CN103604789B - 一种荧光粉性能测试系统以及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种荧光粉性能测试系统及其测试方法，系统包括真空样品室、测试平台、抽真空装置、高压电源、激励源、采集光纤、单色仪、单光子计数器和数据处理器。测试平台包括阴极支架和样品支架，FED阴极片设置于阴极支架上，样品片设置于样品支架上，且样品片上的样品测试区位于FED阴极片上的阴极测试区上方，高压电源输出端可分别向阴极片和样品片输出高低电位，以实现模拟FED激励；激励源可选择真空紫外光源或者电子枪，作用于样品测试区，使得样品发光，从而使得采集光纤采集到发光信号，经单色仪、单光子计数器和数据处理器处理后得到与待测荧光粉相关的性能数据。本发明的测试系统可适用于采用多种激励源的荧光粉性能测试方法，操作简便，测试效率和精度较高。

Description

一种荧光粉性能测试系统以及测试方法

技术领域

本发明涉及荧光粉的性能测试技术，特别是一种荧光粉性能测试系统以及测试方法。

背景技术

荧光粉的光谱功率分布、相对亮度、色坐标、显色指数等发光性能是评价荧光粉性能的关键指标，其中相对亮度、色坐标、显色指数的计算均以荧光粉的光谱功率分布为依据，因此，测量光谱功率分布是最重要的工作。

利用紫外线激发发光的这类普通的发光材料，如荧光灯用荧光粉，测试技术较为成熟。一般采用紫外光源（如带滤光片的汞灯），作为激发源照射荧光粉发光。荧光粉的发射光经过单色仪分光、光电倍增管（或采用CCD）转换为电信号，再由计算机采集数据并计算荧光粉光谱功率分布与其它相关参数。为了进行校准，通常采用一个已经校准的标准光源作为测试标准，在荧光粉测试之前先采集标准光源的发射光按波长变化的光信号数据。被测荧光粉的光信号除以标准光源的光信号，再乘以标准光源的功率分布即得荧光粉的光谱功率分布。

近年来，一些特种荧光粉的研究开发得到重视，如场发射显示器（FED）的荧光粉、等离子显示（PDP）用荧光粉等。在激发方式上，它们与普通荧光粉有本质的区别。例如，FED荧光粉需测试其在低压电子流的照射下的发光性能，电子流需在高真空环境中产生与传播，因而荧光粉的激发均需在高真空条件下进行。对于FED荧光粉，现行测试技术主要采用两种方法。第一种方法，是在高真空环境中，采用电子枪发射的电子束来激发荧光粉，这种测试方法简单，但由于电子束产生方式与FED阴极不同，很难获得与FED一致的荧光粉激发条件。第二种方法，是把涂覆待测荧光粉的玻璃板作为阳极与FED阴极对组后封装成一个高真空器件，再测定器件的发光性能。这一方法虽可直接获得荧光粉的应用性能，但也有不足之处：测试中涉及了器件制作的大部分工序，操作复杂，成本较高；器件的材料与制作工艺不尽一致，难以保证荧光粉有相同的激发测试条件，影响测试重复性。不能同时对多个荧光粉样进行平行测试，影响规律性探寻，测试效率较低；极板之间的间距不能灵活可调，限制了测试功能；这类荧光粉的光效很低，其发射光经单色仪等的分光后光信号很弱，仅采用光电倍增管作为转换器件，背景信号高，常会带来较大的测试误差。此外，在现有技术中，采用电子枪测试FED荧光粉，及采用真空紫外光源测试PDP用荧光粉的测试系统，不具备一机多用功能，只能分别承担各自的测试任务。

发明内容

本发明的目的是，提供一种荧光粉性能测试系统，以能够采用多种测试方法，完成对多种荧光粉样进行测试，保证各种荧光粉样的测试精度；同时本发明还提供基于这种测试系统的测试方法。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：一种荧光粉性能测试系统，包括：

真空样品室，真空样品室中设有测试平台，测试平台包括样品支架和阴极支架，样品支架上设有可安装样品片的样品托板，阴极支架上设有可安装FED阴极片的阴极片托板；所述样品片上设有样品测试区，FED阴极片上设有阴极测试区，样品测试区位于阴极测试区的上方；

抽气装置，包括连接真空样品室以将真空样品室抽真空的抽气管；

高压电源，包括电源输出端，电源输出端包括可分别连通样品测试区和阴极测试区的高电位端和低电位端；

激励源，其输出激励信号作用于样品测试区，使得样品片上的待测荧光粉发光；

单色仪和采集光纤，采集光纤贯穿真空样品室外壁，一端朝向样品测试区，另一端连接单色仪的入光口；且采集光纤外壁与真空样品室外壁为密封连接；

单光子计数器，包括信号输出端和连接单色仪出光口的信号输入端；

处理器，单光子计数器的信号输出端连接处理器，以将信号数据传输至处理器。

本发明的单色仪为现有技术，其内部的光学元件可对从进光口输入的光信号进行光学选择，进而从出光口输出某一波长间隔的单色光。通过旋转单色仪光路中光学元件，可把从进光口输入的光信号，按照波长大小，依次从出光口输出，进入单光子计数器。单光子计数器亦采用现有产品，其可记录额定时间内某一波长间隔的单色光的光子数。按照下列公式获得被测荧光粉的光谱功率分布，进而获得色坐标：

P(λ)＝i（λ）/i₀（λ）·P₀(λ)

$X=\underset{\mathrm{\λ}=380}{\overset{780}{\mathrm{\Σ}}}x\left(\mathrm{\λ}\right)P\left(\mathrm{\λ}\right)$

$Y=\underset{\mathrm{\λ}=380}{\overset{780}{\mathrm{\Σ}}}y\left(\mathrm{\λ}\right)P\left(\mathrm{\λ}\right)$

$Z=\underset{\mathrm{\λ}=380}{\overset{780}{\mathrm{\Σ}}}z\left(\mathrm{\λ}\right)P\left(\mathrm{\λ}\right)$

x＝X/(X+Y+Z)

y＝Y/(X+Y+Z)

式中：P₀(λ)代表参考荧光粉的光谱功率分布；i₀（λ）代表参考荧光粉的定时累积光子数；i（λ）代表被测荧光粉的定时累积光子数；P(λ)代表被测荧光粉的光谱功率分布；x、y代表被测荧光粉的色坐标；x(λ)、y(λ)、z(λ)代表光谱的三刺激函数；X、Y、Z代表被测荧光粉的光谱三刺激值。根据以上色坐标，采用现有的内插法可计算色温。

本发明可适用于针对多种荧光粉剂，采用多种激励方式的荧光粉测试任务，包括采用模拟FED激发的方式、采用电子束或者真空紫外光源激励的方式；如当采用模拟FED激发的方式时，将样品片置于样品测试区，样品片与FED阴极片之间的高压将使得样品片上的待测荧光粉发光；调节样品片与FED阴极片之间的间距，可改变阴极区与样品区之间的电流，荧光粉的发光性能随之改变，即可测试荧光粉的电流特性；当间距不变而改变高压电流输出电压时，荧光粉的发光性能也会改变，即可测试荧光粉的电压特性。电流特性与电压特性也是荧光粉的重要性能。采集光纤即可获取到待测光信号。本发明在各种激励方式下的测试皆操作简单，且采集光纤、单色仪、单光子计数器等的设置可保证测试的精度较高，减小弱光测试的误差。

本发明所述阴极支架还包括阴极支撑杆，阴极支撑杆动密封贯穿入真空样品室；阴极片托板通过直线导轨连接阴极支撑架，垂直于阴极支撑杆安装。当采用模拟FED激励样品发光时，操作直线导轨的高度可改变阴极托板的高度，从而改变阴极测试区与样品测试区之间的距离，便于测试待测荧光粉的电流特性和电压特性。

本发明所述激励源可采用真空紫外光源，真空紫外光源的输出光线投射至样品测试区。真空紫外光源可采用现有产品，其可通过法兰密封连接固定于真空样品室外壁上。在测试时，样品测试区是朝上的，当样品片上的样品接受到紫外光线辐照即会发光，采集光纤即可获取到待测光信号。

激励源还可以采用电子枪，电子枪输出的电子束投射至样品测试区；电子枪包括激励电源，激励电源的高电位端连通样品测试区。电子枪为现有技术，可通过法兰密封连接固定于真空样品室外壁上。在测试时样品测试区是朝上的，当样品片上的样品接受到电子流的辐照，同时在电源的作用下，样品将会发光，采集光纤即可获取待测光信号。

进一步的，本发明中采集光纤由真空光纤和普通光纤组成，真空光纤法兰密封连接于真空样品室外壁上；且真空光纤的一端朝向样品测试区，另一端连接普通光纤，普通光纤的另一端连接单色仪的入光口。真空光纤及普通光纤皆为现有产品，真空光纤与普通光纤的配合可保证样品发光时的光线收集效果。

本发明所述测试平台还包括主支架和设置于主支架上的电源静触点支架；样品支架还包括支撑杆，样品托板垂直安装于支撑杆顶端；

电源静触点支架的顶端设有电源静触点，高压电源的电源输出端连接电源静触点；样品托板上设有连通样品测试区的电源动触点；支撑杆动密封贯穿入真空样品室，并转动连接主支架；支撑杆的转动带动样品托板的转动，使得电源动触点与电源静触点在接通和断开状态之间切换。本发明的操作非常简单，工作人员可在真空样品室外通过转动支撑杆达到将样品测试区与电源接通或断开的目的，从而控制测试过程。

更进一步的，本发明中样品托板为圆形，样品托板的中心连接支撑杆，样品托板上设有2个以上绕样品托板中心呈圆周排列的样品测试区；各样品测试区分别连通有一个电源动触点。真空样品室的抽真空是一项非常耗时的工作，样品托板的多测试位设置可使得仅需一次抽真空就能够完成对多个粉样的测试，极大的提高了测试的效率，更加节约工序，方便操作和检测结果的对比。此外，样品托板也可以通过水平导轨与动密封支撑杆连接，制作成平移结构使得支撑杆的转动能够带动样品托板平移，样品托板上的测试工位沿平移方向设置。

针对三种不同激励途径的测试方式，本发明分别提供基于上述测试系统的相应的测试方法：

采用模拟FED激励方式时包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状透明的材料作为样品载体，在样品载体的一面沉积透明导电膜，将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上的透明导电膜之上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；荧光粉覆盖有透明导电膜的区域可作为样品测试区；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架和阴极支架，使得样品测试区与FED阴极片的阴极测试区上下相对；将高压电源的低电位端连通阴极测试区，高电位端连通样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）启动高压电源，使得样品片上的待测荧光粉发光；调节样品测试区与阴极测试区之间的间距进行对应待测荧光粉电流特性的测试；调节高压电源的输出电压进行对应待测荧光分电压特性的测试；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

采用电子枪作为激励源时包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状可导电的材料作为样品载体，将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架，使得样品测试区与采集光纤相对；选择电子枪作为激励源，电子枪的电子流输出方向朝向样品测试区；将电子枪电源的高电位端连通样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）启动电子枪及其电源，样品片上的待测荧光粉受电子流辐照发光；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

采用真空紫外光源时包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状材料作为样品载体，将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架，使得样品测试区与采集光纤相对；选择真空紫外光源作为激励光源，真空紫外光源的光纤出射方向朝向样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）采用紫外光源作为激励源，启动激励源，样品片上的待测荧光粉受紫外线辐照发光；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

本发明的测试方法中，参考粉的测试按照待测荧光粉的测试步骤进行，以得到参考荧光粉的光谱功率分布、参考荧光粉的定时累积光子数。参考粉可在步骤（3）之前与待测荧光粉同时置入真空样品室，安装在样品托板的不同测试工位，以提高测试效率。

本发明中，FED阴极片为现有技术，数据处理器采用计算机，单色仪、单光子计数器及相应的光信号处理过程皆为现有技术。

在本发明的真空样品室中，包含荧光粉层的阳极与FED阴极是平行相对的，样品片与FED阴极片具有相似的结构，当施加高压后，FED阴极发射电子流激发荧光粉发光，即模拟了在FED中荧光粉激发发光的条件，为本发明提供了测试基础。单色仪、单光子计数器对光信号的采集捕捉以及光电信号的转换，为数据处理器计算机最终分析获得模拟FED测试条件下的荧光粉发光性能数据，提供了精度保障。

本发明与现有技术相比，集成了含多种激励源的测试方式，既克服了电子束激发方法中不能模拟的FED阴极间电子源激发条件的缺点，又避免了封装器件方法中操作复杂，测试成本较高，重复精度不理想，不能对多个粉样平行测试，测试效率较低，极板之间的间距不能灵活可调，测试功能受限，以及弱光测试误差较大等问题。又能够测试电子束激发以及真空紫外线激发下，荧光粉的发光性能，具有良好的拓展功能。

附图说明

图1所示为本发明测试系统的一种具体实施例结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例进一步说明：

如图1所示的具体实施例，本发明的荧光粉性能测试装系统包括真空样品室1、测试平台2、抽真空装置3、高压电源4、激励源、采集光纤、单色仪5、单光子计数器6和数据处理器7。

测试平台包括主支架、阴极支架和样品支架，阴极支架包括阴极支撑杆22、阴极片托板24，阴极片托板24通过直线导轨23连接阴极支撑杆22，垂直于阴极支撑杆22安装。FED阴极片25安装于阴极片托板24上，FED阴极片25上具有阴极测试区27；样品支架包括支撑杆21、样品托板，样品托板垂直安装于支撑杆21顶端，样品片28放置于样品托板上，样品片28上具有样品测试区26；主支架上设有电源静触点支架29，电源静触点支架29的顶端设有电源静触点292；样品托板上设有连通样品测试区26的电源动触点291，高压电源的高电位端以及电子枪电源与样品测试区26的连接皆通过电源静触点292与电源动触点291的接触实现；支撑杆21动密封贯穿入真空样品室1，并转动连接主支架；支撑杆21的转动带动样品托板的转动，使得电源动触点291与电源静触点292在接通和断开状态之间切换。样品片上样品测试区以及FED阴极片上阴极测试区与高压电源的导通通过弹簧片293实现。

本实施例中激励源集成了模拟FED激励、真空紫外光源10和电子枪9，高压电源4、真空紫外光源10和电子枪9分别通过法兰11固定于真空样品室1外壁上。抽气装置3采用现有技术，其抽气管连接真空样品室，以将真空样品室抽真空。采集光纤由真空光纤12和普通光纤13组成，真空光纤12法兰密封连接于真空样品室1外壁上；且真空光纤12的一端朝向样品测试区26，用于采集发光信号，另一端连接普通光纤13，普通光纤13的另一端连接单色仪5的入光口。

采集光纤采集到的光信号传输入单色仪5的入光口，经单色仪5处理后输出至单光子计数器6，单光子计数器6为现有技术，其利用光电倍增管的极高信噪比和极快的时间相应对单光子激发的电脉冲计数，用来表示光强度，对于弱光线的灵敏度也非常高。单光子计数器6将经其处理后的光信号数据输出至数据处理器7，数据处理器7可采用计算机，其可利用现有相关软件进行荧光粉性能数据的分析。

针对三种不同激励途径的测试方式，本发明分别提供基于上述测试系统的相应的测试方法：

采用模拟FED激励方式时，在真空样品室中，包含荧光粉层的阳极与FED阴极是平行相对的，样品片与FED阴极片具有相似的结构，当施加高压后，FED阴极发射电子流激发荧光粉发光，即模拟了在FED中荧光粉激发发光的条件。具体包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状透明的材料作为样品载体，在样品载体的一面沉积透明导电膜，采用印刷或者刮涂的方法将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上的透明导电膜之上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；荧光粉覆盖有透明导电膜的区域可作为样品测试区；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架和阴极支架，使得样品测试区与FED阴极片的阴极测试区上下相对；将高压电源的低电位端连通阴极测试区，高电位端连通样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）启动高压电源，使得样品片上的待测荧光粉发光；调节样品测试区与阴极测试区之间的间距进行对应待测荧光粉电流特性的测试；调节高压电源的输出电压进行对应待测荧光分电压特性的测试；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

采用电子枪作为激励源时包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状可导电的材料作为样品载体，采用印刷或者刮涂的方法将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；样品载体也可采用不导电材料，并在不导电材料上沉积导电薄膜；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架，使得样品测试区与采集光纤相对；选择电子枪作为激励源，电子枪的电子流输出方向朝向样品测试区；将电子枪电源的高电位端连通样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）启动电子枪及其电源，样品片上的待测荧光粉受电子流辐照发光；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

采用紫外光源时包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状材料作为样品载体，采用印刷或者刮涂的方法将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；样品载体的材质和透明度皆没有要求；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架，使得样品测试区与采集光纤相对；选择真空紫外光源作为激励光源，真空紫外光源的光纤出射方向朝向样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）采用紫外光源作为激励源，启动激励源，样品片上的待测荧光粉受紫外线辐照发光；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

Claims (9)

1.一种荧光粉性能测试系统，其特征是，包括：

真空样品室，真空样品室中设有测试平台，测试平台包括样品支架和阴极支架，样品支架上设有可安装样品片的样品托板，阴极支架上设有可安装FED阴极片的阴极片托板；所述样品片上设有样品测试区，FED阴极片上设有阴极测试区，样品测试区位于阴极测试区的上方；

抽气装置，包括连接真空样品室以将真空样品室抽真空的抽气管；

高压电源，包括电源输出端，电源输出端包括可分别连通样品测试区和阴极测试区的高电位端和低电位端；

激励源，其输出激励信号作用于样品测试区，使得样品片上的待测荧光粉发光；

单色仪和采集光纤，采集光纤贯穿真空样品室外壁，一端朝向样品测试区，另一端连接单色仪的入光口；且采集光纤外壁与真空样品室外壁为密封连接；

单光子计数器，包括信号输出端和连接单色仪出光口的光信号输入端；

数据处理器，单光子计数器的信号输出端连接处理器，以将信号数据传输至处理器；

所述测试平台还包括主支架和设置于主支架上的电源静触点支架；样品支架还包括支撑杆，样品托板垂直安装于支撑杆顶端；

电源静触点支架的顶端设有电源静触点，高压电源的电源输出端连接电源静触点；样品托板上设有连通样品测试区的电源动触点；支撑杆动密封贯穿入真空样品室，并转动连接主支架；支撑杆的转动带动样品托板的转动，使得电源动触点与电源静触点在接通和断开状态之间切换。

2.根据权利要求1所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述阴极支架还包括阴极支撑杆，阴极支撑杆动密封贯穿入真空样品室；阴极片托板通过直线导轨连接阴极支撑架，垂直于阴极支撑杆安装。

3.根据权利要求1所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述激励源为真空紫外光源，真空紫外光源的输出光线投射至样品测试区。

4.根据权利要求1所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述激励源为电子枪，电子枪输出的电子束投射至样品测试区；电子枪包括激励电源，激励电源的高电位端连通样品测试区。

5.根据权利要求1至4任一项所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，所述采集光纤由真空光纤和普通光纤组成，真空光纤法兰密封连接于真空样品室外壁上；且真空光纤的一端朝向样品测试区，另一端连接普通光纤，普通光纤的另一端连接单色仪的入光口。

6.根据权利要求1所述的荧光粉性能测试系统，其特征是，样品托板为圆形，样品托板的中心连接支撑杆，样品托板上设有2个以上绕样品托板中心呈圆周排列的样品测试区；各样品测试区分别连通有一个电源动触点。

7.基于权利要求1至6任一项所述的荧光粉性能测试系统的测试方法，其特征是，包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状透明的材料作为样品载体，在样品载体的一面沉积透明导电膜，将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上的透明导电膜之上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；荧光粉覆盖有透明导电膜的区域可作为样品测试区；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架和阴极支架，使得样品测试区与FED阴极片的阴极测试区上下相对；将高压电源的低电位端连通阴极测试区，高电位端连通样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）启动高压电源，使得样品片上的待测荧光粉发光；调节样品测试区与阴极测试区之间的间距进行对应待测荧光粉电流特性的测试；调节高压电源的输出电压进行对应待测荧光粉电压特性的测试；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

8.基于权利要求4所述的荧光粉性能测试系统的测试方法，其特征是，包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状可导电的材料作为样品载体，将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架，使得样品测试区与采集光纤相对；选择电子枪作为激励源，电子枪的电子流输出方向朝向样品测试区；将电子枪电源的高电位端连通样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）启动电子枪及其电源，样品片上的待测荧光粉受电子流辐照发光；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。

9.基于权利要求3所述的荧光粉性能测试系统的测试方法，其特征是，包括以下步骤：

（1）制备样品片：选择片状材料作为样品载体，将待测荧光粉的浆料固定涂覆在样品载体上；利用干燥或烧结方法除去浆料中的有机载体，得到样品片；

（2）安装样品片：将样品片放置于样品片托板上，调节样品支架，使得样品测试区与采集光纤相对；选择真空紫外光源作为激励光源，真空紫外光源的光线出射方向朝向样品测试区；

（3）启动抽气装置对真空样品室进行抽真空；

（4）启动单色仪、单光子计数器和数据处理器，准备接收待测荧光粉的发光信号；

（5）采用紫外光源作为激励源，启动激励源，样品片上的待测荧光粉受紫外线辐照发光；

（6）待测荧光粉发出的光信号经采集光纤传输至单色仪，进而经单光子计数器处理后传输至数据处理器；利用数据处理器将待测荧光粉随波长变化的光信号数据，与参考粉随波长变化的的光信号数据进行对比，得到待测荧光粉的光谱功率分布、相对亮度和色坐标。