CN1039245C - 溅射靶材用镍基镍铜铬锰系电阻合金 - Google Patents

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Abstract

一种溅射靶材料用镍基的镍铜铬锰系低电阻合金,其化学成分(重量%)为Cu28~43%、Cr9~14%、Mn8~14%,Ni余量,该合金的电阻率小于1Ωmm2/M,适用制做低阻值溅射靶,与镍铬硅溅射靶相比,在同样条件下用溅射法生产小于1Ω的低阻值金属膜电阻,用该合金制做的溅射靶,其溅射所需时间可降至二分之一。

Description

溅射靶材用镍基镍铜铬锰系电阻合金
本发明涉及一种镍基的镍铜铬锰系四元合金,特别是做为溅射靶材料的镍铜铬锰系电阻合金。
在用溅射法生产金属膜电阻时,是在磁控溅射炉内进行,溅射靶材料性能直接影响生产出来的电阻膜的性能,目前使用的溅射靶的材料为镍铬硅或镍铬铝或镍铬铝硅合金,其电阻率较高适用于做大于1Ω合金电阻膜用溅射靶的材料,而对1Ω以下的电阻膜,其溅射靶用合金材料应能满足电阻率低、稳定的电阻值、电阻温度系数小、化学稳定性好、耐热、耐蚀及抗氧化性能好的条件。由于现有靶材的电阻率较高,不能制作,或虽能用其做为靶材,制作小于1Ω的低阻值电阻膜,但由于靶材电阻率不能达到低阻要求,必需增加电阻膜的厚度,增加了溅射所需时间,加大了制造成本。在日本专利申请昭61-190036万向盘及其制造方法中,提出一种新的非磁性合金,它的化学成份(重量%)为Mn15~35%、Ni15~35%、Cr1.5~8%,余量为Cu,该合金由于Cu成份的加入虽能达到低电阻,但由于在该合金中Ni的含量较少,致使Cu成份导致的合金电阻值不稳、热电势升高、电阻温度系数在100PPm/℃以上,又由于含Cr量较低,使制成的金属电阻膜的附着力较低,影响溅射金属电阻膜的附着牢度,上述缺点影响制成的低阻(小于1Ωmm2/M)电阻膜的性能,不宜使用。上述现有技术的合金,均不适于做为生产低电阻金属膜用溅射靶的材料。因此要制作小于1Ω的低阻值金属膜电阻,必须找到一种合适的低电阻率的合金做为溅射靶材料。
本发明目的是提供一种低电阻率的溅射靶用合金,用其制做溅射靶,用溅射法生产小于1Ω的低阻值金属膜电阻。该合金具有电阻率低、电阻温度系数低、稳定性好、耐蚀、耐热、抗氧化性能好的优点,而该合金成本却与现有技术靶材相近,用该合金做为溅射靶材料,生产小于1Ω低阻值金属膜电阻,可使生产时间显著缩短,生产率大为提高。
本发明是这样实现的,该合金为镍基镍铜铬锰电阻合金,它的化学成份为Ni、Cu、Cr、Mn,各成份含量(重量%)为:
Cu28~43%;Cr9~14%;Mn8~14%;Ni余量。
它的最佳化学成份(重量%)为Cu38%、Cr10%、Mn10%、Ni余量。各种成份的原料直接影响到该电阻合金的质量,原材科的纯度应如下:Ni:电解镍GB861516-86
Figure C9312033600041
Figure C9312033600042
Cu:电解铜QB466-82
Figure C9312033600043
Cr:金属铬:GB3211-87
         Cr99-A(Cr≮99.0%)
         Cr99-B(Cr≮99.0%)Mn:金属锰  GB2774-B7
        Mn97(Mn≮97.0%)
        Mn96(Mn≮96.5%)
各化学成份中,Ni为本发明合金中的基础成份,具有一定的电阻率,耐热、耐蚀、抗氧化性能好,更重要的是能使电阻有良好的稳定性,在合金中的含量低于30%时,效果不明显,含量增加至40%以上时,效果随之增大,超过60%时,电阻温度系数也增高,最佳为42%:Cr具有良好的附着力,可使金属膜电阻附着牢固、耐蚀、抗氧化性能好,在合金中合量低于5%时,耐蚀性能和附着性能较差,含量增加至9%以上时耐蚀性能显著增加,增加到30%以上时,合金硬度和脆性都增加,取为9~14%,最佳为10%;Mn能使合金熔点降低,脱氧效果好,能提高电阻的稳定性,在合金中含量在5%时,效果不显著,随着含量增加效果增大,超过30%时,其硬度和脆性增大,取8~14%,最佳为10%;Cu是合金成份中最便宜的金属,它能使合金熔点和电阻降低,在合金中其含量低于10%时,降低电阻的效果不明显,随含量增加,效果增大,但电阻的稳定性也随之变坏,超过45%时,电阻的稳定性显著变坏,应特别重视加以控制,取28~43%,最佳为38%。本发明合金利用上述各种成份的性能,相互配合达成所需低电阻合金性能,本发明合金以Ni为主要成份,加入适量的Cu、Cr、Mn,Cu的加入使合金的电阻率显著降低,达到低电阻要求,并使台金造价下降,Ni提高电阻的稳定性,Cr提高合金的附着性,使电阻膜镀层不易脱落,Ni、Cr、Mn不仅使合金有耐热、耐蚀、抗氧化性能,Ni、Mn还抑制了由于Cu成份导致的合金热电势的升高,使合金能有低而稳定的电阻率以及较低的电阻温度系数。本发明的制作方法为将各成份原料装入真空感应炉内,抽真空后加热熔化,当熔炼温度达1480~1520℃时,在真空室内将其注入到焙烧至850℃的精铸模壳中,取出后加工成溅射靶。
本发明合金与现有技术溅射靶材用的合金相比,本发明合金的电阻率在1Ωmm2/M以下,而现有技术合金的电阻率一般均在1Ωmm2/M以上,用本发明合金制做溅射靶,在同样溅射条件下,制作低于1Ω的低电阻时,其溅射所需时间可节约一半左右,大大降低了低电阻金属膜的制造成本,提高生产率,本发明的合金与现有技术的溅射靶材镍铬硅合金等在价格上相近。例如用电阻率为0.440Ωmm2/M的本发明合金做为溅射靶材料用溅射法制作1/4W电阻器的电阻膜只需20小时,而用镍铬硅合金等做为溅射靶材料,用溅射法制作同样电阻器的电阻膜时,由于镍铬硅合金电阻率较高约为1.296Ωmm2/M,故必须使膜层加厚才能达到低阻值,大约需42小时。因此用本发明合金可大大提高制作低阻值电阻膜的生产率,降低产品造价,而做为溅射靶材料的本发明合金由于Cu的含量较多而Cu的价格又便宜,故其价格不会提高。
与现有技术相比,本发明合金具有电阻值低而稳定、电阻温度系数小、热电势稳定、镀膜附着牢固、生产费用低的优点。
下面以实施例做具体说明,表1中所列为按本发明合金化学成份的各种配方实施例,制做工艺为:把按各成份原料配好装入真空感应炉内,抽真空后加热将各成份原料熔化,当熔炼温度达到1480℃~1520℃时,在真空室内将其注入到焙烧到850℃的精密铸造模壳中,取出后经机械加工成溅射靶。做为低电阻值溅射靶用材料,从表1中可看出,五个实施例其电阻率分别为0.442、0.440.0.437、0.439、0.445Ωmm2/M,其电阻温度系数从24到96.5PPm/℃,也低于100PPm/℃的使用要求,其它如强度、硬度等机械性能满足了金属电阻的要求,其最佳配比为实施例2,其电阻率为0.44Ωmm2/M、电阻温度系数为20~50PPm/℃,与表1中现有技术配方镍铬硅合金相比,合金电阻率大大降低,使用本合金做为溅射靶材料用来生产低电阻金属膜(小于1Ω)时,可大大提高生产率,表2所示为二者对比情况,序号1、2为用本发明合金做溅射靶,序号3、4为现有技术合金溅射靶,在同等条件下,用来生产电阻器瓷体电阻情况,可以看出,用溅射法生产0.63~0.75Ω电阻时,在其它条件相同情况下,用本合金溅射靶比用现有技术溅射靶大约节省一半时间。例如序号1、3相比较,生产1/4W电阻膜,在炉产量同样为30万只情况下,用本发明合金做溅射靶只用生产(溅射)时间20小时,而用现有技术靶材合金做溅射靶,却用去42小时。
表1实施例情况
配方编号     合金组分(重量%) 电阻率Ωmm2/M   电阻温度系数PPm/℃     机械性能 附注
    Ni     Cr     Mn     Cu     GbPa×106 δs%标距30mm   αkJ/cm2   硬度HB
    1   45.86   13.90   8.02   32.22   0.442   24-85   520     32     190.4   167
    2   42   10   10   38   0.440   20-50   516     31.5     179.5   165
    3   40.04   9.13   13.60   37.23   0.437   46-96.5   508     30.4     132.7   159
    4   43.10   9.76   10.44   36.70   0.439   60-80   518.3     30.8     170.0   162
    5   51   9   8   32   0.445   48-96   522     31.8     193.1   169
  现有技术配方 55 40   Si5 / 1.296 18-60 470 60.11 228
表2

Claims (2)

1、一种溅射靶材用镍基的镍、铜、铬、锰系电阻合金,其特征在于其化学成份(重量%)为:
Cu    28~43%;
Cr    9~14%;
Mn    8~14%;
Ni    余量。
2、据权利要求1中所述的电阻合金,其特征在于它的化学成份(重量%)为:
Cu38%;Cr10%;Mn10%;Ni余量。
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