CN201034939Y - 荧光粉激发测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种荧光粉激发测量装置。包括可调功率的激发光源、曝光和测量的暗箱;激发光源附近设置监测激发光源的监视探测器,在暗箱内靠近激发光源的下方设置可调光阑,激发光辐射到暗箱内的荧光粉试样或实测探测器,在暗箱上设置发射光接收装置。该荧光粉激发测量装置能非常方便准确地调节辐射到荧光粉上的激发光照度,且照度调节可以保证激发光相对光谱功率分布不变。可用于准确测量蓄光型荧光粉以及其它类型荧光粉的发光性能。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及一种荧光粉激发测量装置。
【背景技术】
荧光粉在受到激发光辐射时发射荧光,有些荧光粉如蓄光型荧光粉在辐射停止后还会释放出光能,荧光粉受激发光激发时或激发后的发光性能是荧光粉最重要的参数之一。由于荧光粉的激发光照度对荧光粉发光亮度影响很大,所以准确调节和控制激发光照度到所需值尤为重要;现有的荧光粉激发测量装置或者没有对荧光粉的激发光照度作出要求,或者使用在激发光源前设置减光片或调节激发光源高度的方法控制激发光照度水平。采用设置减光片的方法时,减光片并不一定是完全中性的,它会选择性的吸收激发光源中部分光谱,使激发光的相对光谱功率分布发生变化,影响测量结果;而采用调节激发光源高度以调节激发光照度的方法会占用相当的空间,整个激发测量装置体积很大,且激发光源调节很不方便。
除此之外,作为涂料性质的荧光粉,灯具、显示器件和其它发光器件内的荧光粉,除了测量其在激发光激发下的发射光亮度、照度外,荧光粉颜色测量很有意义,荧光粉激发测量装置中需要包含能够测量荧光粉颜色的部件。
【实用新型内容】
为了克服上述缺陷,本实用新型的目的旨在提供一种荧光粉激发测量装置,它能方便准确地调节和监控辐射到荧光粉上的激发光照度,并测量受激后的光度和色度值。
本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:一种荧光粉激发测量装置,其特征在于包括功率可调的激发光源,用于曝光和测量的暗箱,在激发光源旁设置一监视探测器,在暗箱内靠近激发光源下方设置一个可调光阑,在激发光源的正下方设有放置荧光粉试样的粉盘或实测探测器,在暗箱上设置与测量仪表相连的至少一个发射光接收装置。
本实用新型的上述技术方案还可进一步完善,
作为优选,其特征在于在暗箱内装有带有底座并可水平旋转的托盘,托盘位于激发光源下方,粉盘和实测探测器均布在托盘上。
作为优选,粉盘中的荧光粉试样的表面与实测探测器受光面在同一水平面上,通过转动切换相应的粉盘或者实测探测器到激发光的正下方进行荧光粉激发测量或实测激发光的照度测量,对于未参与测量的粉盘或者实测探测器可用档光板挡住。
作为优选,所述的托盘的旋转装置是手动调节或者是由电机或带减速器的电机驱动的,可以设置限位器使旋转机构带动托盘的旋转不超过一周的。
作为优选,激发光从荧光粉试样表面法线方向入射,发射光接收装置从与该法线呈45°角方向接收荧光;或者激发光从荧光粉试样表面法线45°角方向入射,发射光接收装置从与该法线方向接收荧光。
作为优选,所述的可调光阑后,设有若干消杂光光阑。从激发灯发出的光经过上述可调光阑后又通过若干消杂光光阑辐射到荧光粉试样或实测探测器上。
作为优选,所述的发射光接收装置是光度或辐射度探测器、色度探测器或者是连接光谱仪的输入端口,该光谱仪可以是快速光谱仪。
作为优选,所述的激发光源是氙灯、汞灯、荧光灯或金属卤化灯。
作为优选,在所述的激发光源与粉盘之间,设置有一个用以遮挡激发光的快门,快门的设置对于测量蓄光型荧光粉带来很大便利。
激发光源是氙灯、汞灯、荧光灯或金属卤化灯。
本实用新型与已有技术相比,其优点在于:通过调节靠近激发光源的可变光阑和激发光源的电功率来调节荧光粉的激发光,同时通过实测探测器和监视探测器分别监视激发灯光源和荧光粉表面的光辐射照度,从而方便精确地控制荧光粉激发光照度水平,且激发光相对光谱功率分布保持不变。
【附图说明】
附图1是本实用新型构成示意图。
【具体实施方式】
如图1所示,本实用新型的荧光粉激发测量装置包括激发光源1、用于曝光和测量的暗箱3,在暗箱3内激发光源1下方靠近激发光源1处设置可调光阑4,激发光照射暗箱3内的荧光粉试样或实测探测器6,在暗箱3上与设置测量仪表相连的发射光接收装置7。图例中,激发光源1为氙灯,氙灯1的供电电源2可以调节氙灯1的功率,在氙灯1的附近安装监视探测器8,监视在某一功率下氙灯1的发光强度。氙灯1发出的光经过可调光阑4后又经过暗箱3内的若干消杂光光阑12垂直入射到托盘11上的粉盘5或实测探测器6,在这段光路中设置用以阻挡激发光的快门14,与底座10相联的托盘11通过旋转机构9,使托盘11在水平面内转动,该旋转机构9可以是通过手动调节或者由电机或者电机带动减速机驱动的,托盘11上设置多位粉盘5和实测探测器6,荧光粉试样的表面与实测探测器6受光面在同一水平面上,通过转动托盘11切换相应的粉盘5或者实测探测器6到激发光下方进行荧光粉激发测量或实测激发光的照度测量,未参与测量的粉盘5或者实测探测器6可用档光板13挡住;在传动机构上设置有限位器12,使托盘11在某一方向上的旋转不超过一周。荧光粉试样受到激发后发射的荧光被暗箱3上的发射光接收装置7接收,发射光接收装置7是光度(辐射度)探测器、色度探头或者连接光谱仪的光纤,其数量可以是一个或以上,发射光接收装置7从与荧光粉试样表面法线成45°角方向接收荧光。
测量前通过调节氙灯1的供电电源2所提供的功率和可调光阑4来调节辐射到荧光粉上的激发光照度,同时可以通过监测探测器8和实测探测器6来监视和控制激发光。可以在激发光照度达到要求的最大值时,固定可调光阑4,而仅通过调节氙灯1功率和监视探测器8来调节和控制激发光水平,在达到所要求的激发光水平后,转动托盘11,使激发光辐射荧光粉试样。规定时间后,在激发光辐射或者不辐射条件下(可用快门14控制),用发射光接收装置7测量荧光粉发射光亮度、色度或光谱分布。当要改变激发光照度时可以仅通过监视探测器8,按比例调节供电电源2使氙灯1的功率达到要求值后进行下一次测量。
Claims (10)
1.一种荧光粉激发测量装置,其特征在于包括激发光源(1),用于曝光和测量的暗箱(3),在暗箱(3)内靠近激发光源(1)下方设置一个可调光阑(4),在激发光源(1)的下方设有放置荧光粉试样的粉盘(5)或实测探测器(6),在暗箱(3)上设置有与测量仪表相连的至少一个发射光接收装置(7)。
2.根据权利要求1所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于激发光源(1)的供电电源(2)是可以调节输出功率的电源,在激发光源(1)旁设置监视探测器(8)。
3.根据权利要求1或2所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于在暗箱(3)内装有带有底座并可水平旋转的托盘(11),托盘位于激发光源(1)下方,粉盘(5)和实测探测器(6)均布在托盘(11)上。
4.根据权利要求1或2所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于实测探测器(6)的受光面与粉盘(5)中的荧光粉试样的表面在同一水平面上。
5.根据权利要求3所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于水平旋转的旋转装置(9)是手动调节或者是由电机或带减速器的电机驱动。
6.根据权利要求1或2所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于激发光从荧光粉试样表面法线方向入射,发射光接收装置(7)从与该法线呈45°角方向接收荧光;或者激发光从荧光粉试样表面法线45°角方向入射,发射光接收装置(7)从与荧光粉试样表面法线方向接收荧光。
7.根据权利要求1或2所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于在可调光阑(4)下方,设有若干消杂光光阑(12)。
8.根据权利要求1或2所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于发射光接收装置(7)是光度或辐射度探测器、色度探测器或者是连接光谱仪的输入端。
9.根据权利要求1或2所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于在所述的激发光源(1)与粉盘(5)间,设置有一个用以遮挡激发光的快门(14)。
10.根据权利要求1或2所述的荧光粉激发测量装置,其特征在于所述的激发光源(1)是氙灯、汞灯、荧光灯或金属卤化灯。
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