CN103765841A - 用于校正iq失衡的设备和方法 - Google Patents
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Abstract
本主题公开了驻留在RF芯片内的设备,其包括:检测单元,用于检测在IQ信号中的IQ失配;模拟校准模块,其包括用于校准在相位分量中的IQ失配的第一模拟校准机构,以及用于校准在幅度分量中的IQ失配的第二模拟校准机构;以及控制单元,用于确定IQ信号的校准序列。
Description
技术领域
本主题一般涉及收发器的同相和正交信号失衡(IQ失衡),并且更具体地涉及用于收发器IQ失衡的自我自动校正的方法和电路。
背景技术
典型的现代无线通信收发器由IQ调制发送器和正交接收器组成。接收器包括将输入射频(RF)载波信号转换为中频(IF)信号的下转换器级。发送器包括将IF输入信号转换为RF输出信号的上转换器级。
具体地,正交接收器执行复杂的下转换,从而RF信号分开并且乘以本地振荡器(LO)和LO的正交版本。实际上,在接收器的一个分支中,输入信号在LO频率处与余弦波形相乘,而在其它分支中,输入信号在LO频率处与正弦波形相乘。所得输出已知为同相(I)和正交(Q)IF分量。
IQ调制发送器执行复杂的上转换,从而IQ IF输入信号乘以LO和LO的正交版本,并且然后求和并且放大。实际上,在发送器的一个分支中,I输入信号在LO频率处与余弦波形相乘,而在其它分支中,Q输入信号在LO频率处与正弦波形相乘。所得输出是RF调制信号。
关于它们的相对幅度、相对相位或两者,在上/下转换器的模拟分量和/或LO路径和/或收发器IF路径中的缺点可导致在I和O分支之间的失衡。这种失衡称为IQ失衡(IQI),其可对无线收发器的性能具有显著影响。使用具有对于许多未来应用预期的高格局的OFDM调制,这在直接转换的接收器中尤其如此。
当(IF分支或LO分支的)I和Q分量的幅度和/或相位失配时,IQ失衡可发生。例如,当I和Q分支具有不完全是90°的相位差时,或当I和Q分支具有不相等的幅度时。可有利于失配的模拟分量是混频器、IF放大器、IF滤波器、ADC、DAC等。
IQ失衡可同样是频率相关的。这种失配主要来自IF部分。
失配的实际值(无需校准并且采用精心设计)在相位差中是1°-5°,并且在幅度或增益差中是0.1dB-0.5dB。这些数值导致20dB-40dB的图像载波抑制。
IQ失衡对发送(Tx)和接收(Rx)EVM以及因此对敏感性具有直接影响。通常我们将其对EVM的贡献称为图像载波抑制比(IMR)。对如线性和集成相位噪音的额外参数的EVM相关强调了对EVM的IQ失衡的影响。特别是当执行直接转换接收器并且使用更高的数据格局时,对于OFDM调制,IQI被认为至关重要。
用于校正IQ失衡的许多算法完全在数字域中执行。一些算法在数字域中做IQ失衡测量,但是在模拟域中作校正。
发明内容
本主题的目的是公开驻留在RF芯片内的一种设备,其包括:检测单元,用于检测在IQ信号中的IQ失配;模拟校准模块,其包括用于校准在相位分量中的IQ失配的第一模拟校准机构,以及用于校准在幅度分量中的IQ失配的第二模拟校准机构;控制单元,用于确定IQ信号的校准序列。
在一些情况下,第一模拟校准机构包括运算放大器和多个电阻器。
在一些情况下,第一模拟校准机构变换在同相分量和正交分量之间的相对相位。
在一些情况下,第二模拟校准机构包括用于操纵述幅度的动态电阻器。
在一些情况下,第二模拟校准机构包括数字模拟转换器和用于确定用于操纵幅度的动态电阻器的电阻的晶体管。
在一些情况下,校准模块被配置成在相位分量中的IQ失配和在幅度分量中的IQ失配的预定义失配水平中操作。
在一些情况下,设备进一步包括用于消除设备模拟电气组件自失配的校准交叉机构。
本主题的另一个目的是公开用于校正在包括发送单元和接收单元的收发器中的IQ失衡的方法,该方法包括:校准在发送单元中的IQ失衡;切换收发器成回路模式;使用从发送器单元的输出接收的信号,来校准在接收单元中的IQ失衡。
在一些情况下,该方法进一步包括在发送器单元处接收RF发送信号的步骤。
在一些情况下,根据接收的RF发送信号的包络而校正在发送单元中的IQ失配。
在一些情况下,在两倍于接收的RF发送信号包络频率的频率中测量功率。
在一些情况下,根据从发送器单元输出接收的信号图像频率中的测量功率而校正在接收信号中的IQ失配。
在一些情况下,使用模拟校正模块而校正在发送单元中的IQ失配。
在一些情况下,该方法进一步包括在接收的IQ信号上执行自动增益控制的步骤。
在一些情况下,校准IQ失衡包括如下步骤:
校准相位IQ失衡;
校准增益IQ失衡;
采样在发送单元输出中的包络;
采样在接收单元输出中的接收IQ信号的同相(I)分量和正交(Q)分量。
附图说明
结合附图,参考实施例的以下描述,将描述公开主题的示例性非限制实施例。附图一般没有按比例示出并且任何尺寸仅意味是示例性的,而不一定是限制性的。相应或同样的元件可选地由相同数字或字母指定。
图1A示出根据本主题的一些示例性实施例用于校正IQ失衡的方法流程图;
图1B示出根据本主题的一些示例性实施例用于校正在发送单元中IQ失衡的方法流程图;
图1C示出根据本主题的一些示例性实施例用于校正在接收单元中IQ失衡的方法流程图;
图2示出根据本主题的一些示例性实施例用于校正IQ失衡的系统;
图3示出根据本主题的一些示例性实施例的增益校正机构;
图4示出根据本主题的一些示例性实施例的相位校正机构;
图5示出根据本主题的一些示例性实施例处理校准机构失配的概念。
具体实施方式
参考根据本主题实施例的方法、设备(系统)和计算机程序产品的流程图说明和/或方框图,下面描述公开的主题。将理解的是,流程图说明和/或方框图以及在流程图说明和/或方框图中的方框组合中的每一个方框可由计算机程序指令执行。这些计算机程序指令可提供给通用目的计算机、专用计算机或产生机器的其它可编程数据处理设备的处理器,以使得经由计算机或其它可编程数据处理设备的处理器执行的指令创建用于执行在流程图和/或一个方框图或多个方框图中指定的功能/行为的装置。
这些计算机程序指令可同样存储在计算机可读介质中,其可引导计算机或其它可编程数据处理设备以特定方式作用,以使得在计算机可读介质中存储的指令产生包括指令装置的制造物品,所述指令装置执行在流程图和/或一个方框图或多个方框图的指定功能/行为。
计算机程序指令可同样加载到计算机或其它可编程数据处理设备上,以导致在产生计算机执行处理的计算机或其它可编程设备上执行的一系列运算步骤,以使得在计算机或其它可编程设备上执行的指令提供用于执行在流程图和/或一个方框图或多个方框图中指定的功能/行为的过程。
在本主题中公开的一个技术挑战是检测在相位分量和幅度分量中的IQ失配的水平。另一个技术挑战是在模拟域中检测并且校正IQ失衡,而整个相关和校正在RF芯片内执行。另一个技术挑战是设计并且执行有效的IQ失衡校准算法,同时考虑模拟电路性能和实施方式约束。另一个技术挑战是在RF芯片中消除电气组件的自失配,例如模拟数字转换器和信号发生器的自失配。当在模拟域中校准IQ失衡时,另一个技术挑战是分别校准相位分量和增益分量。
公开主题的一个技术解决方案是迭代IQ失衡校正(IQIC)搜索算法,其提供质量与资源消耗和时间的优化。IQIC搜索算法同样提供粗糙和精细的搜索级和各种选项以固定序列。另一个技术解决方案是在RF芯片内的专用模拟校正电路的设计,同时满足诸如分辨率、单调行为、增益/相位分离等的特定需求。另一个技术解决方案是在迭代搜索期间提供自动增益控制(AGC)以改进校准分辨率。另一个技术方案是提供诸如IQ音调发生器和其它测量电路的电气组件的自失配的补偿。另一个技术解决方案是校准根据在发送器上执行的校正的接收器,并且反之亦然。
图1A示出根据本主题一些示例性实施例用于校准IQ失衡的方法流程。在步骤102中,IQ音调信号生成。IQ信号包括正交分量和同相分量。正交分量和同相分量两者由增益和相位表示。IQ音调信号可由IQ生成单元生成。
在步骤106中,校准在发送单元中的IQ失配。这种校准在图1B中详细描述。在校准在发送单元中的IQ失配之后,收发器切换成回路模式,如在步骤108中所示。使用连接发送单元250和接收单元210的开关可执行切换收发器成回路模式。切换收发器成回路模式使得能够注入来自发送单元250的输出的信号到接收单元210中。虽然用作发送单元250的输入的信号在IF中生成并且可从IQ发生器224提供,但是用作接收单元210输入的信号是由发送单元250生成的RF信号。接收单元210的校准在步骤110中使用从发送单元250接收的信号来执行。
图1B示出根据本主题的一些示例性实施例用于校正在发送单元中IQ失衡的方法。在步骤115中,信号从IQ发生器224注入到发送单元。注入的信号具有IF频率。在步骤120中,检测接收信号的包络。包络表示接收信号的IQ失配。在步骤125中,自动增益控制(AGC)在包络上执行。当校正IQ失配时,AGC增加包络的分辨率并且提高准确性。
在执行AGC之后,包络如在步骤130中所示地采样。包络以连续的方式采样,包括在接收信号的每次变化之后。接收信号的每一次变化在步骤135中执行。如在步骤133中所示,在两倍于接收的IQ信号频率的频率中测量接收信号的功率之后可执行校正。
步骤135的校正包括最初改变在采样包络的同相分量和正交分量之间的增益比。在每一个变化之后,包络的功率检测为确定变化是否增加或减少IQ失配。在变化减少IQ失配的情况下,在比率中的另一个变化是向同一方向生成。当变化比率不减少IQ失配时,增益比锁定并且在相位上施加相同的过程。
在达到当改变增益并且相位不减少IQ失配时的点之后,该方法可包括增加校正分辨率水平的步骤。例如,如果校正在第一轮中是每隔0.3dB,则在第二轮中的校正将是每隔0.1dB。增加校正的分辨率水平可包括执行用于改进包络分辨率的另一个AGC的步骤。
校正IQ失配可同样包括第二完全校准的序列,其中IQ调谐信号经由交叉校正机构转换,如在图5中所示。交叉校正机构提供补偿内部组件的IQ失配,诸如IQ发生器224和ADC235。
图1C示出根据本主题的一些示例性实施例用于校正在接收单元中IQ失衡的方法。在步骤150中,信号从IQ发生器224注入到发送单元。注入信号具有IF频率。在步骤155中,收发器切换成回路模式。使用连接发送单元250和接收单元210的开关可执行切换收发器成回路模式。切换收发器成回路模式使得能够注入来自发送单元250的输出信号到接收单元210中。
在步骤160中,自动增益控制(AGC)在接收信号上执行。在步骤150中接收的信号是包括同相(I)分量和正交(Q)分量的IQ信号。在步骤165中,接收的IQ信号的同相(I)分量和正交(Q)分量两者在接收单元处采样。在步骤170中,采样的信号在图像频率中测量。图像频率与接收的IQ信号的频率相对。
在步骤175中,校正在接收单元中执行。校正IQ失配的方式基本上与步骤135类似,其中校正在发送单元中执行。校正包括校正与增益分量分离的相位分量。仅模拟相位校正机构或模拟增益校正机构中的一个可用在给定的校正上。
在一些示例性实施例中,表示所需校正的码字经由电路转换为校准单元。这种电路包括接收码字的数字模拟转换器。当校准在增益分量或幅度分量中执行时,码字具有表示dB单元的值。当在相位分量中需要校准时,码字具有表示角度的值。码字通过多个开关和可控制的输入电流转换为模拟数据。这种模拟数据然后可在校准模块处接收,该校准模块校准在相位分量和增益分量两者中的IQ失配。校准值可以是在接收码字值的函数。
在相位分量或增益分量中的校准可以通过相位机构或通过增益校准机构执行。IQ信号的校准水平可影响在相位校准机构中或通过增益校准机构使用的电阻或电压水平。例如,更高的校准水平需要较小电阻的动态电阻器,如下所公开的。相位校正机构或增益校正机构的校准可称为在同相分量或正交分量的相位或增益之间的比率。
图2示出根据本主题的一些示例性实施例用于校正IQ失衡的系统。该系统包括接收单元210、处理单元220和发送单元250。
接收单元210包括低噪音放大器216。在低噪音放大器216处接收的信号穿过开关到下转换器和滤波单元214,并且然后到校准模块212。下转换器和滤波单元214包括混频器,其下转换接收的RF信号到紧接IF链的IF域。IF链包括IF放大器和选择性滤波器。校准模块212包括用于校准在幅度分量中的IQ失配的第一校准机构(诸如图3的300),以及用于校准在相位分量中的IQ失配的第二校准机构(诸如图4的400)。在一些示例性情况中,第一校准机构和第二校准机构在模拟域中操作。校准模块212连接到处理单元220的元件。例如,连接到检测IQ失配的数字处理逻辑单元222。这种检测可以是在接收单元210处接收的IQ信号中相位分量的IQ失配和增益分量中的IQ失配两者的函数。
处理单元220包括数字处理逻辑单元222。处理单元220可同样包括多路复用器240。多路复用器240可连接到ADC单元235。多路复用器240根据校准模式来选择输入到ADC单元235中。多路复用器240可选择检测器路径或接收路径中的一个路径。在发送单元250中的IQ校准期间,多路复用器240路由包络检测器230的输出到ADC中。在接收单元210中的IQ校准期间,多路复用器240路由接收的IF信号的同相分量和正交分量到ADC单元235中。包络检测器230检测在发送单元250中的RF信号的包络。处理单元220可同样包括用于识别包络检测器230的输出信号饱和度的过载单元232。
发送单元250包括功率放大器256、具有滤波器254的上转换单元,以及校正模块252。校准模块252等同于校准模块212,并且包括用于分别校准在增益分量和相位分量中的IQ失配的增益校准机构和相位校准机构。校准模块252从生成IQ信号的IQ发生器224接收IQ信号。由校准模块252校准的信号可穿过具有滤波器254的上转换单元和功率放大器256到处理单元220的包络检测器230。具有滤波器254的上转换单元在IF滤波之后上转换IF IQ信号到RF域。包络检测器根据从校正模块252输出的IQ信号质量来提供信号给多路复用器240。
图3示出根据本主题的一些示例性实施例的增益校正模块。在一些示例性情况中,增益校准机构在模拟域中操作。增益校准机构300包括用于校准在同相增益分量中的IQ失配的同相校准单元301,以及用于校准在正交增益分量中的IQ失配的正交校准机构340。示例性实施例的增益校准机构300包括基本上类似功能的两个校准单元。
同相校准单元301接收两个信号作为输入,正同相信号302和负同相信号312。正交校准单元340接收两个信号作为输入,正的正交信号342和负的正交信号352。当在同相校准单元301处或在正交校准单元340处接收时,信号302、312、342和352穿过电路,其使得能够控制在同相校准单元301的输出和正交校准单元340的输出中的值。这种电路可包括静态电阻器和动态电阻器。正的同相信号302通过静态电阻器304和动态电阻器306传递。同样,负的同相信号312通过静态电阻器314和动态电阻器316传递,正的正交信号342通过静态电阻器344和动态电阻器346传递,并且负的正交信号352通过静态电阻器354和动态电阻器356传递。
在一些情况下,动态电阻器306的电阻由控制元件控制。这种控制元件可包括数字模拟转换器,其改变电压值并且因此操纵动态电阻器306的电阻。控制元件可以是使得能够以自动化方式(如本领域中技术人员所期望的)改变输入信号值的任何电气元件。控制元件可连接到用于存储用于操纵输入信号302、312、342和352的一组规则和条件的存储单元。例如,这种操纵可在第一迭代中具有更高的区分,以及在其它迭代中具有微妙变化。在输入信号和输出信号之间的比率可以是由控制元件确定的电阻的函数。这种比率可以例如是(R1+R2)/R2,其中R1称为静态电阻器,诸如304,而R2称为动态电阻器,诸如306。
运算放大器320接收负输入信号302和正输入信号312,而运算放大器360接收负输入信号302和正输入信号312。在一些情况下,运算放大器320、360连接到负反馈配置中以减少输入差信号。
在一些情况下,同相校准单元301和正交校准单元340改变在同相信号302、312的增益和正交信号342、352的增益之间的比率。例如,同相校正单元301可接收具有与输入正交信号342、352相同增益的输入同相信号302、312。控制动态电阻器306、316、346、356电阻的控制元件提供该输出同相信号309、319,其具有与输出正交信号349、359的增益不同的增益。例如,输出的同相信号309、319的增益可以是比输出的正交信号349、359增益更高10个百分比,或更低10个百分比。同样,在输出的同相信号309、319和输出的正交信号349、359的增益之间的差可通过dB单位测量,诸如0.1dB的差。在一些其它情况下,输入信号可具有不同的增益并且输出信号可具有相等增益。在输入和输出的同相信号和正交信号之间的增益的差或比率的变化可由控制元件确定。这种变化可在第一迭代中更高,并且在进一步的迭代中更低。当由IQ失衡引起的总噪音低于预定义阈值(诸如0.1dB)时这种变化可结束。
图4示出根据本主题的一些示例性实施例的相位校准机构。在一些示例性情况下,相位校准机构在模拟域中操作。相位校准机构400在与图3的增益校准机构300类似的输入中接收四个信号。相位校准机构400接收穿过两个静态电阻器412、414的正同相信号410。相位校准机构400进一步接收正的正交信号420,其在进入运算放大器480之前穿过静态电阻器422和动态电阻器424。负的正交信号415在进入运算放大器480之前同样穿过静态电阻器417和动态电阻器419。运算放大器480的输出是输出的正相位校正信号430。相位的校准可以表示为到主要同相信号中的次要正交信号的注入,或反之亦然。例如,当主要的同相信号由Acos(wt)表示,并且次要的正交信号由Bsin(wt)表示,两个信号的总和提供包括Dcos(wt-α)的表述,其中α是在相位中的变化。
与以上类似,相位校准机构400接收负的同相信号460,其穿过具有相同电阻的两个静态电阻器462、464。相位校准机构400进一步接收负的正交信号450,其在进入运算放大器480之前穿过静态电阻器452和动态电阻器454。在进入运算放大器480之前正的正交信号440穿过静态电阻器442和动态电阻器444。运算放大器480的输出是输出的负相位校正信号470。
图5示出根据本主题的一些示例性实施例的交叉校准机构。交叉校准机构包括数字IQ发生器510。IQ发生器510生成不具有失配的数字IQ信号。来自IQ发生器510的数字信号经由数字模拟和滤波单元522、524发送到收发器540。数字模拟和滤波单元522、524导致在IQ信号中的失配。交叉校准机构使得由数字模拟和滤波单元522、524导致的失配的检测和校正成为可能。
I分量经由通道511从IQ发送器510首先发送到数字模拟和滤波单元522,并且然后经由通道513发送到收发器540。然后存储对I分量由数字模拟和滤波单元522导致的失配。同样,Q分量经由通道512从IQ发生器510发送到数字模拟和滤波单元524,并且然后经由通道532到收发器540。在第二迭代中,I分量经由通道515从IQ发生器510发送到数字模拟和滤波单元524,并且然后经由通道534到收发器540。存储对I分量由数字模拟和滤波单元524导致的失配。同样,Q分量经由通道514从IQ发生器510发送到数字模拟和滤波单元522,并且然后经由通道535到收发器540。类似的交叉机构在ADC235之前在接收路径中执行,并且在数字处理逻辑222中,使由模拟数字转换器导致的失配的检测和校正成为可能。
本主题的一个技术效果是使仅在RF芯片内的IQ失配校准成为可能,而不考虑另一个芯片。另一个技术效果是取消在RF芯片内的电气组件的自失配,诸如模拟数字转换器。本主题的另一个技术效果是使用回路模式,以便使用发送器的输出作为由用于校准的接收单元使用的信号。本主题的另一个技术效果是公开使用在RF芯片中的模拟分量而用于达到优化校准的搜索方法。
在附图中的流程图和方框图示出根据本主题各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实施方式的结构、功能和操作。在这方面,在流程图或方框图中的每一个方框可表示模块、片段、或程序代码的一部分,其包括用于执行指定逻辑功能的一个或多个可执行指令。应该同样注意,在一些实施例实现中,在方框中所述的功能可在附图中所述的顺序之外发生。例如,连续示出的两个方框可实际上基本上同时执行,或方框有时可以相反顺序执行,取决于涉及的功能。将注意的是,方框图和/或流程图说明以及在方框图和/或流程图说明中的方框组合中的每一个方框可由特殊用途基于硬件的系统执行,该系统执行指定的功能或行为,或特殊目的用途硬件和计算机指令的组合。
这里所用的术语仅是为了描述具体实施例,并不是为了限制本发明。如这里所用,单数形式“一个”、“一”和“该”旨在也包括复数形式,除非上下文另外明确指示。应进一步理解,当用在本说明书中时,术语“包括”和/或“包含”指出存在所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件,但不排除存在或外加一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或其组合。
如本领域技术人员将理解的,公开的主题可实施为系统、方法或计算机程序产品。因此,公开的主体可采取完全硬件实施方式、完全软件实施方式(包括固件,常驻软件和微码等)或组合软件和硬件方面的实施方式的形式,该软件和硬件方面可一般全部在此称为“电路”、“模块”或“系统”。此外,本主题可采取计算机程序产品的形式,该计算机程序产品实施在具有在介质实施中的计算机可使用程序代码的表述的任何有形介质中。
可利用一个或多个计算机可使用或计算机可读介质的任何组合。计算机可使用或计算机可读介质可以例如但不限于电、磁、光、电磁、红外或半导体系统、设备、装置或传播介质。计算机可读介质的更具体的示例(非穷举列表)将包括以下:具有一个或多个电线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或闪存存储器)、光纤、便携式压缩光盘只读存储器(CDROM)、光学存储装置、传输介质(诸如支持因特网或内联网的那些介质),或磁性存储装置。应该注意,计算机可使用或计算机可读介质可甚至是纸或另一个程序印刷在其上的合适介质,因为程序可经由例如纸或其它介质的光学扫描而电子捕获,然后如果必要的话,编译、解释或以合适的方式另外处理,并且然后存储在计算机存储器中。在本文件的上下文中,计算机可使用或计算机可读介质可以是通过或与指令执行系统、设备或装置连接的可包含、存储、通信、传播或输送程序用于使用的任何介质。在基带中或作为载波的一部分,计算机可使用介质可包括具有与之实施的计算机可使用程序代码的传播数据信号。计算机可使用程序代码可使用任何适当介质而发送,包括但不限于无线、有线、光纤电缆、RF等。
用于执行本主题操作的计算机程序代码可以一个或多个编程语言的任何组合编写,包括面向对象的编程语言,诸如Java、Smalltalk、C++等和传统程序编程语言,诸如“C”编程语言或类似的编程语言。程序代码可完全在用户计算机上执行,部分地在用户计算机上执行,作为单机软件包,部分地在用户计算机上并且部分地在远程计算机上或完全在远程计算机或服务器上。在后者情况下,远程计算机可通过任何类型的网络(包括局域网(LAN)或广域网(WAN),或可对外部计算机作出连接(例如通过使用因特网服务器提供商的因特网))连接到用户计算机。
相应的结构、材料、行为和在以下权利要求中的所有装置或步骤加功能元件的等同物旨在包括任何结构、材料或用于执行与其它要求保护的元件组合的功能行为,如具体要求的。本主题的描述已经提出用于说明和描述,但不旨在穷举或限于公开形式中的主题。许多修改和变体将对于本领域普通技术人员显而易见,而不背离本主题的范围和精神。选择并且描述实施例以便更好地解释本主题和实际应用的原理,并且使本领域的其他普通技术人员理解用于具有各种修改(如适于特定考虑使用)的各种实施例的主题。
虽然参考示例性实施例已经描述了本公开,但是本领域的技术人员应该理解,在不背离本主题范围的情况下,可作出各种变化并且等同物可替代其元件。此外,可作出许多修改以适于特定情况或材料教导,而不背离其基本范围。因此,其旨在所公开的主题不限于如预期用于执行该主题的最优模式所公开的特定实施例,而仅由如下权利要求限定。
Claims (15)
1.一种设备,驻留在RF芯片内,该设备包括:
检测单元,用于检测在IQ信号中的IQ失配;
模拟校准模块,其包括用于校准在相位分量中的IQ失配的第一模拟校准机构,以及用于校准在幅度分量中的IQ失配的第二模拟校准机构;
控制单元,用于确定所述IQ信号的校准序列。
2.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一模拟校准机构包括运算放大器和多个电阻器。
3.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一模拟校准机构变换在同相分量和正交分量之间的相对相位。
4.根据权利要求1所述的设备,其中所述第二模拟校准机构包括用于操纵所述幅度的动态电阻器。
5.根据权利要求4所述的设备,其中所述第二模拟校准机构包括数字模拟转换器和用于确定用于操纵所述幅度的动态电阻器的电阻的晶体管。
6.根据权利要求1所述的设备,其中所述校准模块被配置成在所述相位分量中的IQ失配和在所述幅度分量中的IQ失配的预定义失配水平中操作。
7.根据权利要求1所述的设备,其进一步包括用于消除所述设备模拟电组件的自失配的校准交叉机构。
8.一种方法,用于校正在包括发送单元和接收单元的收发器中的IQ失衡,所述方法包括:
校准在所述发送单元中的IQ失衡;
将所述收发器切换成回路模式;
使用从所述发送器单元的输出接收的信号,来校准在所述接收单元中的IQ失衡。
9.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括在所述发送器单元处接收RF发送信号的步骤。
10.根据权利要求9所述的方法,其中根据所述接收的RF发送信号的包络来校正在所述发送单元中的IQ失配。
11.根据权利要求10所述的方法,其中在两倍于所述接收的RF发送信号包络频率的频率中测量功率。
12.根据权利要求8所述的方法,其中根据从所述发送器单元输出接收的信号的图像频率中的测量功率来校正在所述接收信号中的IQ失配。
13.根据权利要求8所述的方法,其中使用模拟校正模块来校正在所述发送单元中的IQ失配。
14.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括在所述接收的IQ信号上执行自动增益控制的步骤。
15.根据权利要求8所述的方法,其中校准所述IQ失衡包括如下步骤:
校准相位IQ失衡;
校准增益IQ失衡;
采样在所述发送单元输出中的包络;
采样在所述接收单元的输出中的所述接收的IQ信号的同相(I)分量和正交(Q)分量。
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