CN103712608B - 一种可倒置标线仪及可倒置标线仪标线方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出的一种可倒置的标线仪：包括安平系统、标线组件、微处理器、调整驱动模块，安平系统与标线组件相连，微处理器与安平系统、标线组件、调整驱动模块相连，调整驱动模块与标线组件相连，其特征在于，还包括倒置信号传感器，与微处理器相连，用于判断标线仪是否倒置。本发明还提出一种可倒置的标线仪标线方法。本发明的优点在于：本发明设计了一种新型可以倒置标线仪，通过倒置技术，使得这种标线仪即可以在正常放置时进行标线工作，还可以将标线仪倒置放置进行标线工作，从而使标线仪标线光面与施工面距离小于等于7厘米、甚至小于5到3厘米或更低，增加了标线精度，便于施工作业。

Description

一种可倒置标线仪及可倒置标线仪标线方法

技术领域

本发明涉及一种标线仪及标线仪标线方法，尤其涉及一种可倒置的标线仪及其标线方法。

背景技术

激光标线仪在工程建筑中已经使用多年，它们通常用来为建筑工程产生光参照面，用于商业拓建、铺设基础、铺砌瓷砖、安装柜橱、安装天花板、吊平顶部天棚和安装户外平台等。使用时，将激光标线仪设置于施工墙面前的地面上，让其产生激光光束映射在墙面、地面或天花板，并使映射在墙面、地面或天花板的激光光束平行或垂直于水平面，如此便可根据激光光束进行标记与施工后的检验。当然，根据需要，激光标线仪也可发出2组或3组正交的激光光束，形成2轴或3轴正交的标线面。

现有的激光标线仪结构如图1所示，其发射的光线形成的光面8与施工面、地面或仪器支撑面的距离h一般都比较大，很难做到小于10厘米。

为了实现水平光面离施工面高度更近的目的，需要将仪器倒置，仪器倒置后由于安平信号传感器旋转180°后输出的信号与原信号相同，而以此信号为依据来驱动电机，达不到安平调节作用反而导致偏差越来越大。

发明内容

本发明要解决的技术问题是，提供一种可倒置使用的标线仪，通过倒置使用，可以缩小光面与施工面之间的距离(h)至小于等于7厘米、甚至小于5厘米的标线仪。

为解决上述技术问题，本发明提出的一种可倒置的标线仪的技术解决方案为：

一种可倒置标线仪，包括安平系统、标线组件、微处理器、调整驱动模块，安平系统与标线组件相连，微处理器与安平系统、标线组件、调整驱动模块相连，调整驱动模块与标线组件相连，其特征在于，还包括倒置信号传感器，与微处理器相连，用于判断标线仪是否倒置。

还包括角度超限传感器，角度超限传感器与微处理器相连，用于判断标线仪是否超过预定角度，如果超过预定角度，可进行声光警示，以提醒工作人员操作正确标线仪。

安平系统包括安平信号传感器，与安平信号传感器相连的信号处理模块。

安平信号传感器检测标线组件的安平信号，信号处理模块对检测到的安平信号进行处理，获得处理信号，并将该处理信号传给微处理器，倒置信号传感器将倒置信号传给微处理器；

微处理器判断是否需要调节标线组件；

如需进行调节，控制调整驱动模块对标线组件进行调节；

如不需进行调节，控制标线组件进行标线。

倒置信号传感器为光耦传感器，光耦传感器与微处理器相连，用于判断标线组件是否倒置；当标线组件为倒置时，微处理器控制调整驱动模块以倒置模式调整标线组件；当标线组件为非倒置时，微处理器控制调整驱动模块以非倒置模式调整标线组件。

标线组件包括调节座、光源座、光源、光学单元、驱动单元；光源座设置在调节座上，光源设置在光源座内，光学单元将光源发出的光线进行折射，驱动单元驱动光学单元旋转，光线因光学单元的旋转而形成光面。

标线组件包括调节座、光源座、光源、光学单元；光源座设置在调节座上，光源设置在光源座内，光学单元将光源发出的光线进行反射，形成光面。

安平系统为电子水泡式安平系统；光源为激光发射管，发射点状激光；标线组件为至少1组，标线组件大于1组时，各标线组件形成的光面互相垂直。

光面与施工面距离小于等于7厘米。

本发明还提出一种可倒置的标线仪标线方法，包括以下步骤：

检测标线组件安平信号；

对安平信号进行处理；

检测标线组件倒置信号；

判断标线组件是否倒置？

判断是否需要调节标线组件？

如标线组件为非倒置，且标线组件需要调节，以非倒置驱动模式调节标线组件；

如标线组件为倒置，且标线组件需要调节，以倒置驱动模式调节标线组件；

标线组件调节完成后，重复检测标线组件安平信号的步骤；

如标线组件不需要调节，则

标线仪进行标线工作。

还包括判断标线组件调节方向和范围的步骤。

本发明的优点在于：本发明设计了一种新型可以倒置标线仪，通过倒置技术，使得这种标线仪即可以在正常放置时进行标线工作，还可以将标线仪倒置放置进行标线工作，从而使标线仪标线光面与施工面距离小于等于7厘米、甚至小于5到3厘米或更低，增加了标线精度，便于施工作业。

附图说明

图1 为现有标线仪光面与施工面距离标示；

图2 为本发明逻辑图；

图3为本发明第一种标线组件逻辑图；

图4 为本发明第二种标线组件逻辑图；

图5为本发明工作流程图；

图6 为本发明标线仪光面与施工面距离标示；

其中，1为基座；2为安平系统；3为标线组件；4为倒置信号传感器或光耦传感器；5为角度超限传感器；6为微处理器；7为调整驱动模块；8为标线仪光面；30为调节座；31为光源座；32为光源；33为光学单元；34为驱动单元。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所达成目的及功效，下面结合实施例并配合附图予以详细说明，各附图相同部件采用相同的标号表示。

图2为本发明逻辑图。包括安平系统2、标线组件3、微处理器6、调整驱动模块7，安平系统2与标线组件3相连，微处理器6与安平系统2、标线组件3、调整驱动模块7相连，调整驱动模块7与标线组件3相连，还包括倒置信号传感器4，与微处理器6相连，用于判断标线仪或标线组件3是否倒置。

实际使用时，一般标线仪可设有基座1，安平系统2与标线组件3均安装于标线组件3上，其他部件也都或直接或间接安装在基座1上面.

本发明还可以包括角度超限传感器5，角度超限传感器5与微处理器6相连，用于判断标线组件3或标线仪是否超过预定角度，如果超过预定角度，可进行声光警示，以提醒工作人员正确操作标线仪。

一般的，安平系统2可以采用电子水泡式安平系统，安平系统2包括安平信号传感器，与安平信号传感器相连的信号处理模块，安平信号传感器检测标线组件3的安平信号，信号处理模块对检测到的安平信号进行处理，如对安平信号进行模数转换或信号放大处理等，获得处理后的信号，并将该处理信号传给微处理器6，微处理器6通过该处理信号判断是否需要调节标线组件3，及该如何调节标线组件3，以控制调整驱动模块7对标线组件3进行调整；调整驱动模块7可以为步进电机或马达，通过步进电机或马达对标线组件3进行调节；倒置信号传感器4可以为光耦传感器，光耦传感器与微处理器6相连，将检测到的信号传给微处理器6，微处理器6通过该信号判断标线仪或标线组件3是否倒置；

当标线仪或标线组件3为倒置时，微处理器6控制调整驱动模块7以倒置模式调整标线组件3；当标线仪或标线组件3为非倒置时，微处理器6控制调整驱动模块7以非倒置模式调整标线组件3。

微处理器6判断是否需要调节标线组件3；

如需进行调节，控制调整驱动模块7对标线组件进行调节；

如不需进行调节，控制标线组件3进行标线，如光源开启等。

图3为标线组件3的一种逻辑结构，标线组件3包括调节座30、光源座31、光源32、光学单元33；光源座31设置在调节座30上，光源32设置在光源座31内，光学单元33将光源32发出的光线进行反射，形成光面8。一般地，光源32为激光发射管，发射点状激光光线，光学单元33可以为锥形镜面，可对光线进行反射。当微处理器6判断需要对标线组件3进行调节时，控制调整驱动模块7对标线组件3的调节座30进行调节；当微处理器6判断不需要对标线组件3进行调节时，控制标线组件进行标线，开启光源32。

图4为标线组件3的另一种逻辑结构，标线组件3包括调节座30、光源座31、光源32、光学单元33、驱动单元34；光源座31设置在调节座30上，光源32设置在光源座31内，光学单元33将光源32发出的光线进行折射，驱动单元34驱动光学单元旋转，光线因光学单元的旋转而形成光面8。一般地，光源32为激光发射管，发射点状激光光线，光学单元33为五角棱镜，可将光源32发出的光线折射90度。驱动单元34一般采用马达或电机等可以带动光学单元高速运转的机械结构，通常有内转子电机或外转子中空电机，如采用内转子中空电机，光源32发射出的光线通过电机的中空管射至五角棱镜，电机带动五角棱镜高速旋转，光线因五角棱镜的高速旋转而形成光面8。当微处理器6判断需要对标线组件3进行调节时，控制调整驱动模块7对标线组件3的调节座30进行调节；当微处理器6判断不需要对标线组件3进行调节时，控制标线组件进行标线，开启光源32，驱动单元34开始运转。

实际使用中，一般标线仪，其标线组件3为至少1组，也可以是2组或3组，标线组件3大于1组时，各标线组件3形成的光面互相垂直。如采用2组标线组件3时，该标线仪可以形成2个互相垂直的光面8，如为一个水平光面8和一个与之成90度的垂直光面8；采用3组标线组件3时，形成3个互相垂直的光面8，如形成一个水平光面8和两个与之成90度的垂直光面8，同时，这两个垂直光面8又互成90度。

参考图6，采用该结构的标线仪，使用时，其形成的光面8与施工面之间的距离(h)可以小于等于5厘米、甚至小于3厘米。

图5为本发明工作流程图，为一种可倒置标线仪标线方法，包括步骤：开启电源，70开始工作；

71检测标线组件安平信号，一般可通过电子水泡式安平系统检测标线组件的安平信号；

72对安平信号进行处理，如对检测到的安平信号进行模数转换或信号放大处理等，获得处理后的安平信号；

73检测标线组件或标线仪倒置信号，如通过倒置信号传感器对标线仪或标线组件进行检测可获得倒置信号；

74判断是否需要调节标线组件，微处理器通过处理后的安平信号和倒置信号进行处理可进行判断标线组件是否满足标线的条件，可以进行标线工作，如果不满足标线条件，需要对标线组件进行调节，则根据倒置信号：

75以倒置模式驱动调节标线组件，当检测到标线组件或标线仪为倒置时，执行该步骤；

76以非倒置模式驱动调节标线组件，当检测到标线组件或标线仪为非倒置，执行该步骤；

标线组件调节完成后，重复步骤70；

74判断是否需要调节标线组件，微处理器通过处理后的安平信号和倒置信号进行处理可进行判断标线组件是否满足标线的条件，可以进行标线工作，如果满足标线条件，不需要对标线组件进行调节，则根据倒置信号，则进入步骤77，

77标线仪进行标线工作，即标线组件3开始工作；

78标线工作结束，关闭电源。

本方法还可以衍生包括判断基座调节方向和范围的步骤，通过角度超限传感器5判断标线仪基座是否超过预定角度，如果超过预定角度，可进行声光警示，以提醒工作人员正确操作标线仪。

以上皆为本发明具体实施例, 但本发明的设计构思并不局限于此。凡利用此构思对本发明进行非实质性的改动, 均应属于侵犯本发明保护范围的行为。

Claims (11)

1.一种可倒置标线仪，包括安平系统、标线组件、微处理器、调整驱动模块，所述安平系统与所述标线组件相连，所述微处理器与所述安平系统、所述标线组件、所述调整驱动模块相连，所述调整驱动模块与所述标线组件相连，其特征在于，还包括倒置信号传感器，与所述微处理器相连，用于判断所述标线仪是否倒置，当标线组件为倒置时，微处理器控制调整驱动模块以倒置模式调整标线组件；当标线组件为非倒置时，微处理器控制调整驱动模块以非倒置模式调整标线组件。

2.如权利要求1所述的可倒置标线仪，其特征在于，还包括角度超限传感器，所述角度超限传感器与所述微处理器相连，用于判断所述标线仪是否超过预定角度。

3.如权利要求1所述的可倒置标线仪，其特征在于，所述安平系统包括安平信号传感器，与所述安平信号传感器相连的信号处理模块。

4.如权利要求3所述的可倒置标线仪，其特征在于，所述安平信号传感器检测所述标线组件的安平信号，所述信号处理模块对检测到的所述安平信号进行处理，获得处理信号，并将该处理信号传给所述微处理器，所述倒置信号传感器将倒置信号传给所述微处理器；

所述微处理器判断是否需要调节所述标线组件；

如需进行调节，控制所述调整驱动模块对所述标线组件进行调节；

如不需进行调节，控制标线组件进行标线。

5.如权利要求1所述的可倒置标线仪，其特征在于，所述倒置信号传感器为光耦传感器，所述光耦传感器与所述微处理器相连，用于判断所述标线组件是否倒置。

6.如权利要求1所述的可倒置标线仪，其特征在于，所述标线组件包括调节座、光源座、光源、光学单元、驱动单元；所述光源座设置在所述调节座上，所述光源设置在所述光源座内，所述光学单元将所述光源发出的光线进行折射，所述驱动单元驱动所述光学单元旋转，所述光线因所述光学单元的旋转而形成光面。

7.如权利要求1所述的可倒置标线仪，其特征在于，所述标线组件包括调节座、光源座、光源、光学单元；所述光源座设置在所述调节座上，所述光源设置在所述光源座内，所述光学单元将所述光源发出的光线进行反射，形成光面。

8.如权利要求6或7所述的可倒置标线仪，其特征在于，所述安平系统为电子水泡式安平系统；所述光源为激光发射管，发射点状激光；所述标线组件为至少1组，所述标线组件大于1组时，各所述标线组件形成的所述光面互相垂直。

9.如权利要求6或7任一所述的可倒置标线仪，其特征在于，所述光面与施工面距离小于等于7厘米。

10.一种可倒置标线仪标线方法，其特征在于，包括以下步骤：

检测标线组件安平信号；

对所述安平信号进行处理；

检测所述标线组件倒置信号；

判断所述标线组件是否倒置；

判断是否需要调节所述标线组件；

如所述标线组件为非倒置，且所述标线组件需要调节，以非倒置驱动模式调节所述标线组件；

如所述标线组件为倒置，且所述标线组件需要调节，以倒置驱动模式调节所述标线组件；

所述标线组件调节完成后，重复检测所述标线组件安平信号的步骤；

如所述标线组件不需要调节，则

标线仪进行标线工作。

11.如权利要求10所述的可倒置标线仪标线方法，其特征在于，还包括判断所述标线组件调节方向和范围的步骤。