CN103760394A - 示波器测量数据的自动处理方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种示波器测量数据的自动处理方法及装置，所述方法包括以下步骤：定制标准测试用例模板，将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中；在示波器中设定相关测量项，并对所述待测芯片进行测试；采集示波器当前的测量数据和波形图；打开存储测试用例的文件设备，并查找与当前测试点对应的测试用例，将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区，以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录；将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析，判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据；若是，则对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。本发明的方法及装置有效提高了单板信号的测试精度。

Description

示波器测量数据的自动处理方法及装置
技术领域
本发明涉及数据和图形自动化处理领域，特别是涉及一种示波器测量数据的自动处理方法以及一种示波器测量数据的自动处理装置。
背景技术
在以往采用示波器对硬件单板信号的测试过程中，对每个测试点都需要记录测试数据和波形图，并整理分析测量结果。以处理器产品测试为例，就有4000多个测试点，超过224000单元数据需要记录整理和分析，还有每个测试点波形图的拍摄与保存等。基于示波器产品的功能技术，无法对测试产生的海量数据和波形图进行自动保存和分析，从而无形中降低了单板信号的测试精度。
发明内容
基于此，本发明提供一种示波器测量数据的自动处理方法及装置，能够提高单板信号的测试精度。
为实现上述目的，本发明采用如下的技术方案：
一种示波器测量数据的自动处理方法，包括以下步骤：
定制标准测试用例模板，将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中；
在示波器中设定相关测量项，并对所述待测芯片进行测试；
采集示波器当前的测量数据和波形图；
打开存储测试用例的文件设备，并查找与当前测试点对应的测试用例，将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区，以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录；
将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析，判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据；
若是，则对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。
一种示波器测量数据的自动处理装置，包括：
数据写入模块，用于定制标准测试用例模板，将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中；
测试模块，用于在示波器中设定相关测量项，并对所述待测芯片进行测试；
数据采集模块，用于采集示波器当前的测量数据和波形图；
数据保存模块，用于打开存储测试用例的文件设备，并查找与当前测试点对应的测试用例，将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区，以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录；
判断模块，用于将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析，判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据；
提示模块，用于在所述判断模块的判断结果为是的情况下，对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。
由以上方案可以看出，本发明的一种示波器测量数据的自动处理方法及装置，能够自动对测试产生的海量测量数据和波形图进行采集和保存，并且能够对采集数据是否符合标准要求自动进行系统分析，这样一来有效避免了由于人的主观分析误差所导致的测试结果不准确的问题，减小了测量结果与标准之间的判断差异，满足了检测的高精度要求。
附图说明
图1为本发明一种示波器测量数据的自动处理方法的流程示意图；
图2为本发明测试用例模板设计示意图；
图3为本发明实测产生数据示意图；
图4为本发明一种示波器测量数据的自动处理装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明中，根据示波器的工作原理和接口通信协议，对示波器的协议进行封装解释，控制示波器；并运行设定的相关业务用例，从示波器采集获取测试数据的准确值，对测试数据进行系统分析（判断是否符合标准要求），并自动生成报告保存到文件。下面以一片名为PW9801芯片的晶振，信号网络名为X3为例，测试的内容包括高低电平、周期、频率、上下降时间、高低脉宽、正负过冲等。
参见图1所示，一种示波器测量数据的自动处理方法，包括以下步骤：
步骤S101，使用Excel文件定制标准测试用例模板，将待测芯片（PW9801）的规格标准写入所述测试用例模板中。没有相关参数值要求的，用TBD（To BeDefined，待定）表示；空白处为待写的数据区，如图2所示。
步骤S102，在示波器中设定相关测量项，并对所述待测芯片进行测试。本发明中，可以通过网络通信接口，使用网线连接PC（personal computer，个人计算机）与示波器，开启示波器设备。在PC中运行本装置工具软件，系统进入等待状态。被测试芯片正常上电工作后，在示波器中设定相关测量项，将示波器探头放置在电路板X3测试点，示波器的显示界面显示信号波形、光标和数据信息，暂停示波器采集。
步骤S103，采集示波器当前的测量数据和波形图。示波器暂停采集后（系统默认3秒后，可自行定义），自动触发采集示波器当前的测量数据和波形图的步骤。
具体的，至于如何采集示波器的测试数据和波形图，可以基于Labview平台建立一个虚拟示波器对象，根据示波器提供的接口和协议，通过Laview虚拟示波器提供的接口函数来读取存储在示波器的二进制文件数据。对采集的数据进行一个转换和绘制，就可以得到我们想要的测试数据和波形图。
步骤S104，打开存储测试用例的文件设备，并查找与当前测试点对应的测试用例，例如，本发明实施例中的文件设备为Excel文件设备，另外查找到的是信号网络名为X3的测试用例；将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区，以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录。
作为一个较好的实施例，所述将采集到的波形图进行绘制的过程具体可以包括：将采集到的波形图绘制为.PNG格式。另外文件名可以默认为以信号网络名命名（亦可自行定义）。
步骤S105，将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析，对测量数据进行分类筛选处理，判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据，若是则进入步骤S106，否则正常的数据不需要做特别处理，如图3所示。
步骤S106，若是，即存在异常或超出规格标准的测试数据，则对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。
作为一个较好的实施例，所述进行提示的过程具体可以包括：以红底纹告警并打印提示信息。
作为一个较好的实施例，在将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析之后，还可以包括如下步骤：
将系统分析之后所生成的分析报告保存到Excel设备文件，并关闭Excel设备文件。在未使用文件时保存并关闭文件，能够有效避免设备突然掉电或其他异常中断导致前面和当前的测试数据和分析报告的丢失，保障测试的安全性。
对于下一个测试点的测试，可以按前述步骤处理，依次循环，直至测试完毕。
与上述一种示波器测量数据的自动处理方法相对应，本发明还提供一种示波器测量数据的自动处理装置，如图4所示，包括：
数据写入模块101，用于定制标准测试用例模板，将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中；
测试模块102，用于在示波器中设定相关测量项，并对所述待测芯片进行测试；
数据采集模块103，用于采集示波器当前的测量数据和波形图；
数据保存模块104，用于打开存储测试用例的文件设备，并查找与当前测试点对应的测试用例，将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区，以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录；
判断模块105，用于将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析，判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据；
提示模块106，用于在所述判断模块的判断结果为是的情况下，对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。
作为一个较好的实施例，所述提示模块可以包括：
告警打印模块，用于以红底纹告警并打印提示信息。
作为一个较好的实施例，所述示波器测量数据的自动处理装置还可以包括：
报告保存模块，用于将系统分析之后所生成的分析报告保存到Excel设备文件，并关闭所述Excel设备文件。
作为一个较好的实施例，所述数据保存模块可以包括：
绘制模块，用于将采集到的波形图绘制为.PNG格式。
上述一种示波器测量数据的自动处理装置的其它技术特征与本发明的一种示波器测量数据的自动处理方法相同，此处不予赘述。
通过以上方案可以看出，本发明的一种示波器测量数据的自动处理方法及装置，能够自动对测试产生的海量测量数据和波形图进行采集和保存，并且能够对采集数据是否符合标准要求自动进行系统分析，这样一来有效避免了由于人的主观分析误差所导致的测试结果不准确的问题，减小了测量结果与标准之间的判断差异，满足了检测的高精度要求。
除非上下文另有特定清楚的描述，本发明中的元件和组件，数量既可以单个的形式存在，也可以多个的形式存在，本发明并不对此进行限定。本发明中的步骤虽然用标号进行了排列，但并不用于限定步骤的先后次序，除非明确说明了步骤的次序或者某步骤的执行需要其他步骤作为基础，否则步骤的相对次序是可以调整的。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种示波器测量数据的自动处理方法，其特征在于，包括以下步骤：
定制标准测试用例模板，将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中；
在示波器中设定相关测量项，并对所述待测芯片进行测试；
采集示波器当前的测量数据和波形图；
打开存储测试用例的文件设备，并查找与当前测试点对应的测试用例，将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区，以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录；
将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析，判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据；
若是，则对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。
2.根据权利要求1所述的示波器测量数据的自动处理方法，其特征在于，所述进行提示的过程包括：以红底纹告警并打印提示信息。
3.根据权利要求2所述的示波器测量数据的自动处理方法，其特征在于，在将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析之后，还包括步骤：
将系统分析之后所生成的分析报告保存到Excel设备文件，并关闭Excel设备文件。
4.根据权利要求1或2或3所述的示波器测量数据的自动处理方法，其特征在于，所述将采集到的波形图进行绘制的过程包括：将采集到的波形图绘制为.PNG格式。
5.一种示波器测量数据的自动处理装置，其特征在于，包括：
数据写入模块，用于定制标准测试用例模板，将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中；
测试模块，用于在示波器中设定相关测量项，并对所述待测芯片进行测试；
数据采集模块，用于采集示波器当前的测量数据和波形图；
数据保存模块，用于打开存储测试用例的文件设备，并查找与当前测试点对应的测试用例，将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区，以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录；
判断模块，用于将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析，判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据；
提示模块，用于在所述判断模块的判断结果为是的情况下，对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。
6.根据权利要求5所述的示波器测量数据的自动处理装置，其特征在于，所述提示模块包括：
告警打印模块，用于以红底纹告警并打印提示信息。
7.根据权利要求6所述的示波器测量数据的自动处理装置，其特征在于，还包括：
报告保存模块，用于将系统分析之后所生成的分析报告保存到Excel设备文件，并关闭所述Excel设备文件。
8.根据权利要求5或6或7所述的示波器测量数据的自动处理装置，其特征在于，所述数据保存模块包括：
绘制模块，用于将采集到的波形图绘制为.PNG格式。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105403747A (zh) * 2015-11-04 2016-03-16 中国电子科技集团公司第四十一研究所 多模板同步测试方法及示波器
CN106339364A (zh) * 2016-08-23 2017-01-18 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种将示波器波形自动保存到excel表格里的方法
CN106653092A (zh) * 2017-01-05 2017-05-10 上海剑桥科技股份有限公司 Ddr测试波形数据文件的处理方法及处理系统
CN106771454A (zh) * 2016-12-21 2017-05-31 东南大学 一种基于fpga的极限测试模板生成方法
CN106771453A (zh) * 2016-11-16 2017-05-31 广州视源电子科技股份有限公司 一种用于示波器的测试方法及装置
CN108267629A (zh) * 2018-01-26 2018-07-10 上海剑桥科技股份有限公司 示波器控制方法、设备和系统
CN111596203A (zh) * 2020-05-29 2020-08-28 大连卓志创芯科技有限公司 一种芯片测试装置、平台及方法
CN114894239A (zh) * 2022-04-19 2022-08-12 众星智能仪表(广州)有限公司 一种数据采集方法以及数据采集器

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101191831A (zh) * 2006-12-01 2008-06-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 示波器测试系统及方法
CN101413967A (zh) * 2007-10-15 2009-04-22 英业达股份有限公司 控制示波器自动化量测的方法
CN101980039A (zh) * 2010-09-29 2011-02-23 中国航天科工集团第二研究院二○三所 一种用于无线电计量测试的示波器触发校准装置
CN101865975B (zh) * 2009-04-16 2012-11-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板测试系统及方法
CN103116053A (zh) * 2013-01-31 2013-05-22 福建利利普光电科技有限公司 一种用于测量数字存储示波器的自动量程系统及测量方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101191831A (zh) * 2006-12-01 2008-06-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 示波器测试系统及方法
CN101413967A (zh) * 2007-10-15 2009-04-22 英业达股份有限公司 控制示波器自动化量测的方法
CN101865975B (zh) * 2009-04-16 2012-11-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板测试系统及方法
CN101980039A (zh) * 2010-09-29 2011-02-23 中国航天科工集团第二研究院二○三所 一种用于无线电计量测试的示波器触发校准装置
CN103116053A (zh) * 2013-01-31 2013-05-22 福建利利普光电科技有限公司 一种用于测量数字存储示波器的自动量程系统及测量方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张文娟等: "示波器校准仪自动计量检定系统的实现", 《宇航计测技术》 *

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105403747A (zh) * 2015-11-04 2016-03-16 中国电子科技集团公司第四十一研究所 多模板同步测试方法及示波器
CN106339364A (zh) * 2016-08-23 2017-01-18 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种将示波器波形自动保存到excel表格里的方法
CN106771453A (zh) * 2016-11-16 2017-05-31 广州视源电子科技股份有限公司 一种用于示波器的测试方法及装置
CN106771454A (zh) * 2016-12-21 2017-05-31 东南大学 一种基于fpga的极限测试模板生成方法
CN106653092A (zh) * 2017-01-05 2017-05-10 上海剑桥科技股份有限公司 Ddr测试波形数据文件的处理方法及处理系统
CN108267629A (zh) * 2018-01-26 2018-07-10 上海剑桥科技股份有限公司 示波器控制方法、设备和系统
CN111596203A (zh) * 2020-05-29 2020-08-28 大连卓志创芯科技有限公司 一种芯片测试装置、平台及方法
CN111596203B (zh) * 2020-05-29 2021-05-07 大连卓志创芯科技有限公司 一种芯片测试装置、平台及方法
CN114894239A (zh) * 2022-04-19 2022-08-12 众星智能仪表(广州)有限公司 一种数据采集方法以及数据采集器
CN114894239B (zh) * 2022-04-19 2023-10-27 众星智能仪表(广州)有限公司 一种数据采集方法以及数据采集器

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