CN103868496B - 结构体铅直测定装置及测定方法 - Google Patents

Abstract

一种结构体铅直测定装置，包含标定器以及靶件。标定器包含可调整射出的光沿铅直方向行进的光源。靶件具有相背向的正面与反面，于正面标示有标靶。将标定器设置靠近结构体的下面，将靶件设置靠近结构体的上面。当光源沿铅直方向射出的光射于标靶中心时，结构体是铅直立于建设面。

Description

结构体铅直测定装置及测定方法

技术领域

本发明是关于一种结构体铅直测定方法及铅直测定装置。

背景技术

常用的结构体是否铅直的测定方法，可举例如图1A所示，于结构体700上附设气泡式或指针式的铅直仪900，目视铅直仪上的气泡或指针是否指示于铅直的位置。若非指示于铅直的位置，则调整结构体700周围的支持螺杆901长度，改变结构体700的直立角度，直到目视确认铅直仪900上的气泡或指针指示于铅直的位置。

然而，上述铅直仪900的目视判断，必须视线通过气泡或指针并与判读刻度面垂直，才能准确的判断结构体700是否为铅直状态，因此，目视铅直仪900时需花费时间于视线角度的调整，并且，身高各异的作业人员目视附设于结构体700上的铅直仪900时，也容易因视线俯仰角度的不同，产生判读的误差。

另外，如图1B所示，也有以铅锤线902测定结构体700是否于铅直状态的测定方法，此种方法也相同地有因视线角度造成判断误差的缺点。并且，铅锤线902容易因风吹、结构体700的调整等原因而晃动，等待铅锤线902静止才能判断结构体700是否于铅直状态。然因铅锤线902的阻尼小，等待铅锤线902静止需花费时间。

发明内容

对此，本发明的目的是提供一种结构体铅直测定装置及测定方法，不需调整视线角度，也不会因视线角度的不同而造成判读的误差，并可迅速且一目了然得知结构体是否于铅直状态。

为了达成上述目的，本发明的结构体铅直测定装置，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及接续于该上面与该下面之间的一轴线，对于该结构体标记第一直线以及第二直线，该第一直线是通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该下面，该第二直线是通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该上面，沿该轴线的轴向观察时，该第二直线与该第一直线重叠，该结构体以该下面一侧立于一建设面。结构体铅直测定装置包含：标定器以及靶件。标定器包含可调整射出的光沿铅直方向行进的光源。靶件具有相背向的一正面与一反面，于正面标示有标靶。该第一直线于该下面附近的水平面铅直投影一第一投影线，将该光源设置于该第一投影线的延伸方向上，至该轴线为第一距离的位置；将该靶件水平地设置靠近该上面，该标靶中心对向该光源，位于该第二直线铅直投影于水平面的一第二投影线上且至该轴线为该第一距离的位置，当该光源沿铅直方向射出的光射于标靶中心时，该结构体以该轴线铅直立于该建设面。

另外，本发明的结构体铅直测定装置，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及位于该上面与该下面之间且连续接续的一第一侧面与一第二侧面，该第一侧面与该第二侧面之间成为一第一夹角，该第一夹角不为0度或180度，该第一侧面与该第二侧面接续的边为一接续直线，该结构体以该下面一侧立于一建设面。结构体铅直测定装置包含：标定器以及靶件。标定器包含可调整射出的光沿铅直方向行进的光源。靶件具有相背向的一正面与一反面，于正面标示有标靶。将该光源设置靠近该下面，且位于距该第一侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第二距离，距该第二侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第三距离的位置；将该靶件以该正面对向该光源，水平地设置靠近该上面，且该标靶的中心位于距该第一侧面的延伸面该第二距离，距该第二侧面的延伸面该第三距离的位置，当该光源沿铅直方向射出的光射于该标靶中心时，该结构体以该接续直线铅直立于该建设面。

本发明的结构体铅直测定方法，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及接续于该上面与该下面之间的一轴线。结构体铅直测定方法包含：标记第一直线，该第一直线通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该下面；标记第二直线，该第二直线通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该上面，沿该轴线的轴向观察时，该第二直线与该第一直线重叠；将该结构体以该下面一侧立于一建设面；设置一光源于一第一投影线的延伸方向上，该第一投影线是该第一直线铅直投影于该下面附近的水平面者；求取该第一投影线上该光源至该轴线的第一距离；水平地设置一靶件靠近该上面，该靶件的标靶中心对向该光源，位于该第二直线铅直投影于水平面的一第二投影线上且至该轴线为该第一距离的位置；调整该光源射出的光沿铅直方向行进；以及当该光源射出的光射于标靶中心时，该结构体以该轴线铅直立于该建设面的步骤。

另外，本发明的结构体铅直测定方法，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及位于该上面与该下面之间且连续接续的一第一侧面与一第二侧面，该第一侧面与该第二侧面之间成为一第一夹角，该第一夹角不为0度或180度，该第一侧面与该第二侧面接续的边为一接续直线。结构体铅直测定方法包含：将该结构体以该下面一侧立于一建设面；设置一光源靠近该下面，且位于距该第一侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第二距离，距该第二侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第三距离的位置；水平地设置一靶件靠近该上面，该靶件的标靶中心对向该光源，位于距该第一侧面的延伸面第二距离，且距该第二侧面的延伸面第三距离的位置；调整该光源射出的光沿铅直方向行进；以及当该光源射出的光射于标靶中心时，该结构体以该接续直线铅直立于该建设面的步骤。

再者，本发明的结构体铅直测定方法，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及位于该上面与该下面之间且连续接续的一第一侧面与一第二侧面，该第一侧面与该第二侧面之间成为一第一夹角，该第一夹角是于大于0度、小于等于90度的范围，该第一侧面与该第二侧面接续的边为一接续直线。结构体铅直测定方法包含：将该结构体以该下面一侧立于一建设面；设置一光源靠近该下面，且位于该第一夹角的分角线上，至该接续直线为第六距离的位置；水平地设置一靶件靠近该上面，该靶件的标靶中心对向该光源，位于该第一夹角的分角线上，至该接续直线为第六距离的位置；调整该光源射出的光沿铅直方向行进；以及当该光源射出的光射于标靶中心时，该结构体以该接续直线铅直立于该建设面。

附图说明

图1A是已知结构体铅直测定方法。

图1B是另一已知结构体铅直测定方法。

图2是本发明的结构体铅直测定装置一实施方式的示意图。

图3A是本发明的结构体铅直测定装置的标定器一实施方式的立体图。

图3B是图3A的标定器的另一视角的立体图。

图4A是本发明的结构体铅直测定装置的靶件一实施方式的示意图。

图4B是本发明的结构体铅直测定装置的靶件其他实施方式的示意图。

图5是本发明的结构体铅直测定装置其他实施方式的示意图。

图6是本发明的结构体铅直测定装置其他实施方式的示意图。

图7是本发明的结构体铅直测定装置中，光源的其他实施方式的示意图。

图8是本发明的结构体铅直测定装置的靶件其他实施方式的示意图。

图9A是本发明的结构体铅直测定装置的标定器的变化实施方式的示意图。

图9B是图9A的标定器的另一视角的立体图。

图10A是靶件的一设置形式的示意图。

图10B是靶件的另一设置形式的示意图。

图11A是靶件的另一设置形式的示意图。

图11B是图11A的要部示意图。

图12A是本发明的结构体铅直测定装置其他实施方式的示意图。

图12B是本发明的结构体铅直测定装置的靶件其他实施方式的示意图。

图13A是本发明的结构体铅直测定装置的标定器其他实施方式的示意图。

图13B是本发明的结构体铅直测定装置的靶件其他实施方式的示意图。

【主要元件符号说明】

100：标定器 110：光源

111：发光口 112：光源脚垫

113：水平仪 120：基座

121：光源设置处 122：定位处

123：第一方向标线 124：第二方向标线

125：第三方向标线 126：发光口铅直投影点

127：基座脚垫 128：水平仪

129：臂体 129A：旋转臂体

129B：旋转臂体 130：伸缩套

131：伸缩套脚垫 132：间隔件

133：伸缩尺标 134：槽部

135：固定件 140：十字光源

141：发光口 200：靶件

210：标靶 220：靶件标线

221：孔部 230：靶件尺标

231：孔部 240：固定件

241：L形构件 250：遮罩

700：结构体 710：结构体

711：上面 712：下面

713：第一侧面 714：第二侧面

715：第一夹角 716：接续直线

720：结构体 721：上面

722：下面 723：轴线

724：第一直线 725：第二直线

726：端点 727：端点

730：结构体 740：结构体

741：模板 743：第一侧面

744：第二侧面 745：第一夹角

746：接续直线 747：第一辅助线

748：第二辅助线 900：铅直仪

901：支撑螺杆 902：铅锤线

具体实施方式

图2是本发明的结构体铅直测定装置一实施方式的示意图。如图2所示，本发明的结构体铅直测定装置可用于测定结构体710是否于铅直状态。此结构体710包含上面711、相对于上面的下面712、以及位于上面与下面之间且连续接续的第一、第二侧面713、714。第一侧面713与第二侧面714之间成为第一夹角715，此第一夹角715不为0度或180度，第一侧面713与第二侧面714接续的直线边成为接续直线716。图2所示的第一夹角715是90度，第一侧面713与第二侧面714相背向地接续，接续直线716为一棱线，但不限于此，例如第一夹角715为270度，第一侧面713与第二侧面714成为相对向地接续，接续直线716为一谷线的情况，也可适用本发明。结构体710是以下面712一侧立于一建设面。

本实施方式中，欲使结构体710以接续直线716铅直立于建设面。

如图2所示，本发明的结构体铅直测定装置包含标定器100以及靶件200。如图3A与图3B所示，标定器100包含光源110，光源110较佳是激光标点等的点状光源。光是从光源110顶部的发光口111射出。光源110可通过调整位于光源110底部的光源脚垫112，搭配位于光源110一侧的水平仪113，将光源110的底座调整于水平状态。一般地，光源110射出的光的行进方向垂直于底座，因此，当光源110的底座于水平状态时，从光源110射出的光即沿铅直方向行进。亦即，通过调整位于光源110底部的光源脚垫112可将光源110射出的光调整为沿铅直方向行进。靶件200具有相背向的正面与反面。如图4A与图4B所示，靶件200的正面上标示有标靶210。

以本发明的结构体铅直测定装置测定结构体710的铅直状态时，将光源110设置靠近下面712，例如，可将光源110直接置于建设面。光源110与结构体710的位置关系成为光源110的发光口111位于距第一侧面713与下面712接续的边缘铅直投影于建设面的延伸线为第二距离，距第二侧面714与下面712接续的边缘铅直投影于建设面的延伸线为第三距离的位置。

接着，水平地设置靶件200靠近上面711并以正面对向光源110。此时，靶件200设置成为的标靶210中心位于距第一侧面713的延伸面为第二距离，且距第二侧面714的延伸面为第三距离的位置。

将光源110射出的光调整成为沿铅直方向行进。当光源射出的光射于标靶210中心时，即铅直行进的光束至第一侧面713靠近上面711与靠近下面712的距离同为第二距离，铅直行进的光束至第二侧面714靠近上面711与靠近下面712的距离同为第三距离，因而可判断结构体710以接续直线716铅直立于建设面。当光源110射出的光未射于标靶210中心时，判断结构体710未以接续直线716铅直立于建设面，此时，可依光偏离标靶210中心的方向及距离调整结构体710，直到光射于标靶210中心。为了便于调整标定器100与靶件200的位置，第二距离与第三距离以相等为较佳。

此外，如图5、图6的本发明的结构体铅直测定装置其他实施方式所示，本发明的结构体铅直测定装置也可用于测定圆柱状结构体、不规则结构体等的结构体720是否于铅直状态。此时，结构体720包含上面721、相对于上面721的下面722、以及接续于上面721与下面722之间的轴线723。

本实施方式中，欲使结构体720以轴线723铅直立于建设面。此轴线723可以是一虚拟的线段而并未实际出现于结构体720。制作结构体时，可仅于对应的上面721与下面722标记轴线723的二端点726、727供标记下述第一直线724与第二直线725，但也可利用钢筋等的直线构件贯穿结构体720，成为实体的轴线723。

以本发明的结构体铅直测定装置测定结构体720的铅直状态时，于结构体720上标记第一直线724与第二直线725。第一直线724是通过轴线723且与轴线723垂直，靠近下面722。第二直线725是通过轴线723且与轴线723垂直，靠近上面721，沿轴线723的轴向观察时，第二直线725与第一直线724重叠。上述第一直线724与第二直线725可实际绘示线条或点线等的记号于结构体720上，也可利用钢筋等的直线构件设置于结构体720成为实体的线段，也可以是以激光等标记的虚拟线段。

接着，将结构体720以下面722一侧立于一建设面。

之后，设置光源110于第一直线724铅直投影于下面附近的水平面上的一投影线延伸方向上的适当位置，并求取光源110于此投影线上至轴线723间的第一距离。具体地，例如，可将光源110直接置于建设面，第一直线724于建设面附近的水平面铅直投影一投影线，光源110设置成为发光口111铅直投影于该投影线上，并求取发光口111铅直投影于该投影线上的位置至轴线723之间的距离作为第一距离。

水平地设置靶件200靠近上面711，将标靶210对向光源110，设置成为标靶210中心位于第二直线725铅直投影于水平面的一投影线上且至轴线723为第一距离的位置。

将光源110射出的光调整成为沿铅直方向行进。当光源射出的光射于标靶210中心时，即铅直行进的光束与轴线723平行，因而可判断结构体720以轴线723铅直立于建设面。当光源110射出的光未射于标靶210中心时，判断结构体720未以轴线723铅直立于建设面。此时，可依光偏离标靶210中心的方向距离调整结构体720直到光射于标靶210中心。

通常上述的建设面已整地为水平面，因此，上述“下面附近的水平面”可直接采用已整地为水平面的建设面。

因光照射于标靶210上时，光点不会因视线的角度不同而判读为照射于标靶210上的不同位置，因此，通过上述本发明的结构体铅直测定装置及测定方法，不需调整视线角度，也不会因视线角度的不同而造成判读的误差。另外，因光线不会如铅锤线902一般地因阻尼小而需花时间等待其静止，因此，通过上述本发明的结构体铅直测定装置及测定方法即可迅速且一目了然得知结构体是否于铅直状态。

为了更便于标定器100的设置，如图3A、图3B所示，标定器100可包含基座120，基座120的上面设有对应光源脚垫112的定位处122成为光源设置处121，并设有供对齐第一直线的第一方向标线123。当光源110以光源脚垫112放置于定位处122时，发光口111恰好铅直投影于第一方向标线123上的发光口铅直投影点126。以第一方向标线123对齐第一直线724时，即可简单地使发光口111铅直投影于第一直线724及其铅直投影的线段上。基座120的底面分布复数个基座脚垫127，搭配设于基座120的水平仪128，可调整基座120的水平。

另外，基座上面可标示第二方向标线124及第三方向标线125。以第二方向标线124平行于结构体710的第一侧面713与下面712接续的边缘铅直投影于建设面的延伸线；以第三方向标线125平行于结构体710的第二侧面714与下面712接续的边缘铅直投影于建设面的延伸线来设置基座120，并且，当光源110以光源脚垫112放置于定位处122时，发光口111恰好铅直投影于第二方向标线124与第三方向标线125的交点，即上述的发光口铅直投影点126。通过此发光口铅直投影点126的标示，可容易地求取上述的第一、第二、及第三距离。

基座120还可包含二臂体129，分别向第二方向标线124与第三方向标线125的延伸方向，从光源设置处121延伸而出。通过二臂体129的设置，可直接以二臂体129抵靠于结构体710的第一侧面713与第二侧面714，简单地设置基座120。

二臂体129可分别包含一伸缩套130，沿臂体129伸缩移动地套合于臂体129，由此，例如将基座120对应于大型的圆柱状结构体设置时，可利用伸缩套130延伸臂体129的长度，直接以二伸缩套130相切抵靠于圆柱状结构体的柱面，简单地设置基座120。另外，二伸缩套130分别包含至少一伸缩套脚垫131，与分布于基座120底面的基座脚垫127协同调整基座120的水平。

二伸缩套130可分别包含至少一间隔件132，设于二伸缩套130相对向的一面。具体地，间隔件132可以是一螺丝构件，调整伸出各伸缩套130(臂体129)的距离。以间隔件132的前端顶于结构体，可分别调整光源110至结构体之间的对应距离。

为了标示伸缩套130于臂体129伸缩的距离，二臂体129可分别包含伸缩尺标133。为了避免间隔件132伸入伸缩套130时干涉于臂体129，于臂体129侧面形成槽部134。另外，二伸缩套130分别包含一固定件135，用以固定伸缩套130与臂体129的相对位置。

为了更便于靶件200的设置，如图4A所示，靶件200的至少反面标示靶件标线220，靶件标线220标示于正面时，其是通过标靶210中心，靶件标线220标示于反面时，则其通过标靶210中心的投影于反面的点。通过此靶件标线220可容易地对齐于第一直线724及其投影成份的线段。从靶件200的反面一侧目视对齐靶件标线220与第一直线724或其投影成份的线段时，可沿靶件标线220设置复数个孔部221，通过孔部221可容易地确认靶件标线220与第一直线724或其投影成份的线段是否对齐。

另外，靶件200可于正面或反面标示靶件尺标230，通过靶件尺标230标示标靶210中心距第一侧面713延伸面的距离以及距第二侧面714延伸面的距离而可容易地将标靶210的中心调整至上述第二距离及第三距离。从靶件200的反面一侧目视对齐靶件尺标230与第一侧面713及第二侧面714的相对位置关系时，可沿靶件尺标230设置复数个孔部231，通过孔部231可容易地确认靶件尺标230上的预定距离刻度与第一侧面713及第二侧面714是否对齐。

靶件200可由透明板材，例如压克力板、聚碳酸脂板而制成，于透明板材的任一面绘示标靶210、靶件标线220、靶件尺标230等，如此，即可由靶件200的任一面观察标靶210、靶件标线220、靶件尺标230。

上述实施方式中，光源110是例如激光标点等的点状光源，但不限于此，例如，如图7所示，可采用十字状光源140。采用此十字状光源140时，十字状光源140的发光口141发出的光，即从十字状光源140射出的十字状光的交叉点调整为沿铅直方向行进。

以十字状光源140测定结构体710是否于铅直状态时，当第一夹角是90度或270度的情况下(图7所示是90度的情况)，十字状光源140可设置成为十字状光的二光线分别平行于第一侧面713与下面712接续的边缘铅直投影于建设面的延伸线，以及第二侧面714与下面712接续的边缘铅直投影于建设面的延伸线。

对应于上述十字状光源140，如图4B所示，靶件亦采用具有十字状标靶211的靶件200。此时，十字状标靶211设置成为十字状标靶的二靶线分别平行于第一侧面713与第二侧面714。当十字状光源140射出的十字状光与十字状标靶211的二靶线重叠时，判断结构体710以接续直线716铅直立于建设面。

本发明的结构体铅直测定装置及测定方法是采用光照射靶件进行测定，若在白天室外环境或夜间强光照明环境下，周围的明度高于光源110射出的光的照度，虽也可于靶件200上呈现光迹，但在如此的环境下判读较辛苦。对此，如图8所示，于靶件200外缘设置一遮罩250，遮蔽环境的光亮使标靶210阴暗。如此，即可使光迹清楚呈现于靶件200。

图3A、图3B所示的标定器100中，二臂体129、129所夹的角度固定于90度，以对应于第一夹角715为90度的结构体，然而第一夹角715为其他角度的情况时，可采用图9A、图9B所示的标定器100。图9A、图9B所示的标定器100中，臂体成为旋转臂体129A、129B，二旋转臂体129A、129B是以发光口铅直投影点126为中心转动，改变二旋转臂体129A、129B所呈的角度，如此，不仅对应于第一夹角为90度的结构体，也可对应于第一夹角为不为0度或180度的任意角度的结构体。

图9A、图9B所示的标定器100与图3A、图3B所示的标定器100相较，除了旋转臂体的差异之外，其他的构成皆相同，因此省略赘述。

本发明的结构体铅直测定装置中，靶件200的设置方法并无特别限定，例如，结构体的上面为平坦面且可维持水平时，可直接将靶件200放置于结构体的上面，并以重物压抵固定，或者，如图10A所示，以螺栓、钉子等的固定件240将靶件200固定设置于结构体700。另外，如结构体的上面无法平稳放置靶件200时，可通过L形构件241搭配固定件240将靶件200固定于结构体成为如图10B所示的状态。若结构体为框形结构体730时，可于靶件200设置夹器，图11A、图11B所示的实施方式中，靶件200设有遮罩250，于靶件200的端边设置挡片251，以挡片251与遮罩250之间的间隙作为夹器，夹于框形结构体730，将靶件200设置于框形结构体730。

本发明的结构体铅直测定装置及测定方法也可如下述般地变化实施。

上述测定对象的结构体皆为实体的结构体，具有实际的上面与下面，然本发明的结构体铅直测定装置及测定方法也可对于未具有实际的上面与下面的虚拟结构体进行测定。

如图12A所示，以模板741组成框形围绕钢筋，并于组成框形的模板741中浇置混凝土的情况时，待混凝土硬化形成结构体740之后，则不容易调整结构体740的铅直状态，因此，可于浇置混凝土之前，以本发明的结构体铅直测定装置及测定方法测定组成框形的模板741是否于铅直状态。此时，因模板741的外侧面的角材具有相异的尺寸，不易于模板741的外侧取得平坦的基准面，因此，以模板741内侧一面或模板741的外侧板面作为基准面，本实施方式中，以模板741内侧一面即尚未制作完成的结构体740的第一侧面743、第二侧面744为基准，第一侧面743与第二侧面744之间成为第一夹角745，此第一夹角745不为0度或180度，第一侧面743与第二侧面744接续的直线边成为接续直线746。

于模板741靠近建设面的一侧标示一水平面，若建设面已整地为水平面时，可直接利用此建设面做为此水平面。之后，标示第一辅助线742平行于第一侧面743与此水平面接续的边缘且相距第四距离，标示第二辅助线743平行于第二侧面744与此水平面接续的边缘且相距第五距离。设置标定器100时，可利用二臂体129的外缘、内缘或第二方向标线124、第三方向标线125对齐第一辅助线747、第二辅助线748(图12A中以二臂体129的外缘来对齐)，由此，即可求得光源110的发光口至第一侧面743与此水平面接续的边缘，以及至第二侧面744与此水平面接续的边缘的距离。

之后，依据所求得光源110的发光口至第一侧面743与此水平面接续的边缘，以及至第二侧面744与此水平面接续的边缘的距离设置靶件200，如图12B所示。由此，即可测定模板741组成的框形中，接续直线746是否于铅直状态。

另外，如图13A所示，二臂体129可未设有伸缩套130，二臂体129分别包含一间隔件132，以等距离、等角度地设于二臂体129相对向的一面，调整伸出各臂体129的距离。以如此的标定器100测定第一夹角715于大于0度小于等于90度范围的结构体710时，如图13A所示，将标定器100设置靠近结构体710下面时，以第一夹角715的尖端(即接续直线716)抵于二臂体129伸出基座120所成的夹角，之后，调整二间隔件132成为伸出臂体129相同长度并分别抵于第一侧面713与第二侧面714。如此，第一夹角715的分角线即通过第一方向标线123，光源110的发光口111至接续直线716为第六距离。

设置靶件200靠近结构体710上面时，使镖靶210中心通过第一夹角715的分角线且至接续直线716为第六距离。当光源110沿铅直方向射出的光射于标靶210中心时，即铅直行进的光束平行于接续直线716，因而可判断结构体710以接续直线716铅直立于建设面。

以上说明了多个本发明的结构体铅直测定装置及测定方法的实施方式，然而，此并非用以限定本发明，并且，在不违背本发明目的的情况下，上述各实施方式可交互搭配实施。

如上所述，通过本发明的结构体铅直测定装置及测定方法，不需调整视线角度，也不会因视线角度的不同而造成判读的误差，并可迅速且一目了然得知结构体是否于铅直状态。

Claims (33)

1.一种结构体铅直测定装置，其特征在于，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及接续于该上面与该下面之间的一轴线，对于该结构体标记第一直线以及第二直线，该第一直线是通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该下面，该第二直线是通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该上面，沿该轴线的轴向观察时，该第二直线与该第一直线重叠，该结构体以该下面一侧立于一建设面，

该结构体铅直测定装置包含：

一标定器，包含：

一光源，可调整射出的光沿铅直方向行进；以及

一靶件，具有相背向的一正面与一反面，包含：

一标靶，标示于该正面；以及

一靶件标线，至少标示于该反面，且通过该标靶中心的投影于该反面的点，

该第一直线于该下面附近的水平面铅直投影一第一投影线，将该光源设置于该第一投影线的延伸方向上，至该轴线为第一距离的位置；将该靶件水平地设置靠近该上面，该标靶中心对向该光源，位于该第二直线铅直投影于水平面的一第二投影线上且至该轴线为该第一距离的位置，

当该光源沿铅直方向射出的光射于标靶中心时，该结构体以该轴线铅直立于该建设面。

2.如权利要求1所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该标定器进一步包含：

一基座，用以放置该光源，包含：

一第一方向标线，标示于该基座上面，用以对齐该第一直线，

当该光源放置于该基座的预定位置时，该光源的发光口是铅直投影于该第一方向标线；以及

复数个脚垫，分布于该基座底面，调整该基座的水平。

3.如权利要求1所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该靶件包含复数个孔部，沿该靶件标线设置。

4.如权利要求1所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该靶件包含一遮罩，围绕于该靶件外缘。

5.如权利要求1所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该光源是点状光源。

6.一种结构体铅直测定装置，其特征在于，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及位于该上面与该下面之间且连续接续的一第一侧面与一第二侧面，该第一侧面与该第二侧面之间成为一第一夹角，该第一夹角不为0度或180度，该第一侧面与该第二侧面接续的边为一接续直线，该结构体以该下面一侧立于一建设面，

该结构体铅直测定装置包含：

一标定器，包含：

一光源，可调整射出的光沿铅直方向行进；以及

一靶件，具有相背向的一正面与一反面，包含：

一标靶，标示于该正面；以及

一靶件标线，至少标示于该反面，且通过该标靶中心的投影于该反面的点，

将该光源设置靠近该下面，且位于距该第一侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第二距离，距该第二侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第三距离的位置；将该靶件以该正面对向该光源，水平地设置靠近该上面，且该标靶的中心位于距该第一侧面的延伸面该第二距离，距该第二侧面的延伸面该第三距离的位置，

当该光源沿铅直方向射出的光射于该标靶中心时，该结构体以该接续直线铅直立于该建设面。

7.如权利要求6所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该标定器进一步包含：

一基座，用以放置该光源，包含：

一第二方向标线，平行于该第一侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线，标示于该基座上面；以及

一第三方向标线，平行于该第二侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线，标示于该基座上面，

当该光源放置于该基座的预定位置时，该光源的发光口是铅直投影于该第二方向标线与该第三方向标线的交点；以及

复数个脚垫，分布于该基座底面，调整该基座的水平。

8.如权利要求7所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该基座进一步包含：

二臂体，分别向该第二方向标线与该第三方向标线的延伸方向，从放置该光源的预定位置延伸而出。

9.如权利要求8所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该二臂体分别包含至少一间隔件，设于该二臂体相对向的一面，调整伸出各臂体的距离。

10.如权利要求8所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该二臂体分别包含一伸缩套，可沿该臂体伸缩移动地套合于该臂体。

11.如权利要求10所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该二伸缩套分别包含至少一间隔件，设于该二伸缩套相对向的一面，调整伸出各臂体的距离。

12.如权利要求10所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该二臂体分别包含伸缩尺标，用以标示该伸缩套伸缩于该臂体的距离，该二伸缩套分别包含一固定件，用以固定该伸缩套与该臂体的相对位置。

13.如权利要求10所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该二伸缩套分别包含至少一脚垫，与分布于该基座底面的脚垫协同调整该基座的水平。

14.如权利要求8至13中的任一权利要求所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该二臂体以该第二方向标线与该第三方向标线的交点为轴心转动，改变该二臂体所成的夹角。

15.如权利要求6所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该靶件包含一靶件尺标，标示于该正面与该反面的任一面，用以标示该标靶中心距该第一侧面延伸面的距离以及距该第二侧面延伸面的距离。

16.如权利要求15所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该靶件包含复数个孔部，沿该靶件尺标设置。

17.如权利要求6所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该靶件包含一遮罩，围绕于该靶件外缘。

18.如权利要求6所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该光源是点状光源。

19.如权利要求6所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该光源是十字状光源，从该十字状光源射出的十字状光的交叉点调整为沿铅直方向行进。

20.如权利要求19所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该第一夹角是90度或270度，该十字状光源设置成为十字状光的二光线分别平行于该第一侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线，以及该第二侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线。

21.如权利要求20所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该标靶是十字状标靶。

22.如权利要求21所述的结构体铅直测定装置，其特征在于，该十字状标靶设置成为十字状标靶的二靶线分别平行于该第一侧面与该第二侧面。

23.一种结构体铅直测定方法，其特征在于，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及接续于该上面与该下面之间的一轴线，该结构体铅直测定方法包含：

标记第一直线，该第一直线通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该下面；

标记第二直线，该第二直线通过该轴线且与该轴线垂直，靠近该上面，沿该轴线的轴向观察时，该第二直线与该第一直线重叠；

将该结构体以该下面一侧立于一建设面；

设置一光源于一第一投影线的延伸方向上，该第一投影线是该第一直线铅直投影于该下面附近的水平面者；

求取该第一投影线上该光源至该轴线的第一距离；

水平地设置一靶件靠近该上面，该靶件包含一靶件标线，至少标示于靶件的反面，且通过该靶件的标靶中心的投影于该反面的点，该靶件的标靶中心对向该光源，位于该第二直线铅直投影于水平面的一第二投影线上且至该轴线为该第一距离的位置；

调整该光源射出的光沿铅直方向行进；以及

当该光源射出的光射于标靶中心时，该结构体以该轴线铅直立于该建设面。

24.如权利要求23所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，还包含遮蔽靶件周围的步骤。

25.一种结构体铅直测定方法，其特征在于，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及位于该上面与该下面之间且连续接续的一第一侧面与一第二侧面，该第一侧面与该第二侧面之间成为一第一夹角，该第一夹角不为0度或180度，该第一侧面与该第二侧面接续的边为一接续直线，该结构体铅直测定方法包含：

将该结构体以该下面一侧立于一建设面；

设置一光源靠近该下面，且位于距该第一侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第二距离，距该第二侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线第三距离的位置；

水平地设置一靶件靠近该上面，该靶件包含一靶件标线，至少标示于靶件的反面，且通过该靶件的标靶中心的投影于该反面的点，该靶件的标靶中心对向该光源，位于距该第一侧面的延伸面第二距离，且距该第二侧面的延伸面第三距离的位置；

调整该光源射出的光沿铅直方向行进；以及

当该光源射出的光射于标靶中心时，该结构体以该接续直线铅直立于该建设面。

26.如权利要求25所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，该第二距离等于该第三距离。

27.如权利要求25所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，还包含遮蔽靶件周围的步骤。

28.如权利要求25所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，该光源是十字状光源，从该十字状光源射出的十字状光的交叉点调整为沿铅直方向行进。

29.如权利要求28所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，该第一夹角是90度或270度，该十字状光源设置成为十字状光的二光线分别平行于该第一侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线，以及该第二侧面与该下面接续的边缘铅直投影于该建设面的延伸线。

30.如权利要求29所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，该标靶是十字状标靶。

31.如权利要求30所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，该十字状标靶设置成为十字状标靶的二靶线分别平行于该第一侧面与该第二侧面，当该十字状光源射出的十字状光与十字状标靶的二靶线重叠时，该结构体以该接续直线铅直立于该建设面。

32.一种结构体铅直测定方法，其特征在于，其测定对象的结构体包含：一上面；相对于该上面的一下面；以及位于该上面与该下面之间且连续接续的一第一侧面与一第二侧面，该第一侧面与该第二侧面之间成为一第一夹角，该第一夹角是于大于0度、小于等于90度的范围，该第一侧面与该第二侧面接续的边为一接续直线，该结构体铅直测定方法包含：

将该结构体以该下面一侧立于一建设面；

设置一光源靠近该下面，且位于该第一夹角的分角线上，至该接续直线为第六距离的位置；

水平地设置一靶件靠近该上面，该靶件包含一靶件标线，至少标示于靶件的反面，且通过该靶件的标靶中心的投影于该反面的点，该靶件的标靶中心对向该光源，位于该第一夹角的分角线上，至该接续直线为第六距离的位置；

调整该光源射出的光沿铅直方向行进；以及

当该光源射出的光射于标靶中心时，该结构体以该接续直线铅直立于该建设面。

33.如权利要求32所述的结构体铅直测定方法，其特征在于，还包含遮蔽靶件周围的步骤。