CN103915120A - 内存条的电压测试装置及方法 - Google Patents

内存条的电压测试装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103915120A
CN103915120A CN201310001879.7A CN201310001879A CN103915120A CN 103915120 A CN103915120 A CN 103915120A CN 201310001879 A CN201310001879 A CN 201310001879A CN 103915120 A CN103915120 A CN 103915120A
Authority
CN
China
Prior art keywords
voltage
initial
value
signal
signal generator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201310001879.7A
Other languages
English (en)
Inventor
胡浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN201310001879.7A priority Critical patent/CN103915120A/zh
Priority to TW102101392A priority patent/TW201440067A/zh
Priority to US14/056,249 priority patent/US20140195191A1/en
Publication of CN103915120A publication Critical patent/CN103915120A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
    • G11C29/50012Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing of timing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Abstract

本发明提供一种内存条的电压测试装置及方法。所述方法包括:电脑设置示波器及信号发生器所需的初始设置参数;信号发生器发生一初始脉冲信号给内存条的电压输入端;电脑接收示波器发送的电压输出端的初始测试参数及电压输入端的初始信号电压值,发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给示波器,并发送一当前信号电压值给信号发生器;信号发生器发送一当前脉冲信号给电压输入端;示波器获取内存条的电压输入端及电压输出端的一段时间内的电压值而生成两个电压波形;电脑显示两个电压波形及两个电压波形对应的波形电压值。

Description

内存条的电压测试装置及方法
技术领域
本发明涉及一种电压测试装置及方法,特别是涉及一种内存条的电压测试装置及方法。
背景技术
内存条是连接CPU和其他设备的通道,起到缓冲和数据交换作用。内存条在出厂之间需进行性能测试。传统的测试装置一般是利用专用的示波器及信号发生器对电源供应器进行测试,并记录各项测试数据,但是,测试项目的切换需要人工控制,测试成本高,且在无人的情况下,测试设备只能暂停使用,测试设备资源的利用率低。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种自动测试内存条的电压的装置及方法。
一种内存条的电压测试装置,包括一电脑、一信号发生器、一示波器,所述示波器用于连接一内存条的一电压输入端及一电压输出端,所述电脑连接所述信号发生器及所述示波器,所述信号发生器用于连接所述电压输入端,所述电脑包括一控制模块、一调节模块及一显示模块,所述示波器包括一控制单元、一获取单元、一存储单元及一波形生成单元,所述信号发生器包括一控制子单元及一信号生成单元,所述控制模块用于发送设置的示波器初始设置参数给所述控制单元,发送设置的信号发生器初始设置参数给所述控制子单元,所述控制单元用于将所述示波器初始设置参数存储于所述存储单元,所述获取单元用于在所述信号生成单元输出一初始脉冲信号给所述电压输入端时获取所述电压输入端的初始信号电压值及所述电压输出端的初始测试参数,所述控制单元还用于将所述初始测试参数及所述初始信号电压值发送给所述调节模块,所述调节模块用于根据初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述控制单元,根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述控制子单元,所述获取单元还用于在所述存储单元存储有所述当前电压偏移值及所述当前电压波动范围值后及在所述信号生成单元根据所述当前信号电压值生成一当前脉冲信号给所述电压输入端后,获取所述电压输出端及所述电压输入端的一段时间的电压值,所述波形生成单元用于根据所述电压值生产两个电压波形并传送所述两个电压波形及所述两个电压波形对应的波形电压值给所述控制模块,所述控制模块还用于显示所述波形电压值及所述两个电压波形于所述显示模块上。
一实施例中,所述电脑还包括一存储模块,所述存储模块用于存储所述当前电压偏移值、所述当前电压波动范围值及所述当前信号电压值。
一实施例中,所述示波器初始设置参数包括初始电压偏移量及初始电压波动范围值。
一实施例中,所述信号发生器初始设置参数包括脉冲频率、高电平电压、低电平电压及回转率。
一实施例中,所述初始测试参数包括一第二段时间内的电压波动的最大值与最小值。
一种内存条的电压测试方法,应用于一内存条的电压测试装置中,所述电压测试装置包括一电脑、一示波器及一信号发生器,所述示波器连接一内存条的电压输入端及电压输出端,所述信号发生器连接所述电压输入端;所述内存条的电压测试测试方法包括如下步骤:
所述电脑设置所述示波器所需的示波器初始设置参数及所述信号发生器所需的信号发生器初始设置参数;
所述信号发生器发生一初始脉冲信号给所述电压输入端;
所述电脑接收所述示波器发送的所述电压输出端的初始测试参数及所述电压输入端的初始信号电压值,根据所述初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述示波器,并根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述信号发生器;
所述示波器获取所述内存条的电压输入端及电压输出端的一段时间内的电压值,将所述电压值生成两个电压波形,并将所述两个电压波形及所述两个电压波形对应的波形电压值发送给所述电脑;
所述电脑显示所述两个电压波形及所述波形电压值。
一实施例中,所述电脑存储所述当前电压偏移值、所述当前电压波动范围值及所述当前信号电压值。
一实施例中,所述初始设置参数包括初始电压偏移量及初始电压波动范围值。
一实施例中,所述信号发生器初始设置参数包括脉冲频率、高电平电压、低电平电压及回转率。
一实施例中,所述初始测试参数包括一第二段时间内的电压波动的最大值与最小值。
与现有技术相比,本发明内存条的电压测试装置及方法通过电脑自动调节所述示波器及所述信号发生器并检测内存条的电压输出,从而实现对内存条的电压自动测试。
附图说明
图1为本发明内存条的电压测试装置的一较佳实施方式中的示意图。
图2为本发明内存条的电压测试方法的一较佳实施方式中的流程图。
主要元件符号说明
电脑 10
设置模块 11
控制模块 13
调节模块 15
存储模块 17
显示模块 19
示波器 30
控制单元 31
获取单元 33
存储单元 35
波形生成单元 37
信号发生器 50
控制子单元 51
信号生成单元 53
存储子单元 55
内存条 70
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明电源的电压测试装置一较佳实施方式包括一电脑10、一连接所述电脑10的示波器30及一连接所述电脑10的信号发生器50。所述示波器30包括多个探针(图未示),用于连接一内存条70的电压输出端,并连接所述信号发生器50,所述信号发生器50连接所述内存条70的电压输入端。
所述电脑10包括一设置模块11、一控制模块13、一调节模块15、一存储模块17及一显示模块19。
所述示波器30包括一控制单元31、一获取单元33、一存储单元35及一波形生成单元37。
所述信号发生器50包括一控制子单元51、一信号生成单元53、一存储子单元55。
所述设置模块11用于设置所述示波器30所需的示波器初始设置参数及所述信号发生器所需的信号发生器初始设置参数,所述示波器初始设置参数包括时间基准、初始电压偏移量、信号名、触发基准、测试项及初始电压波动范围值,所述信号发生器初始设置参数包括脉冲频率、高电平电压、低电平电压及回转率,并将所述示波器初始设置参数及所述信号发生器初始设置参数存储于所述存储模块17中。所述控制模块13用于发送所述示波器初始设置参数给所述示波器30的控制单元31,发送信号发生器初始设置参数给所述信号发生器50的控制子单元51。所述控制单元31用于将所述示波器初始设置参数存储于所述存储单元35,所述控制子单元51用于将所述信号发生器初始设置参数存储于所述存储子单元55。
所述获取单元33用于在所述信号发生器50的信号生成单元53输出脉冲信号给所述内存条70的电压输入端时获取所述电压输入端的初始信号电压值及所述内存条70的电压输出端的初始测试参数,所述初始测试参数包括一段时间内的电压波动的最大值与最小值。所述控制单元31用于将所述初始测试参数及所述初始信号电压值发送给所述调节模块15。所述调节模块15用于根据初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述示波器30的控制单元31,根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述信号发生器50的控制子单元51,并存储当前电压偏移值、当前电压波动范围值及当前信号电压值于所述存储模块17中。所述控制单元31用于将所述当前电压偏移值及所述当前电压波动范围值存储于所述存储单元35中。所述控制子单元51用于将所述当前信号电压值存储于所述存储子单元55中。
所述获取单元33还用于在所述存储单元35存储有所述当前电压偏移值及所述当前电压波动范围值后,以及在所述信号生成单元53根据所述当前信号电压值生成一当前脉冲信号给所述内存条70的电压输入端后,获取所述内存条70的电压输出端及电压输入端的一段时间的电压值,并发送给所述波形生成单元37,所述波形生成单元37用于根据所述电压值生成两个电压波形并经所述控制单元31传送所述电压波形及所述电压波形对应的波形电压值给所述电脑10的控制模块13。所述控制模块13还用于显示所述波形电压值及所述电压波形于所述显示模块19上。
请参阅图2,本发明电压测试方法的一较佳实施方式包括如下步骤:
S201,所述设置模块11设置所述示波器30所需的示波器初始设置参数及所述信号发生器所需的信号发生器初始设置参数存储于所述存储模块17中,所述控制模块13发送所述示波器初始设置参数给所述示波器30的控制单元31,发送信号发生器初始设置参数给所述信号发生器50的控制子单元51,所述控制单元31将所述初始设置参数存储于所述存储单元35,所述控制子单元51用于将所述信号发生器初始设置参数存储于所述存储子单元55;
S202,所述获取单元33在所述信号发生器50的信号生成单元53输出脉冲信号给所述内存条70的电压输入端时获取所述电压输入端的初始信号电压值及所述内存条70的电压输出端的初始测试参数,所述控制单元31将所述初始测试参数及所述初始信号电压值发送给所述调节模块15,所述调节模块15根据所述初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述示波器30的控制单元31,根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述信号发生器50的控制子单元51,并存储当前电压偏移值、当前电压波动范围值及当前信号电压值于所述存储模块17中,所述控制单元31将所述当前电压偏移值及所述当前电压波动范围值存储于所述存储单元35中,所述控制子单元51用于将所述当前信号电压值存储于所述存储子单元55中;
S203,所述信号发生器50的信号生成单元53根据所述当前信号电压值生成一当前脉冲信号给所述内存条70的电压输入端;
S204,所述信号发生器50的信号生成单元53根据所述当前信号电压值生成一当前脉冲信号给所述内存条70的电压输入端,所述获取单元33获取所述内存条70的电压输出端及电压输入端的一段时间的电压值,并发送给所述波形生成单元37,所述波形生成单元37根据所述电压值生成两个电压波形并经所述控制单元31传送所述电压波形及所述电压波形对应的波形电压值给所述电脑10的控制模块13,所述控制模块13显示所述波形电压值及所述电压波形于所述显示模块19上。
对本领域的技术人员来说,可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整,而这些改变和调整都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种内存条的电压测试装置,包括一电脑、一信号发生器、一示波器,所述示波器用于连接一内存条的一电压输入端及一电压输出端,所述电脑连接所述信号发生器及所述示波器,所述信号发生器用于连接所述电压输入端,其特征在于:所述电脑包括一控制模块、一调节模块及一显示模块,所述示波器包括一控制单元、一获取单元、一存储单元及一波形生成单元,所述信号发生器包括一控制子单元及一信号生成单元,所述控制模块用于发送设置的示波器初始设置参数给所述控制单元,发送设置的信号发生器初始设置参数给所述控制子单元,所述控制单元用于将所述示波器初始设置参数存储于所述存储单元,所述获取单元用于在所述信号生成单元输出一初始脉冲信号给所述电压输入端时获取所述电压输入端的初始信号电压值及所述电压输出端的初始测试参数,所述控制单元还用于将所述初始测试参数及所述初始信号电压值发送给所述调节模块,所述调节模块用于根据初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述控制单元,根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述控制子单元,所述获取单元还用于在所述存储单元存储有所述当前电压偏移值及所述当前电压波动范围值后及在所述信号生成单元根据所述当前信号电压值生成一当前脉冲信号给所述电压输入端后,获取所述电压输出端及所述电压输入端的一段时间的电压值,所述波形生成单元用于根据所述电压值生产两个电压波形并传送所述两个电压波形及所述两个电压波形对应的波形电压值给所述控制模块,所述控制模块还用于显示所述波形电压值及所述两个电压波形于所述显示模块上。
2.如权利要求1所述的内存条的电压测试装置,其特征在于:所述电脑还包括一存储模块,所述存储模块用于存储所述当前电压偏移值、所述当前电压波动范围值及所述当前信号电压值。
3.如权利要求1所述的内存条的电压测试装置,其特征在于:所述示波器初始设置参数包括初始电压偏移量及初始电压波动范围值。
4.如权利要求1所述的内存条的电压测试装置,其特征在于:所述信号发生器初始设置参数包括脉冲频率、高电平电压、低电平电压及回转率。
5.如权利要求1所述的内存条的电压测试装置,其特征在于:所述初始测试参数包括一第二段时间内的电压波动的最大值与最小值。
6.一种内存条的电压测试方法,应用于一内存条的电压测试装置中,所述电压测试装置包括一电脑、一示波器及一信号发生器,所述示波器连接一内存条的电压输入端及电压输出端,所述信号发生器连接所述电压输入端;其特征在于:所述内存条的电压测试测试方法包括如下步骤:
所述电脑设置所述示波器所需的示波器初始设置参数及所述信号发生器所需的信号发生器初始设置参数;
所述信号发生器发送一初始脉冲信号给所述电压输入端;
所述电脑接收所述示波器发送的所述电压输出端的初始测试参数及所述电压输入端的初始信号电压值,根据所述初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述示波器,并根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述信号发生器;
所述信号发生器根据当前信号电压值发送一当前脉冲信号给所述电压输入端;
所述示波器获取所述内存条的电压输入端及电压输出端的一段时间内的电压值,将所述电压值生成两个电压波形,并将所述两个电压波形及所述两个电压波形对应的波形电压值发送给所述电脑;
所述电脑显示所述两个电压波形及所述波形电压值。
7.如权利要求6所述的内存条的电压测试方法,其特征在于:所述电脑存储所述当前电压偏移值、所述当前电压波动范围值及所述当前信号电压值。
8.如权利要求6所述的内存条的电压测试方法,其特征在于:所述初始设置参数包括初始电压偏移量及初始电压波动范围值。
9.如权利要求6所述的内存条的电压测试方法,其特征在于:所述信号发生器初始设置参数包括脉冲频率、高电平电压、低电平电压及回转率。
10.如权利要求6所述的内存条的电压测试方法,其特征在于:所述初始测试参数包括一第二段时间内的电压波动的最大值与最小值。
CN201310001879.7A 2013-01-05 2013-01-05 内存条的电压测试装置及方法 Pending CN103915120A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310001879.7A CN103915120A (zh) 2013-01-05 2013-01-05 内存条的电压测试装置及方法
TW102101392A TW201440067A (zh) 2013-01-05 2013-01-14 記憶體的電壓測試裝置及方法
US14/056,249 US20140195191A1 (en) 2013-01-05 2013-10-17 Voltage testing device and method for memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310001879.7A CN103915120A (zh) 2013-01-05 2013-01-05 内存条的电压测试装置及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103915120A true CN103915120A (zh) 2014-07-09

Family

ID=51040739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310001879.7A Pending CN103915120A (zh) 2013-01-05 2013-01-05 内存条的电压测试装置及方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20140195191A1 (zh)
CN (1) CN103915120A (zh)
TW (1) TW201440067A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104572385A (zh) * 2014-12-29 2015-04-29 北京中星微电子有限公司 存储器故障检测系统及方法
CN106361333A (zh) * 2016-08-30 2017-02-01 苏州品诺维新医疗科技有限公司 一种电压波形处理设备、方法及系统
CN106776162A (zh) * 2016-11-28 2017-05-31 郑州云海信息技术有限公司 一种信号检测装置及其检测内存信号的方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106571165B (zh) * 2015-11-26 2019-11-26 广东威创视讯科技股份有限公司 一种ddr器件读写信号的测试方法及装置
CN109507472B (zh) * 2017-09-14 2021-03-26 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 存储器测试模块的电压检测方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104572385A (zh) * 2014-12-29 2015-04-29 北京中星微电子有限公司 存储器故障检测系统及方法
CN104572385B (zh) * 2014-12-29 2021-04-09 中星技术股份有限公司 存储器故障检测系统及方法
CN106361333A (zh) * 2016-08-30 2017-02-01 苏州品诺维新医疗科技有限公司 一种电压波形处理设备、方法及系统
CN106776162A (zh) * 2016-11-28 2017-05-31 郑州云海信息技术有限公司 一种信号检测装置及其检测内存信号的方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20140195191A1 (en) 2014-07-10
TW201440067A (zh) 2014-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103915120A (zh) 内存条的电压测试装置及方法
JP2015503891A5 (zh)
CN105699788A (zh) 一种供电时序的测量方法、示波器和系统
CN104008033A (zh) I2c总线测试系统及方法
CN104914324A (zh) 电磁效应测试
CN105527468A (zh) 一种高压开关柜综合试验转换装置
CN103901355A (zh) 电源测试电路
CN103542877B (zh) 一种飞机起动箱综合检查仪的校准方法
CN103913620A (zh) 电脑电源的电压测试装置及方法
CN103982354B (zh) 一种汽车点火线圈综合参数测试仪
US20110169480A1 (en) Low voltage differential signaling test system and method
CN102608410B (zh) 一种脉冲发生电路、电压测量电路及其测量方法
CN207866954U (zh) 电缆故障测试仪
CN109946607B (zh) 一种直流充电机检定装置的校准系统及方法
CN104515968B (zh) 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置及校准方法
CN103728571A (zh) 电源检测电路及方法
CN102435914B (zh) 便携式飞机导线综合性能测试仪
CN103063874B (zh) 超低相位差智能压电式加速度传感器
CN103969482A (zh) Svid数据测试系统及方法
CN104050758B (zh) 出货检测系统
CN201397378Y (zh) 测量发电机励磁系统的无补偿特性的电力系统稳定器测试录波仪
CN104459562A (zh) 开关机测试装置
CN111381195B (zh) 输出输入针脚异常检测系统及其方法
CN103943151A (zh) 内存测试方法
Mareček Monitoring and diagnostic system of power plant electrical equipment

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20140709