CN103782453B - 触头及使用其的探测器 - Google Patents

触头及使用其的探测器 Download PDF

Info

Publication number
CN103782453B
CN103782453B CN201280041014.7A CN201280041014A CN103782453B CN 103782453 B CN103782453 B CN 103782453B CN 201280041014 A CN201280041014 A CN 201280041014A CN 103782453 B CN103782453 B CN 103782453B
Authority
CN
China
Prior art keywords
corrugated body
contact
fixed part
movable part
pars intermedia
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201280041014.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103782453A (zh
Inventor
酒井贵浩
逸见幸伸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Publication of CN103782453A publication Critical patent/CN103782453A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103782453B publication Critical patent/CN103782453B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2428Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using meander springs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Push-Button Switches (AREA)

Abstract

本发明提供一种即便为细长的触头也不会发生加工歪曲、寿命长并且制造成本低廉的触头及使用其的探测器。为此,通过电铸法将波纹体(20)、连接于所述波纹体(20)的一端部(21)的固定部(30)、及连接于所述波纹体(20)的另一端部(22)的可动部(40)一体成形。并且,通过按压所述可动部(40)而压缩所述波纹体(20),从而使所述波纹体(20)的相邻的圆弧部(24、24)相互接触而短路。

Description

触头及使用其的探测器
技术领域
本发明涉及一种触头,例如涉及一种用于集成电路检查用探测器的触头。
背景技术
以往,作为用于集成电路检查用探测器的触头,有一种电子端子用插座的触头,在通过将电子部件压向插座主体而保持所述电子部件的电极端子与所述插座主体的电极部的接触、使所述插座主体的电极部连接于被连接电子部件的电极端子而成的电子部件用插座中,所述插座主体的电极部具有:一对触点,通过对规定厚度的弹性板材进行打孔加工,在两端分别与所述电子部件的电极端子及所述被连接电子部件的电极端子接触;以及蜿蜒部,介于所述一对触点之间,连接所述一对触点而连续地并列设置(参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2002-134202号公报
发明内容
发明所要解决的课题
但是,所述电子端子用插座的触头通过压力加工而打孔成形。为此,如果触头纤细并且为长尺寸的形状的话,存在如下问题点:加工歪曲变大、整体易产生扭曲的同时,寿命短、模具制造成本高。
本发明涉及的触头鉴于前述的问题点,提供一种即便为细长的触头也不会发生加工歪曲、寿命长的同时制造成本低廉的触头及使用其的探测器。
解决课题的手段
为了解决前述课题,本发明涉及的触头构成为:通过电铸法将波纹体、连接于所述波纹体的一端部的固定部、以及连接于所述波纹体的另一端部的可动部一体成形,通过按压所述可动部而压缩所述波纹体,使所述波纹体的相邻的圆弧部相互接触而短路。
发明效果
根据本发明,由于通过电铸法而一体成形,因此即便触头为细长形,也能够得到不发生加工歪曲、寿命长的触头。
又,为了确保期望的位移量,即便使波纹体为长尺寸,由于通过波纹体的相邻的圆弧部相互接触而短路,能够使接触电阻下降,因此能够得到接触电阻小的触头。
进一步,不需要为了进行压力加工的高价的模具,能够降低制造成本。
作为本发明涉及的实施方式,可以使波纹体的截面中的纵横比为1.5以上。特别优选纵横比为2至4。
作为本发明的实施方式,所述波纹体可以为由直线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成的形状。
根据本实施方式,能够得到容易设计的触头。
作为本发明的其它实施方式,所述波纹体可以为由曲线形状的中间部、和连接相邻的所述中间部的圆弧部构成的形状。
根据本实施方式,具有设计的自由度更大的优点。
作为本发明的不同的实施方式,可以平行地并列设有两个波纹体。
根据本实施方式,能够得到弹力为2倍的触点压力大的触头。
作为本发明的新的实施方式,所述波纹体可以在圆弧部的顶部设有滑动用突起。
根据本实施方式,由于滑动用突起能够降低摩擦阻力,因此插入壳体等时的组装作业变得容易,同时,操作感良好。
作为本发明的不同的实施方式,波纹体和固定部的连接位置可以配置于所述固定部的轴心上,又,波纹体和固定部的连接位置也可以配置于从所述固定部的轴心偏心的位置上。
根据本实施方式,在将波纹体和固定部的连接位置配置于固定部的轴心上的情况下,能够得到以较小的操作力即可操作的、寿命长的触头。
另一方面,在将波纹体和固定部的连接位置配置于从固定部的轴心偏心的位置上的情况下,能够得到波纹体易于压曲、触点压力高的触头。
作为本发明的不同的实施方式,波纹体和可动部的连接位置可以配置于所述可动部的轴心上,又,波纹体和可动部的连接位置也可以配置于从所述可动部的轴心偏心的位置上。
根据本实施方式,在将波纹体和可动部的连接位置配置于可动部的轴心上的情况下,能够得到以较小的操作力即可操作的、寿命长的触头。
另一方面,在将波纹体和可动部的连接位置配置于从可动部的轴心偏心的位置上的情况下,能够得到波纹体易于压曲、触点压力高的触头。
作为本发明的新的实施方式,可以在固定部的至少单侧侧面设有锁定用爪部。
根据本实施方式,在将触头组装于壳体的情况下,所述锁定用爪部能够锁定在壳体内而防止脱落。
为了解决前述课题,本发明涉及的探测器构成为将至少一个所述触头收纳于壳体内。
根据本发明,由于通过电铸法而将触头一体成形,因此能够得到具有即便触头为细长形也不会发生加工歪曲的寿命长的触头的探测器。
又,为了确保期望的位移量,即便使波纹体为长尺寸,由于通过波纹体的相邻的圆弧部相互接触而短路,能够使接触电阻下降,因此具有能够得到具有接触电阻小的触头的探测器的效果。
附图说明
图1中图1的(A)为表示本发明涉及的触头的第一实施方式的立体图,图1的(B)、图1的(C)为表示动作前后的正面图。
图2中图2的(A)、图2的(B)为图1所示的触头的正面图、右侧面图。
图3中图3的(A)、图3的(B)、图3的(C)为图1所示的壳体的立体图、立体截面图、正面截面图。
图4中图4的(A)、图4的(B)为表示图1所示的触头的组装工序的立体图、截面图,图4的(C)、图4的(D)为表示组装完成后的立体图、截面图。
图5中图5的(A)、图5的(B)为第二实施方式涉及的触头的立体图、壳体的分解立体图,图5的(C)为用于说明组装方法的分解立体图。
图6中图6的(A)为表示图5所示的触头组装完成后的立体图,图6的(B)、图6的(C)为截面图、分解截面图。
图7中图7的(A)、图7的(B)、图7的(C)为表示本发明涉及的第三实施方式的触头的正面图、表示动作前后的正面截面图。
图8中图8的(A)、图8的(B)、图8的(C)为表示本发明涉及的第四实施方式的触头的正面图、表示动作前后的正面截面图,图8的(D)为图8的(A)的局部放大图。
图9中图9的(A)、图9的(B)、图9的(C)为表示本发明涉及的第五实施方式的触头的正面图、表示动作前后的正面截面图。
图10中图10的(A)、图10的(B)为表示本发明涉及的第六实施方式的动作前后的立体图。
图11中图11的(A)、图11的(B)、图11的(C)为表示图10所示的第六实施方式的平面图、左侧面图、右侧面图。
图12中图12的(A)及图12的(B)、图12的(C)为表示图10所示的第六实施方式的正面图、以及表示动作前后的正面截面图。
图13中图13的(A)、图13的(B)为表示本发明涉及的第七实施方式的立体图、右侧面图。
图14中图14的(A)、图14的(B)、图14的(C)、图14的(D)为图13所示的第七实施方式的正面图、正面截面图、平面图、底面图。
具体实施方式
根据图1至图14的附图,说明本发明涉及的触头的实施方式。
在第一实施方式中,如图1至图4所示,将触头10收纳于壳体50内,所述触头10由波纹体20、连接于波纹体20的一端部21的固定部30、以及连接于所述波纹体20的另一端部22的可动部40形成。
所述波纹体20由直线形状的中间部23、和连接相邻的所述中间部23、23的圆弧部24形成。所述波纹体20通过电铸而制造,其截面的纵横比为1.5以上,优选为2至4。这是由于如果纵横比不足1.5,则易于发生扭曲,如果纵横比超过4,则薄型化变得困难。另,这里,所谓纵横比是指波纹体20的截面中的厚度尺寸与高度尺寸之比。
所述固定部30的上端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的一端部21,并且,在所述固定部30的下端,端子部31在轴心上延伸。又,在所述固定部30的两侧侧面上突出设置有锁定用爪部32。
所述可动部40的正面具有大致T字形状,在可动部40的增宽部41的下端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的另一端部22。
如图3所示,壳体50为具有能够收纳所述触头10的开缝51的长方体形状,于其上端部具有操作孔52,另一方面,于其下端部具有压入孔53。
在将所述触头10组装于所述壳体50的情况下,如图4的(A)、图4的(B)所示,从所述壳体50的压入孔53插入触头10的可动部40,将固定部30的锁定用爪部32锁定于所述压入孔53的内表面而防止脱落。
于是,如图1所示,当按下可动部40时,增宽部41下降,波纹体20被压缩,相邻的圆弧部24、24相互接触而短路。因此,接触电阻与可动部40的位移量相应地下降,电流流动。
在第二实施方式中,如图5及图6所示,与前述第一实施方式同样,不同点在于,能够将壳体50一分为二成分割片54、55。并且,在所述分割片54、55上,于其接合面处设有作为开缝51的凹陷51a、51a,并设有作为操作孔52的切口部52a、52a以及作为压入孔53的切口部53a、53a。其他与前述的第一实施方式同样,因此对于相同部分标注相同符号,并省略说明。
根据本实施方式,由于通过分割片54、55夹持触头10即可,因此具有组装作业容易的优点。
在第三实施方式中,如图7所示,将触头10收纳于壳体50内,所述触头10由波纹体20、连接于波纹体20的一端部21的固定部30、以及连接于所述波纹体20的另一端部22的可动部40形成。
所述波纹体20由直线形状的中间部23、和连接相邻的所述中间部23、23的圆弧部24形成。
在所述固定部30的上端中,于从其轴心偏心的位置连接有所述波纹体20的一端部21,并且,在所述固定部30的下端,端子部31在轴心上延伸。又,在所述固定部30的两侧侧面上突出设置有锁定用爪部32。
所述可动部40的正面具有大致T字形状,在可动部40的增宽部41的下端中,于从其轴心偏心的位置,连接有所述波纹体20的另一端部22。
壳体50为具有能够收纳所述触头10的开缝51的长方体形状,于其上端部具有操作孔52,另一方面,于其下端部具有压入孔53。
于是,当按下所述可动部40时,由于波纹体20被压缩并压曲,增宽部41的单侧接触固定接触片34的内侧面。又,相邻的圆弧部24、24相互接触而短路,由此,接触电阻下降,电流流动。
在第四实施方式中,如图8所示,与前述第一实施方式几乎同样,与第一实施方式的不同点在于,在波纹体20的圆弧部24的顶部设有滑动用突起27。其他与前述的第一实施方式相同,因此对于相同部分标注相同符号,并省略说明。
根据本实施方式,具有如下优点:由于所述滑动用突起27在壳体50的内侧面滑动时产生的摩擦阻力变小,因此组装作业变得容易,同时,得到圆滑的操作感。
在第五实施方式中,如图9所示,与前述第一实施方式几乎同样,不同点在于,配置双重的波纹体20。其他与前述的第一实施方式相同,因此对于相同部分标注相同符号,并省略说明。
根据本实施方式,具有如下优点:能够得到波纹体20产生的弹力为2倍的触点压力大的触头。
如图10至图12所示,第六实施方式为应用于电池的连接器的情况。
即,将多个触头10收纳于壳体56内,所述触头10由波纹体20、连接于波纹体20的一端部21的固定部30、以及连接于所述波纹体20的另一端部22的可动部40形成。
如图12所示,所述波纹体20由直线形状的中间部23、和连接相邻的所述中间部23、23的圆弧部24形成。
在所述固定部30的右端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的一端部21,并且,在所述固定部30的左端角部突出设置有端子部31。又,在所述固定部30的上下端面分别突出设置有锁定用爪部32。
所述可动部40的正面具有大致T字形状,在可动部40的左端的轴心上连接有所述波纹体20的另一端部22。
如图12所示,壳体50为具有能够收纳所述触头10的开缝51的长方体形状,于其右端面具有操作孔52,另一方面,于其左端面具有压入孔53。
根据本实施方式,如图12所示,当按下可动部40时,波纹体20被压缩,圆弧部24、24相互接触而短路,从而,接触电阻下降,电流流动。
如图13及图14所示,第七实施方式为应用于半导体电路检查用探测器的情况。
即,将触头10收纳于壳体57内。所述触头10由波纹体20、连接于波纹体20的一端部21的固定部30、以及连接于所述波纹体20的另一端部22的可动部40形成。
如图13所示,所述波纹体20与前述第一实施方式同样,由直线形状的中间部23、和连接相邻的所述中间部23、23的圆弧部24形成。
在所述固定部30的上端中,于其轴心上连接有所述波纹体20的一端部21,在固定部30的下端部延伸有端子部31。又,在所述固定部30的两侧侧面分别突出设置有锁定用爪部32。
所述可动部40的正面具有大致T字形状,于可动部40的下端的轴心上连接有所述波纹体20的另一端部22。
如图14所示,壳体57为将3列的开缝51多个并列设置的长方体形状,3列的开缝51能够收纳多个所述触头10,在壳体57的上端面具有操作孔52,另一方面,在壳体57的下端面具有压入孔53。
根据本实施方式,由于能够使触头10较薄地成形,因此能够集成多个触头10,能够得到小型的半导体电路检查用探测器。
又,由于具有长尺寸的波纹体20,因此具有能够得到具有期望位移量的半导体电路检查用探测器的优点。
产业上的可利用性
由前述实施例可知,本发明涉及的触头不仅能够作为集成电路检查用探测器加以利用,也能够作为电池的连接端子、开关加以利用。特别是作为集成电路检查用探测器使用的话,由于能够较薄地形成所述触头,因此能够以窄的间距配置多个触头。
符号说明
10 触头
20 波纹体
21 一端部
22 另一端部
23 中间部
24 圆弧部
27 滑动用突起
30 固定部
31 端子部
32 锁定用爪部
40 可动部
41 增宽部
50 壳体
51 开缝
52 操作孔
53 压入孔
56 壳体
57 壳体。

Claims (14)

1.一种触头,其特征在于,
通过电铸法以配置为直线状的方式将波纹体、连接于所述波纹体的一端部的固定部、以及连接于所述波纹体的另一端部的可动部一体成形,其中,所述波纹体具有中间部和连接相邻的所述中间部的圆弧部,所述固定部具备锁定于壳体的压入孔的内表面的锁定用爪部,
通过沿着所述直线状按压所述可动部而压缩所述波纹体,所述波纹体的相邻的圆弧部相互接触而短路。
2.根据权利要求1所述的触头,其特征在于,所述波纹体的截面中的厚度尺寸与高度尺寸之比为1.5以上。
3.根据权利要求1所述的触头,其特征在于,所述中间部为直线形状。
4.根据权利要求2所述的触头,其特征在于,所述中间部为直线形状。
5.根据权利要求1所述的触头,其特征在于,所述中间部为曲线形状。
6.根据权利要求2所述的触头,其特征在于,所述中间部为曲线形状。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的触头,其特征在于,所述触头平行地并列设有两个所述波纹体。
8.根据权利要求1至6中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体在所述圆弧部的顶部设有滑动用突起。
9.根据权利要求1至6中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述固定部的连接位置配置于所述固定部的轴心上。
10.根据权利要求1至6中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述固定部的连接位置配置于从所述固定部的轴心偏离的位置上。
11.根据权利要求1至6中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述可动部的连接位置配置于所述可动部的轴心上。
12.根据权利要求1至6中任一项所述的触头,其特征在于,所述波纹体和所述可动部的连接位置配置于从所述可动部的轴心偏离的位置上。
13.根据权利要求1至6中任一项所述的触头,其特征在于,在所述固定部的至少单侧侧面设有锁定用爪部。
14.一种探测器,其特征在于,将至少一个权利要求1至13中任一项所述的触头收纳于壳体内。
CN201280041014.7A 2011-10-14 2012-03-15 触头及使用其的探测器 Active CN103782453B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011227271A JP5879906B2 (ja) 2011-10-14 2011-10-14 接触子およびこれを用いたプローブ
JP2011-227271 2011-10-14
PCT/JP2012/056658 WO2013054558A1 (ja) 2011-10-14 2012-03-15 接触子およびこれを用いたプローブ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103782453A CN103782453A (zh) 2014-05-07
CN103782453B true CN103782453B (zh) 2017-03-01

Family

ID=48081621

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201280041014.7A Active CN103782453B (zh) 2011-10-14 2012-03-15 触头及使用其的探测器

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9726692B2 (zh)
EP (1) EP2747211B1 (zh)
JP (1) JP5879906B2 (zh)
KR (1) KR101574448B1 (zh)
CN (1) CN103782453B (zh)
WO (1) WO2013054558A1 (zh)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5842528B2 (ja) * 2011-10-14 2016-01-13 オムロン株式会社 接触子
JP5708430B2 (ja) * 2011-10-14 2015-04-30 オムロン株式会社 接触子
TWI555987B (zh) 2014-01-28 2016-11-01 Spring sleeve type probe and its manufacturing method
CN104319508A (zh) * 2014-08-29 2015-01-28 中航光电科技股份有限公司 “8”字型弹性接触件及使用该接触件的电连接器
KR102100269B1 (ko) * 2016-04-15 2020-04-13 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀 및 이것을 사용한 전자 디바이스
JP6515877B2 (ja) * 2016-06-17 2019-05-22 オムロン株式会社 プローブピン
GB201615140D0 (en) * 2016-09-06 2016-10-19 Quanta Dialysis Tech Ltd Liquid conductivity measurement pin
WO2018112166A1 (en) * 2016-12-16 2018-06-21 Xcerra Corporation Spring-loaded probe having folded portions and probe assembly
JP6583582B2 (ja) * 2019-04-16 2019-10-02 オムロン株式会社 プローブピン

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7150658B1 (en) * 2006-06-19 2006-12-19 Excel Cell Electronic Co., Ltd. Terminal for an electrical connector
CN101884139A (zh) * 2007-10-29 2010-11-10 忠诚概念股份有限公司 顺应性电触头和组件

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4161346A (en) 1978-08-22 1979-07-17 Amp Incorporated Connecting element for surface to surface connectors
EP0256541A3 (de) * 1986-08-19 1990-03-14 Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung Kontaktiervorrichtung
GB2291544B (en) * 1994-07-12 1996-10-02 Everett Charles Tech Electrical connectors
JP2912882B2 (ja) 1996-10-23 1999-06-28 山一電機株式会社 両面接触形接続器
JP3520468B2 (ja) 2000-06-21 2004-04-19 日本航空電子工業株式会社 コネクタ
US6290524B1 (en) * 2000-07-12 2001-09-18 Molex Incorporated System for varying capacitive coupling between electrical terminals
JP2002134202A (ja) 2000-10-27 2002-05-10 Otax Co Ltd 電子部品用ソケット
JP2002164135A (ja) 2000-11-26 2002-06-07 Isao Kimoto ソケット
TW534468U (en) * 2001-05-25 2003-05-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector with probe-type terminal
JP2003307525A (ja) 2002-04-16 2003-10-31 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブ
US20050184748A1 (en) * 2003-02-04 2005-08-25 Microfabrica Inc. Pin-type probes for contacting electronic circuits and methods for making such probes
JP2004061265A (ja) 2002-07-29 2004-02-26 Sumitomo Electric Ind Ltd 電気接点用微細部品およびその製造方法
JP2004138391A (ja) 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
CN2800519Y (zh) * 2005-04-28 2006-07-26 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
CN2800520Y (zh) * 2005-04-28 2006-07-26 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
JP2008047417A (ja) * 2006-08-16 2008-02-28 Bairong Electron Co Ltd 電気コネクター用端子及び該端子をそなえた電気コネクター
JP5103566B2 (ja) * 2007-11-26 2012-12-19 株式会社コーヨーテクノス 電気接触子およびそれを備える検査冶具
JP4964754B2 (ja) 2007-12-17 2012-07-04 富士通コンポーネント株式会社 コンタクト部材
KR100984876B1 (ko) * 2008-05-08 2010-10-04 한국기계연구원 가변강성 기능을 가진 수직형 미세 접촉 프로브
US20100136821A1 (en) * 2008-11-28 2010-06-03 Sheng-Yuan Huang Connector terminal and method for making the same
JP5493896B2 (ja) * 2010-01-15 2014-05-14 オムロン株式会社 電気コネクタ、電子機器および導電接触方法。

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7150658B1 (en) * 2006-06-19 2006-12-19 Excel Cell Electronic Co., Ltd. Terminal for an electrical connector
CN101884139A (zh) * 2007-10-29 2010-11-10 忠诚概念股份有限公司 顺应性电触头和组件

Also Published As

Publication number Publication date
KR101574448B1 (ko) 2015-12-03
EP2747211A1 (en) 2014-06-25
JP2013089381A (ja) 2013-05-13
US9726692B2 (en) 2017-08-08
US20140225638A1 (en) 2014-08-14
JP5879906B2 (ja) 2016-03-08
WO2013054558A1 (ja) 2013-04-18
EP2747211B1 (en) 2016-10-05
CN103782453A (zh) 2014-05-07
EP2747211A4 (en) 2015-04-29
KR20140043820A (ko) 2014-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103782453B (zh) 触头及使用其的探测器
CN103765688B (zh) 触头
CN103765687B (zh) 触头
CN103782454B (zh) 触头
TW200908456A (en) Connector
US9780505B2 (en) Type-C-based USB connector capable of transmitting large current
CN106207635B (zh) 正反双向插接的电连接器及其端子和弹性卡扣
JP2013120653A (ja) 端子構造
JP2015167225A (ja) 電気またはハイブリッド電気自動車用のバスを備えた電気センタ
WO2013137415A1 (ja) コネクタ
JP5618677B2 (ja) 接続端子
CN113228424A (zh) 插座连接器
CN217086934U (zh) 端子、连接器和连接器组件
CN202487908U (zh) 带开关的电源连接器
CN107799956B (zh) 电连接器及其制造方法
US9831620B2 (en) Modular jack connector and terminal module
CN215869867U (zh) 一种刺破式端子及连接器
CN210744218U (zh) 一种免焊接端子
JP2010205494A (ja) 雌型の電気接続端子
KR20140083828A (ko) 양단 리셉터클 터미널
JP2003346956A (ja) 電線接続用端子
JP2018055851A (ja) コネクタ
TWM632731U (zh) 電連接器之結構(五)
CN103579887B (zh) 一体式微型hdmi电连接器之端子料带及一体式微型hdmi电连接器的制造方法
CN201699170U (zh) 一种超短超薄型usb母座连接器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant