两个底座支架为支撑点固定和调节样品槽的位置。
所述底座支架由基座、导杆和内径千分尺组成；所述基座和导杆通过螺纹连接，所述内径千分尺通过螺丝固定于导杆中。
所述内径千分尺的测量范围优选为250-275mm，刻度值为0.01mm，精度等级为1级；内径千分尺的主要作用在于调节样品槽的平衡位置。
所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板；
所述定位蒙板设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；测试样品时，定位蒙板可以卡在测角仪样品台的中轴上，便于固定样品台。
所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；弹簧卡孔主要用来固定测角仪样品台的弹簧，这样可以不改变原测角仪样品台，操作简单。
机械加工时以A面为基准面，装卡定位，精加工B面，并保证A面与B面的平行度。
所述样品池上部的两侧边沿设置有水平泡。
优选的，所述样品池的底部设置有半圆形凹槽。
所述半圆形凹槽优选设置有两个。
所述半圆形凹槽优选设置于样品池底部外侧；凹槽可作为底座支架的支撑点，以测角仪样品台的中轴和两个底座支架作为样品台的三个支撑点，有利于减轻X射线衍射仪的样品台中轴的承受压力。
零加工完成以后，以定位蒙板的A面为基准面在平板上调平水平泡的位置。由于本发明的样品台的尺寸较大，当样品池填充满玻璃粉后，为防止测角仪样品台的中轴发生变形，在样品池的底部外侧设置两个半圆形凹槽作为底座支架的支撑点，以测角仪样品台的中轴和两个底座支架作为金属样品台的三个支撑点，有利于减轻X射线衍射仪的样品台中轴的承受压力。
所述样品池优选为上部开口的长方体槽。
所述底座支架优选为铝合金底座支架。
所述样品槽优选为铝合金样品槽。
所述样品槽的深度可以根据需要进行设计，优选为51mm。
所述X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台可应用于粉末、片状、大尺寸、不规则、不能裁剪(如珠宝首饰等)或无法研磨成粉末的样品的测试。
所述X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台可应用于X’Pert Pro等粉末X射线衍射仪中。
本发明为大尺寸设计的样品台，以玻璃粉填充样品槽，不仅可以对微量的粉末样品进行测试，还可以对片状、大尺寸或不规则的、不能裁剪的、无法研磨成粉末的样品进行测试，有效解决了当前大尺寸样品无法测试或测试时必须裁剪样品才能测试以及改变样品支架才能进行测试的问题；同时，本发明以X射线衍射仪测角仪样品台中轴和两个底座支架作为样品台的三个平衡点、以水平泡作为样品台平衡的调节点，有利于样品台的水平调节，而且设计有X射线衍射仪测角仪样品台中轴和样品槽弹簧卡的卡口，不需要对测角仪样品台进行改造，易于安装和拆卸；本发明以玻璃粉末填充样品槽，测试样品时只需将样品置于玻璃粉中，用表面平整的玻璃板轻轻按压至和样品槽保持一个水平线上即可，操作方便，样品易于制备。
本发明相对于现有技术具有如下的优点和有益效果；
本发明为大尺寸设计的样品台，以玻璃粉填充样品槽，不仅可以对微量的粉末样品进行测试，还可以对片状、大尺寸或不规则、不能裁剪(如珠宝首饰等)、无法研磨成粉末的样品进行测试，有效解决了当前大尺寸样品无法测试或测试时必须裁剪样品才能测试以及改变样品支架才能进行测试的问题；同时，本发明以X射线衍射仪测角仪样品台中轴和两个底座支架作为样品台的三个平衡点、以水平泡作为调节样品台平衡的节点，有利于样品台的水平调节；而且设计有X射线衍射仪测角仪样品台中轴和样品槽弹簧卡的卡口，不需要对测角仪样品台进行改造，易于安装和拆卸；操作方便，样品易于制备，尤其适合X’PertPro等粉末X射线衍射仪。
【附图说明】
图1是实施例1的基座的结构示意图；其中：a为基座的俯视结构示意图；b为基座的切面结构示意图；
图2是实施例1的导杆的结构示意图；
图3是实施例1的定位蒙板的结构示意图；
图4是实施例1的样品池的结构示意图；
图5是实施例1的蒙板的结构示意图；
图6是实施例1的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台的底座支架的结构示意图；其中：1-基座、2-导杆、3-内径千分尺；
图7是实施例1的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台的样品槽的结构示意图；其中；4-定位蒙板、5-样品池、6-蒙板、7-中轴卡孔、8-弹簧卡孔、9-水平泡、10-半圆形凹槽；
图8是实施例1的铂金戒指的XRD图谱及铂的标准图谱；其中：(a)为铂金戒指的XRD图谱，(b)为铂的标准图谱，■为Pt；
图9是实施例1的不规则水晶吊坠成分的XRD图谱及方石英的标准图谱；其中：(a)为不规则水晶吊坠成分的XRD图谱，(b)为方石英的标准图谱，●为SiO2；
图10是实施例1的不规则玉石真伪的XRD图谱及石英的标准图谱；其中：(a)为不规则玉石真伪的XRD图谱，(b)为石英的标准图谱，■为SiO2；
图11是实施例1的不规则玉石球真伪的XRD图谱及方解石、低镁方解石的标准图谱；其中：(a)为不规则玉石球真伪的XRD图谱，(b)为方解石的标准图谱，(c)为低镁方解石的标准图谱，■为CaCO3；●为Mg0.06Ca0.94(CO3)。
【具体实施方式】
下面结合实施例和附图对本发明作进一步详细的描述，但本发明的保护范围并不限于此。
实施例1
一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；底座支架主要用来支撑样品槽，测试时以X射线衍射仪的样品台中轴和两个底座支架为支撑点固定和调节样品槽的位置。
所述底座支架由基座、导杆和内径千分尺组成；所述基座和导杆通过螺纹连接，内径千分尺通过螺丝固定于导杆中。
所述内径千分尺的测量范围为250-275mm，刻度值为0.01mm，精度等级为1级；内径千分尺的主要作用在于调节样品槽的平衡位置。
所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板。
所述定位蒙板上设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；测试样品时，定位蒙板可以卡在测角仪样品台的中轴上，便于固定样品台。
所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；弹簧卡孔主要用来固定测角仪样品台的弹簧，这样可以不改变原测角仪样品台，操作简单。
机械加工时以A面为基准面，装卡定位，精加工B面，并保证A面与B面的平行度。
所述样品池上部的两侧边沿设置有水平泡。
所述样品池的底部外侧设置有两个半圆形凹槽；凹槽可作为底座支架的支撑点，以测角仪样品台的中轴和两个底座支架作为样品台的三个支撑点，有利于减轻X射线衍射仪的样品台中轴的承受压力。
零加工完成以后，以定位蒙板的A面为基准面在平板上调节水平泡至平衡的位置。由于本发明的样品台的尺寸较大，当样品池填充满玻璃粉后，为防止测角仪样品台的中轴发生变形，在样品池的底部外侧设置两个半圆形凹槽作为底座支架的支撑点，以测角仪样品台的中轴和两个底座支架作为金属样品台的三个支撑点，有利于减轻X射线衍射仪的样品台中轴的承受压力。
所述样品池为上部开口的长方体槽。
所述底座支架为铝合金底座支架。
所述样品槽为铝合金样品槽。
所述样品槽的深度为51mm。
所述X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台可应用于粉末、片状、大尺寸、不规则、不能裁剪(如珠宝首饰等)或无法研磨成粉末的样品的测试中。
所述X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台可应用于X’Pert Pro等粉末X射线衍射仪中。
本发明为大尺寸设计的样品台，以玻璃粉填充样品槽，不仅可以对微量的粉末样品进行测试，还可以对片状、大尺寸或不规则的、不能裁剪的、无法研磨成粉末的样品进行测试，有效解决了当前大尺寸样品无法测试或测试时必须裁剪样品才能测试以及改变样品支架才能进行测试的问题；同时，本发明以X射线衍射仪测角仪样品台中轴和两个底座支架作为样品台的三个平衡点、以水平泡作为样品台平衡的调节点，有利于样品台的水平调节，而且设计有X射线衍射仪测角仪样品台中轴和样品槽弹簧卡的卡口，不需要对测角仪样品台进行改造，易于安装和拆卸；本发明以玻璃粉末填充样品槽，测试样品时只需将样品置于玻璃粉中，用表面平整的玻璃板轻轻按压至和样品槽保持一个水平线上即可，操作方便，样品易于制备。
运用上述X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台对戒指、不规则水晶吊坠、不规则玉石真伪及不规则玉石球真伪进行测试，其结果如图8-11所示。从图8可以看出，当采用本样品台对戒指进行测试时，与铂的标准卡品进行比对，本申请的测试结果与标准卡片完全匹配，这说明采用本申请的样品台测试不规则样品时，可以得到较好的结果；从图9中可以看出，不规则水晶吊坠的成分主要是高温方石英，其测试结果与方石英的标准卡片完全匹配；图10和图11是采用本样品台对不规则玉石和玉石球的真伪进行鉴定的结果图谱，从图10和图11可以看到，不规则玉石的成分主要是石英，玉石球的成分是方解石和低镁方解石，且与石英、方解石和低镁方解石的标准图谱完全匹配，而真玉石的主要成分为透闪石，这说明不规则玉石和玉石球不是真的玉石。可见，利用本样品台可以鉴定不规则珠宝首饰的真伪。从上述测试结果可以看出，采用本发明的样品台对一些不规则的样品进行测试时，不需要对样品进行裁剪，对样品无破坏；而且采用玻璃粉填充样品槽，无干扰峰的存在。
以上所述本发明的具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限定。任何根据本发明的技术构思所作出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本发明权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，包括底座支架和设置于底座支架上的样品槽；
所述样品槽包括依次通过螺丝连接的定位蒙板、样品池和蒙板；
所述定位蒙板上设置有中轴卡孔，所述中轴卡孔的大小与测角仪样品台的中轴匹配；
所述中轴卡孔的下方设置有弹簧卡孔；所述弹簧卡孔的大小与测角仪样品台的弹簧大小相一致；
所述样品池的两侧边沿设置有水平泡。
2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述样品池的底部设置有半圆形凹槽。
3.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述底座支架由基座、导杆和内径千分尺组成；所述基座和导杆通过螺纹连接，所述内径千分尺通过螺丝固定于导杆中。
4.根据权利要求3所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述内径千分尺的测量范围为250-275mm，刻度值为0.01mm，精度等级为1级。
5.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述半圆形凹槽设置有两个。
6.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述半圆形凹槽设置于样品池底部外侧。
7.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述底座支架为铝合金底座支架；所述样品槽为铝合金样品槽。
8.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台，其特征在于，所述样品槽的深度为51mm。
9.权利要求1-8任一项所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台应用于粉末、片状、大尺寸、不规则、不能裁剪或无法研磨成粉末的样品的测试。
10.权利要求9所述的X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台应用于X’Pert Pro粉末X射线衍射仪中。
CN201410234255.4A 2014-05-29 2014-05-29 X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台 Active CN103983653B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410234255.4A CN103983653B (zh) 2014-05-29 2014-05-29 X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410234255.4A CN103983653B (zh) 2014-05-29 2014-05-29 X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103983653A true CN103983653A (zh) 2014-08-13
CN103983653B CN103983653B (zh) 2016-08-31

Family

ID=51275709

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410234255.4A Active CN103983653B (zh) 2014-05-29 2014-05-29 X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103983653B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104330340A (zh) * 2014-11-05 2015-02-04 中国科学院生态环境研究中心 X射线衍射仪小角散射样品测试方法和装置
CN108181487A (zh) * 2018-03-15 2018-06-19 上海交通大学 一种超高真空样品截断装置
CN110596164A (zh) * 2019-10-10 2019-12-20 新疆烯金石墨烯科技有限公司 一种石墨烯xrd表征用样品的制样方法
CN112432964A (zh) * 2020-12-16 2021-03-02 中国科学院广州能源研究所 用于天然气水合物x射线衍射仪测试的样品托及其应用
CN113945594A (zh) * 2021-10-11 2022-01-18 安徽科技学院 用于装配垂直型测角仪的x射线衍射分析用旋转样品台

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2746387Y (zh) * 2004-08-25 2005-12-14 辽宁石油化工大学 X射线衍射仪测定固体块状样品用样品架
CN201653939U (zh) * 2010-03-23 2010-11-24 上海梅山钢铁股份有限公司 一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台
US8259901B1 (en) * 2010-05-25 2012-09-04 Rubicon Technology, Inc. Intelligent machines and process for production of monocrystalline products with goniometer continual feedback
CN202453307U (zh) * 2011-12-27 2012-09-26 国家纳米技术与工程研究院 一种适合x射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台
US20130044864A1 (en) * 2011-08-18 2013-02-21 Hitachi, Ltd. X-Ray Diffraction Instrument
CN202854068U (zh) * 2012-10-16 2013-04-03 南京钢铁股份有限公司 一种x射线衍射仪样品测试架
CN203164138U (zh) * 2013-03-24 2013-08-28 山东建筑大学 Xrd用自动调节高度的工作台
CN203275320U (zh) * 2013-04-03 2013-11-06 山东轻工业学院 一种x射线衍射仪用简易块状样品台

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2746387Y (zh) * 2004-08-25 2005-12-14 辽宁石油化工大学 X射线衍射仪测定固体块状样品用样品架
CN201653939U (zh) * 2010-03-23 2010-11-24 上海梅山钢铁股份有限公司 一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台
US8259901B1 (en) * 2010-05-25 2012-09-04 Rubicon Technology, Inc. Intelligent machines and process for production of monocrystalline products with goniometer continual feedback
US20130044864A1 (en) * 2011-08-18 2013-02-21 Hitachi, Ltd. X-Ray Diffraction Instrument
CN202453307U (zh) * 2011-12-27 2012-09-26 国家纳米技术与工程研究院 一种适合x射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台
CN202854068U (zh) * 2012-10-16 2013-04-03 南京钢铁股份有限公司 一种x射线衍射仪样品测试架
CN203164138U (zh) * 2013-03-24 2013-08-28 山东建筑大学 Xrd用自动调节高度的工作台
CN203275320U (zh) * 2013-04-03 2013-11-06 山东轻工业学院 一种x射线衍射仪用简易块状样品台

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104330340A (zh) * 2014-11-05 2015-02-04 中国科学院生态环境研究中心 X射线衍射仪小角散射样品测试方法和装置
CN108181487A (zh) * 2018-03-15 2018-06-19 上海交通大学 一种超高真空样品截断装置
CN108181487B (zh) * 2018-03-15 2020-03-06 上海交通大学 一种超高真空样品截断装置
CN110596164A (zh) * 2019-10-10 2019-12-20 新疆烯金石墨烯科技有限公司 一种石墨烯xrd表征用样品的制样方法
CN112432964A (zh) * 2020-12-16 2021-03-02 中国科学院广州能源研究所 用于天然气水合物x射线衍射仪测试的样品托及其应用
CN113945594A (zh) * 2021-10-11 2022-01-18 安徽科技学院 用于装配垂直型测角仪的x射线衍射分析用旋转样品台

Also Published As

Publication number Publication date
CN103983653B (zh) 2016-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103983653A (zh) X射线衍射仪用测量块状固体样品的多功能样品台
CN201688812U (zh) 一种孔内槽深测量工装
CN204479006U (zh) 平晶专用夹具
CN202453307U (zh) 一种适合x射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台
CN204165862U (zh) 间接测定不规则物体密度的装置
CN103293173B (zh) 一种x射线衍射仪薄膜测试样品台
CN101852580B (zh) 工件长度校正装置
CN204301670U (zh) 可调式节气门板平面度测量仪
CN205102755U (zh) 一种蓝玻璃块料垂直度检测装置
CN201463816U (zh) 外圆锥度测量装置
CN204240942U (zh) 一种刀具检测仪
CN201611407U (zh) 光学三维显微镜及载物台
CN203422066U (zh) 一种基于光学衍射测量微小量的装置
CN103901062A (zh) 一种安装于粉末x射线衍射仪测试固体块状样品的样品台
CN103148987A (zh) 一种轴承密封状态测量装置及其方法
CN202648628U (zh) 微小圆孔尺寸及圆度同时测量的装置
CN204789133U (zh) 一种用于悬臂梁冲击试验机的样条夹持系统
CN102162911B (zh) 新型地质放大镜
CN208688989U (zh) 一种简易的芯片检查装置
CN205537476U (zh) 一种锥面同轴度测量仪
CN203605849U (zh) 一种活塞综合检具
CN203688424U (zh) 手工法切割漆膜涂层划格试验用高精度安全型辅助装置
CN205655787U (zh) 一种平面度检具
CN202432940U (zh) 一种小间隙测量尺
CN105549216A (zh) 多人实时可视化宝石偏光镜

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant