CN103678756B - 用于产生非破坏性检查孔隙率标准的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
一种用于建立非破坏性检查（106）孔隙率标准的方法和装置。在一个说明性实施例中，为多个样本（112）中的每个样本使用不同技术，以形成多个样本（112），使得多个样本（112）中的每个样本具有与多个样本（112）中的其它样本不同的孔隙率。多个样本中的每个样本与选择的部件类型（104）具有相同的选择的特性组。使用从利用计算断层摄影系统（132）产生的每个样本的三维图像（136）中提取的体积数据（148），为每个样本识别孔隙率水平。基于为多个样本（112）中的每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本（112）为选择的孔隙率水平组（156）建立标准组（102）。标准组（102）经配置从而用于执行选择的部件类型（104）的部件（108）的非破坏性检查（106）。
Description
技术领域
本公开主体上涉及非破坏性检查（NDI）标准，具体地，涉及用于孔隙率的非破坏性检查标准。更具体地，本公开涉及使用计算机断层摄影法（CT）用于产生针对孔隙率的非破坏性检查标准的方法和装置。
背景技术
非破坏性检查（NDI）指使用来在没有改变物体的情况下评估物体特性的分析技术组。非破坏性检查还可以指非破坏性检验（NDE）、非破坏性测试（NDT）或非破坏性评估（NDE）。不同类型的非破坏性检查技术可以使用来评估复合材料和由复合材料组成的物体。这些不同的技术包括但不限于，超声波测试（UT）、X光线照相测试和振动分析。
时常，可以产生标准，用于使用非破坏性检查评估物体。如本文中所使用地，“标准”是具有与正评估物体相同一组特性的材料的参考物质或样本。这些特性可以包括但不限于，例如，材料成分、几何结构、厚度和/或其它类型的特性。
有时，使用标准来校准用于测试物体的非破坏性检查系统。另外，可以使用用于测试物体的非破坏性检查系统检查标准。针对这些标准的非破坏性检查系统产生的数据，可以用作与针对部件的非破坏性检查系统产生的部件数据（part data）进行比较的参考数据。换句话说，当评估部件数据时，参考数据可以用于比较。
作为一个说明性实例，可以建立标准组，用于评估由复合材料组成的部件的孔隙率。在该实例中，标准组中的每个标准是先前识别为具有具体孔隙率的复合材料。
然而，用于建立非破坏性检查标准的一些现在可以利用的方法，形成复合材料的样本以及识别这些样本中每个的孔隙率所需要的时间、努力和/或成本可以大于所要求的。例如，用一些现在可以利用的方法，形成样本需要执行任何数目的磨砂操作、抛光操作、切割操作和/或其它类型操作，从而制备测试样本的一个边缘。这些操作比要求的更费时。
进一步，然后，例如但不限于使用超声波测试技术分析分析样本。然后基于样本的高度和重量，利用软件来估计样本边缘的孔隙率水平。然后，使用该估计的孔隙率来估计整个样本的孔隙率水平。然而，该类型估计比要求的精确性低。
因此，使用这些类型的现在可以利用的方法建立的标准，不允许所针对物体建立的标准待评估和要求。因此，需要具有考虑至少上述问题中的一些以及其它可能问题的方法和装置。
发明内容
在一个说明性实施例中，提出了用于建立非破坏性检查的方法。针对多个样本中每个样本使用不同的技术形成多个样本，使得多个样本中的每个样本具有与多个样本中若干其它样本不同的孔隙率。多个样本中的每个样本与选择的部件类型具有相同的成组选择的特性。使用从利用计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像中提取的体积数据，识别针对多个样本中每个样本的孔隙率水平。基于针对多个样本中每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立针对选择的孔隙率水平组的标准组。标准组经配置用于执行选择的部件类型的部件的非破坏性检查。
在另一个说明性实施例中，提出了使用非破坏性检查评估部件的方法。通过使用非破坏性检查系统，针对部件执行标准组中的每个标准的非破坏性检查，产生针对标准组的参考检查数据。基于使用从利用计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像中提取的体积数据，针对多个样本中每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立标准组。通过使用非破坏性检查系统执行部件的非破坏性检查，产生针对部件的部件检查数据。使用参考检查数据和部件检查数据，识别针对部件的部件孔隙率水平。
在另一个说明性实施例中，装置包括多个样本和数据分析器。形成多个样本，使得多个样本中的每个样本具有与多个样本中若干其它样本不同的孔隙率，并且使得多个样本中每个样本与选择的部件类型具有相同的成组选择的特性。数据分析器经配置，从而使用从计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像提取的体积数据，识别针对多个样本中的每个样本的孔隙率水平。基于针对多个样本中的每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立针对选择的孔隙率水平组的标准组。标准组经配置用于执行选择部件类型的部件的非破坏性检查。
在本发明的各种实施例中能够独立地实现特征和功能，或者在其它实施例中功能和特征可以结合，其中参考下面的发明内容和图可以知道进一步的细节。
附图说明
在所附的权利要求中，列出了说明性实施例特有的新颖特征。然而，当连同附图阅读时，参考本公开的说明性实施例的下列详细描述，能更好地理解说明性实施例以及优选的使用模式、其另外的目的和特征，其中：
图1是按照说明性实施例的以方框图形式的检查环境的说明；
图2是安装说明性实施例的检查环境的说明；
图3是按照说明性实施例的标准组的说明；
图4是按照说明性实施例的以流程图形式表示的建立非破坏性检查标准的过程的说明；
图5是按照说明性实施例的以流程图形式表示的使用非破坏性检查系统评估部件的过程的说明；
图6是按照说明性实施例的以方框图形式表示的数据处理系统的说明。
具体实施方式
不同的说明性实施例认可并且考虑不同类型的考虑因素。例如，不同的说明性实施例认可并且考虑，需要具有用于比现在一些可以利用来建立这些类型标准的方法更迅速、更容易并且更精确地针对孔隙率建立非破坏性检查标准的方法和装置。
进一步，说明性实施例认可并且考虑，需要具有比一些现在可以利用来建立非破坏性检查标准的方法更廉价的用于建立这些标准的方法和装置。例如，说明性实施例认可并且考虑，降低建立标准所需的复合材料样本的大小，可以降低与建立这些步骤相关的费用。另外，降低形成样本以及识别这些样本中每个的孔隙率所需的整体时间，可以降低与建立标准相关的费用。
因此，不同的说明性实施例提供了用于建立非破坏性检查标准的方法和装置。具体地，提供了用于建立标准组的方法和装置，其中标准组使用非破坏性检查系统评估选择的部件类型的任何部件的孔隙率。
现在参考图1，按照说明性实施例，描述了以方框图形式的检查环境的说明。在图1中，检查环境100可以是建立和使用标准组102的环境的实例。如本文中所使用，项目（item）“组”指一个或多个项目。照这样，标准组102可以是一个或多个标准。
在这些说明性实例中，标准组102经配置用于评估选择的部件类型104的任何部件。选择的部件类型104可以是，例如，但不限于，扣件类型、加强杆（spar）类型、肋板类型、面板类型、蒙皮壁板类型、管道类型，或其他部件类型。在这些材料中，选择的部件类型104的部件是由复合材料105组成的。
标准组102可以经配置从而用于使用非破坏性检查106评估选择的部件类型104的任何部件。如本文中所使用，“孔隙率”是材料中空隙空间的测量。材料的孔隙率可以如材料内空隙空间的体积占材料体积的分数，或者空隙空间的体积相对于材料体积的百分数来测量。
在这些说明性实例中，标准组102经配置用于使用非破坏性检查106评估选择的部件类型104的部件，例如部件108的孔隙率。在这些实例中，部件108的孔隙率指部件孔隙率110。有时，标准组102可以指针对部件108的非破坏性检查标准组。
如所描述地，标准组102可以由多个样本112形成。在这些说明性实例中，多个样本112可以由复合材料部分113形成。具体地，可以形成复合材料部分113，其具有与选择的部件类型104的成组选择特性相同的成组选择特性。成组选择特性114可以包括，例如，但不限于，材料成分116、厚度118、几何结构119，和一个或多个选择的部件类型104的其它类型特性中的至少一个。
如本文中所使用地，当以一系列项目的方式使用时，短语“其中的至少一个”意味着可以使用所列出的项目中一个或多个的不同组合，或者可以需要列表中每个项目中的唯一一个。例如，“项目A、项目B和项目C”中的至少一个可以包括，但不限于，项目A或者项目A和项目B。该实例还可以包括，项目A、项目B和项目C，或者项目B和项目C。在其它实例中，“其中的至少一个”可以是，例如，但不限于，项目A中两个、项目B中一个和项目C中十个；项目B中四个和项目C中七个；或某些其它合适组合。
在这些说明性实例中，复合材料部分113呈复合层压材料的形式。复合材料部分113可以分成多个部分120，使得多个部分120中的部分具有大致相同的大小。进一步，多个部分120中的每个部分可以具有与选择的部件类型104的成组选择特性114相同的成组选择特性。
在这些说明性实例中，多种技术121可以使用来由多个部分120形成多个样本112，使得多个样本112中的每个样本具有与多个样本112中其它样本不同的孔隙率。具体地，多个部分120中每个部分可以使用不同的技术。
多种技术121可以包括，例如，但不限于，多种固化技术122。具体地，来自多种固化技术122的不同固化技术使用来使多个部分120中的每个部分固化。多种固化技术122中的每种固化技术可以包括不同固化周期时间、不同固化温度、不同固化压力、不同固化真空、不同固化设备和一个或多个其它不同因素中的至少一个。
若干固化设备可以使用来实施多种固化技术122。如本文中所使用地，“若干”项目指一个或更多个项目。照这样，若干固化设备可以是一种或多种固化设备。选择并且实施多种固化技术122中的不同固化技术，使得通过固化多个部分115中相应部分形成的多个样本112中的每个样本，具有与多个样本112中若干其它样本不同的孔隙率。
作为一个说明性实例，固化技术124可以是多种固化技术122中一个的实例，并且部分126可以是多个部分120中一个的实例。固化技术124可以使用来固化部分126，从而形成具有孔隙率130的样本128。孔隙率130可以不同于多个样本112中至少一个其它样本的孔隙率。
当然，在其它说明性实施例中，除了和/或代替固化技术124之外，部分126可以使用来自于多种技术121的一种或多种其它技术，从而形成具有孔隙率130的样本128。可以使用，例如，但不限于固化技术124、干燥技术、接合技术、潮湿控制技术和一些其它类型技术，从而控制样本128的孔隙率。
检查环境中的计算机断层摄影（CT）系统132使用来产生针对多个样本112的多个三维图像134。具体地，多个三维图像134包括针对多个样本112中每个样本的三维图像。
作为一个说明性实例，使用计算断层摄影系统132可以产生针对样本128的三维图像136。三维图像136包括多个二维图像138。多个二维图像138中的每个二维图像是沿着样本128单个旋转轴获得的横截面图像。这些横截面图像也可以称为断层摄影部分或断层摄影薄片（slice）。
多个三维图像134可以发送至数据管理器140中用于处理。可以使用硬件、软件或两者的组合，实施数据管理器140。例如，可以在计算机系统142中实施数据管理器140。计算机系统142可以包括多台计算机。当计算机系统142中存在超过一台计算机时，这些计算机可以彼此通信。
有时，计算机系统142的部分可以看作计算断层摄影系统132的部分。在其它情况下，计算机系统142可以完全设置在远离计算断层摄影系统132的位置。
数据管理器140包括第一数据分析器144和第二数据分析器146。第一数据分析器144接收多个三维图像134用于处理。第一数据分析器144经配置从而使用多个三维图像134提取针对多个样本112中每个样本的体积数据148。
例如，第一数据分析器144可以使用三维图像136识别针对样本128的第一体积150和第二体积152。第一体积150可以是样本128内空隙空间的体积。第二体积152可以是样本128的体积。第一数据分析器144使用第一体积150和第二体积152从而识别样本128的孔隙率130。
照这样，第一数据分析器144识别针对多个样本112的多个孔隙率水平154。如本文中所使用地，“孔隙率水平”是孔隙率测量的分数、百分数或某些其它类型。基于计算断层摄影系统132产生的多个三维图像138提取的体积数据148，所识别的多个样本112的多个孔隙率水平154，可以具有选择的容差内需要的精确性水平。
因此，与当不适用计算断层摄影系统相比，通过使用计算断层摄影系统132提供的精确性可以允许较小尺寸的样本待用于建立标准。与当不适用计算断层摄影系统132时相比，使用通过计算断层摄影系统132产生的多个三维图像134提取的体积数据148，可以更容易和迅速地执行识别针对多个样本112的多个孔隙率水平154。
第一数据分析器144比较多个孔隙率水平154和选择的孔隙率水平组156。选择的孔隙率水平组156可以是待建立的标准组102用于的孔隙率水平。第一数据分析器144识别孔隙率水平在选择容差内匹配选择的孔隙率水平组156的多个样本112中的样本。
具体地，对于选择的孔隙率水平组156中每个选择的孔隙率水平，第一数据分析器144识别孔隙率水平最接近地匹配选择的孔隙率水平的多个样本112中的样本。有时，第一数据分析器144产生报告，其识别孔隙率水平最接近匹配选择的孔隙率水平组156的多个样本112中的样本。这些识别的样本形成标准组102。
在一些说明性实例中，可以通过使用标注系统158给来自于多个样本112中的已识别样本标注针对样本的相应孔隙率水平，建立标准组102。标注系统158可以是，例如，但不限于，标志器、钢笔、冲压设备、标注设备或某些其它类型的标注系统。作为一个说明性实施例，操作者可以给标准组102中的每个标准标记以标准表示的选择的孔隙率水平组156的相应选择的孔隙率水平。
标准组102可以储存在，例如储存位置中，用于将来用于使用非破坏性检查106，评估具有与选择的部件类型104的成组选择的特性114相同的成组选择的特性的任何部件。进一步，可以使用多次标准组102，用于随着时间执行选择的部件类型104的不同部件的检查。
在一个说明性实例中，选择非破坏性检查系统160用于执行部件108的非破坏性检查106。非破坏性检查系统160执行标准组102的非破坏性检查106，从而产生参考检查数据162。进一步，非破坏性检查系统160执行部件108的非破坏性检查106，从而产生部件检查数据164。有时，可以通过使用呈超声波测试系统形式的非破坏性检查系统160，执行超声波测试产生部件检查数据164和参考检查数据162。
参考检查数据162和部件检查数据164可以发送到数据管理器140中用于处理。数据管理器140中的第二数据分析器146接收参考检查数据162和部件检查数据164。第二数据分析器146使用参考检查数据162和部件检查数据164，从而确定部件108是否满足针对部件孔隙率110的已选择标准166。已选择标准166可以包括，例如，但不限于选择的阈值168。
作为一个说明性实例，可以比较部件检查数据164和参考检查数据162，从而确定部件108最接近匹配标准组102中的哪个标准。相应于该标准的选择的孔隙率水平可以用作部件108的部件孔隙率估测值170。如果部件孔隙率估测值170大于选择的阈值168，部件108可以识别为不满足针对部件孔隙率110的已选择标准166。因此，部件108需要再加工、替换或以某些其它方式处理。
照这样，说明性实施例提供了用于建立和使用用于评估部件孔隙率的标准组102的方法和装置。执行如上所述用于建立针对部件孔隙率的标准组102的方法，会比用于建立针对孔隙率的标准的一些现在可以利用的方法更迅速、更容易并且更精确。
例如，可以使用计算断层摄影系统132作整个样本，例如样本128的图像，并且可以使用计算断层摄影系统132产生的样本的三维图像识别样本的孔隙率水平。具体地，可以基于从整个样本的三维图像中提取的体积数据148，识别孔隙率水平。与基于样本边缘的孔隙率估测值识别整个样本的孔隙率相比，用于整个样本孔隙率的该类型识别更精确。
进一步，与一些现在可以利用的方法相比，上述建立针对部件孔隙率的标准组102的方法更廉价。例如，一旦多个部分120已经由复合材料部分113形成，就不需要除了固化操作之外的附加操作来形成多个样本。
图1中的检查环境100的说明不是意欲暗示将物理或建筑限制为可以实施说明性实施例的方式。可以使用除了说明的组件（component）之外或代替其的其它组件。还有，呈现方框是为了说明一些功能组件。当在说明性实施例中实施时，这些方框中的一个或多个可以组合、分开或者组合和分开为不同的方框。
在一些说明性实例中，可以在计算断层摄影系统132内实施第一数据分析器144。在其它说明性实例中，可以在非破坏性检查系统160中实施第二数据分析器146。在其它说明性实施例中，第一数据分析器144和第二数据分析器146可以形成单一的数据分析器。
有时，多个样本112可以由多块复合材料形成，而不是由复合材料部分113形成。作为一个说明性实例，多个样本112中的每个样本可以由复合材料的不同部分形成。进一步，技术的任何组合可以使用来形成、固化和/或另外操作多个部分120，使得多个样本112中的每个样本具有与多个样本112中其它样本不同的孔隙率。
现在参考图2，按照说明性实施例，描述了检查环境的说明。在这些说明性实例中，检查环境200可以是图1中检查环境100的一个实施的实例。如所描述地，检查环境200包括计算断层摄影系统202和在计算机系统206中实施的数据管理器204。计算机系统206和计算断层摄影系统202能够交换无线通信连接208上的数据。
在这个说明性实施例中，计算断层摄影系统202使用来产生针对多个样本210的三维图像。如所描述地，多个样本210包括样本A212、样本B214、样本C216、样本D218、样本E220、样本L222、样本M224、样本N226、样本O228和样本P230。有时，多个样本210还可以包括在该图中没有显示的附加样本。
多个样本210中的每个具有与选择的部件类型相同的成组选择特性。例如，每个样本可以与复合蒙皮壁板类型具有相同的材料成分和相同的厚度。
例如，但不限于图1中的第一数据分析器144可以使用计算断层摄影系统202产生的三维图像，从而识别针对多个样本210中每个的孔隙率水平。选择孔隙率水平最接近匹配选择的孔隙率水平组的多个样本210中的样本，用于建立针对孔隙率的标准组。
现在转至图3，按照说明性实施例描述了标准组的说明。在这个说明性实例中，标准组可以是图1中标准组102的一个实施实例。当使用非破坏性检查系统评估与针对孔隙率的标准组300中每个具有相同材料成分和相同厚度的复合蒙皮壁板时，可以使用标准组300。
如所描述地，使用图2中来自于多个样本212的的样本A212、样本B214、样本E220、样本O228已经建立了标准组300。具体地，给样本A212标注建立样本A212作为标准的选择的孔隙率水平302。给样本B214标注建立样本B212作为标准的选择的孔隙率水平304。进一步，给样本E220标注建立样本E220作为标准的选择的孔隙率水平306。给样本O228标注建立样本O228作为标准的选择的孔隙率水平308。
图2中的检查环境200的说明以及图3中的标准组300不是意欲暗示将物理或结构限制至实施说明性实施例的方式。可以使用除了说明的组件之外或代替其的其它组件。一些组件可以是任选的。进一步，图2-3中组件的一些可以是图1中以方框形式显示的组件如何实施为物理结构的说明性实例。图2-3中显示的不同组件可以结合图1中的组件，以图1中的组件的形式使用，或者两者的结合。
现在参考图4，按照说明性实施例描述了以流程图形式表示的建立非破坏性检查标准的过程的说明。可以实施图4中说明的过程，从而建立标准组，例如，但不限于，图1中的标准组102。
通过形成复合材料部分开始过程，其中复合材料部分包括与选择的部件类型相同的成组选择的特性（操作400）。成组选择的特性包括材料成分、厚度和几何形状中的至少一个。接着，过程将复合材料部分分为多个部分（操作402）。在这些说明性实例中，执行操作402，使得多个部分中的每个部分具有相同的形状。进一步，每个部分具有与选择的部件类型相同的成组选择的特性。
因此，过程使用多种固化技术固化多个部分从而形成多个样本（操作404）。照这样，多个样本中的每个样本具有与选择的部件类型相同的成组选择的特性。在操作404中，使用针对多个样本中每个样本的来自于多种固化技术的不同固化技术，形成多个样本。使用不同的固化技术形成每个样本，使得每个样本具有与多个样本中若干其它样本不同的孔隙率。
然后过程使用计算断层摄影系统产生针对多个样本中每个样本的三维图像（操作406）。在操作406中，产生多个三维图像。每个三维图像包括多个二维图像。
然后，过程从计算断层摄影系统产生的针对样本的三维图像中提取多个样本中每个样本的体积数据（操作408）。因此，使用针对每个样本提取的体积数据，识别多个样本中每个样本的孔隙率水平（操作410）。照这样，在操作410中识别多个孔隙率水平。
接着，基于针对多个样本中每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立针对选择的孔隙率水平组的标准组（操作412），其后终止操作。在操作412中，选择孔隙率水平最接近匹配选择的孔隙率水平组中选择的孔隙率水平的样本，用于形成标准。照这样，选择样本，用于选择的孔隙率水平组中每个选择的孔隙率水平。
在一些说明性实例中，操作412中建立的标准组中的每个标准，用相应于该标准的选择的孔隙率水平标注。进一步，可以储存标准组，用于将来使用非破坏性检查系统评估选择的部件类型的部件的孔隙率。
现在参考图5，按照说明性实施例描述了以流程图形式表示的使用非破坏性检查系统评估部件的过程的说明。可以实施图5中说明的过程，从而使用非破坏性检查系统，例如图1中的非破坏性检查系统160评估部件，例如图1中的部件108。
通过使用非破坏性检查系统，针对部件执行标准组中每个标准的非破坏性检查，产生针对标准组的参考检查数据，开始过程（操作500）。标准组可以是，例如使用图4中说明的过程建立的标准组。
接着，通过使用非破坏性检查系统，执行部件的非破坏性检查，过程产生针对部件的部件检查数据（操作502）。之后，使用参考检查数据和部件检查数据，过程识别针对部件的部件孔隙率（操作504）。在一个说明性实例中，可以通过基于参考检查和部件检查数据，确定部件最接近地匹配哪个标准，识别部件孔隙率。相应于该标准选择的孔隙率水平可以用作针对部件的部件孔隙率的部件孔隙率估测值。
然后，基于针对部件识别的部件孔隙率，过程确定部件是否满足标准（操作506），之后过程终止。在一个说明性实例中，在操作506中，识别的部件孔隙率可以与选择的阈值比较。如果部件孔隙率大于选择的阈值，则部件被识别为不满足选择的标准。相反，如果部件孔隙率小于或大致等于选择的阈值，则部件被识别为满足选择的标准。
在不同的描述实施例中的流程图和方框图说明说明性实施例中的装置和方法的一些可能实施的结构、功能性和操作。在这点上，流程图或方框图中的每个方框可以表示操作或步骤的组件、分段、功能和/或部分。例如，可以在硬件中作为程序代码或作为程序代码和硬件的组合，实施方框中的一个或多个。当在硬件中实施时，例如，硬件可以呈集成电路的形式，其经制造或配置从而执行流程图或方框图中的一个或多个操作。
在说明性实施例的一些可替代实施中，方框中表示的一个或多个功能可以与图中表示的顺序不同地发生。例如，有时，可以大致同时执行连续显示的两个方框，或者可以以逆序执行方框，这依赖于涉及的功能性。还有，除了流程图或方框图中说明的方框之外，可以添加其它方框。
现在转向图6，按照说明性实施例描述了呈方框图形式的数据处理系统的说明。在这个说明性实例中，数据处理系统600可以用来实施图1中计算机系统142的一个或多个计算机。在这个说明性实例中，数据处理系统600包括通信框架602，其提供处理器单元604、内存606、永久存储608、通信单元610、输入/输出（I/O）单元612以及显示器614之间的通信。
处理器单元604用来执行下载至内存606中的软件的指令。处理器单元604可以是若干处理器、多处理器核心，或某些其它类型的处理器，这依赖于具体的实施。如本文中所使用来指项目的“若干”意味着一个或更多个项目。此外，可以使用若干异构处理器系统，其中存在主处理器，同时在单个芯片上具有第二处理器，实施处理器单元604。作为另一个说明性实例，处理器单元604可以是包括形同类型的多个处理器的对称型多处理系统。
存储器606和永久存储器608是存储设备616的实例。存储设备是能够将信息，例如，但没有限于，数据、以功能形式的程序代码，和/或其它合适的信息储存在临时基础和/永久基础（basis）上的硬件的任何一件。在这些实例中，存储设备616还可以称为计算机可读储存设备或非暂时储存设备。在这些实例中，内存606可以是，例如随机存取内存或任何其它类型的易失性储存设备或非易失性存储设备。永久储存608可以呈各种形式，这依赖于具体的实施。
例如，永久储存608可以包括一个或多个组件或设备。例如，永久储存608可以是硬盘、闪存、可改写光盘、可改写磁带，或上述的某些组合。永久储存608使用的介质还可以是可移动的。例如，移动硬盘可以用于永久储存608。
在这些实例中，通信单元610提供与其它数据处理系统或设备的通信。在这些实例中，通信单元610是网络接口卡。通信单元610可以通过使用物理通信连接和无线通信连接中的任何一种或者这两者提供通信。
输入/输出单元612允许用可以连接到数据处理系统600上的其它设备进行数据的输入和输出。例如，输入/输出单元612可以通过键盘、鼠标和/或某些其它合适的输入设备，为使用者输入提供连接。进一步，输入/输出单元612可以将输出发送给打印机。显示器614通过将信息显示给使用者的机构。
用于操作系统、应用和/或程序的指令可以设置在储存设备616中，其通过通信框架602与处理器单元604通信。在这些说明性实例中，指令是永久储存608上的功能形式。这些指令可以存入内存606中，用于通过处理器单元604执行。可以通过处理器单元604使用设置在内存中，例如内存606中的计算机实施指令，执行不同实施例的过程。
这些指令称为处理器单元604中处理器可以阅读和执行的程序代码、计算机可用程序代码或计算机可读程序代码。不同实施例的程序代码可以包含在不同的物理或计算机可读储存介质中，例如内存606或永久储存608。
程序代码618以功能形式设置在计算机可读介质620中，其可选择性地移动，并且可以存入或转移至数据处理系统600中，用于通过处理器单元604执行。程序代码618和计算机可读介质620形成这些实例中的计算机程序产品622。在一个实例中，计算机可读基质620可以是计算机可读储存介质624或计算机可读信号介质626。
计算机可读储存介质624可以包括，例如光盘或磁盘，其插入或放置至属于永久储存608部分的驱动器或其它设备中，用于转移至储存设备，例如属于永久储存608部分的硬盘。计算机可读储存介质624还可以呈永久储存的形式，例如硬盘、指状驱动器或闪存，其连接到数据处理系统600上。在一些情况下，计算机可读储存介质624可以从数据处理系统600中移除。
在这些实例中，计算机可读储存介质624是用来储存程序代码618的物理或有形储存设备，而不是传播或发送程序代码618的介质。计算机可读储存介质624还称为计算机可读有形储存设备或计算机可读物理储存设备。换句话说，计算机可读储存介质624是人们能够碰触的介质。
或者，程序代码618可以使用计算机可读信号介质626转移至数据处理系统600中。计算机可读信号介质626可以为，例如包含程序代码618的传播的数据信号。例如，计算机可读信号介质626可以是电磁信号、光信号和/或任何其它合适类型的信号。这些信号可以在通信连接，例如无线通信连接、光导纤维电缆、同轴电缆、电线和/或任何其他合适类型的通信连接上传送。换句话说，在说明性实例中，通信连接和/或联系可以是物理或无线的。
在一些说明性实施例中，程序代码618可以从计算机可读信号介质626的其它设备或数据处理系统中经网络下载至永久储存608中，用于在数据处理系统600中使用。例如，在服务器数据处理系统中，储存在计算机可读储存介质中的程序代码可以经网络从服务器下载至数据处理系统600中。提供程序代码618的数据处理系统可以是服务器计算机、客户计算机，或能够储存和传送程序代码618的某些其它设备。
数据处理系统600所说明的不同组件不意味着提供结构限制至实施不同实施例的方式。包含除了数据处理系统600说明的那些组件之外，或者代替其的组件的数据处理系统，可以实施不同的说明性实施例。图6中显示的其它组件在显示的说明性实施例中能够变化。使用能够运行程序代码的任何硬件设备或系统，可以实施不同的实施例。作为一个实例，数据处理系统可以包括与无机组件集成的有机组件，和/或完全由有机组件组成，排出人为的组件。例如，存储设备可以由有机半导体组成。
在另一个说明性实例中，处理器单元604可以呈硬件单元的形式，其具有制造或配置用于具体使用的电路。该类型的硬件可以执行操作，而不需要从储存设备存入内存从而经配置执行操作的程序代码。
例如，当处理器单元604呈硬件单元的形式时，处理器单元604可以是电路系统、专用集成电路（ASIC）、可编程逻辑设备，或经配置从而执行若干操作的一些其它类型的硬件。关于可编程逻辑设备，该设备经配置从而执行若干操作。设备可以经稍后再配置，或者其可以经永久配置从而执行若干操作。可编程逻辑设备的实例包括，例如可编程逻辑阵列、现场可编程逻辑阵列、现场可编程门阵列和其它合适的硬件设备。关于该类型的实施，可以省却程序代码618，这是因为在硬件单元中实施不同实施例的过程。
在另一个说明性实例中，可以使用计算机中的处理器和硬件单元的组合，实施处理器单元604。处理器单元604可以具有经配置从而运行程序代码618的若干硬件单元和若干处理器。关于该描述的实例，可以在若干硬件单元中可以实施过程中的一些，然而可以在若干处理器中实施其它过程。
在另一个实例中，总线系统可以用来执行通信框架602，并且其由一个或多个总线组成，例如系统总线或输入/输出总线。当然，可以使用在连接到总线系统的不同组件或设备之间提供数据转移的任何合适类型的结构实施总线系统。
或者，通信单元可以包括传送数据、接收数据，或者传送和接收数据的若干设备。通信单元可以是，例如调制解调器或网络适配器、两个网络适配器，或其某些组合。进一步，内存可以是，例如内存606或缓冲存储器，例如可以存在于通信框架602中的接口和内存控制器集线器中发现。
因此，说明性实施例提供了建立非破坏性检查标准的方法和装置。在一个说明性实施例中，提供了用于建立非破坏性检查标准的方法。使用针对多个样本中每个样本的不同固化技术，形成多个样本，使得多个样本中每个样本具有与多个样本中若干其它样本不同的孔隙率。多个样本中的每个样本具有与选择的部件类型相同的成组选择的特性。使用从利用计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像中提取的体积数据，识别针对多个样本中每个样本的孔隙率水平。基于针对多个样本中每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本建立针对选择的孔隙率水平组的标准组。标准组经配置从而用于执行选择的部件类型的部件的非破坏性检查。
另外，在另一个说明性实施例中，提供了使用非破坏性检查系统评估部件的方法。通过使用非破坏性检查系统，针对部件执行标准组中每个组的非破坏性检查，产生针对标准组的参考检查数据。使用从利用计算断层摄影系统针对每个样本产生的三维图像中提取的体积数据，基于针对多个样本中每个样本的孔隙率水平，由多个样本建立标准组。通过使用非破坏性检查系统，执行部件的非破坏性检查，产生针对部件的部件检查数据。使用参考检查数据和部件检查数据，识别针对部件的孔隙率。
为了说明和描述的目的，呈现了不同的说明性实施例的描述，其不意欲是详尽的，或限于以公开形式的实施例。若干修改和变化对于本领域内技术人员而言是显然的。进一步，与其它说明性实施例相比，不同的说明性实施例可以提供不同的特征。选择并且描述了选择的一个或多个实施例，以最好地解释实施例的原理、实际应用，并且能够使本领域内技术人员能够明白，具有各种修改的各种实施例的公开适合于预期的具体使用。
Claims (15)
1.一种用于建立非破坏性检查(106)标准的方法，所述方法包括：
使用针对多个样本(112)中每个样本的不同技术，形成所述多个样本(112)，使得所述多个样本(112)中的每个样本具有与所述多个样本(112)中若干其它样本不同的孔隙率，其中所述多个样本(112)中的每个样本具有与选择的部件类型(104)相同的选择的特性组；
使用从利用计算断层摄影系统(132)为所述每个样本产生的三维图像(136)中提取的体积数据(148)，识别所述多个样本(112)中每个样本的孔隙率水平；以及
基于为所述多个样本(112)中的每个样本识别的孔隙率水平，由所述多个样本(112)为选择的孔隙率水平组(156)建立标准组(102)，其中所述标准组(102)经配置用于执行所述选择的部件类型(104)的部件(108)的非破坏性检查(106)；
其中建立所述标准组包括：
识别所述选择的孔隙率水平组(156)，用于评估所述选择的部件类型(104)；以及
建立所述多个样本(112)中的样本作为所述标准组(102)中的标准，该样本具有的孔隙率水平在选择的容差内匹配所述选择的孔隙率水平组(156)中选择的孔隙率水平。
2.如权利要求1所述的方法，其进一步包括：
使用所述计算断层摄影系统(132)，产生所述多个样本(112)中的每个样本的三维图像(136)，其中所述三维图像(136)包括多个二维图像(138)。
3.如权利要求1所述的方法，其中使用从利用所述计算断层摄影系统(132)为每个样本产生的三维图像(136)中提取的体积数据(148)，识别所述多个样本(112)中每个样本的孔隙率水平的步骤包括：
从通过所述计算断层摄影系统(132)为每个样本产生的所述三维图像(136)，提取所述多个样本(112)中的每个样本的所述体积数据(148)；
识别所述每个样本中空隙空间的第一体积(150)；
识别所述每个样本的第二体积(152)；以及
使用所述每个样本中空隙空间的所述第一体积(150)和所述每个样本的所述第二体积(152)，识别所述多个样本(112)中的每个样本的孔隙率水平。
4.如权利要求1所述的方法，其中使用针对所述多个样本(112)中的每个样本的不同技术，形成所述多个样本(112)的步骤包括：
用选自多种固化技术(122)中的固化技术(124)，固化所述多个样本(112)中的样本(128)，其中所述多种固化技术(122)中的每种固化技术(124)包括不同的固化周期长度、不同的固化温度、不同的固化压力、不同的固化真空和不同的固化设备中的至少一种。
5.如权利要求1所述的方法，其中使用针对所述多个样本(112)中的每个样本的不同技术，形成所述多个样本(112)的步骤包括：
形成包括与所述选择的部件类型(104)相同的选择的特性组的复合材料部分(113)，其中所述相同的选择的特性组包括材料成分(116)、厚度(118)和几何形状(119)中的至少一种；以及
将所述复合材料部分(113)分为多个部分，其中所述多个部分中的每个部分具有相同的尺寸。
6.如权利要求5所述的方法，其中使用针对所述多个样本(112)中的每个样本的所述不同技术，形成所述多个样本(112)的步骤进一步包括：
使用多种固化技术(122)固化所述多个部分，从而形成所述多个样本(112)。
7.如权利要求1所述的方法，其进一步包括：
储存所述标准组(102)，以在将来用于评估具有与所述选择的部件类型(104)相同的选择的特性组的任何部件，其中所述选择的特性组包括材料成分(116)、厚度(118)和几何形状(119)中的至少一种。
8.一种使用非破坏性检查系统(160)评估部件的方法，所述方法包括：
通过使用所述非破坏性检查系统(160)，针对所述部件执行标准组(102)中每个标准的非破坏性检查(106)，产生标准组(102)的参考检查数据(162)；
其中使用从利用计算断层摄影系统(132)针对每个样本产生的三维图像(136)中提取的体积数据(148)，基于为多个样本(112)中的每个样本识别的孔隙率水平，由所述多个样本(112)建立所述标准组(102)；
其中建立所述标准组的步骤包括：识别选择的孔隙率水平组，用于评估选择的部件类型；以及建立所述多个样本中的样本作为所述标准组中的标准，该样本具有的孔隙率水平在选择的容差内匹配所述选择的孔隙率水平组中选择的孔隙率水平；
通过使用所述非破坏性检查系统(160)，执行所述部件的所述非破坏性检查(106)，产生所述部件的部件检查数据(164)；以及
使用所述参考检查数据(162)和所述部件检查数据(164)识别所述部件的部件孔隙率。
9.如权利要求8所述的方法，其中使用所述参考检查数据(162)和所述部件检查数据(164)识别所述部件的所述部件孔隙率的步骤包括：
使用所述参考检查数据(162)和所述部件检查数据(164)，确定所述部件孔隙率是否大于选择的阈值；
其中通过针对所述部件执行所述标准组(102)中的每个标准的所述非破坏性检查(106)，产生所述标准组(102)的所述参考检查数据(162)的步骤包括：
通过使用超声波测试系统，执行针对所述部件的所述标准组(102)中每个标准的超声波测试，产生所述标准组(102)的所述参考检查数据(162)；以及
其中通过执行所述非破坏性检查(106)产生针对所述部件的所述部件检查数据(164)的步骤包括：
通过使用超声波测试系统，执行所述部件的超声波测试，以产生所述部件的所述部件检查数据(164)。
10.如权利要求8所述的方法，其进一步包括：
将所述标准组(102)储存在储存位置，以在将来用于评估与所述部件相同的选择的部件类型(104)的另一部件，其中所述另一部件具有与所述部件相同的选择的特性组，其中所述相同的选择的特性组包括材料成分(116)、厚度(118)和几何形状(119)中的至少一种。
11.一种用于建立非破坏性检查标准的装置，其包括：
多个样本(112)，其被形成以使得所述多个样本(112)中的每个样本具有与所述多个样本(112)中的若干其它样本不同的孔隙率，并且使得所述多个样本(112)中的每个样本具有与选择的部件类型(104)相同的选择的特性组；以及
数据分析器，其经配置从而使用从利用计算断层摄影系统(132)针对每个样本产生的三维图像(136)中提取的体积数据(148)，识别针对所述多个样本(112)中的每个样本的孔隙率水平，其中基于为所述多个样本(112)中的每个样本识别的所述孔隙率水平，由所述多个样本(112)建立选择的孔隙率水平组(156)的标准组(102)，并且其中所述标准组(102)经配置从而用于执行所述选择的部件类型(104)的部件(108)的非破坏性检查(106)；
其中所述数据分析器进一步经配置而产生报告，该报告识别所述多个样本中的样本，该样本具有的孔隙率水平在选择的容差内匹配所述选择的孔隙率水平组中选择的孔隙率水平。
12.如权利要求11所述的装置，其进一步包括：
所述计算断层摄影系统(132)，其中所述计算断层摄影系统(132)经配置从而产生所述多个样本(112)中的每个样本的所述三维图像(136)，其中所述三维图像(136)包括多个二维图像(138)。
13.如权利要求11所述的装置，其中所述数据分析器经配置，从而通过从所述计算断层摄影系统(132)针对每个样本产生的所述三维图像(136)提取所述多个样本(112)中的每个样本的所述体积数据(148)，识别所述多个样本(112)中的每个样本的所述孔隙率水平；识别所述每个样本内空隙空间的第一体积(150)；识别所述每个样本的第二体积(152)；以及使用所述每个样本内空隙空间的所述第一体积(150)和所述每个样本的所述第二体积(152)，识别所述多个样本(112)中的每个样本的所述孔隙率水平。
14.如权利要求11所述的装置，其进一步包括：
若干固化设备，其中使用所述若干固化设备中的至少一个固化设备以及选自多种固化技术(122)中的固化技术(124)，固化所述多个样本(112)中的每个样本，其中所述多种固化技术(122)中的每种固化技术(124)包括不同的固化周期长度、不同的固化温度、不同的固化压力、不同的固化真空和不同的固化设备中的至少一种。
15.如权利要求11所述的装置，其中所述相同的选择的特性组包括材料成分(116)、厚度(118)和几何形状(119)中的至少一种，并且其中所述多个样本(112)中的每个样本包括与所述选择的部件类型(104)的所述部件相同的复合材料(113)。
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Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9360459B2 (en) * | 2013-05-17 | 2016-06-07 | The Boeing Company | Porosity inspection system for composite structure with non-parallel surfaces |
| US9140673B2 (en) * | 2013-05-27 | 2015-09-22 | The Boeing Company | Method for fabricating composite porosity standards |
| CN104634797A (zh) * | 2015-02-12 | 2015-05-20 | 重庆大学 | 扇形平面/锥形束ct多转台同步扫描装置与方法 |
| US10690581B2 (en) * | 2015-12-07 | 2020-06-23 | The Boeing Company | Infrared thermographic porosity quantification in composite structures |
| US10018458B2 (en) * | 2016-09-12 | 2018-07-10 | The Boeing Company | Validating parts using a number of contiguous coupons produced from part excess |
| CN108387495B (zh) * | 2018-01-22 | 2020-03-31 | 青岛理工大学 | 一种多孔混凝土孔隙率计算和孔隙参数表征方法 |
| CN111272625B (zh) * | 2019-12-09 | 2023-02-21 | 上海飞机制造有限公司 | 一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质 |
| US11703440B2 (en) | 2021-09-24 | 2023-07-18 | General Electric Company | Porosity of a part |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101262958A (zh) * | 2005-03-04 | 2008-09-10 | 国家研究院 | 制造微加工电容式超声传感器的表面微机械工艺 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS617450A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Nippon Steel Corp | 焼結配合原料の層厚方向における装入密度、空隙率、粗粒子分布を測定する方法 |
| US7092484B1 (en) * | 2002-06-14 | 2006-08-15 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Model-assisted reconstruction of volumetric data |
| US20110188626A1 (en) * | 2005-05-24 | 2011-08-04 | National University Corporation Hokkaido University | Damage Evaluation Apparatus, and Damage Evaluation Method |
| US7424818B2 (en) * | 2005-10-20 | 2008-09-16 | Boeing Company | Ultrasonic inspection reference standard for porous composite materials |
| US7434468B2 (en) * | 2005-10-31 | 2008-10-14 | The Boeing Company | Porosity reference standard for ultrasonic inspection of composite materials |
| RU2324172C2 (ru) * | 2006-05-17 | 2008-05-10 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный институт авиационного моторостроения имени П.И. Баранова" | Тест-образец для ультразвукового контроля |
| US20070291277A1 (en) * | 2006-06-20 | 2007-12-20 | Everett Matthew J | Spectral domain optical coherence tomography system |
| US7617715B2 (en) * | 2006-12-21 | 2009-11-17 | The Boeing Company | Reference standard for ultrasonic measurement of porosity and related method |
| US8442301B2 (en) * | 2009-04-30 | 2013-05-14 | General Electric Company | Nondestructive inspection method and system |
-
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2013
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Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101262958A (zh) * | 2005-03-04 | 2008-09-10 | 国家研究院 | 制造微加工电容式超声传感器的表面微机械工艺 |
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