CN103873056A - 振荡器自动校准装置及其校准方法 - Google Patents
振荡器自动校准装置及其校准方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103873056A CN103873056A CN201210526391.1A CN201210526391A CN103873056A CN 103873056 A CN103873056 A CN 103873056A CN 201210526391 A CN201210526391 A CN 201210526391A CN 103873056 A CN103873056 A CN 103873056A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- oscillator
- unit
- control word
- calibration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
本发明揭示了一种振荡器自动校准装置，包括振荡器单元，所述振荡器单元输出一振荡信号；检测单元，所述检测单元接收一比较信号和所述振荡信号，通过比较所述比较信号和所述振荡信号，得到一对比信号，并输出所述对比信号；检索单元，所述检索单元具有一标准对比信号与校准控制字关系对照表，当所述检索单元接收到所述对比信号时，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到一校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。本发明还揭示了该装置的自动校准方法。本发明的振荡器自动校准装置能够高效率地校准振荡器的频率。
Description
技术领域
本发明涉及振荡器技术领域，特别是涉及一种振荡器自动校准装置及其校准方法。
背景技术
振荡器由于制造工艺的误差，同一晶圆（wafer）的不同地方的晶片（die）会产生不同的振荡频率，因此在使用振荡器之前需要对振荡器的振荡频率进行校准。振荡器中设置有控制字，控制字可以调整振荡器内部的电流或电压实现振荡器频率的调整，该控制字以数字形式存储在电路中，在控制振荡频率时，将控制字转换成相应的模拟量来控制振荡器输出的振荡频率。
如图1所示，图1为现有技术中振荡器自动校准装置的示意图，在现有技术中，所述振荡器自动校准装置包括一振荡器单元、一检测单元和一自动校准单元，所述振荡器单元与所述检测单元、所述自动校准单元信号连接，所述检测单元与所述自动校准单元信号连接。
图2为现有技术中振荡器自动校准方法的流程图，如图2所示，首先，进行步骤S11，初始化控制字V1-0’，所述控制字V1-0’控制所述振荡器单元11输出一振荡信号V2-0’；进行步骤S12，所述检测单元12通过计较所述振荡信号V2-0与一比较信号V3得到一对比信号V4-0’；进行步骤S13，所述自动校准单元13判断所述对比信号V4-0’是否符合要求，如果不符合要求，所述自动校准单元13调整所述控制字V1-0’为控制字V1-1’（如通过加法计算或减法计算），控制字V1-1’控制所述振荡器单元11输出振荡信号V2-1’，所述检测单元12通过计较所述振荡信号V2-1’与所述比较信号V3’得到对比信号V4-1’，所述自动校准单元13判断所述对比信号V4-1’是否符合要求，如果不符合要求，所述自动校准单元13调整所述控制字V1-1’为控制字V1-2’，再循环重复上述过程；直到所述控制字V1-n’符合要求，进行步骤S14，当前控制字V1-n’为校准控制字 V1-n’，所述校准控制字V1-n’，控制所述振荡信号V2’得到校准。
在现有技术中，为了使所述振荡信号V2’得到校准，往往需要进行多次步骤S12和步骤S13之间的循环才能使所述比较信号V4’符合要求，该方法浪费时间，没有效率。因此，如何提供一种振荡器自动校准装置及其校准方法，能够高效率地校准振荡器的频率，已成为本领域技术人员需要解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种振荡器自动校准装置及其校准方法，能够高效率地校准振荡器的频率。
为解决上述技术问题，本发明提供一种振荡器自动校准装置，包括：
振荡器单元，所述振荡器单元输出振荡信号，所述振荡信号具有参考状态和待校准状态；
检测单元，所述检测单元接收一比较信号和所述振荡信号，通过比较所述比较信号和所述振荡信号，得到一对比信号，并输出所述对比信号，当所述振荡信号为参考状态时，所述对比信号为参考状态，当所述振荡信号为待校准状态时，所述对比信号为待校准状态；
自动校准单元，当所述振荡信号为待校准状态时，所述自动校准单元接收所述对比信号，输出一校准控制字，所述振荡器单元接收所述校准控制字；
检索单元，当所述对比信号为参考状态时，所述检索单元接收所述校准控制字与所述对比信号，并建立一标准对比信号与校准控制字关系对照表；当所述对比信号为待校准状态时，所述检索单元接收所述对比信号，查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到所述校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。
进一步的，所述自动校准单元为一算数器。
进一步的，所述振荡器单元为谐波振荡器或弛张振荡器。
进一步的，所述比较信号的频率小于所述振荡信号的频率。
进一步的，本发明还提供一种振荡器自动校准方法，包括：
提供一振荡器单元、一检测单元、一自动校准单元和一检索单元，所述振荡器单元与所述检测单元、所述自动校准单元和所述检索单元信号连接，所述 检测单元与所述自动校准单元和所述检索单元信号连接，所述自动校准单元与所述检索单元信号连接，所述振荡器单元输出振荡信号，所述振荡信号具有参考状态和待校准状态；
控制所述振荡器单元分别输出若干参考状态的所述振荡信号；在每一参考状态的所述振荡信号下，所述检测单元输入所述振荡信号，同时所述检测单元输入一比较信号，所述检测单元通过比较所述比较信号和参考状态的所述振荡信号，得到一对比信号，此时，所述对比信号为参考状态，所述自动校准单元根据参考状态的所述对比信号，得到一校准控制字，所述控制字使参考状态的所述振荡信号得到校准，同时，所述自动校准单元将所述校准控制字输出给所述检索单元；
所述检索单元根据所有参考状态的所述对比信号和对应的所述校准控制字制得一标准对比信号与校准控制字关系对照表；
控制所述振荡器单元输出一待校准状态的所述振荡信号；所述检测单元输入所述振荡信号，同时所述检测单元输入所述比较信号，所述检测单元通过比较所述比较信号和待校准状态的所述振荡信号，得到所述对比信号，此时，所述对比信号为待校准状态，所述检索单元接收待校准状态的所述对比信号，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到所述校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。
进一步的，所述自动校准单元为一算数器。
进一步的，所述振荡器单元为谐波振荡器或弛张振荡器。
进一步的，所述比较信号的频率小于所述振荡信号的频率。
与现有技术相比，本发明提供的振荡器自动校准装置及其校准方法具有以下优点：本发明提供的振荡器自动校准装置，所述自振荡器自动校准装置具有一检索单元，所述检索单元具有一标准对比信号与校准控制字关系对照表，与现有技术相比，当所述检索单元接收到所述对比信号时，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，直接得到一校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准，通过查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，可以避免了需要多次调整所述控制字才能得到所述校准控制字，从而节约自动校准的时间，提高效率。
附图说明
图1为现有技术中振荡器自动校准装置的示意图；
图2为现有技术中振荡器自动校准方法的流程图；
图3为本发明一实施例中振荡器自动校准装置的示意图；
图4为本发明一实施例中振荡器自动校准方法的流程图；
图5为本发明一实施例中振荡器自动校准的波形图。
具体实施方式
下面将结合示意图对本发明的振荡器自动校准装置及其校准方法进行更详细的描述，其中表示了本发明的优选实施例，应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本发明，而仍然实现本发明的有利效果。因此，下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道，而并不作为对本发明的限制。
为了清楚，不描述实际实施例的全部特征。在下列描述中，不详细描述公知的功能和结构，因为它们会使本发明由于不必要的细节而混乱。应当认为在任何实际实施例的开发中，必须做出大量实施细节以实现开发者的特定目标，例如按照有关系统或有关商业的限制，由一个实施例改变为另一个实施例。另外，应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的，但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。
在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
本发明的核心思想在于，提供一种振荡器自动校准装置，包括一检索单元，所述检索单元具有一标准对比信号与校准控制字关系对照表，当所述检索单元接收到所述对比信号时，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到一校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。
进一步，结合上述振荡器自动校准装置，本发明还提供了一种振荡器自动 校准方法，包括以下步骤：
步骤S21，提供一振荡器单元、一检测单元、一自动校准单元和一检索单元，所述振荡器单元与所述检测单元、所述自动校准单元和所述检索单元信号连接，所述检测单元与所述自动校准单元和所述检索单元信号连接，所述自动校准单元与所述检索单元信号连接，所述振荡器单元输出振荡信号，所述振荡信号具有参考状态和待校准状态；
步骤S22，控制所述振荡器单元分别输出若干参考状态的所述振荡信号；在每一参考状态的所述振荡信号下，所述检测单元输入所述振荡信号，同时所述检测单元输入一比较信号，所述检测单元通过比较所述比较信号和参考状态的所述振荡信号，得到一对比信号，此时，所述对比信号为参考状态，所述自动校准单元根据参考状态的所述对比信号，得到一校准控制字，所述控制字使参考状态的所述振荡信号得到校准，同时，所述自动校准单元将所述校准控制字输出给所述检索单元；
步骤S23，所述检索单元根据所有参考状态的所述对比信号和对应的所述校准控制字制得一标准对比信号与校准控制字关系对照表；
步骤S24，控制所述振荡器单元输出一待校准状态的所述振荡信号；所述检测单元输入所述振荡信号，同时所述检测单元输入所述比较信号，所述检测单元通过比较所述比较信号和待校准状态的所述振荡信号，得到所述对比信号，此时，所述对比信号为待校准状态，所述检索单元接收待校准状态的所述对比信号，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到所述校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。
以下结合核心思想，详细说明本发明所述振荡器自动校准装置和振荡器自动校准方法。
请参考图3，其为本发明一实施例中振荡器自动校准装置的示意图。如图3所示，在本实施例中，所述振荡器自动校准装置包括一振荡器单元101，一检测单元102、一自动校准单元103和一检索单元104。
所述振荡器单元101根据接收到的控制字V1输出一振荡信号V2，所述振荡信号V2具有参考状态和待校准状态。其中，所述振荡器单元101可以为谐波 振荡器或弛张振荡器，采用本实施例的所述振荡器自动校准装置可以对谐波振荡器或弛张振荡器输出的振荡信号进行校准。
所述检测单元102接收所述振荡信号V2，同时所述检测单元102接收一比较信号V3，所述检测单元102通过比较所述比较信号V3和所述振荡信号V2，得到一对比信号V4，并输出所述对比信号V4。较佳的，所述比较信号V4的频率小于所述振荡信号V2的频率，可以使得到校准得所述振荡信号V2更加稳定。其中，所述检测单元102不做具体的限制，可以采用本领域公知的结构，如一计数器和一比较器，所述计数器接收所述比较信号V3和所述振荡信号V2，并将所述比较信号V3和所述振荡信号V2传送给所述比较器，所述比较器根据对所述比较信号V3和所述振荡信号V2做差，得到所述对比信号V4。当所述振荡信号V2为参考状态时，所述对比信号V4为参考状态，当所述振荡信号V2为待校准状态时，所述对比信号V4为待校准状态。
所述自动校准单元103可以为常规的算数器，如加法器和减法器，当所述振荡信号V2为待校准状态时，所述对比信号V4为参考状态，所述自动校准单元103接收所述对比信号V4，并可以采用常规的方法，经过多次循环计算得到一校准控制字V1-n，所述振荡器单元101接收所述校准控制字V1-n。
当所述对比信号V4为参考状态时，所述检索单元104接收所述校准控制字V1-n与所述对比信号V4，并建立一标准对比信号与校准控制字关系对照表；当所述对比信号V4为待校准状态时，所述检索单元104接收所述对比信号V4，查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到一校准控制字V1-n，并输出所述校准控制字V1-n给所述振荡器单元101，使所述振荡信号V1得到校准。
以下结合图4和图5具体说明本实施例中振荡器自动校准装置的校准方法。其中，图4为本发明一实施例中振荡器自动校准方法的流程图；图5为本发明一实施例中振荡器自动校准的波形图。
首先，进行步骤S21，提供本实施例中上述的振荡器自动校准装置。
然后，进行步骤S22，采用常规的方法，初始化控制字V1-0，使所述振荡器单元分别输出若干参考状态的所述振荡信号V2-0；
在每一参考状态的所述振荡信号V2-0下，所述检测单元102输入所述振荡 信号V2-0，同时所述检测单元102输入一比较信号V3，所述检测单元102通过比较所述比较信号V3和参考状态的所述振荡信号V2-0，得到一对比信号V4-0，此时，所述对比信号V4-0为参考状态，所述自动校准单元103根据参考状态的所述对比信号V4-0，采用常规的循环计算的方法，经过n次计算，得到一控制字V1-n，所述控制字V1-n使参考状态的所述振荡信号V2得到校准，则此时当前的控制字即为校准控制字V1-n，同时，所述自动校准单元103将所述校准控制字V1-n输出给所述检索单元104。
其中，所述自动校准单元103可以为算数器，算数器根据所述参考状态的对比信号V4，判断所述比较信号V4是否符合要求，如果不符合要求，通过做加法运算或减法运算，调整所述控制字V1，直到所述比较信号V4符合要求。但所述自动校准单元103并不限于所述算数器，常规的能够通过加减计算实现自动校准得到控制字的单元，如通过对控制字V1做除法计算的逻辑电路，亦在本发明的思想范围之内。
然后，进行步骤S23，所述检索单元104根据所有参考状态的所述对比信号V4和对应的所述校准控制字V1-n制得一标准对比信号与校准控制字关系对照表。
本实施例中，控制字V1为3比特，在没有频率偏移时，振荡器所述控制字的所有状态对应的标准频率如表1所示。
表1
本实例中，振荡器目标频率20兆赫兹，初始化控制字为011。实施频率校准时，向所述检测单元102输入的比较信号V3为10兆赫兹，所述振荡器单元101输出若干参考状态的振荡信号V2时，所述检测单元102通过比较所述比较信号V3和参考状态的振荡信号V2，得到参考状态的对比信号V4，所述自动校准单元103对相应得到一系列校准控制字V1-n，根据该一系列参考状态的对比信号V4和相应的校准控制字V1-n，可以建立一张如表1所示的表格，表1为本发明一实施例中标准对比信号与校准控制字关系对照表。在本实施例中，控制字V1的位数不做具体限制，控制字V1还可以为4比特、5比特、6比特等。
最后，进行步骤S24，该步骤为振荡器自动校准装置进行校准时的校准流程，采用常规的方法，初始化控制字V1，控制所述振荡器单元101输出一待校准状态的所述振荡信号V2。
所述检测单元102输入所述振荡信号V2，同时所述检测单元102输入所述比较信号V3，所述检测单元通过比较所述比较信号和待校准状态的所述振荡信号，得到所述对比信号（与步骤S22中的比较信号V3相同），此时，所述对比信号V3为待校准状态，所述检索单元104接收待校准状态的所述对比信号V3，所述检索单元104查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，直接得到校准控制字V1-n，并输出所述校准控制字V1-n给所述振荡器单元101，使所述振荡信号V2直接得到校准，避免多次循环计算。
在步骤S24中，所述自动校准单元103不需要工作，所以可以卸载。
在本实施例中，所述振荡器单元101的目标振荡信号为20兆赫兹，比较信号V3为10兆赫兹，初始化控制字为011。所述检测单元得到当前参考状态的对比信号为30兆赫兹，所述检索单元104查找表2所示的所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到校准控制字为001，校准控制字使所述振荡信号V2得到校准，所述振荡器单元101校准后的振荡信号为20.2兆赫兹，如图5所示。在图5中，横坐标为时间，纵坐标为幅度，C1为所述振荡器单元101的振荡信号的波形图，C2为控制字的波形图。从图5可以看出，所述振荡器单元101的振荡信号在A点直接从30兆赫兹校准为20.2兆赫兹，时间很短，准确度高。
表2
在本实施例中，所述标准对比信号与校准控制字关系对照表中的数据不做具体限制，根据需要可以有不同数量的数据，但所述标准对比信号与校准控制字关系对照表中的数据越多，所述对比信号的间距越小，则校准的精确度越高。
综上所述，本发明提供一种振荡器自动校准装置，包括：振荡器单元，所述振荡器单元输出一振荡信号；检测单元，所述检测单元接收一比较信号和所 述振荡信号，通过比较所述比较信号和所述振荡信号，得到一对比信号，并输出所述对比信号；检索单元，所述检索单元具有一标准对比信号与校准控制字关系对照表，当所述检索单元接收到所述对比信号时，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到一校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。与现有技术相比，本发明具有以下优点：
本发明提供的振荡器自动校准装置，所述自振荡器自动校准装置具有一检索单元，所述检索单元具有一标准对比信号与校准控制字关系对照表，与现有技术相比，当所述检索单元接收到所述对比信号时，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，直接得到一校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准，通过查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，可以避免了需要多次调整所述控制字才能得到所述校准控制字，从而节约自动校准的时间，提高效率。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (8)
1.一种振荡器自动校准装置，包括：
振荡器单元，所述振荡器单元输出振荡信号，所述振荡信号具有参考状态和待校准状态；
检测单元，所述检测单元接收一比较信号和所述振荡信号，通过比较所述比较信号和所述振荡信号，得到一对比信号，并输出所述对比信号，当所述振荡信号为参考状态时，所述对比信号为参考状态，当所述振荡信号为待校准状态时，所述对比信号为待校准状态；
自动校准单元，当所述振荡信号为待校准状态时，所述自动校准单元接收所述对比信号，输出一校准控制字，所述振荡器单元接收所述校准控制字；
检索单元，当所述对比信号为参考状态时，所述检索单元接收所述校准控制字与所述对比信号，并建立一标准对比信号与校准控制字关系对照表；当所述对比信号为待校准状态时，所述检索单元接收所述对比信号，查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到所述校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。
2.如权利要求1所述的振荡器自动校准方法，其特征在于，所述自动校准单元为一算数器。
3.如权利要求1所述的振荡器自动校准装置，其特征在于，所述振荡器单元为谐波振荡器或弛张振荡器。
4.如权利要求1所述的振荡器自动校准装置，其特征在于，所述比较信号的频率小于所述振荡信号的频率。
5.一种振荡器自动校准方法，包括：
提供一振荡器单元、一检测单元、一自动校准单元和一检索单元，所述振荡器单元与所述检测单元、所述自动校准单元和所述检索单元信号连接，所述检测单元与所述自动校准单元和所述检索单元信号连接，所述自动校准单元与所述检索单元信号连接，所述振荡器单元输出振荡信号，所述振荡信号具有参考状态和待校准状态；
控制所述振荡器单元分别输出若干参考状态的所述振荡信号；在每一参考状态的所述振荡信号下，所述检测单元输入所述振荡信号，同时所述检测单元输入一比较信号，所述检测单元通过比较所述比较信号和参考状态的所述振荡信号，得到一对比信号，此时，所述对比信号为参考状态，所述自动校准单元根据参考状态的所述对比信号，得到一校准控制字，所述控制字使参考状态的所述振荡信号得到校准，同时，所述自动校准单元将所述校准控制字输出给所述检索单元；
所述检索单元根据所有参考状态的所述对比信号和对应的所述校准控制字制得一标准对比信号与校准控制字关系对照表；
控制所述振荡器单元输出一待校准状态的所述振荡信号；所述检测单元输入所述振荡信号，同时所述检测单元输入所述比较信号，所述检测单元通过比较所述比较信号和待校准状态的所述振荡信号，得到所述对比信号，此时，所述对比信号为待校准状态，所述检索单元接收待校准状态的所述对比信号，所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表，得到所述校准控制字，并输出所述校准控制字给所述振荡器单元，使所述振荡信号得到校准。
6.如权利要求6所述的振荡器自动校准方法，其特征在于，所述自动校准单元为一算数器。
7.如权利要求6所述的振荡器自动校准方法，其特征在于，所述振荡器单元为谐波振荡器或弛张振荡器。
8.如权利要求6所述的振荡器自动校准方法，其特征在于，所述比较信号的频率小于所述振荡信号的频率。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201210526391.1A CN103873056B (zh) | 2012-12-07 | 2012-12-07 | 振荡器自动校准装置及其校准方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201210526391.1A CN103873056B (zh) | 2012-12-07 | 2012-12-07 | 振荡器自动校准装置及其校准方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103873056A true CN103873056A (zh) | 2014-06-18 |
| CN103873056B CN103873056B (zh) | 2016-11-23 |
Family
ID=50911243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201210526391.1A Active CN103873056B (zh) | 2012-12-07 | 2012-12-07 | 振荡器自动校准装置及其校准方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103873056B (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104092460A (zh) * | 2014-07-28 | 2014-10-08 | 联想(北京)有限公司 | 一种振荡器的校准控制方法、装置和电子设备 |
| CN106341122A (zh) * | 2015-07-08 | 2017-01-18 | 亚德诺半导体集团 | 具有多频段振荡器的锁相环以及校准其的方法 |
| US10295580B2 (en) | 2016-10-03 | 2019-05-21 | Analog Devices Global | On-chip measurement for phase-locked loop |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100499374C (zh) * | 2004-02-11 | 2009-06-10 | 络达科技股份有限公司 | 频率合成器及其自动增益校准方法 |
| CN101557229A (zh) * | 2008-04-10 | 2009-10-14 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 锁相环自校准系统以及方法 |
| US8461933B2 (en) * | 2010-10-26 | 2013-06-11 | Mediatek Inc. | Device and method for frequency calibration and phase-locked loop using the same |
-
2012
- 2012-12-07 CN CN201210526391.1A patent/CN103873056B/zh active Active
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104092460A (zh) * | 2014-07-28 | 2014-10-08 | 联想(北京)有限公司 | 一种振荡器的校准控制方法、装置和电子设备 |
| CN104092460B (zh) * | 2014-07-28 | 2017-02-15 | 联想(北京)有限公司 | 一种振荡器的校准控制方法、装置和电子设备 |
| CN106341122A (zh) * | 2015-07-08 | 2017-01-18 | 亚德诺半导体集团 | 具有多频段振荡器的锁相环以及校准其的方法 |
| CN106341122B (zh) * | 2015-07-08 | 2020-03-17 | 亚德诺半导体集团 | 具有多频段振荡器的锁相环以及校准其的方法 |
| US10727848B2 (en) | 2015-07-08 | 2020-07-28 | Analog Devices Global | Phase-locked loop having a multi-band oscillator and method for calibrating same |
| US10295580B2 (en) | 2016-10-03 | 2019-05-21 | Analog Devices Global | On-chip measurement for phase-locked loop |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103873056B (zh) | 2016-11-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9143121B2 (en) | System and method of adjusting a clock signal | |
| CN102195646A (zh) | 时钟振荡器自动校准方法及电路 | |
| CN106374890A (zh) | 一种时钟占空比校正电路 | |
| CN104836580A (zh) | 任意相位轨迹频率合成器 | |
| CN104734697A (zh) | 使用异步数字采样的时钟校准 | |
| CN104122936B (zh) | 一种mcu芯片分频时钟校正装置及方法 | |
| CN113054998A (zh) | 时间数字转换器的线性校准系统、方法及数字锁相环 | |
| US8433944B2 (en) | Clock divider system and method with incremental adjustment steps while controlling tolerance in clock duty cycle | |
| CN103814524A (zh) | 在反馈环路中具有相位校正的锁相环 | |
| CN103444084A (zh) | 具有高分辨率相位对准的dtc系统 | |
| CN102916679A (zh) | 提供精准低频时钟信号的电路及其控制方法 | |
| CN103092258B (zh) | 时钟产生电路自校正系统及其校正方法 | |
| CN103580713A (zh) | 电子装置和时钟产生方法 | |
| WO2020005438A1 (en) | Device, method and system for providing a delayed clock signal to a circuit for latching data | |
| CN104753499A (zh) | 占空比校准电路 | |
| US8638173B2 (en) | System and method of calibrating a phase-locked loop while maintaining lock | |
| CN103873056A (zh) | 振荡器自动校准装置及其校准方法 | |
| CN105765867B (zh) | 用于校准频率合成器的方法和装置 | |
| US10348184B2 (en) | Power system and an associated method thereof | |
| US20080007348A1 (en) | Method for designing phase-lock loop circuits | |
| CN103532548A (zh) | 模拟-数字信号转换方法及其装置 | |
| US10146250B2 (en) | Method and circuit for adjusting the frequency of a clock signal | |
| CN104571264A (zh) | 一种时延调整方法和装置 | |
| CN204065907U (zh) | 一种mcu芯片分频时钟校正装置 | |
| US20220255550A1 (en) | Integrated transmitter slew rate calibration |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant |