CN103784140A

CN103784140A - 计算装置、磁共振装置、消耗功率计算方法以及程序

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Publication number: CN103784140A
Application number: CN201310527504.4A
Authority: CN
Inventors: 浅羽佑介
Original assignee: GE Medical Systems Global Technology Co LLC
Current assignee: GE Medical Systems Global Technology Co LLC
Priority date: 2012-10-31
Filing date: 2013-10-31
Publication date: 2014-05-14
Anticipated expiration: 2033-10-31
Also published as: JP5848226B2; US20140122004A1; JP2014087546A; CN103784140B

Abstract

本发明涉及计算装置、磁共振装置、消耗功率计算方法以及程序。取得表示梯度脉冲的斜率变化的点的点数据、和表示梯度脉冲的梯度磁场强度为零的点的点数据。根据点数据计算梯度脉冲的脉宽，基于脉宽计算梯度线圈的电阻。另外，根据点数据计算梯度脉冲的梯度磁场强度，基于梯度磁场强度计算梯度线圈的线圈电流。然后，利用梯度线圈的电阻和线圈电流计算梯度线圈的消耗功率。从而以短时间计算梯度线圈的消耗功率。

Description

计算装置、磁共振装置、消耗功率计算方法以及程序

技术领域

本发明涉及计算梯度线圈的消耗功率的计算装置、适用了该计算装置的磁共振装置、用于计算梯度线圈的消耗功率的消耗功率计算方法、以及用于计算梯度线圈的消耗功率的程序。

背景技术

近年来，开始采用如回波平面成像(EPI：Echo Planer Imaging)法那样的高速摄影法。与此相伴，施加于梯度线圈的功率飞跃性地增加，梯度线圈的发热成为问题。因此，公开了在梯度线圈的温度不达到上限温度的范围内，能够连续地工作的MRI装置（参照专利文献1）。

专利文献

专利文献1：日本特开2000-023939号公报。

发明内容

然而，梯度磁场电源所能够输出的功率存在界限。从而，磁共振装置需要在梯度磁场电源所能够输出的功率范围内产生梯度磁场。因此，需要能够在产生梯度磁场之前预测梯度磁场电源的输出功率是否收敛在容许范围内的计算模型。

作为此种计算模型，已知DC模型。但是，在DC模型中，梯度线圈的损耗的计算所使用的电阻的值与频率的值无关地为恒定的。从而，在DC模型中，存在越靠高频则功率的计算值的误差越大的问题。

与此相对，已知考虑了频率分量的差异的AC模型。AC模型与DC模型相比，能够减小功率的计算值的误差。但是，在AC模型中，存在如下问题，即，需要进行傅里叶变换以计算功率，另外，需要以较细的间隔重采样梯度磁场的波形，因而花费计算时间。

从而，期望以短时间计算梯度线圈的消耗功率。

本发明的第一观点是一种计算装置，其中具有：电阻计算单元，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及消耗功率计算单元，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。

本发明的第二观点是在第一观点所述的计算装置中，所述电阻计算单元基于根据所述梯度线圈而决定的参数和所述脉宽计算所述梯度线圈的电阻。

本发明的第三观点是在第一或第二观点所述的计算装置中，具有：脉宽计算单元，基于表示所述梯度脉冲的波形的特征点的点数据计算所述脉宽。

本发明的第四观点是在第三观点所述的计算装置中，具有：线圈电流计算单元，基于所述点数据计算所述梯度线圈的线圈电流。

本发明的第五观点是在第四观点所述的计算装置中，所述线圈电流计算单元基于所述点数据计算所述梯度线圈的梯度磁场强度，基于所述梯度磁场强度计算所述线圈电流。

本发明的第六观点是在第一至第三观点中的任一观点所述的计算装置中，所述梯度脉冲的波形的特征点是所述梯度脉冲的斜率变化的点、和所述梯度脉冲的梯度磁场强度为零的点。

本发明的第七观点是一种具有梯度线圈的磁共振装置，其中具有：电阻计算单元，基于由所述梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及消耗功率计算单元，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。

本发明的第八观点是一种消耗功率计算方法，其中具有：电阻计算步骤，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及消耗功率计算步骤，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。

本发明的第九观点是一种用于使计算机执行下列处理的程序：电阻计算处理，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及消耗功率计算处理，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。

由于能够基于脉宽计算梯度线圈的电阻，故能够以短时间计算梯度线圈的消耗功率。

附图说明

图1是本发明的一个方式的磁共振装置的概要图；

图2是为了说明消耗功率的估计方法而使用的脉冲序列；

图3是概要地示出脉宽W与电阻R_dc的关系的图表；

图4是示出计算梯度线圈23x、23y、23z的消耗功率时的流程的一例的图；

图5是示出由梯度线圈23x、23y、23z产生的梯度脉冲的一例的图；

图6是点数据的说明图；

图7是梯度脉冲x1的脉宽W的计算方法的一例的说明图；

图8是示出对各个梯度脉冲x1～x4计算的梯度线圈23x的电阻R_{dc_x}的图；

图9是示出对各个梯度脉冲y1和y2计算的梯度线圈23y的电阻R_{dc_y}的图；

图10是示出对各个梯度脉冲z1～z3计算的梯度线圈23z的电阻R_{dc_z}的图；

图11是示出对各个梯度脉冲x1～x4计算的梯度线圈23x的线圈电流I_x的图；

图12是示出对各个梯度脉冲y1以及y2计算的梯度线圈23y的线圈电流I_y的图；

图13是示出对各个梯度脉冲z1～z3计算的梯度线圈23z的线圈电流I_z的图；

图14是根据AC模型计算的消耗功率与根据DC模型计算的消耗功率之差的图表；

图15是根据AC模型计算的消耗功率与通过本方式的方法计算的消耗功率之差的图表。

具体实施方式

以下，说明用于实施发明的方式，但本发明不限定于以下的方式。

图1是本发明的一个方式的磁共振装置的概要图。

磁共振装置（以下，称为“MR装置”。MR：Magnetic Resonance）100具有磁体2、工作台3、接收线圈4等。

磁体2具有收容被检测体12的孔（bore）21。另外，在磁体2中，具有超导线圈22、梯度线圈23x、23y、23z和RF线圈24。超导线圈22施加静磁场。梯度线圈23x施加x轴方向的梯度磁场，梯度线圈23y施加y轴方向的梯度磁场，梯度线圈23z施加z轴方向的梯度磁场。RF线圈24发送RF脉冲。此外，作为超导线圈22的替代，还可以使用永久磁石。

工作台3具有支撑被检测体12的支座3a。支座3a以能够移动至孔21内的方式构成。通过支座3a，被检测体12被搬运至孔21。

接收线圈4安装于被检测体12的头部。接收线圈4接收来自被检测体12的磁共振信号。

MR装置100还具有梯度磁场电源5、放大器6、发送器7、接收器8、控制部9、操作部10、以及显示部11等。

梯度磁场电源5输出梯度磁场信号。梯度磁场信号在放大器6处被放大，供应至梯度线圈23x、23y、23z。

发送器7对RF线圈24供应电流。接收器8对从接收线圈4接受的信号执行检波等信号处理。

控制部9以实现对显示部11传输所需要的信息、或者基于从接收器8接受的数据而重建图像等MR装置100的各种动作的方式控制MR装置100的各部的动作。控制部9具有点数据取得单元91～消耗功率计算单元95等。

点数据取得单元91从脉冲序列的数据取得由梯度线圈23x、23y、23z产生的梯度脉冲的点数据。之后叙述点数据。

脉宽计算单元92基于点数据计算梯度脉冲的脉宽。

电阻计算单元93基于脉宽计算梯度线圈的电阻。

线圈电流计算单元94计算流入梯度线圈的线圈电流。

消耗功率计算单元95计算梯度线圈的消耗功率。

控制部9是构成点数据取得单元91～消耗功率计算单元95的一例，通过执行既定的程序，作为这些单元而起作用。控制部9相当于计算装置。

操作部10由操作者操作，将各种信息输入控制部9。显示部11显示各种信息。

MR装置100如上所述地构成。

在本方式中，在梯度线圈23x、23y、以及23z产生梯度脉冲之前，估计在梯度线圈23x、23y、以及23z中消耗的消耗功率。梯度磁场电源5基于估计的消耗功率，对放大器6输出梯度磁场信号。以下，说明在本方式中如何估计梯度线圈23x、23y、以及23z的消耗功率。

图2以及图3用于说明在本方式中梯度线圈23x、23y、以及23z的消耗功率的估计方法的图。

首先，考虑梯度线圈23x、23y、以及23z中的各个线圈产生图2所示的脉冲序列的情况。此时，梯度线圈23x、23y、以及23z中的各个线圈的电阻R_dc能够通过以下的算式表示。

[数学式1]

P_ac：根据AC模型计算的消耗功率

i(t):流入梯度线圈23x、23y、以及23z中的各个的线圈电流

T：脉冲序列的周期。

在此，考虑当使梯度脉冲P的通过速率SR为固定值不变，变更梯度脉冲P的脉宽W时的电阻R_dc。当变更梯度脉冲P的脉宽W时，梯度脉冲P的脉宽W与电阻R_dc的关系能够通过以下的图表表示（参照图3）。

图3是概要地示出脉宽W与电阻R_dc的关系的图表。

在图表中，示出曲线L1（实线）、曲线L2（虚线）、以及曲线L3（单点划线）。曲线L1、L2、以及L3表示以下的关系。

曲线L1：脉宽W与梯度线圈23x的电阻R_dc的关系

曲线L2：脉宽W与梯度线圈23y的电阻R_dc的关系

曲线L3：脉宽W与梯度线圈23z的电阻R_dc的关系。

根据这些曲线L1、L2、以及L3，脉宽W与电阻R_dc的关系能够通过以下的算式表示。

[数学式2]

在此，参数A、B、C、D是根据梯度线圈而决定的值。从而，若梯度线圈23x的参数A、B、C、D以A＝Ax、B＝Bx、C＝Cx、D＝Dx表示，则梯度线圈23x的电阻R_{dc_x}能够通过以下的算式表示。

[数学式3]

另外，若梯度线圈23y的参数以A＝Ay、B＝By、C＝Cy、D＝Dy表示，则梯度线圈23y的电阻R_{dc_y}能够通过以下的算式表示。

[数学式4]

同样地，若梯度线圈23z的参数以A＝Az、B＝Bz、C＝Cz、D＝Dz表示，则梯度线圈23z的电阻R_{dc_z}能够通过以下的算式表示。

[数学式5]

从而，根据算式（3x）～（3z），若脉宽W被确定，则能够求产生梯度脉冲时的梯度线圈23x、23y、以及23z的电阻。

在此，设将梯度线圈23x、23y、23z的消耗功率分别以P_{ac_x}、P_{ac_y}、P_{ac_z}表示。消耗功率P_{ac_x}、P_{ac_y}、P_{ac_z}分别使用电阻R_{dc_x}、R_{dc_y}、R_{dc_z}，通过以下算式表示。

P_{ac_x}＝I_x ²×R_{dc_x}　…(4x)

P_{ac_y}＝I_y ²×R_{dc_y}　…(4y)

P_{ac_z}＝I_z ²×R_{dc_z}　…(4z)

在此，I_x：流入梯度线圈23x的线圈电流

I_y：流入梯度线圈23y的线圈电流

I_z：流入梯度线圈23z的线圈电流。

电阻R_{dc_x}、R_{dc_y}、R_{dc_z}、能够从脉宽W计算。另外，线圈电流I_x、I_y、以及I_z能够从梯度脉冲的梯度磁场强度G计算。从而，根据算式（4x）～（4z），能够估计梯度线圈23x、23y、23z的消耗功率P_{ac_x}、P_{ac_y}、P_{ac_z}。

接着，说明在本方式中估计梯度线圈的消耗功率的流程的一例。

图4是示出计算梯度线圈23x、23y、23z的消耗功率时的流程的一例的图。

在步骤ST1中，操作者输入扫描条件。由此，决定对被检测体进行摄影时所使用的脉冲序列。从而，决定RF线圈24所发送的RF脉冲、由梯度线圈23x、23y、23z产生的梯度脉冲。在图5中，示出由梯度线圈23x、23y、23z产生的梯度脉冲的一例。在输入扫描条件之后，前进至步骤ST2。

在步骤ST2中，点数据取得单元91（参照图1）从脉冲序列的数据取得由梯度线圈23x、23y、23z产生的梯度脉冲的点数据（参照图6）。

图6是点数据的说明图。

点数据表示梯度脉冲的波形的特征点。在本方式中，作为梯度脉冲的波形的特征点，规定了以下的点。

（1）梯度脉冲的斜率变化的点

（2）梯度脉冲的梯度磁场强度为零的点。

在取得由梯度线圈23x、23y、23z产生的梯度脉冲的点数据之后，前进至步骤ST3。

在步骤ST3中，脉宽计算单元92（参照图1）基于点数据计算各梯度脉冲的脉宽。以下，参照图7说明各梯度脉冲的脉宽的计算方法。此外，在图7中，为了方便说明，对梯度脉冲x1的脉宽的计算方法进行说明，但对于其他的梯度脉冲的脉宽，也能够通过与梯度脉冲x1的脉宽相同的计算方法进行计算。

图7是梯度脉冲x1的脉宽W的计算方法的一例的说明图。

首先，脉宽计算单元92从用于辨识梯度脉冲x1的波形的点数据p1～p4中检测梯度磁场强度为零的点数据p1以及p4。接着，脉宽计算单元92计算点数据p1与p4之间的时间间隔。梯度脉冲x1的脉宽W_x1是梯度脉冲x1的梯度磁场强度从零再次变为零为止的时间，所以能够通过计算点数据p1与p4之间的时间间隔来计算梯度脉冲x1的脉宽W_x1。

在图7中，对梯度脉冲x1的脉宽W_x1的计算方法进行了说明，但对于其他的梯度脉冲x2～x4的脉宽W_x2～W_x4，也能够通过同样的方法进行计算。而且，对于由梯度线圈23y产生的梯度脉冲y1以及y2的脉宽W_y1以及W_y2、和由梯度线圈23z产生的梯度脉冲z1～z3的脉宽W_z1～W_z3，也能够通过同样的方法计算脉宽。在计算各梯度脉冲的脉宽之后，前进至步骤ST4。

在步骤ST4中，电阻计算单元93（参照图1）将在步骤ST3中计算的脉宽代入算式（3x）～（3z），计算梯度线圈的电阻。例如，当求梯度线圈23x的电阻R_{dc_x}时，将梯度脉冲x1～x4的各自的脉宽代入算式（3x）即可。通过将梯度脉冲x1～x4的各自的脉宽的值代入算式（3x），能够求使梯度脉冲x1～x4中的各个产生时的梯度线圈23x的电阻R_{dc_x}。在图8中，示出对各个梯度脉冲x1～x4计算的梯度线圈23x的电阻R_{dc_x}。

另外，当求梯度线圈23y的电阻R_{dc_y}时，将梯度脉冲y1以及y2的各自的脉宽代入算式（3y）即可。由此，能够对各个梯度脉冲y1以及y2求梯度线圈23y的电阻R_{dc_y}。在图9中，示出对每个梯度脉冲y1以及y2计算的梯度线圈23y的电阻R_{dc_y}。

而且，当求梯度线圈23z的电阻R_{dc_z}时，将梯度脉冲z1～z3的各自的脉宽代入算式（3z）即可。由此，能够对各个梯度脉冲z1～z3求梯度线圈23z的电阻R_{dc_z}。在图10中，示出对各个梯度脉冲z1～z3计算的梯度线圈23z的电阻R_{dc_z}。

在对各个梯度脉冲计算梯度线圈23x、23y、以及23z的电阻之后，前进至步骤ST5。

在步骤ST5中，线圈电流计算单元94（参照图1）计算流入梯度线圈23x的线圈电流I_x、流入梯度线圈23y的线圈电流I_y、流入梯度线圈23z的线圈电流I_z。

流入梯度线圈23x的线圈电流I_x例如能够通过以下的算式计算。

I_x＝（G_x/G_{max_x}）×I_{max_x}　…(5x)

在此，G_{max_x}：梯度线圈23x能够产生的梯度磁场强度的最大值

I_{max_x}：产生梯度磁场强度G_{max_x}所需要的线圈电流

G_x：梯度脉冲x1～x4各自的梯度磁场强度。

G_{max_x}以及I_{max_x}是在扫描被检测体之前事先决定的值。从而，通过将梯度脉冲x1～x4的各自的梯度磁场强度G的值代入算式（5x），能够计算使梯度脉冲x1～x4中的各个产生时流入梯度线圈23x的线圈电流I_x。在图11中，示出对各个梯度脉冲x1～x4计算的梯度线圈23x的线圈电流I_x的图。

另外，流入梯度线圈23y的线圈电流I_y能够通过以下的算式计算。

I_y＝（G_y/G_{max_y}）×I_{max_y}　…(5y)

在此，G_{max_y}：梯度线圈23y能够产生的梯度磁场强度的最大值

I_{max_y}：产生梯度磁场强度G_{max_y}所需要的线圈电流

G_y：梯度脉冲y1以及y2各自的梯度磁场强度。

在图12中，示出对各个梯度脉冲y1以及y2计算的梯度线圈23y的线圈电流I_y。

同样地，流入梯度线圈23z的线圈电流I_z能够通过以下的算式计算。

I_z＝（G_z/G_{max_z}）×I_{max_z}　…(5z)

在此，G_{max_z}：梯度线圈23z能够产生的梯度磁场强度的最大值

I_{max_z}：产生梯度磁场强度G_{max_z}所需要的线圈电流

G_z：梯度脉冲z1～z3各自的梯度磁场强度。

在图13中，示出对各个梯度脉冲z1～z3计算的梯度线圈23z的线圈电流I_z。

在计算线圈电流I_x、I_y、I_z之后，前进至步骤ST6。

在步骤ST6中，消耗功率计算单元95（参照图1）计算梯度线圈23x的消耗功率P_{ac_x}、梯度线圈23y的消耗功率P_{ac_y}、梯度线圈23z的消耗功率P_{ac_z}。这些消耗功率P_{ac_x}、P_{ac_y}、P_{ac_z}能够根据上述算式（4x）～(4z)而计算。以下，再次示出算式（4x）～（4z）。

P_{ac_x}＝I_x ²×R_{dc_x}　…(4x)

P_{ac_y}＝I_y ²×R_{dc_y}　…(4y)

P_{ac_z}＝I_z ²×R_{dc_z}　…(4z)。

算式（4x）～（4z）中的电阻R_{dc_x}、R_{dc_y}、R_{dc_z}在步骤ST4中计算（参照图8～图10）。另外，算式（4x）～（4z）中的线圈电流I_x、I_y、I_z在步骤ST5中计算（参照图11～图13）。从而，通过将在步骤ST4中计算的电阻R_{dc_x}、R_{dc_y}、R_{dc_z}、和在步骤ST5中计算的线圈电流I_x、I_y、I_z代入算式（4x）～（4y），能够对各个梯度脉冲计算梯度线圈23x、23y、23z的消耗功率。例如，参照图11，对于由梯度线圈23x产生的梯度脉冲x1，电阻R_{dc_x}以及线圈电流I_x通过以下的算式表示。

[数学式6]

从而，通过将算式（6）以及（7）代入算式（4x），能够计算当梯度线圈23x产生梯度脉冲x1时的消耗功率P_{ac_x}。以下，同样地，通过将对各个梯度脉冲x2、x3、以及x4求的电阻R_{dc_x}以及线圈电流I_x代入算式（4x），也能够计算当梯度线圈23x产生梯度脉冲x2、x3、x4时的消耗功率P_{ac_x}。从而，能够对各个梯度脉冲x1～x4计算梯度线圈23x的消耗功率。

另外，梯度线圈23y的消耗功率P_{ac_y}能够通过将对各个梯度脉冲y1以及y2求的电阻R_{dc_y}以及线圈电流I_y代入算式（4y）来计算。同样地，梯度线圈23z的消耗功率P_{ac_z}能够通过将对各个梯度脉冲z1～z3求的电阻R_{dc_z}以及线圈电流I_z代入算式（4z）来计算。

如此，计算消耗功率，流程结束。

在本方式中，在步骤ST2中，取得表示梯度脉冲的斜率变化的点的点数据、和表示梯度脉冲的梯度磁场强度为零的点的点数据。根据这些点数据，计算梯度脉冲的脉宽和梯度磁场强度。通过将梯度线圈的脉宽代入算式（3x）～（3z），能够计算梯度线圈的电阻，通过将梯度线圈的梯度磁场强度代入算式（5x）～（5z），能够计算梯度线圈的线圈电流。而且，通过将梯度线圈的电阻和线圈电流代入算式（4x）～（4z），能够计算梯度线圈的消耗功率。从而，在本方式中，即使不进行傅里叶变换、以较细的间隔重采样梯度脉冲，也能够计算梯度线圈的消耗功率，因而与AC模型相比较，能够缩短消耗功率的计算时间。

另外，在本方式中，基于算式（1）～（5z）计算梯度线圈的电阻、梯度线圈的消耗功率。但是，还可以使用与上述算式不同的算式计算梯度线圈的电阻、梯度线圈的消耗功率。

此外，为了验证通过本方式的做法而计算的消耗功率的误差为何种程度，对30个脉冲序列，使用以下三种方法计算了梯度线圈的消耗功率。

（1）DC模型

（2）AC模型

（3）本方式的方法。

以下，在图14以及图15中示出验证结果。

图14是示出根据AC模型计算的消耗功率与根据DC模型计算的消耗功率之差的图表，图15是示出根据AC模型计算的消耗功率与通过本方式的方法计算的消耗功率之差的图表。图表的横轴表示消耗功率之差，纵轴表示根据AC模型计算的消耗功率。

参照图14，可知相对于根据AC模型计算的消耗功率，根据DC模型计算的消耗功率产生50%以上的差。

与此相对，在图15中，可知相对于根据AC模型计算的消耗功率，通过本方式的方法计算的消耗功率止于15%左右的差。从而，可知本方式的方法是在估计消耗功率方面有效的方法。

附图标记说明

2 磁体；3 工作台；3a 支座；4 接收线圈；5 梯度磁场电源；6 放大器；7 发送器；8 接收器；9 控制部；10 操作部；11 显示部；12 被检测体；21 孔；22 超导线圈；23x、23y、23z 梯度线圈；24 RF线圈；91 点数据取得单元；92 脉宽计算单元；93 电阻计算单元；94 线圈电流计算单元；95 消耗功率计算单元。

Claims

1. 一种计算装置，其中具有：

电阻计算单元，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及

消耗功率计算单元，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。

2. 根据权利要求1所述的计算装置，其中，

所述电阻计算单元基于根据所述梯度线圈而决定的参数和所述脉宽计算所述梯度线圈的电阻。

3. 根据权利要求1或2所述的计算装置，其中具有：

脉宽计算单元，基于表示所述梯度脉冲的波形的特征点的点数据计算所述脉宽。

4. 根据权利要求3所述的计算装置，其中具有：

线圈电流计算单元，基于所述点数据计算所述梯度线圈的线圈电流。

5. 根据权利要求4所述的计算装置，其中，

所述线圈电流计算单元基于所述点数据计算所述梯度线圈的梯度磁场强度，基于所述梯度磁场强度计算所述线圈电流。

6. 根据权利要求3至5中的任一项所述的计算装置，其中，

所述梯度脉冲的波形的特征点是所述梯度脉冲的斜率变化的点、和所述梯度脉冲的梯度磁场强度为零的点。

7. 一种具有梯度线圈的磁共振装置，其中具有：

电阻计算单元，基于由所述梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及

8. 一种消耗功率计算方法，其中具有：

电阻计算步骤，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及

消耗功率计算步骤，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。

9. 一种程序，用于使计算机执行下列处理：

电阻计算处理，基于由梯度线圈产生的梯度脉冲的脉宽，计算所述梯度线圈产生所述梯度脉冲时的所述梯度线圈的电阻；以及

消耗功率计算处理，基于所述梯度线圈的电阻，计算所述梯度线圈的消耗功率。